Author: Struve, K.

2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Alexandrov, V. V.; Frolov, I. N.; Struve, K.; Zukakischvili, G. G.; Fedulov, M. V.; Grabovskii, E. V.; Mitrofanov, K. N.; Nedoseev, S. L.; Oleinik, G. M.; Porofeev, I. Yu.; Samokhin, A. A.; Sasorov, P. V.; Smirnov, V. P.; Volkov, G. S.; Zurin, M. V.;

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Struve, K.; Argo, J.; Bengtson, R.; Headley, D.; Kellogg, J.; Wisher, M.; Quevedo, H.; Savage, M.; Stoltzfus, B.; Waugh, C.; Lewis, S.;

1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Crist, C.E.; Frost, C.A.; Mazarakis, M.G.; Shope, S.L.; Poukey, J.W.; Struve, K.; Welch, D.; Turman, B.N.; Prestwich, K.R.;

1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Seamen, J.F.; McGurn, J.S.; Spielman, R.B.; Marder, B.M.; Nash, T.J.; Sanford, T.W.L.; Struve, K.; Welch, D.R.; Mosher, D.; De Groot, J.S.; Hernandez, J.; Bruns, C.; Emig, J.; Thoe, R.S.; Springer, P.T.; Estabrook, K.G.; Eddleman, J.L.; Zimmerman, G.B.; Alley, W.E.; Hammer, J.H.; Maxon, S.; Humphreys, D.R.; Stygar, W.A.; Vargas, M.; Jobe, D.; Gilliland, T.L.; Mock, R.C.;

1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Nash, T.J.; Davis, J.; Spielman, R.B.; Marder, B.M.; Sanford, T.W.L.; Hammer, J.H.; De Groot, J.S.; Mosher, D.; Peterson, G.; Weber, B.V.; Velikovich, K.G.; Cochran, S.L.; Douglas, M.; Whitney, K.G.; Pulsifer, P.E.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Vargas, M.; Gilliland, T.L.; Jobe, D.; McGurn, J.S.; Seamen, J.F.; Mock, R.C.; Struve, K.; Deeney, C.;

1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Stygar, W.A.; McGurn, J.; Seaman, J.; Fehl, D.; Struve, K.; Chandler, G.A.; Nash, T.; Spielman, R.B.; Peterson, D.L.; Douglas, M.R.; Deeney, C.; Matzen, M.K.; Sanford, T.W.L.; Mock, R.; Torres, J.; Gilliland, T.; Jobe, D.;

1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Nash, T.; Chandler, G.; Peterson, D.L.; Deeney, C.; Matzen, M.K.; Sanford, T.W.L.; Mock, R.; Torres, J.; Gilliland, T.; Jobe, D.; Spielman, R.B.; McGurn, J.; Stygar, W.A.; Struve, K.; Seaman, J.; Fehl, D.; Douglas, M.R.;

1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Riordan, J.; Apruzese, J.; Yadlowsky, E.; Whitton, B.; Whitney, K.; Weber, B.; Waisman, E.; Thornhill, J.; Struve, K.; Stephanakis, S.; Stallings, C.; Spence, P.; Song, Y.; Sincerny, P.; Schnieder, R.; Schlitt, L.; Roth, I.; Murphy, H.; Mosher, D.; Moosman, B.; McGurn, J.; Krishnan, M.; Kortbawi, D.; Levine, J.; LePell, D.; Jobe, D.; Fisher, A.; Failor, B.; Deeney, C.; Chochran, F.; Coleman, P.; Commisso, R.; Coverdale, C.; Davis, J.;

1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Frost, C.A.; Wagner, J.S.; Poukey, J.W.; Crist, C.E.; Turman, B.N.; Mazarakis, M.G.; Feinstein, R.L.; Struve, K.; Shope, S.L.;

1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Struve, K.; Frost, C.; Crist, C.; Mission;

1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Werner, P.W.; Molina, I.; Kiekel, P.D.; Hogeland, S.; Armstead, D.; Lipinski, R.J.; Struve, K.; Smith, J.; Schamiloglu, E.;

1992 / IEEE / 0-7803-0716-X
By: Struve, K.; Weils, J.; Prestwich, K.R.; Turman, B.N.; Olson, W.R.; Bennett, L.F.; Wagner, J.S.; Ponkey, J.W.; Smith, D.L.; Mazarakis, M.G.;

1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Levine, J.; Coleman, P.; Krishnan, M.; Yadlowsky, E.; Spence, P.; Schneider, R.; Weber, B.; Thornhill, J.; Stephanakis, S.; Mosher, D.; Moosman, B.; Fisher, A.; Davis, J.; Commisso, R.; Cochran, F.; Apruzese, J.; Struve, K.; McGurn, J.; Jobe, D.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Whitton, B.; Waisman, E.; Failor, B.; Kortbawi, D.; LePell, D.; Murphy, H.; Riordan, J.; Roth, I.; Schlitt, L.; Sincerny, P.; Stallings, C.;

2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Song, Y.; Sze, H.; Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Banister, J.; Levine, J.S.; Bell, D.; Stygar, W.; Struve, K.; Spielman, R.; Mcgurn, J.; Gilliland, T.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Thornhill, J.W.; Mosher, D.; Davis, J.;

2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Sze, H.; Bell, D.; Chantrenne, S.; Failor, P.L.C.B.H.; Fisher, A.; Levine, J.S.; Song, Y.; Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Davis, J.; Mosher, D.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Weber, B.V.; Coverdale, C.A.; Deeney, C.; Gilliland, T.; Mcgurn, J.; Spielman, R.; Struve, K.; Stygar, W.; Banister, J.;

2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Prestwich, K.R.; Spielman, R.; Struve, K.; Stygar, B.; Krogh, M.; Dragt, A.; Elizondo, J.M.;

2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Struve, K.; Stygar, B.; Krogh, M.; Dragt, A.J.; Elizondo, J.M.; Prestwich, K.R.; Spielman, R.;

2002 / IEEE / 0-7803-7394-4
By: Elizondo, J.M.; Prestwich, K.; Stygar, B.; Struve, K.;

2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Nash, T.J.; Chandler, G.A.; Stygar, W.; Mazarakis, M.; Struve, K.; McDaniel, D.; Douglas, M.R.; Deeney, C.; LePell, P.D.; Waggoner, T.; Pyle, J.; Smelser, R.; Moore, T.; Seamen, H.; Carlson, A.L.; Lake, P.; Bailey, J.E.; Hawn, R.; Nielsen, D.; Gilliland, T.; Jobe, D.; Torres, J.; Lazier, S.; McGurn, J.; Seaman, J.F.; Leeper, R.;

2002 / IEEE / 0-7803-7502-5
By: Corley, J.P.; Lehr, J.M.; Struve, K.; Wakefield, P.; Kitterman, D.L.; Kincy, M.; Elizondo, J.E.; Smith, I.D.; McDaniel, D.H.; Mazarakis, M.; Maenchen, J.M.; Johnson, D.L.; Corcoran, P.;

2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Harjes, C.; Shoup, B.; Johnson, D.; Bennett, L.; Struve, K.; Elizondo, J.;

2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Prestwich, K.R.; Elizondo, J.M.; Struve, K.; Lehr, J.; Woodworth, J.; Corcoran, P.; Johnson, D.L.; Corley, J.;

2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Pokala, S.; Kantsyrev, V.; Yilmaz, F.; Struve, K.; McGurn, J.; Williamson, K.; Safronova, A.; Wilcox, P.;

2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Sceiford, M.; Elizondo, J.M.; Wilson, M.; Wakeland, P.; Struve, K.; Kincy, M.;

2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Ouart, N.; Yilmaz, F.; Kantsyrev, V.; Safronova, A.; Wilcox, P.; Cowan, T.; Deeney, C.; LePell, D.; Jones, B.; Struve, K.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Velikovich, A.; Safronova, A.; Kantsyrev, V.; Esaulov, A.; Struve, K.; Mehlhorn, T.; Cuneo, M.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Ouart, N.D.; Struve, K.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Jones, B.; Coverdale, C.A.; Shrestha, I.; Osborne, G.; Williamson, K.; Yilmaz, F.; Safronova, U.I.; Kantsyrev, V.L.; Safronova, A.S.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: Kim, A.; Sinebryukhov, V.; Gilgenbach, R.; Struve, K.; Olson, C.; McDaniel, D.; Mazarakis, M.; Alexeenko, V.; Frolov, S.; Volkov, S.; Kovalchuk, B.; Bastrikov, A.; Durakov, V.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: LeChien, K.; Savage, M.; Prestwich, K.; Wallace, Z.; Thompson, T.; Hodge, K.; Guthrie, D.; Feltz, G.; Anaya, V.; Wakeland, P.; Bliss, D.; Lehr, J.; Maenchen, J.; McDaniel, D.; Struve, K.; Stygar, W.; Van Den Avyle, J.; Woodworth, J.; Corley, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1534-2
By: LeChien, K.; Savage, M.; Struve, K.; McDaniel, D.; Maenchen, J.; Stygar, W.;