Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Stone, D.
Results
2014 / IEEE
By: Liu, X.; Chu, W. Q.; Greenough, J.; Urquhart, I.; Foster, M.; Stone, D.; Zhu, Z. Q.;
By: Liu, X.; Chu, W. Q.; Greenough, J.; Urquhart, I.; Foster, M.; Stone, D.; Zhu, Z. Q.;
1988 / IEEE / 0-8186-1949-X
By: Yaffe, S.; Snyder, S.H.; Stone, D.; Rosenheck, S.; Sapoznikov, D.; Atlan, H.; Gotsman, M.S.;
By: Yaffe, S.; Snyder, S.H.; Stone, D.; Rosenheck, S.; Sapoznikov, D.; Atlan, H.; Gotsman, M.S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Vusirikala, V.; Gopalan, B.; Kareenahalli, S.; Dagenais, M.; Wood, C.E.C.; Stone, D.;
By: Vusirikala, V.; Gopalan, B.; Kareenahalli, S.; Dagenais, M.; Wood, C.E.C.; Stone, D.;
1996 / IEEE
By: Chen, Y.-J.; Hady, F.; Burns, D.; Minnich, R.; Hoffmeister, D.C.; Dagenais, M.; Perreault, J.; Dowd, P.; Chu, J.; Stone, D.;
By: Chen, Y.-J.; Hady, F.; Burns, D.; Minnich, R.; Hoffmeister, D.C.; Dagenais, M.; Perreault, J.; Dowd, P.; Chu, J.; Stone, D.;
1996 / IEEE
By: Merritt, S.A.; Kareenahalli, S.; Gopalan, B.P.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Wood, C.E.C.; Dagenais, M.;
By: Merritt, S.A.; Kareenahalli, S.; Gopalan, B.P.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Wood, C.E.C.; Dagenais, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-3721-2
By: Volz, L.; Fredrickson, L.; Maguire, G.; Heydari, F.; Stone, D.; Castello, R.; Betti, G.; Alini, R.;
By: Volz, L.; Fredrickson, L.; Maguire, G.; Heydari, F.; Stone, D.; Castello, R.; Betti, G.; Alini, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Cho, S.H.; Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.; Nam, K.; Hovinen, M.; Lu, C.C.;
By: Cho, S.H.; Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.; Nam, K.; Hovinen, M.; Lu, C.C.;
1997 / IEEE
By: Hovinen, M.; Lu, C.C.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Nam, K.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.;
By: Hovinen, M.; Lu, C.C.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Nam, K.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.;
1997 / IEEE
By: Gadducci, P.; Betti, G.; Stone, D.; Volz, L.; Heydari, F.; Fredrickson, L.; Reddy, D.; Maguire, G.; Marconetti, E.;
By: Gadducci, P.; Betti, G.; Stone, D.; Volz, L.; Heydari, F.; Fredrickson, L.; Reddy, D.; Maguire, G.; Marconetti, E.;
1997 / IEEE / 0-7803-3891-X
By: Springthorpe, A.; Stone, D.; Chen, Y.J.; Dagenais, M.; Copeland, D.J.; Didde, S.; Merritt, S.A.; Tabatabaei, S.B.;
By: Springthorpe, A.; Stone, D.; Chen, Y.J.; Dagenais, M.; Copeland, D.J.; Didde, S.; Merritt, S.A.; Tabatabaei, S.B.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Stone, D.; Euliss, G.; Tayag, T.J.; Dagenais, M.; Saini, S.; Kareenahalli, S.;
By: Stone, D.; Euliss, G.; Tayag, T.J.; Dagenais, M.; Saini, S.; Kareenahalli, S.;
1997 / IEEE
By: Bartolo, R.E.; Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agarwala, S.; Whaley, R.;
By: Bartolo, R.E.; Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agarwala, S.; Whaley, R.;
1997 / IEEE
By: Marchese, S.; Marconetti, E.; Demicheli, M.; Dati, A.; Gadducci, P.; Brianti, F.; Bollati, G.; Bietti, I.; Betti, G.; Alini, R.; Volz, L.; Stone, D.; Fredrickson, L.; Reddy, D.; O'hEarcain, N.; O'Brien, J.; O'Brien, F.; McDonagh, S.; Marrow, M.; Maguire, G.; Gillen, P.; Heydari, F.; Castello, R.; Zuffada, M.; Pisati, V.;
By: Marchese, S.; Marconetti, E.; Demicheli, M.; Dati, A.; Gadducci, P.; Brianti, F.; Bollati, G.; Bietti, I.; Betti, G.; Alini, R.; Volz, L.; Stone, D.; Fredrickson, L.; Reddy, D.; O'hEarcain, N.; O'Brien, J.; O'Brien, F.; McDonagh, S.; Marrow, M.; Maguire, G.; Gillen, P.; Heydari, F.; Castello, R.; Zuffada, M.; Pisati, V.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agrawala, S.; Whaley, R.; Stone, D.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Vusirikala, V.;
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agrawala, S.; Whaley, R.; Stone, D.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Vusirikala, V.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Stone, D.; Dagenais, M.; Yung Jui Chen; Shan Zhong; Chau-Han Lee; Haifeng Li;
By: Stone, D.; Dagenais, M.; Yung Jui Chen; Shan Zhong; Chau-Han Lee; Haifeng Li;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Vusirikala, V.; Fox, S.; Cho, S.H.;
By: Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Vusirikala, V.; Fox, S.; Cho, S.H.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Wenhua Lin; Chau-Han Lee; Haifeng Li; Stone, D.; Yunglui Chen; Didde, S.;
By: Wenhua Lin; Chau-Han Lee; Haifeng Li; Stone, D.; Yunglui Chen; Didde, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Hu, Y.; Song, J.H.; Fox, S.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Fan, Z.F.; Bugge, F.; Erbert, G.; Stone, D.; Johnson, F.G.;
By: Hu, Y.; Song, J.H.; Fox, S.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Fan, Z.F.; Bugge, F.; Erbert, G.; Stone, D.; Johnson, F.G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5515-6
By: Hong-Jun Yoon; Wang, Z.; Cummins, J.C.; Yu, D.C.; Stone, D.; Kojovic, L.A.;
By: Hong-Jun Yoon; Wang, Z.; Cummins, J.C.; Yu, D.C.; Stone, D.; Kojovic, L.A.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Yung-Jui Chen; Xiao-Hui Yang; Xiao Lin; Chau-Han Lee; Shan Zhong; Stone, D.;
By: Yung-Jui Chen; Xiao-Hui Yang; Xiao Lin; Chau-Han Lee; Shan Zhong; Stone, D.;
1999 / IEEE
By: Dagenais, M.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Saini, S.S.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Bartolo, R.E.; Heim, P.J.S.;
By: Dagenais, M.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Saini, S.S.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Bartolo, R.E.; Heim, P.J.S.;
2001 / IEEE
By: Stewart, I.R.; Qiang Wang; Wei Chen; Lee, C.D.; Yung-Jui Chen; Mincher, R.; Smith, R.F.; Stone, D.; Beard, W.T.;
By: Stewart, I.R.; Qiang Wang; Wei Chen; Lee, C.D.; Yung-Jui Chen; Mincher, R.; Smith, R.F.; Stone, D.; Beard, W.T.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Dagenais, M.; Hu, Y.; Stone, D.; Luciani, V.; Saini, S.; Heim, P.; Yu, A.; Leavitt, R.; Wilson, S.; Horton, T.;
By: Dagenais, M.; Hu, Y.; Stone, D.; Luciani, V.; Saini, S.; Heim, P.; Yu, A.; Leavitt, R.; Wilson, S.; Horton, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Konoplev, O.; Dagenais, M.; Stone, D.; Leavitt, R.; Merritt, S.; Heim, P.J.S.; Saini, S.; Hu, Y.; Bowler, D.; Wilson, S.;
By: Konoplev, O.; Dagenais, M.; Stone, D.; Leavitt, R.; Merritt, S.; Heim, P.J.S.; Saini, S.; Hu, Y.; Bowler, D.; Wilson, S.;
1982 / IEEE
By: Stone, D.; Felch, K.; Kreischer, K.E.; Temkin, R.J.; Wendell, G.; Garcia, R.; Jory, H.;
By: Stone, D.; Felch, K.; Kreischer, K.E.; Temkin, R.J.; Wendell, G.; Garcia, R.; Jory, H.;