Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Stevens, R.
Results
2012 / IEEE
By: Galloway, T.; Tan, V.; Vila, B.; Stevens, R.; Johnson, R.R.; Behneman, A.; Berka, C.; Raphael, G.;
By: Galloway, T.; Tan, V.; Vila, B.; Stevens, R.; Johnson, R.R.; Behneman, A.; Berka, C.; Raphael, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1948-6
By: Kellens, A.; Jonckers, V.; Stevens, R.; Noguera, C.; De Roover, C.;
By: Kellens, A.; Jonckers, V.; Stevens, R.; Noguera, C.; De Roover, C.;
1995 / IEEE
By: Moore, K.; Green, S.; Dongarra, J.; Browne, S.; Disz, T.; Ogson, B.; Rowan, T.; Pool, J.; Stevens, R.; Kennedy, K.; Hawick, K.; Fox, G.; Wade, R.;
By: Moore, K.; Green, S.; Dongarra, J.; Browne, S.; Disz, T.; Ogson, B.; Rowan, T.; Pool, J.; Stevens, R.; Kennedy, K.; Hawick, K.; Fox, G.; Wade, R.;
1995 / IEEE
By: Papka, M.E.; Olson, R.; Nickless, W.; Henderson, M.W.; Evard, R.; Disz, T.L.; Stevens, R.;
By: Papka, M.E.; Olson, R.; Nickless, W.; Henderson, M.W.; Evard, R.; Disz, T.L.; Stevens, R.;
1996 / IEEE
By: Arseneau, R.; Williams, D.; Unruh, T.; Stevens, R.; Srinivasan, K.; Piehl, D.; Oldham, N.; Nelson, T.; McEachern, A.; McComb, T.; Kortebein, W.; Iwanusiw, D.; Hensley, G.; Shu-Dong He; Hartmann, D.; Girgis, A.; Gunther, E.; Filipski, P.; Emanuel, A.; Crampton, S.; Cox, M.; Chiaravallo, A.; Braun, A.; Bowes, K.; Belanger, J.; Baghzouz, Y.;
By: Arseneau, R.; Williams, D.; Unruh, T.; Stevens, R.; Srinivasan, K.; Piehl, D.; Oldham, N.; Nelson, T.; McEachern, A.; McComb, T.; Kortebein, W.; Iwanusiw, D.; Hensley, G.; Shu-Dong He; Hartmann, D.; Girgis, A.; Gunther, E.; Filipski, P.; Emanuel, A.; Crampton, S.; Cox, M.; Chiaravallo, A.; Braun, A.; Bowes, K.; Belanger, J.; Baghzouz, Y.;
1996 / IEEE
By: Braun, A.; Emanuel, A.; Belanger, J.; Baghzouz, Y.; Arseneau, R.; Bowes, K.; Williams, D.; Unruh, T.; Stevens, R.; Srinivasan, K.; Piehl, D.; Oldham, N.; Nelson, T.; McEachern, A.; McComb, T.; Kortebein, W.; Iwanusiw, D.; Hensley, G.; Shu-Dong He; Hartmann, D.; Girgis, A.; Gunther, E.; Filipski, P.; Chiaravallo, A.; Cox, M.; Crampton, S.;
By: Braun, A.; Emanuel, A.; Belanger, J.; Baghzouz, Y.; Arseneau, R.; Bowes, K.; Williams, D.; Unruh, T.; Stevens, R.; Srinivasan, K.; Piehl, D.; Oldham, N.; Nelson, T.; McEachern, A.; McComb, T.; Kortebein, W.; Iwanusiw, D.; Hensley, G.; Shu-Dong He; Hartmann, D.; Girgis, A.; Gunther, E.; Filipski, P.; Chiaravallo, A.; Cox, M.; Crampton, S.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Rapp, S.; Stevens, R.; Karlsson, A.; Streubel, K.; Goobar, E.; Schatz, R.;
By: Rapp, S.; Stevens, R.; Karlsson, A.; Streubel, K.; Goobar, E.; Schatz, R.;
1999 / IEEE / 0-7695-0046-3
By: Brass, A.; Bechhofer, S.; Goble, C.A.; Baker, P.; Stevens, R.; Paton, N.W.;
By: Brass, A.; Bechhofer, S.; Goble, C.A.; Baker, P.; Stevens, R.; Paton, N.W.;
1999 / IEEE / 0-7695-0046-3
By: Stevens, R.; Brass, A.; Bechhofer, S.; Goble, C.A.; Ng, G.; Baker, P.; Paton, N.W.;
By: Stevens, R.; Brass, A.; Bechhofer, S.; Goble, C.A.; Ng, G.; Baker, P.; Paton, N.W.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Gough, R.; Thomae, R.; Ingalls, W.; Stevens, R.; Prichard, B.; Keller, R.; Sanders, O.; Williams, M.; Meyer, D.; Leung, K.;
By: Gough, R.; Thomae, R.; Ingalls, W.; Stevens, R.; Prichard, B.; Keller, R.; Sanders, O.; Williams, M.; Meyer, D.; Leung, K.;
1999 / IEEE
By: Stevens, R.; Armitage, S.; Antonelli, S.; Montangero, C.; Finkelstein, A.; Emmerich, W.;
By: Stevens, R.; Armitage, S.; Antonelli, S.; Montangero, C.; Finkelstein, A.; Emmerich, W.;
2000 / IEEE
By: Zingale, M.; Lusk, E.; Tueo, H.; Truran, J.W.; Timmes, F.X.; Ricker, P.; Yuan-Nan Young; Olson, K.; Niemeyer, J.C.; Lamb, D.Q.; Fryxell, B.; Dursi, J.; Calder, A.; Rosner, R.; Stevens, R.;
By: Zingale, M.; Lusk, E.; Tueo, H.; Truran, J.W.; Timmes, F.X.; Ricker, P.; Yuan-Nan Young; Olson, K.; Niemeyer, J.C.; Lamb, D.Q.; Fryxell, B.; Dursi, J.; Calder, A.; Rosner, R.; Stevens, R.;
2000 / IEEE / 0-7695-0783-2
By: Hereld, M.; Wu, X.; Taylor, V.E.; Judson, I.R.; Geisler, J.; Stevens, R.; Lan, Z.; Li, X.;
By: Hereld, M.; Wu, X.; Taylor, V.E.; Judson, I.R.; Geisler, J.; Stevens, R.; Lan, Z.; Li, X.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Corcoran, P.; Altes, R.; Johnson, D.L.; Hunt, E.; Droemer, D.; Cooperstein, G.; Carlson, R.; White, R.; Maenchen, J.E.; Gustwiller, J.; Weidenheimer, D.; Stevens, R.; Smith, I.; Nishimoto, H.; Douglas, J.;
By: Corcoran, P.; Altes, R.; Johnson, D.L.; Hunt, E.; Droemer, D.; Cooperstein, G.; Carlson, R.; White, R.; Maenchen, J.E.; Gustwiller, J.; Weidenheimer, D.; Stevens, R.; Smith, I.; Nishimoto, H.; Douglas, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Smith, I.; Stevens, R.; Nishimoto, H.; Douglas, J.; Altes, R.; Corcoran, P.; Weidenheimer, D.; Hunt, E.; Cooperstein, G.; Fulton, R.D.; Carlson, R.; Menge, P.; Maenchen, J.E.; Gustwiller, J.; White, R.; Johnson, D.L.;
By: Smith, I.; Stevens, R.; Nishimoto, H.; Douglas, J.; Altes, R.; Corcoran, P.; Weidenheimer, D.; Hunt, E.; Cooperstein, G.; Fulton, R.D.; Carlson, R.; Menge, P.; Maenchen, J.E.; Gustwiller, J.; White, R.; Johnson, D.L.;
2002 / IEEE / 0-7695-1573-8
By: Hereld, M.; Stevens, R.; Stodghill, P.; Pingali, K.; Sterling, T.L.; Jizhu Lu; Haiping Wu; Ziang Hu; Theobald, K.B.; Gao, G.R.;
By: Hereld, M.; Stevens, R.; Stodghill, P.; Pingali, K.; Sterling, T.L.; Jizhu Lu; Haiping Wu; Ziang Hu; Theobald, K.B.; Gao, G.R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7454-1
By: Chana, K.S.; Stevens, R.; Reuben, R.L.; Jones, J.D.C.; Anderson, S.J.; Barton, J.S.; MacPherson, W.N.; Gander, M.J.; Jones, T.V.;
By: Chana, K.S.; Stevens, R.; Reuben, R.L.; Jones, J.D.C.; Anderson, S.J.; Barton, J.S.; MacPherson, W.N.; Gander, M.J.; Jones, T.V.;
2003 / IEEE
By: MacPherson, W.N.; Gander, M.J.; Jones, T.V.; Anderson, S.J.; Chana, K.S.; Stevens, R.; Jones, J.D.C.; Reuben, R.L.; Barton, J.S.;
By: MacPherson, W.N.; Gander, M.J.; Jones, T.V.; Anderson, S.J.; Chana, K.S.; Stevens, R.; Jones, J.D.C.; Reuben, R.L.; Barton, J.S.;
2003 / IEEE / 0-7695-1919-9
By: Moreau, L.; Miles, S.; Wroe, C.; Wipat, A.; Warboys, B.; Stevens, R.; Sharman, N.; Senger, M.; Rodden, T.; Robinson, A.; Roberts, A.; Radenkovic, M.V.; Pettifer, S.; Paton, N.; Oinn, T.; Marvin, D.; Luck, M.; Lord, P.; Xiaojian Liu; Li, P.; Greenhalgh, C.; Glover, K.; Gaizauskas, R.; Goble, C.; Greenwood, M.; Dialani, V.; Addis, M.; Alpdemir, N.; Cawley, R.; De Roure, D.; Ferris, J.;
By: Moreau, L.; Miles, S.; Wroe, C.; Wipat, A.; Warboys, B.; Stevens, R.; Sharman, N.; Senger, M.; Rodden, T.; Robinson, A.; Roberts, A.; Radenkovic, M.V.; Pettifer, S.; Paton, N.; Oinn, T.; Marvin, D.; Luck, M.; Lord, P.; Xiaojian Liu; Li, P.; Greenhalgh, C.; Glover, K.; Gaizauskas, R.; Goble, C.; Greenwood, M.; Dialani, V.; Addis, M.; Alpdemir, N.; Cawley, R.; De Roure, D.; Ferris, J.;
2003 / IEEE / 4-8181-9515-4
By: Stevens, R.; Wang, L.; She, J.C.; Aplin, K.L.; Kent, B.J.; Loader, I.; Huq, S.E.;
By: Stevens, R.; Wang, L.; She, J.C.; Aplin, K.L.; Kent, B.J.; Loader, I.; Huq, S.E.;
2004 / IEEE / 0-7803-8312-5
By: Ohmoto, Y.; Cummings, S.; Waeterloos, J.; Rozeveld, S.; Beach, E.; Strittmatter, R.; Archer, L.; Mills, M.; Im, J.; Yang, K.; Lucero, S.; Stevens, R.;
By: Ohmoto, Y.; Cummings, S.; Waeterloos, J.; Rozeveld, S.; Beach, E.; Strittmatter, R.; Archer, L.; Mills, M.; Im, J.; Yang, K.; Lucero, S.; Stevens, R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8267-6
By: Ali, W.; Cheng, W.; Stevens, R.; Linder, L.; Devendorf, D.; Tat, T.; Liu, K.; Moon-Jung Choi;
By: Ali, W.; Cheng, W.; Stevens, R.; Linder, L.; Devendorf, D.; Tat, T.; Liu, K.; Moon-Jung Choi;
2004 / IEEE / 0-7803-8397-4
By: Collingwood, C.M.; Loader, I.M.; Thomas, G.R.; Huq, S.E.; Stevens, R.; Malik, A.; Kent, B.J.; Aplin, K.L.; Wang, L.; Blom, H.O.;
By: Collingwood, C.M.; Loader, I.M.; Thomas, G.R.; Huq, S.E.; Stevens, R.; Malik, A.; Kent, B.J.; Aplin, K.L.; Wang, L.; Blom, H.O.;
2005 / IEEE / 0-7803-8907-7
By: Hamelin, R.; Volpert, M.; Stevens, R.; Bernabe, S.; Hammar, M.; Rossat, C.; Berggren, J.; Sundgren, P.; Kopp, C.; Lombard, L.; Berger, F.;
By: Hamelin, R.; Volpert, M.; Stevens, R.; Bernabe, S.; Hammar, M.; Rossat, C.; Berggren, J.; Sundgren, P.; Kopp, C.; Lombard, L.; Berger, F.;
2005 / IEEE / 1-59593-061-2
By: Grossman, R.; Sabala, M.; Stevens, R.; Papka, M.; Leigh, J.; Alimohideen, J.; Rorem, D.; Nelson, P.; Dillenburg, J.; Vejcik, S.; Chaves, J.; Pei Zhang; Wilkinson, L.; Aanand, A.; Eick, S.;
By: Grossman, R.; Sabala, M.; Stevens, R.; Papka, M.; Leigh, J.; Alimohideen, J.; Rorem, D.; Nelson, P.; Dillenburg, J.; Vejcik, S.; Chaves, J.; Pei Zhang; Wilkinson, L.; Aanand, A.; Eick, S.;
2005 / IEEE / 0-7695-2448-6
By: Wroe, C.; Ferris, J.; Goble, C.; Oinn, T.; Lord, P.; Stevens, R.; Wolstencroft, K.; Glover, K.;
By: Wroe, C.; Ferris, J.; Goble, C.; Oinn, T.; Lord, P.; Stevens, R.; Wolstencroft, K.; Glover, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8397-4
By: Aplin, K.L.; Wang, L.; Stevens, R.; Rouse, J.; Lockwood, H.F.; Kent, B.J.;
By: Aplin, K.L.; Wang, L.; Stevens, R.; Rouse, J.; Lockwood, H.F.; Kent, B.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8397-4
By: Aplin, K.L.; Wang, L.; Thomas, G.R.; Loader, I.M.; Huq, S.E.; Malik, A.; Kent, B.J.; Stevens, R.;
By: Aplin, K.L.; Wang, L.; Thomas, G.R.; Loader, I.M.; Huq, S.E.; Malik, A.; Kent, B.J.; Stevens, R.;
2005 / IEEE / 1-4244-0030-9
By: Cooper, M.; Gerosa, L.; Giordani, A.; Soller, A.; Stevens, R.; Cox, C.;
By: Cooper, M.; Gerosa, L.; Giordani, A.; Soller, A.; Stevens, R.; Cox, C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Corcoran, P.; Fishlock, S.; Swierkosz, M.; Summers, A.; Smith, I.; Bockle, M.; Bryant, T.; Thomas, K.; da Silva, K.; Tatman, T.; DeRosa, J.; Douglas, J.; Whitney, B.; Stevens, R.; Spelts, D.; da Silva, T.; Pearce, J.; Kishi, H.; Altes, R.; Bailey, V.; Smith, I.; Carboni, V.;
By: Corcoran, P.; Fishlock, S.; Swierkosz, M.; Summers, A.; Smith, I.; Bockle, M.; Bryant, T.; Thomas, K.; da Silva, K.; Tatman, T.; DeRosa, J.; Douglas, J.; Whitney, B.; Stevens, R.; Spelts, D.; da Silva, T.; Pearce, J.; Kishi, H.; Altes, R.; Bailey, V.; Smith, I.; Carboni, V.;
2007 / IEEE / 1-4244-0984-5
By: Horst, F.; Lamprecht, T.; Gmur, M.; Hamelin, R.; Dangel, R.; Beyeler, R.; Berger, C.; Dellmann, L.; Offrein, B.J.; Stevens, R.; Spreafico, M.; Oggioni, S.; Morf, T.; Meier, N.;
By: Horst, F.; Lamprecht, T.; Gmur, M.; Hamelin, R.; Dangel, R.; Beyeler, R.; Berger, C.; Dellmann, L.; Offrein, B.J.; Stevens, R.; Spreafico, M.; Oggioni, S.; Morf, T.; Meier, N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Corcoran, P.; Swierkosz, M.; Whitney, B.; Sanders, P.; Hanzel, K.; Broff, R.; Smith, I.; Kishi, H.; Carboni, V.; Pearce, J.; Stevens, R.; Douglas, J.; Thomas, K.; Bockle, M.; Myall, M.; Bailey, V.;
By: Corcoran, P.; Swierkosz, M.; Whitney, B.; Sanders, P.; Hanzel, K.; Broff, R.; Smith, I.; Kishi, H.; Carboni, V.; Pearce, J.; Stevens, R.; Douglas, J.; Thomas, K.; Bockle, M.; Myall, M.; Bailey, V.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Thomas, K.; Bockle, M.; Bailey, V.; Stevens, R.; Pearce, J.; Smith, I.; Douglas, J.; Broff, R.; Hanzel, K.; Sanders, P.; Whitney, B.; Kishi, H.; Carboni, V.; Corcoran, P.; Swierkosz, M.; Myall, M.;
By: Thomas, K.; Bockle, M.; Bailey, V.; Stevens, R.; Pearce, J.; Smith, I.; Douglas, J.; Broff, R.; Hanzel, K.; Sanders, P.; Whitney, B.; Kishi, H.; Carboni, V.; Corcoran, P.; Swierkosz, M.; Myall, M.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Towrie, M.; Botchway, S.W.; Pollard, M.; Ward, A.D.; Turchetta, R.; Stevens, R.; Prydderch, M.L.; Parker, A.W.; O'Neill, P.; Loader, I.M.; Jenkins, D.W.K.; Halsall, R.N.J.; Freeman, E.J.; Clark, A.T.;
By: Towrie, M.; Botchway, S.W.; Pollard, M.; Ward, A.D.; Turchetta, R.; Stevens, R.; Prydderch, M.L.; Parker, A.W.; O'Neill, P.; Loader, I.M.; Jenkins, D.W.K.; Halsall, R.N.J.; Freeman, E.J.; Clark, A.T.;
2008 / IEEE
By: Heverhagen, J.T.; Koch, R.M.; Clymer, B.D.; Kale, M.C.; Knopp, M.V.; Stevens, R.; Sammet, S.;
By: Heverhagen, J.T.; Koch, R.M.; Clymer, B.D.; Kale, M.C.; Knopp, M.V.; Stevens, R.; Sammet, S.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap