Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Song, Y.
Results
2012 / IEEE
By: Mitchell, N.; Dolgetta, N.; Rodriguez-Mateos, F.; Ilin, I.; Bi, Y.; Sahu, A.K.; Devred, A.; Bauer, P.; Lu, K.; Gung, C.Y.; Song, Y.;
By: Mitchell, N.; Dolgetta, N.; Rodriguez-Mateos, F.; Ilin, I.; Bi, Y.; Sahu, A.K.; Devred, A.; Bauer, P.; Lu, K.; Gung, C.Y.; Song, Y.;
2012 / IEEE
By: Knaster, J.; Lorriere, P.; Gung, C.Y.; Ilyin, Y.; Dolgetta, N.; Devred, A.; Chen, Y.; Bauer, P.; Zhou, T.; Song, Y.; Sahu, A.K.; Rodriguez-Mateos, F.; Nannini, M.; Mitchell, N.; Lu, K.;
By: Knaster, J.; Lorriere, P.; Gung, C.Y.; Ilyin, Y.; Dolgetta, N.; Devred, A.; Chen, Y.; Bauer, P.; Zhou, T.; Song, Y.; Sahu, A.K.; Rodriguez-Mateos, F.; Nannini, M.; Mitchell, N.; Lu, K.;
2012 / IEEE
By: Gung, C.; Bauer, P.; Song, Y.; Huang, X.; Ni, Q.; Shen, G.; Devred, A.; Zhou, T.; Feng, H.; Ding, K.; Bi, Y.; Liu, C.; Mitchell, N.;
By: Gung, C.; Bauer, P.; Song, Y.; Huang, X.; Ni, Q.; Shen, G.; Devred, A.; Zhou, T.; Feng, H.; Ding, K.; Bi, Y.; Liu, C.; Mitchell, N.;
2012 / IEEE
By: Zhou, T.; Yang, Y.; Taylor, T.; Song, Y.; Shen, G.; Mitchell, N.; Ballarino, A.; Foussat, A.; Ding, K.; Devred, A.; Bi, Y.; Bauer, P.;
By: Zhou, T.; Yang, Y.; Taylor, T.; Song, Y.; Shen, G.; Mitchell, N.; Ballarino, A.; Foussat, A.; Ding, K.; Devred, A.; Bi, Y.; Bauer, P.;
2000 / IEEE
By: Levine, J.; Coleman, P.; Schneider, R.; Bell, D.; McGurn, J.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Whitney, K. G.; Weber, B.; Velikovich, A. L.; Thornhill, J.; Failor, B.; Fisher, A.; Lam, S. K.; Riordan, J.; Song, Y.; Sze, H. M.; Apruzese, J.; Cochran, F.; Davis, J.; Moosman, B.;
By: Levine, J.; Coleman, P.; Schneider, R.; Bell, D.; McGurn, J.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Whitney, K. G.; Weber, B.; Velikovich, A. L.; Thornhill, J.; Failor, B.; Fisher, A.; Lam, S. K.; Riordan, J.; Song, Y.; Sze, H. M.; Apruzese, J.; Cochran, F.; Davis, J.; Moosman, B.;
2000 / IEEE
By: Sze, H.; Coleman, P.; Schneider, R.; Gullickson, R.; Bell, D.; Deeney, C.; Coverdale, C. A.; Failor, B.; Fisher, A.; Levine, J.; Song, Y.; Waisman, E.; Apruzese, J. P.; Davis, J.; Mosher, D.; Thornhill, J. W.; Velikovich, A. L.; Weber, B. V.;
By: Sze, H.; Coleman, P.; Schneider, R.; Gullickson, R.; Bell, D.; Deeney, C.; Coverdale, C. A.; Failor, B.; Fisher, A.; Levine, J.; Song, Y.; Waisman, E.; Apruzese, J. P.; Davis, J.; Mosher, D.; Thornhill, J. W.; Velikovich, A. L.; Weber, B. V.;
2015 / IEEE
By: Choi, S.; Kang, J.; Jeong, J.; Shin, M.; Park, S.; Song, Y.; Ahn, S.; Yeon, J.; Kim, J.;
By: Choi, S.; Kang, J.; Jeong, J.; Shin, M.; Park, S.; Song, Y.; Ahn, S.; Yeon, J.; Kim, J.;
2014 / IEEE
By: Tan, J.; Ni, S.-B.; Zhong, E.-W.; Lu, J.-G.; Zhu, J.-L.; Wang, Y.-J.; Liu, S.-Y.; Song, Y.;
By: Tan, J.; Ni, S.-B.; Zhong, E.-W.; Lu, J.-G.; Zhu, J.-L.; Wang, Y.-J.; Liu, S.-Y.; Song, Y.;
2014 / IEEE
By: Li, K.; Jin, C.; Wang, X.; Zeng, B.; Li, J.; Feng, Z.; Li, C.; Fang, G.; Song, Y.; Su, R.;
By: Li, K.; Jin, C.; Wang, X.; Zeng, B.; Li, J.; Feng, Z.; Li, C.; Fang, G.; Song, Y.; Su, R.;
2014 / IEEE
By: Chang, E.Y.; Hsieh, T.; Hu, C.C.; Salahuddin, S.; Liu, S.; Wang, H.; Lin, Y.; Song, Y.;
By: Chang, E.Y.; Hsieh, T.; Hu, C.C.; Salahuddin, S.; Liu, S.; Wang, H.; Lin, Y.; Song, Y.;
2014 / IEEE
By: Jung, K.; Kim, C.; Shin, J.; Yang, H.; Wang, C.; Qin, P.; Kim, H.; Kim, J.; Song, Y.;
By: Jung, K.; Kim, C.; Shin, J.; Yang, H.; Wang, C.; Qin, P.; Kim, H.; Kim, J.; Song, Y.;
2014 / IEEE
By: Song, Y.; Tan, J.; Shieh, H.-P. D.; Yang, B.-R.; Zhu, J.-L.; Sun, X.-Y.; Wang, Y.-J.; Ni, S.-B.; Lu, J.-G.;
By: Song, Y.; Tan, J.; Shieh, H.-P. D.; Yang, B.-R.; Zhu, J.-L.; Sun, X.-Y.; Wang, Y.-J.; Ni, S.-B.; Lu, J.-G.;
1988 / IEEE
By: Osborn, J.V.; Elder, J.H.; Koga, R.; Kolasinski, W.A.; Witteles, A.A.; Martin, R.C.; Vu, K.N.; Song, Y.; Cable, J.S.; Ghoniem, N.M.;
By: Osborn, J.V.; Elder, J.H.; Koga, R.; Kolasinski, W.A.; Witteles, A.A.; Martin, R.C.; Vu, K.N.; Song, Y.; Cable, J.S.; Ghoniem, N.M.;
1989 / IEEE
By: Hafizi, M.E.; Oki, A.K.; Kim, M.E.; Song, Y.; Kobayashi, K.W.; Camou, J.B.; Murlin, W.D.;
By: Hafizi, M.E.; Oki, A.K.; Kim, M.E.; Song, Y.; Kobayashi, K.W.; Camou, J.B.; Murlin, W.D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Riordan, J.; Apruzese, J.; Yadlowsky, E.; Whitton, B.; Whitney, K.; Weber, B.; Waisman, E.; Thornhill, J.; Struve, K.; Stephanakis, S.; Stallings, C.; Spence, P.; Song, Y.; Sincerny, P.; Schnieder, R.; Schlitt, L.; Roth, I.; Murphy, H.; Mosher, D.; Moosman, B.; McGurn, J.; Krishnan, M.; Kortbawi, D.; Levine, J.; LePell, D.; Jobe, D.; Fisher, A.; Failor, B.; Deeney, C.; Chochran, F.; Coleman, P.; Commisso, R.; Coverdale, C.; Davis, J.;
By: Riordan, J.; Apruzese, J.; Yadlowsky, E.; Whitton, B.; Whitney, K.; Weber, B.; Waisman, E.; Thornhill, J.; Struve, K.; Stephanakis, S.; Stallings, C.; Spence, P.; Song, Y.; Sincerny, P.; Schnieder, R.; Schlitt, L.; Roth, I.; Murphy, H.; Mosher, D.; Moosman, B.; McGurn, J.; Krishnan, M.; Kortbawi, D.; Levine, J.; LePell, D.; Jobe, D.; Fisher, A.; Failor, B.; Deeney, C.; Chochran, F.; Coleman, P.; Commisso, R.; Coverdale, C.; Davis, J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Hinshelwood, D.D.; Fisher, R.C.; Moosman, B.; Stephanakis, S.J.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.; Levine, J.S.; Song, Y.; LePell, P.D.; Riordan, J.C.; Fisher, A.;
By: Hinshelwood, D.D.; Fisher, R.C.; Moosman, B.; Stephanakis, S.J.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.; Levine, J.S.; Song, Y.; LePell, P.D.; Riordan, J.C.; Fisher, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Apruzese, J.P.; Davis, J.; Deeney, C.; Waisman, E.M.; McGurn, J.S.; Sze, H.M.; Song, Y.; Riordan, J.C.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Levine, J.S.; Schneider, R.F.; Qi, N.; Gensler, S.; Whitney, K.G.; Weber, B.V.; Thornhill, J.W.; Stephanakis, S.; Moosman, B.; Fisher, A.;
By: Apruzese, J.P.; Davis, J.; Deeney, C.; Waisman, E.M.; McGurn, J.S.; Sze, H.M.; Song, Y.; Riordan, J.C.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Levine, J.S.; Schneider, R.F.; Qi, N.; Gensler, S.; Whitney, K.G.; Weber, B.V.; Thornhill, J.W.; Stephanakis, S.; Moosman, B.; Fisher, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Niemel, J.; Barakat, F.; Yadlowsky, E.J.; Whitney, K.; Cochran, F.; Davis, J.; Apruzese, J.; Whitton, B.; Song, Y.; Carlson, E.P.; Levine, J.; Coleman, P.; Failor, B.; Riordan, J.; Klepper, C.C.; Hazelton, R.C.;
By: Niemel, J.; Barakat, F.; Yadlowsky, E.J.; Whitney, K.; Cochran, F.; Davis, J.; Apruzese, J.; Whitton, B.; Song, Y.; Carlson, E.P.; Levine, J.; Coleman, P.; Failor, B.; Riordan, J.; Klepper, C.C.; Hazelton, R.C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Levine, J.S.; Riordan, J.C.; Kortbawi, D.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Song, Y.; Schneider, R.F.; Fisher, A.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Moosman, B.; Commisso, R.J.; Thompson, J.R.; Sze, H.M.;
By: Levine, J.S.; Riordan, J.C.; Kortbawi, D.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Song, Y.; Schneider, R.F.; Fisher, A.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Moosman, B.; Commisso, R.J.; Thompson, J.R.; Sze, H.M.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Apruzese, J.B.; Davis, J.; Song, Y.; Levine, J.S.; Failor, B.H.; Spielman, R.B.; Bailey, J.E.; Deeney, C.; Coverdale, C.R.; Klepper, C.C.; Hazelton, R.C.; Barakat, F.; Carlson, E.P.; Yadlowsky, E.J.; Whitten, B.L.;
By: Apruzese, J.B.; Davis, J.; Song, Y.; Levine, J.S.; Failor, B.H.; Spielman, R.B.; Bailey, J.E.; Deeney, C.; Coverdale, C.R.; Klepper, C.C.; Hazelton, R.C.; Barakat, F.; Carlson, E.P.; Yadlowsky, E.J.; Whitten, B.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Coleman, P.L.; Song, Y.; Schneider, R.F.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Failor, B.H.; Waisman, E.; Sze, H.M.; Levine, J.S.; Ingermanson, R.; Fisher, A.;
By: Coleman, P.L.; Song, Y.; Schneider, R.F.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Failor, B.H.; Waisman, E.; Sze, H.M.; Levine, J.S.; Ingermanson, R.; Fisher, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Parks, D.; Song, Y.; Sze, H.; Waisman, E.; Coleman, P.; Moosman, B.; Steen, P.; Mosher, D.; Fisher, A.; Weber, B.; Failor, B.; Levine, J.;
By: Parks, D.; Song, Y.; Sze, H.; Waisman, E.; Coleman, P.; Moosman, B.; Steen, P.; Mosher, D.; Fisher, A.; Weber, B.; Failor, B.; Levine, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Levine, J.S.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Sze, H.; Song, Y.;
By: Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Levine, J.S.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Sze, H.; Song, Y.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: McGurn, J.S.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Whitney, K.G.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Thornhill, J.W.; Moosman, B.; Cochran, F.L.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Sze, H.M.; Song, Y.; Riordan, J.C.; Lam, S.K.; Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Levine, J.S.; Schneider, R.;
By: McGurn, J.S.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Whitney, K.G.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Thornhill, J.W.; Moosman, B.; Cochran, F.L.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Sze, H.M.; Song, Y.; Riordan, J.C.; Lam, S.K.; Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Levine, J.S.; Schneider, R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Levine, J.S.; Ingermanson, R.S.; Chantrenne, S.; Sze, H.; Song, Y.; Parks, D.; Failor, B.H.; Coleman, P.A.; Waisman, E.M.; Steen, P.;
By: Levine, J.S.; Ingermanson, R.S.; Chantrenne, S.; Sze, H.; Song, Y.; Parks, D.; Failor, B.H.; Coleman, P.A.; Waisman, E.M.; Steen, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Song, Y.; Sze, H.; Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Banister, J.; Levine, J.S.; Bell, D.; Stygar, W.; Struve, K.; Spielman, R.; Mcgurn, J.; Gilliland, T.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Thornhill, J.W.; Mosher, D.; Davis, J.;
By: Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Song, Y.; Sze, H.; Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Banister, J.; Levine, J.S.; Bell, D.; Stygar, W.; Struve, K.; Spielman, R.; Mcgurn, J.; Gilliland, T.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Thornhill, J.W.; Mosher, D.; Davis, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Banister, J.; Coleman, P.L.; Bell, D.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Apruzese, J.P.; Waisman, E.M.; Sze, H.; Song, Y.; Levine, J.S.; Fisher, A.; Failor, B.H.;
By: Banister, J.; Coleman, P.L.; Bell, D.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Apruzese, J.P.; Waisman, E.M.; Sze, H.; Song, Y.; Levine, J.S.; Fisher, A.; Failor, B.H.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Sze, H.; Bell, D.; Chantrenne, S.; Failor, P.L.C.B.H.; Fisher, A.; Levine, J.S.; Song, Y.; Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Davis, J.; Mosher, D.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Weber, B.V.; Coverdale, C.A.; Deeney, C.; Gilliland, T.; Mcgurn, J.; Spielman, R.; Struve, K.; Stygar, W.; Banister, J.;
By: Sze, H.; Bell, D.; Chantrenne, S.; Failor, P.L.C.B.H.; Fisher, A.; Levine, J.S.; Song, Y.; Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Davis, J.; Mosher, D.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Weber, B.V.; Coverdale, C.A.; Deeney, C.; Gilliland, T.; Mcgurn, J.; Spielman, R.; Struve, K.; Stygar, W.; Banister, J.;
2002 / IEEE
By: Coverdale, C.A.; Levine, J.S.; Sze, H.M.; Bell, D.; Deeney, C.; Banister, J.W.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Song, Y.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.;
By: Coverdale, C.A.; Levine, J.S.; Sze, H.M.; Bell, D.; Deeney, C.; Banister, J.W.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Song, Y.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Coverdale, C.A.; Song, Y.; Fisher, A.; Coleman, P.L.; Deeney, C.; Sze, H.M.; Levine, J.S.; Failor, B.H.; Bell, D.;
By: Coverdale, C.A.; Song, Y.; Fisher, A.; Coleman, P.L.; Deeney, C.; Sze, H.M.; Levine, J.S.; Failor, B.H.; Bell, D.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Hauer, M.; Gurkan, D.; Song, Y.; Wang, Y.; Willner, A.; Yu, C.; Pan, Z.; Starodubov, D.;
By: Hauer, M.; Gurkan, D.; Song, Y.; Wang, Y.; Willner, A.; Yu, C.; Pan, Z.; Starodubov, D.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Willner, A.; Havstad, S.; Motaghian, R.; Song, Y.; Wang, Y.; Pan, Z.;
By: Willner, A.; Havstad, S.; Motaghian, R.; Song, Y.; Wang, Y.; Pan, Z.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Willner, A.; Song, Y.; Luo, T.; Pan, Z.; McGeehan, J.; Sahin, A.; Nezam, S.M.R.M.;
By: Willner, A.; Song, Y.; Luo, T.; Pan, Z.; McGeehan, J.; Sahin, A.; Nezam, S.M.R.M.;
2003 / IEEE
By: Coleman, P.L.; Failor, B.H.; Niemel, J.; Vidoli, C.; Carlson, E.P.; Moschella, J.J.; Levine, J.S.; Hazelton, R.C.; Thornhill, J.W.; Yadlowsky, E.J.; Sze, H.M.; Song, Y.;
By: Coleman, P.L.; Failor, B.H.; Niemel, J.; Vidoli, C.; Carlson, E.P.; Moschella, J.J.; Levine, J.S.; Hazelton, R.C.; Thornhill, J.W.; Yadlowsky, E.J.; Sze, H.M.; Song, Y.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Anderson, M.; Armstrong, S.; Song, Y.; VanDrie, A.; Rostoker, N.; Qerushi, A.; Garate, E.; Bystritskii, V.; Binderbauer, M.; Isakov, I.; Shlapakovsky A; Polkovnikova, N.; Petrov, A.; Matvienko, V.; Morehouse, M.; Debolt, N.;
By: Anderson, M.; Armstrong, S.; Song, Y.; VanDrie, A.; Rostoker, N.; Qerushi, A.; Garate, E.; Bystritskii, V.; Binderbauer, M.; Isakov, I.; Shlapakovsky A; Polkovnikova, N.; Petrov, A.; Matvienko, V.; Morehouse, M.; Debolt, N.;