Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sharma, A.
Results
2011 / IEEE
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
2012 / IEEE
By: Chakravarthy, D.P.; Sharma, A.; Parekh, M.; Mangalvedekar, H.A.; Bindu, S.; Mittal, K.C.;
By: Chakravarthy, D.P.; Sharma, A.; Parekh, M.; Mangalvedekar, H.A.; Bindu, S.; Mittal, K.C.;
2012 / IEEE
By: Cholleti, S.R.; Pan, T.C.; Widener, P.; Gutman, D.A.; Jun Kong; Fusheng Wang; Sharma, A.; Carter, A.B.; Cooper, L.A.D.; Saltz, J.H.; Farris, A.B.; Brat, D.J.; Kurc, T.M.;
By: Cholleti, S.R.; Pan, T.C.; Widener, P.; Gutman, D.A.; Jun Kong; Fusheng Wang; Sharma, A.; Carter, A.B.; Cooper, L.A.D.; Saltz, J.H.; Farris, A.B.; Brat, D.J.; Kurc, T.M.;
2012 / IEEE
By: Lu, S.; Vasekar, P.; Vanhart, D.; Nandur, A.S.; Sharma, A.; Dhakal, T.P.; Hamasha, M.M.; Westgate, C.R.;
By: Lu, S.; Vasekar, P.; Vanhart, D.; Nandur, A.S.; Sharma, A.; Dhakal, T.P.; Hamasha, M.M.; Westgate, C.R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0574-8
By: Kummamuru, K.; Gangadharan, G.R.; Sharma, A.; Hartman, A.; Somasekhara, J.;
By: Kummamuru, K.; Gangadharan, G.R.; Sharma, A.; Hartman, A.; Somasekhara, J.;
Development of GIS based noise simulation model: A case study of Mumbai India Development of GIS-NSM
2011 / IEEE / 978-1-61284-774-0By: Vijay, R.; Sharma, A.; Sohony, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1349-1
By: Cotroneo, D.; Kalbarczyk, Z.; Sharma, A.; Pecchia, A.; Iyer, R.K.;
By: Cotroneo, D.; Kalbarczyk, Z.; Sharma, A.; Pecchia, A.; Iyer, R.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Abbaneo, D.; Abbrescia, M.; Armagnaud, C.; Aspell, P.; Bagliesi, M.G.; Ban, Y.; Bally, S.; Benussi, L.; Berzano, U.; Bianco, S.; Bos, J.; Bunkowski, K.; Cai, J.; Cecchi, R.; Chatelain, J.P.; Christiansen, J.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Garcia, A.C.; David, E.; de Robertis, G.; De Oliveira, R.; Pinto, S.D.; Ferry, S.; Formenti, F.; Franconi, L.; Gnanvo, K.; Gutierrez, A.; Hohlmann, M.; Karchin, P.E.; Loddo, F.; Magazzu, G.; Maggi, M.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Mehta, K.; Merlin, J.; Mohapatra, A.; Moulik, T.; Nemallapudi, M.V.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Piccolo, D.; Postema, H.; Raffone, G.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Saviano, G.; Sharma, A.; Staib, M.J.; Teng, H.; Tytgat, M.; Tupputi, S.A.; Turini, N.; Smilkjovic, N.; Villa, M.; Zaganidis, N.; Zientek, M.;
By: Abbaneo, D.; Abbrescia, M.; Armagnaud, C.; Aspell, P.; Bagliesi, M.G.; Ban, Y.; Bally, S.; Benussi, L.; Berzano, U.; Bianco, S.; Bos, J.; Bunkowski, K.; Cai, J.; Cecchi, R.; Chatelain, J.P.; Christiansen, J.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Garcia, A.C.; David, E.; de Robertis, G.; De Oliveira, R.; Pinto, S.D.; Ferry, S.; Formenti, F.; Franconi, L.; Gnanvo, K.; Gutierrez, A.; Hohlmann, M.; Karchin, P.E.; Loddo, F.; Magazzu, G.; Maggi, M.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Mehta, K.; Merlin, J.; Mohapatra, A.; Moulik, T.; Nemallapudi, M.V.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Piccolo, D.; Postema, H.; Raffone, G.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Saviano, G.; Sharma, A.; Staib, M.J.; Teng, H.; Tytgat, M.; Tupputi, S.A.; Turini, N.; Smilkjovic, N.; Villa, M.; Zaganidis, N.; Zientek, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Tytgat, M.; Marinov, A.; Zaganidis, N.; Ban, Y.; Cai, J.; Teng, H.; Mohapatra, A.; Moulik, T.; Abbrescia, M.; Colaleo, A.; de Robertis, G.; Loddo, F.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Tupputi, S.A.; Benussi, L.; Bianco, S.; Colafranceschi, S.; Piccolo, D.; Raffone, G.; Saviano, G.; Bagliesi, M.G.; Cecchi, R.; Magazzu, G.; Oliveri, E.; Turini, N.; Fruboes, T.; Abbaneo, D.; Armagnaud, C.; Aspell, P.; Bally, S.; Berzano, U.; Bos, J.; Bunkowski, K.; Chatelain, J.P.; Christiansen, J.; Conde Garcia, A.; David, E.; De Oliveira, R.; Duarte Pinto, S.; Ferry, S.; Formenti, F.; Franconi, L.; Marchioro, A.; Mehta, K.; Merlin, J.; Nemallapudi, M.V.; Postema, H.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Sharma, A.; Smilkjovic, N.; Villa, M.; Zientek, M.; Gutierrez, A.; Karchin, P.E.; Gnanvo, K.; Hohlmann, M.; Staib, M.J.;
By: Tytgat, M.; Marinov, A.; Zaganidis, N.; Ban, Y.; Cai, J.; Teng, H.; Mohapatra, A.; Moulik, T.; Abbrescia, M.; Colaleo, A.; de Robertis, G.; Loddo, F.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Tupputi, S.A.; Benussi, L.; Bianco, S.; Colafranceschi, S.; Piccolo, D.; Raffone, G.; Saviano, G.; Bagliesi, M.G.; Cecchi, R.; Magazzu, G.; Oliveri, E.; Turini, N.; Fruboes, T.; Abbaneo, D.; Armagnaud, C.; Aspell, P.; Bally, S.; Berzano, U.; Bos, J.; Bunkowski, K.; Chatelain, J.P.; Christiansen, J.; Conde Garcia, A.; David, E.; De Oliveira, R.; Duarte Pinto, S.; Ferry, S.; Formenti, F.; Franconi, L.; Marchioro, A.; Mehta, K.; Merlin, J.; Nemallapudi, M.V.; Postema, H.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Sharma, A.; Smilkjovic, N.; Villa, M.; Zientek, M.; Gutierrez, A.; Karchin, P.E.; Gnanvo, K.; Hohlmann, M.; Staib, M.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1109-1
By: Sharma, A.; Dahal, R.; Paul, T.; Chhetri, P.; Dhar, S.; Bera, R.;
By: Sharma, A.; Dahal, R.; Paul, T.; Chhetri, P.; Dhar, S.; Bera, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Kumar, S.; Roy, A.; Mitra, S.; Menon, R.; Sharma, V.; Chakravorthy, D.P.; Nagesh, K.V.; Sharma, A.;
By: Kumar, S.; Roy, A.; Mitra, S.; Menon, R.; Sharma, V.; Chakravorthy, D.P.; Nagesh, K.V.; Sharma, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2071-0
By: Navathe, B.B.; Anand, B.; Gopalakrishnan, V.; Sharma, A.; Kannan, H.; Velusamy, S.;
By: Navathe, B.B.; Anand, B.; Gopalakrishnan, V.; Sharma, A.; Kannan, H.; Velusamy, S.;
2013 / IEEE
By: Bindu, S.; Mangalvedekar, H. A.; Sharma, A.; Saroj, P. C.; Chakravarthy, D. P.; Ray, A. K.;
By: Bindu, S.; Mangalvedekar, H. A.; Sharma, A.; Saroj, P. C.; Chakravarthy, D. P.; Ray, A. K.;
2012 / IEEE
By: Abbaneo, D.; Abbrescia, M.; Armagnaud, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Ban, Y.; Bally, S.; Benussi, L.; Berzano, U.; Bianco, S.; Bos, J.; Bunkowski, K.; Cai, J.; Chatelain, J. P.; Christiansen, J.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Conde Garcia, A.; David, E.; de Robertis, G.; De Oliveira, R.; Pinto, S. Duarte; Ferry, S.; Formenti, F.; Franconi, L.; Fruboes, T.; Gutierrez, A.; Hohlmann, M.; Kamel, A. E.; Karchin, P. E.; Loddo, F.; Magazzu, G.; Maggi, M.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Mehta, K.; Merlin, J.; Mohapatra, A.; Moulik, T.; Nemallapudi, M. V.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Piccolo, D.; Postema, H.; Radi, A.; Raffone, G.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Saviano, G.; Sharma, A.; Staib, M. J.; Teng, H.; Tytgat, M.; Tupputi, S. A.; Turini, N.; Smilkjovic, N.; Villa, M.; Zaganidis, N.; Zientek, M.;
By: Abbaneo, D.; Abbrescia, M.; Armagnaud, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Ban, Y.; Bally, S.; Benussi, L.; Berzano, U.; Bianco, S.; Bos, J.; Bunkowski, K.; Cai, J.; Chatelain, J. P.; Christiansen, J.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Conde Garcia, A.; David, E.; de Robertis, G.; De Oliveira, R.; Pinto, S. Duarte; Ferry, S.; Formenti, F.; Franconi, L.; Fruboes, T.; Gutierrez, A.; Hohlmann, M.; Kamel, A. E.; Karchin, P. E.; Loddo, F.; Magazzu, G.; Maggi, M.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Mehta, K.; Merlin, J.; Mohapatra, A.; Moulik, T.; Nemallapudi, M. V.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Piccolo, D.; Postema, H.; Radi, A.; Raffone, G.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Saviano, G.; Sharma, A.; Staib, M. J.; Teng, H.; Tytgat, M.; Tupputi, S. A.; Turini, N.; Smilkjovic, N.; Villa, M.; Zaganidis, N.; Zientek, M.;
2013 / IEEE
By: Shukla, B. K.; Babu, R.; Belousov, V.; Belov, Y.; Shmelev, M.; Bora, D.; Shah, R.; Kushwah, M.; Sathyanarayana, K.; Patel, J.; Rao, S. L.; Dhorajiya, P.; Patel, H.; Belsare, S.; Rathod, V.; Patel, S. D.; Bhavsar, V.; Solanki, P. A.; Sharma, A.;
By: Shukla, B. K.; Babu, R.; Belousov, V.; Belov, Y.; Shmelev, M.; Bora, D.; Shah, R.; Kushwah, M.; Sathyanarayana, K.; Patel, J.; Rao, S. L.; Dhorajiya, P.; Patel, H.; Belsare, S.; Rathod, V.; Patel, S. D.; Bhavsar, V.; Solanki, P. A.; Sharma, A.;
2015 / IEEE
By: J. Garcia Zuazola, I.; Batchelor, J.C.; Elmirghani, J.M.; Whittow, W.G.; Azpilicueta, L.; Angulo, I.; Falcone, F.; Landaluce, H.; Sharma, A.; Perallos, A.;
By: J. Garcia Zuazola, I.; Batchelor, J.C.; Elmirghani, J.M.; Whittow, W.G.; Azpilicueta, L.; Angulo, I.; Falcone, F.; Landaluce, H.; Sharma, A.; Perallos, A.;
2014 / IEEE
By: Mittal, K.C.; Saroj, P.C.; Sharma, A.; Bindu, S.; Mangalvedekar, H.A.; Umbarkar, S.B.;
By: Mittal, K.C.; Saroj, P.C.; Sharma, A.; Bindu, S.; Mangalvedekar, H.A.; Umbarkar, S.B.;
2013 / IEEE
By: Chouhan, Meenakshi; Rana, Monika; Dhanavantri, C.; Johri, S.; Kushwaha, B. K.; Singh, Kuldip; Singh, S.; Kumar, Pawan; Sharma, A.; Joshi, Sonam; Chauhan, Ashok; Prajapati, P.;
By: Chouhan, Meenakshi; Rana, Monika; Dhanavantri, C.; Johri, S.; Kushwaha, B. K.; Singh, Kuldip; Singh, S.; Kumar, Pawan; Sharma, A.; Joshi, Sonam; Chauhan, Ashok; Prajapati, P.;
2014 / IEEE
By: Bindu, S.; Mittal, K. C.; Saroj, P. C.; Sharma, A.; Mangalvedekar, H. A.; Umbarkar, S. B.;
By: Bindu, S.; Mittal, K. C.; Saroj, P. C.; Sharma, A.; Mangalvedekar, H. A.; Umbarkar, S. B.;
2014 / IEEE
By: de-Haro Ariet, L.; Perallos, A.; Batchelor, J. C.; Martinez, R.; Garcia Zuazola, I. J.; Sharma, A.;
By: de-Haro Ariet, L.; Perallos, A.; Batchelor, J. C.; Martinez, R.; Garcia Zuazola, I. J.; Sharma, A.;
2013 / IEEE
By: De Paz, A.; Gorceix, O.; Laburthe-Tolra, B.; Vernac, L.; Pedri, P.; Marechal, E.; Sharma, A.; Chotia, A.;
By: De Paz, A.; Gorceix, O.; Laburthe-Tolra, B.; Vernac, L.; Pedri, P.; Marechal, E.; Sharma, A.; Chotia, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Mancini, J.; Brunner, B.; Tan, K.; Sharma, A.; Marosi, L.; Onak, G.; Goel, J.; Yamauchi, D.; Stones, D.I.;
By: Mancini, J.; Brunner, B.; Tan, K.; Sharma, A.; Marosi, L.; Onak, G.; Goel, J.; Yamauchi, D.; Stones, D.I.;