Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Schneider, L.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Montanarit, T.; Mezzetti, F.; Bortolotti, A.; Schneider, L.; Powell, C.; Nardi, V.;
By: Montanarit, T.; Mezzetti, F.; Bortolotti, A.; Schneider, L.; Powell, C.; Nardi, V.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Martinez, L.; Pena, G.; Harjes, H.; Reed, K.; Schneider, L.; Harden, M.;
By: Martinez, L.; Pena, G.; Harjes, H.; Reed, K.; Schneider, L.; Harden, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7038-4
By: Kroninger, W.J.; Schneider, L.; Geyer, S.; Mariani, F.; Lang, G.; Hecht, F.;
By: Kroninger, W.J.; Schneider, L.; Geyer, S.; Mariani, F.; Lang, G.; Hecht, F.;
2002 / IEEE / 4-89114-027-5
By: Witzig, T.; Schneider, L.; Fichtner, W.; Schmidt, T.; Bregy, T.; Pfeiffer, W.; Streiff, W.;
By: Witzig, T.; Schneider, L.; Fichtner, W.; Schmidt, T.; Bregy, T.; Pfeiffer, W.; Streiff, W.;
2003 / IEEE / 0-7803-7992-6
By: Witzig, A.; Fichtner, W.; Wei-Choon Ng; Tikhomirov, P.; Lundstrom, T.; Streiff, M.; Pfeiffer, M.; Schneider, L.;
By: Witzig, A.; Fichtner, W.; Wei-Choon Ng; Tikhomirov, P.; Lundstrom, T.; Streiff, M.; Pfeiffer, M.; Schneider, L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4693-3
By: Ming Yin; Zhiyun Ren; Nennker, A.; Steffens, E.-J.; Schneider, L.;
By: Ming Yin; Zhiyun Ren; Nennker, A.; Steffens, E.-J.; Schneider, L.;
2010 / IEEE / 978-2-35500-012-6
By: Ahopelto, J.; Laakso, S.; Schneider, L.; Shchepetov, A.; Prunnila, M.; Chapuis, P.; Torres, C.M.S.;
By: Ahopelto, J.; Laakso, S.; Schneider, L.; Shchepetov, A.; Prunnila, M.; Chapuis, P.; Torres, C.M.S.;