Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Schamiloglu, E.
Results
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Maenchen, J.E.; Hahn, K.; Schamiloglu, E.; Woodring, R.; Cordova, S.; Williamson, M.; Thomas, K.J.; Sinclair, M.A.; Phillips, M.A.; Pearce, A.G.; Kincy, M.; Kitterman, D.; Lucero, R.; Menge, P.R.; Molina, I.; Olson, C.; Rovang, D.C.; Fulton, R.D.; Carlson, R.; Smith, J.; Martinson, D.; Droemer, D.; Gignac, R.; Helvin, T.; Ormand, E.; Wilkins, F.; Welch, D.R.; Oliver, B.V.; Rose, D.V.; Bailey, V.; Corcoran, P.; Johnson, D.L.; Smith, D.; Weidenheimer, D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.; Mosher, D.; Stephanakis, S.; Schumer, J.; Swanekamp, S.; Young, F.; Goldsack, T.J.; Cooper, G.M.;
By: Maenchen, J.E.; Hahn, K.; Schamiloglu, E.; Woodring, R.; Cordova, S.; Williamson, M.; Thomas, K.J.; Sinclair, M.A.; Phillips, M.A.; Pearce, A.G.; Kincy, M.; Kitterman, D.; Lucero, R.; Menge, P.R.; Molina, I.; Olson, C.; Rovang, D.C.; Fulton, R.D.; Carlson, R.; Smith, J.; Martinson, D.; Droemer, D.; Gignac, R.; Helvin, T.; Ormand, E.; Wilkins, F.; Welch, D.R.; Oliver, B.V.; Rose, D.V.; Bailey, V.; Corcoran, P.; Johnson, D.L.; Smith, D.; Weidenheimer, D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.; Mosher, D.; Stephanakis, S.; Schumer, J.; Swanekamp, S.; Young, F.; Goldsack, T.J.; Cooper, G.M.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Shlapakovski, A.S.; Schamiloglu, E.; Petrov, A.V.; Vintizenko, I.I.;
By: Shlapakovski, A.S.; Schamiloglu, E.; Petrov, A.V.; Vintizenko, I.I.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9563-4
By: Schamiloglu, E.; Christodoulou, C.G.; Kumar, P.; Buchenauer, C.J.;
By: Schamiloglu, E.; Christodoulou, C.G.; Kumar, P.; Buchenauer, C.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Brown, D.; Schamiloglu, E.; Abdallah, C.T.; Christodoulou, C.G.; Baum, C.E.; Kumar, P.; McDonald, K.F.;
By: Brown, D.; Schamiloglu, E.; Abdallah, C.T.; Christodoulou, C.G.; Baum, C.E.; Kumar, P.; McDonald, K.F.;
2013 / IEEE
By: Yan, P.; Ren, C.; Zhang, D.; Ma, H.; Shao, T.; Zhang, C.; Schamiloglu, E.; Tarasenko, V.F.;
By: Yan, P.; Ren, C.; Zhang, D.; Ma, H.; Shao, T.; Zhang, C.; Schamiloglu, E.; Tarasenko, V.F.;
2015 / IEEE
By: Ludeking, L.D.; Laroussi, M.; Kunhardt, E.E.; Godfrey, B.B.; Becker, K.H.; Woods, A.J.; Schamiloglu, E.; Neuber, A.A.;
By: Ludeking, L.D.; Laroussi, M.; Kunhardt, E.E.; Godfrey, B.B.; Becker, K.H.; Woods, A.J.; Schamiloglu, E.; Neuber, A.A.;
1991 / IEEE
By: Werner, P.W.; Schamiloglu, E.; Struve, K.W.; Shokair, I.R.; Smith, J.R.; Lipinski, R.J.;
By: Werner, P.W.; Schamiloglu, E.; Struve, K.W.; Shokair, I.R.; Smith, J.R.; Lipinski, R.J.;
1994 / IEEE
By: Roitman, A.M.; Rostov, V.V.; Lemke, W.; Korovin, S.D.; Hendricks, K.J.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Spencer, T.A.;
By: Roitman, A.M.; Rostov, V.V.; Lemke, W.; Korovin, S.D.; Hendricks, K.J.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Spencer, T.A.;
1996 / IEEE
By: Moreland, L.D.; Haworth, M.D.; Jordan, R.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.; Pegel, I.V.;
By: Moreland, L.D.; Haworth, M.D.; Jordan, R.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.; Pegel, I.V.;
EFFECTS OF USING A NONUNIFORM-AMPLITUDE SLOW WAVE STRUCTURE IN A REPETITIVELY-PULSED, HIGH POWER REL
1993 / IEEE / 0-7803-1415-8By: Gahl, J.; Lemke, R.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Shiffler, D.;
1993 / IEEE / 0-7803-1415-8
By: Wroblewski, B.; Shiffler, D.; Cavazos, T.; Schamiloglu, E.; Gahl, J.; Fleddermann, C.;
By: Wroblewski, B.; Shiffler, D.; Cavazos, T.; Schamiloglu, E.; Gahl, J.; Fleddermann, C.;
1996 / IEEE
By: Rostov, V.V.; Korovin, S.D.; Roitman, A.M.; Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.;
By: Rostov, V.V.; Korovin, S.D.; Roitman, A.M.; Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.; Moreland, L.D.; Pegel, I.V.;
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.; Moreland, L.D.; Pegel, I.V.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Roitman, A.M.; Pegel, I.V.;
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Roitman, A.M.; Pegel, I.V.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Lemke, R.W.; Roitman, H.A.M.; Pegel, I.V.; Korovin, S.D.;
By: Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Lemke, R.W.; Roitman, H.A.M.; Pegel, I.V.; Korovin, S.D.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Pegel, I.V.; Korovin, S.D.; Tarakanov, V.P.; Rostov, V.V.; Moreland, L.D.; Gunin, A.V.; Gubanov, V.P.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.;
By: Pegel, I.V.; Korovin, S.D.; Tarakanov, V.P.; Rostov, V.V.; Moreland, L.D.; Gunin, A.V.; Gubanov, V.P.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Shiffler, D.; Schamiloglu, E.; Gahl, J.; Fleddermann, C.; Wroblewski, B.; Cavazos, T.;
By: Shiffler, D.; Schamiloglu, E.; Gahl, J.; Fleddermann, C.; Wroblewski, B.; Cavazos, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Nunnally, W.C.; Fleddermann, C.B.; Schamiloglu, E.; Focia, R.J.; Gaudet, J.;
By: Nunnally, W.C.; Fleddermann, C.B.; Schamiloglu, E.; Focia, R.J.; Gaudet, J.;
1997 / IEEE / 0-8186-7919-0
By: Heileman, G.L.; Arantes, D.; Abdallah, C.; Whitman, R.; Schamiloglu, E.; Hush, D.R.; Pollard, H.; Magotra, N.; Lotufo, R.; Jordan, R.;
By: Heileman, G.L.; Arantes, D.; Abdallah, C.; Whitman, R.; Schamiloglu, E.; Hush, D.R.; Pollard, H.; Magotra, N.; Lotufo, R.; Jordan, R.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Schamiloglu, E.; Islam, N.E.; Zheng, L.; Joshi, R.P.; Fleddermann, C.B.;
By: Schamiloglu, E.; Islam, N.E.; Zheng, L.; Joshi, R.P.; Fleddermann, C.B.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Werner, P.W.; Molina, I.; Kiekel, P.D.; Hogeland, S.; Armstead, D.; Lipinski, R.J.; Struve, K.; Smith, J.; Schamiloglu, E.;
By: Werner, P.W.; Molina, I.; Kiekel, P.D.; Hogeland, S.; Armstead, D.; Lipinski, R.J.; Struve, K.; Smith, J.; Schamiloglu, E.;
1998 / IEEE / 0-306-46206-0
By: Schamiloglu, E.; Zheng, L.; Joshi, R.P.; Shipley, B.; Fleddermann, C.B.; Islam, N.E.;
By: Schamiloglu, E.; Zheng, L.; Joshi, R.P.; Shipley, B.; Fleddermann, C.B.; Islam, N.E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Dagys, M.; Agee, F.J.; Schamiloglu, E.; Simni kis, R.; Kancleris, Z.;
By: Dagys, M.; Agee, F.J.; Schamiloglu, E.; Simni kis, R.; Kancleris, Z.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Schamiloglu, E.; Hegeler, F.; Abdallah, C.T.; Soualian, V.S.; Park, G.T.;
By: Schamiloglu, E.; Hegeler, F.; Abdallah, C.T.; Soualian, V.S.; Park, G.T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Islam, N.E.; Joshi, R.P.; Schoenberg, J.S.H.; Fleddermann, C.B.; Schamiloglu, E.;
By: Islam, N.E.; Joshi, R.P.; Schoenberg, J.S.H.; Fleddermann, C.B.; Schamiloglu, E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Hegeler, F.; Brueck, S.R.J.; Schamiloglu, E.; Luhmann, N.C., Jr.; Baldis, H.A.; Hartemann, F.V.; Heritage, J.P.; Ho, C.H.; Troha, A.L.; Landahl, E.C.;
By: Hegeler, F.; Brueck, S.R.J.; Schamiloglu, E.; Luhmann, N.C., Jr.; Baldis, H.A.; Hartemann, F.V.; Heritage, J.P.; Ho, C.H.; Troha, A.L.; Landahl, E.C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Islam, N.E.; Joshi, R.P.; Schoenberg, J.S.H.; Fleddermann, C.B.; Schamiloglu, E.;
By: Islam, N.E.; Joshi, R.P.; Schoenberg, J.S.H.; Fleddermann, C.B.; Schamiloglu, E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Luginsland, J.W.; Loree, D.L.; Arman, M.J.; Hendricks, K.J.; Fayne, W.R.; Spencer, T.A.; Schamiloglu, E.; Wright, R.L.; Golby, K.E.; Cavazos, T.C.;
By: Luginsland, J.W.; Loree, D.L.; Arman, M.J.; Hendricks, K.J.; Fayne, W.R.; Spencer, T.A.; Schamiloglu, E.; Wright, R.L.; Golby, K.E.; Cavazos, T.C.;