Author: Savage, M.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Struve, K.; Argo, J.; Bengtson, R.; Headley, D.; Kellogg, J.; Wisher, M.; Quevedo, H.; Savage, M.; Stoltzfus, B.; Waugh, C.; Lewis, S.;

1989 / IEEE
By: Brengelmann, G.; Savage, M.; Dahl, K.; Avery, D.; Prinz, P.; Vitiello, M.; Larson, L.;

2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Savage, M.; Krishnan, M.; Gensler, S.; McFarland, M.; Huet, D.; Goyer, J.;

2001 / IEEE
By: Savage, M.; Buchner, S.; Massengill, L.; Schrimpf, R.; Titus, J.; Sternberg, A.; Pease, R.L.; Turflinger, T.;

2003 / IEEE / 0-7803-7767-2
By: Pujary, C.; Mendelson, Y.; Savage, M.;

2003 / IEEE / 0-7803-7767-2
By: Mendelson, Y.; Pujary, C.; Savage, M.;

2003 / IEEE / 0-7803-7767-2
By: Cornwell, K.G.; Pins, G.D.; Billiar, K.L.; Savage, M.;

2004 / IEEE
By: Poivey, C.; McMorrow, D.; Boulghassoul, Y.; Massengill, L.W.; Pease, R.; Savage, M.; Howard, J., Jr.; Buchner, S.;

2004 / IEEE
By: Massengill, L.W.; Boulghassoul, Y.; Pouget, V.; McMorrow, D.; Buchner, S.; Fouillat, P.; Maher, M.C.; Savage, M.; Howard, J.W.; Poivey, C.; Holman, W.T.;

2003 / IEEE / 92-9092-846-8
By: Massengill, L.; Buchner, S.; Savage, M.; Pease, R.; McMorrow, D.; Boulghassoul, Y.; Howard, J.; Poivey, C.;

1956 / IEEE
By: Savage, M.;

2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Owen, A.C.; Kincy, M.A.; Savage, M.; Mendez, T.A.; Pointon, T.D.; Wakeland, P.E.; Wagoner, T.C.; Shoup, R.W.;

2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Savage, M.; Jackson, D.; Gilmore, M.; Mendel, C.; Seidel, D.;

2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Stoltzfus, B.; Savage, M.;

1985 / IEEE
By: Savage, M.; Humphries, Stanley; Woodall, David M.; Coffey, S.;

1986 / IEEE
By: Humphries, Stanley; Cooper, Gary W.; Burkhart, C.; Len, L. K.; Woodall, David M.; Savage, M.;

1985 / IEEE
By: Savage, M.; Humphries, S.; Saylor, W. B.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Wallace, Z.; Anaya, V.; Hodge, K.; Corley, J.P.; Guthrie, D.; Lehr, J.M.; Maenchen, J.E.; LeChien, K.; Savage, M.; Bliss, D.; Woodworth, J.R.; Hardin, M.J.; Blickem, J.; Thompson, T.; Wakeland, P.; Feltz, G.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Wakeland, P.; Van Den Avyle, J.; Savage, M.; LeChien, K.; Maier, R.; Feltz, G.; Thompson, T.; Wallace, Z.; Anaya, V.; Guthrie, D.; Hodge, K.; Corley, J.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: LeChien, K.; Savage, M.; Prestwich, K.; Wallace, Z.; Thompson, T.; Hodge, K.; Guthrie, D.; Feltz, G.; Anaya, V.; Wakeland, P.; Bliss, D.; Lehr, J.; Maenchen, J.; McDaniel, D.; Struve, K.; Stygar, W.; Van Den Avyle, J.; Woodworth, J.; Corley, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1534-2
By: LeChien, K.; Savage, M.; Struve, K.; McDaniel, D.; Maenchen, J.; Stygar, W.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1534-2
By: Stygar, W.; Savage, M.; LeChien, K.; Lott, J.; Anaya, V.; Wakeland, P.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Savage, M.; LeChien, K.; Stoltzfus, B.; Stygar, W.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Jones, P.; Baremore, M.; Artery, D.; Wakeland, P.; Bliss, D.; Roznowski, S.; Savage, M.; Stygar, W.; LeChien, K.; McKee, R.; White, S.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5221-7
By: McCauley, R.D.; Cleary, J.; Donnelly, D.; Gibbs, S.; Cato, D.H.; Parnum, I.; Dunlop, R.A.; Savage, M.; Blewitt, M.;