Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sato, M.
Results
2012 / IEEE
By: Onodera, K.; Tota, K.; Futami, Y.; Sato, M.; Yokota, Y.; Yoshikawa, A.; Yanagida, T.;
By: Onodera, K.; Tota, K.; Futami, Y.; Sato, M.; Yokota, Y.; Yoshikawa, A.; Yanagida, T.;
2012 / IEEE
By: Tota, K.; Sato, M.; Futami, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yanagida, T.; Onodera, K.;
By: Tota, K.; Sato, M.; Futami, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yanagida, T.; Onodera, K.;
2012 / IEEE
By: Machiya, S.; Tsuchiya, Y.; Suzuki, H.; Shobu, T.; Sato, M.; Ochiai, S.; Osamura, K.;
By: Machiya, S.; Tsuchiya, Y.; Suzuki, H.; Shobu, T.; Sato, M.; Ochiai, S.; Osamura, K.;
2012 / IEEE
By: Sato, M.; Koganezawa, T.; Machiya, S.; Sugano, M.; Shobu, T.; Nishijima, G.; Watanabe, K.; Awaji, S.; Minegishi, K.; Suzuki, T.; Oguro, H.; Shiohara, Y.; Izumi, T.; Yoshizumi, M.; Ibi, A.; Osamura, K.;
By: Sato, M.; Koganezawa, T.; Machiya, S.; Sugano, M.; Shobu, T.; Nishijima, G.; Watanabe, K.; Awaji, S.; Minegishi, K.; Suzuki, T.; Oguro, H.; Shiohara, Y.; Izumi, T.; Yoshizumi, M.; Ibi, A.; Osamura, K.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Sato, M.; Takahashi, T.; Hara, N.; Hirose, T.; Nakasha, Y.; Makiyama, K.;
By: Sato, M.; Takahashi, T.; Hara, N.; Hirose, T.; Nakasha, Y.; Makiyama, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Yamada, K.; Iwai, H.; Kakushima, K.; Matsuki, T.; Feng, W.; Sato, M.; Hettiarachchi, R.; Sato, S.; Ohmori, K.;
By: Yamada, K.; Iwai, H.; Kakushima, K.; Matsuki, T.; Feng, W.; Sato, M.; Hettiarachchi, R.; Sato, S.; Ohmori, K.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Sato, M.; Yamase, T.; Kato, T.; Sato, K.; Noguchi, H.; Uchida, H.;
By: Sato, M.; Yamase, T.; Kato, T.; Sato, K.; Noguchi, H.; Uchida, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1163-3
By: Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yanagida, T.; Onodera, K.; Tota, K.; Sato, M.; Futami, Y.;
By: Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yanagida, T.; Onodera, K.; Tota, K.; Sato, M.; Futami, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1163-3
By: Sato, M.; Futami, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yanagida, T.; Onodera, K.; Tota, K.;
By: Sato, M.; Futami, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yanagida, T.; Onodera, K.; Tota, K.;
2011 / IEEE / 978-0-7695-4551-6
By: Hironaka, T.; Tanigawa, K.; Inagi, M.; Nakamura, M.; Ishiguro, T.; Sato, M.;
By: Hironaka, T.; Tanigawa, K.; Inagi, M.; Nakamura, M.; Ishiguro, T.; Sato, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0723-0
By: Jae-Hong Kim; Do-Hyung Kim; Jae-Yeon Lee; Ho-Sub Yoon; Hori, T.; Young-Jo Cho; Su-Young Chi; Sato, M.;
By: Jae-Hong Kim; Do-Hyung Kim; Jae-Yeon Lee; Ho-Sub Yoon; Hori, T.; Young-Jo Cho; Su-Young Chi; Sato, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Sato, M.; Kawano, Y.; Mineyama, A.; Joshin, K.; Hara, N.; Suzuki, T.;
By: Sato, M.; Kawano, Y.; Mineyama, A.; Joshin, K.; Hara, N.; Suzuki, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4244-9532-0
By: Abe, Y.; Ouchi, M.; Iimura, K.; Sato, M.; Shinmoto, Y.; Ohta, H.; Fukagaya, M.;
By: Abe, Y.; Ouchi, M.; Iimura, K.; Sato, M.; Shinmoto, Y.; Ohta, H.; Fukagaya, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1137-3
By: Takahashi, M.; Sato, M.; Yokoyama, N.; Nihei, M.; Kawabata, A.; Murakami, T.; Nakano, H.;
By: Takahashi, M.; Sato, M.; Yokoyama, N.; Nihei, M.; Kawabata, A.; Murakami, T.; Nakano, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2663-6
By: Qianci Ren; HongLi Li; Wenjing Liang; Cai Liu; Yue Yu; Qiao Wang; Xuan Feng; Qi Lu; Sato, M.;
By: Qianci Ren; HongLi Li; Wenjing Liang; Cai Liu; Yue Yu; Qiao Wang; Xuan Feng; Qi Lu; Sato, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0978-3
By: Wellbrock, G. A.; Xia, T. J.; Tajima, T.; Aono, Y.; Shibutani, M.; Yano, Y.; Sato, M.; Ji, P.; Huang, Y.-K.;
By: Wellbrock, G. A.; Xia, T. J.; Tajima, T.; Aono, Y.; Shibutani, M.; Yano, Y.; Sato, M.; Ji, P.; Huang, Y.-K.;
2015 / IEEE
By: Faulkner, G.; Sato, M.; Quintana, C.; Shi, K.; Gomez, A.; O'Brien, D.; Thomsen, B.C.;
By: Faulkner, G.; Sato, M.; Quintana, C.; Shi, K.; Gomez, A.; O'Brien, D.; Thomsen, B.C.;
2015 / IEEE
By: Watanabe, I.; Kasamatsu, A.; Sekine, N.; Patrashin, M.; Hosako, I.; Nakasha, Y.; Sato, M.; Takahashi, T.; Hara, N.;
By: Watanabe, I.; Kasamatsu, A.; Sekine, N.; Patrashin, M.; Hosako, I.; Nakasha, Y.; Sato, M.; Takahashi, T.; Hara, N.;
1988 / IEEE
By: Kato, T.; Sato, M.; Yamamura, H.; Hoshino, M.; Shimamoto, S.; Hiyama, T.; Tada, E.; Kawano, K.;
By: Kato, T.; Sato, M.; Yamamura, H.; Hoshino, M.; Shimamoto, S.; Hiyama, T.; Tada, E.; Kawano, K.;
A theoretically optimal and practically fast algorithm for VLSI geometrical design rule verification
1988 / IEEEBy: Ohtsuki, T.; Awashima, T.; Kim, J.B.; Sato, M.;
1988 / IEEE
By: Ohki, S.; Deguchi, K.; Matsuda, T.; Sato, M.; Oda, M.; Okazaki, Y.; Miyake, M.; Kobayashi, T.;
By: Ohki, S.; Deguchi, K.; Matsuda, T.; Sato, M.; Oda, M.; Okazaki, Y.; Miyake, M.; Kobayashi, T.;
1989 / IEEE
By: Hoshi, Y.; Higuchi, M.; Yoshida, M.; Takada, Y.; Shioden, M.; Nishiyama, M.; Sato, M.; Nakano, I.; Moriya, M.; Mori, S.; Asano, Y.; Ikegami, Y.; Fukushima, Y.;
By: Hoshi, Y.; Higuchi, M.; Yoshida, M.; Takada, Y.; Shioden, M.; Nishiyama, M.; Sato, M.; Nakano, I.; Moriya, M.; Mori, S.; Asano, Y.; Ikegami, Y.; Fukushima, Y.;
1989 / IEEE
By: Nakajima, H.; Yamamura, H.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Ichihara, T.; Satou, T.; Shimamoto, S.; Itoh, N.; Yoshida, J.; Sato, M.; Ando, T.; Kawano, K.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Isono, T.; Kato, T.; Koizumi, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.;
By: Nakajima, H.; Yamamura, H.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Ichihara, T.; Satou, T.; Shimamoto, S.; Itoh, N.; Yoshida, J.; Sato, M.; Ando, T.; Kawano, K.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Isono, T.; Kato, T.; Koizumi, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.;
1989 / IEEE
By: Ishihara, K.; Konaka, T.; Sato, M.; Sankawa, I.; Tanuma, S.; Okabe, K.; Kobayashi, M.;
By: Ishihara, K.; Konaka, T.; Sato, M.; Sankawa, I.; Tanuma, S.; Okabe, K.; Kobayashi, M.;
1989 / IEEE
By: Uehara, K.; Ushigusa, K.; Suganuma, K.; Sato, M.; Sawahata, M.; Konishi, K.; Honda, M.; Imai, T.; Seki, M.; Ikeda, Y.; Yokokura, K.;
By: Uehara, K.; Ushigusa, K.; Suganuma, K.; Sato, M.; Sawahata, M.; Konishi, K.; Honda, M.; Imai, T.; Seki, M.; Ikeda, Y.; Yokokura, K.;
Minimal forbidden minor characterization of planar partial 3-trees and application to circuit layout
1990 / IEEEBy: Dai, W.W.-M.; Sato, M.;