Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Sannino, M.
Results
1993 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Ambec, I.; Augustinus, A.; Barnoux, C.; Bostjancic, B.; Botner, O.; Budziak, A.; Carechio, P.; Cavalli, P.; Ceelie, L.; Cereseto, R.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Dam, P.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; Dulinski, W.; Eek, L.O.; Ekelof, T.; Erikson, J.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Galuszka, K.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Isenhower, D.; Johansson, H.; Karvelas, E.; Kindblom, P.; Koene, B.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kostarakis, P.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lorenz, P.; Loukas, D.; Lund-Jensen, B.; Maltezos, A.; Markou, A.; Mattsson, L.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Pakonski, K.; Perdikes, C.; Polok, G.; Robohm, A.; Sajot, G.; Sannino, M.; Saragas, E.; Schyns, E.; Squarcia, A.; Stavropoulos, G.; Stodulski, M.; Stopa, Z.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Thome, Z.; Traspedini, L.; Turala, M.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Warm, A.; Werner, J.; Xyroutsikos, S.; Zavrtanik, M.; Zevgolatakos, E.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Ambec, I.; Augustinus, A.; Barnoux, C.; Bostjancic, B.; Botner, O.; Budziak, A.; Carechio, P.; Cavalli, P.; Ceelie, L.; Cereseto, R.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Dam, P.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; Dulinski, W.; Eek, L.O.; Ekelof, T.; Erikson, J.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Galuszka, K.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Isenhower, D.; Johansson, H.; Karvelas, E.; Kindblom, P.; Koene, B.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kostarakis, P.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lorenz, P.; Loukas, D.; Lund-Jensen, B.; Maltezos, A.; Markou, A.; Mattsson, L.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Pakonski, K.; Perdikes, C.; Polok, G.; Robohm, A.; Sajot, G.; Sannino, M.; Saragas, E.; Schyns, E.; Squarcia, A.; Stavropoulos, G.; Stodulski, M.; Stopa, Z.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Thome, Z.; Traspedini, L.; Turala, M.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Warm, A.; Werner, J.; Xyroutsikos, S.; Zavrtanik, M.; Zevgolatakos, E.;
1994 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Augustinus, A.; Botner, O.; Budziak, A.P.; Carecchio, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; de la Vega, A.S.; Dimitriou, N.; Eek, L.-O.; Ekelof, T.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Karvelas, E.; Koene, B.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, A.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Ostler, J.M.; Petrolini, A.; Polok, G.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Traspedini, L.; Tripodi, G.; Ullaland, O.; Zavrtanik, M.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Augustinus, A.; Botner, O.; Budziak, A.P.; Carecchio, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; de la Vega, A.S.; Dimitriou, N.; Eek, L.-O.; Ekelof, T.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Karvelas, E.; Koene, B.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, A.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Ostler, J.M.; Petrolini, A.; Polok, G.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Traspedini, L.; Tripodi, G.; Ullaland, O.; Zavrtanik, M.;
1995 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Allen, D.; Andrieux, M.-L.; van Apeldoorn, G.; Arnoud, Y.; Aubret, C.; Augustinus, A.; Baillon, P.; Battaglia, M.; Berggren, M.; Bloch, D.; Botner, O.; Bourdarios, C.; Brunet, J.M.; Budziak, A.P.; Buys, A.; Carecchio, P.; Carrie, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Chevry, M.; Christophel, E.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; D'Almagne, B.; Davenport, M.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Dris, M.; Ekelof, T.; Garcia, J.; Gazis, E.N.; Gillespi, D.; Gracco, V.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Hallgren, A.; Hao, W.; Honore, P.F.; Huet, K.; Ilie, S.; Ioannou, P.; Julliot, P.; Karvelas, E.; Katsanevas, S.; Katoufis, E.; Kjaer, N.; Kluit, P.M.; Koene, B.; Kourkoumelis, C.; Lecoeur, G.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, S.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Mourgue, G.; Nielsen, B.S.; Nicolaidou, R.; Papadopoulou, Th.D.; Petrolini, A.; Poutot, D.; Polok, G.; Rahmani, H.; Reale, M.; Resvanis, L.K.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Stassi, P.; Strub, R.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Tobar, M.J.; Toet, D.Z.; Transpedini, L.; Tripodi, G.; Tristram, G.; Tsirou, A.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Zartanik, M.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Allen, D.; Andrieux, M.-L.; van Apeldoorn, G.; Arnoud, Y.; Aubret, C.; Augustinus, A.; Baillon, P.; Battaglia, M.; Berggren, M.; Bloch, D.; Botner, O.; Bourdarios, C.; Brunet, J.M.; Budziak, A.P.; Buys, A.; Carecchio, P.; Carrie, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Chevry, M.; Christophel, E.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; D'Almagne, B.; Davenport, M.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Dris, M.; Ekelof, T.; Garcia, J.; Gazis, E.N.; Gillespi, D.; Gracco, V.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Hallgren, A.; Hao, W.; Honore, P.F.; Huet, K.; Ilie, S.; Ioannou, P.; Julliot, P.; Karvelas, E.; Katsanevas, S.; Katoufis, E.; Kjaer, N.; Kluit, P.M.; Koene, B.; Kourkoumelis, C.; Lecoeur, G.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, S.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Mourgue, G.; Nielsen, B.S.; Nicolaidou, R.; Papadopoulou, Th.D.; Petrolini, A.; Poutot, D.; Polok, G.; Rahmani, H.; Reale, M.; Resvanis, L.K.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Stassi, P.; Strub, R.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Tobar, M.J.; Toet, D.Z.; Transpedini, L.; Tripodi, G.; Tristram, G.; Tsirou, A.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Zartanik, M.;
1995 / IEEE
By: Chan, A.; Crawley, H.B.; Edsall, D.M.; Firestone, A.; Gorbics, M.S.; Gorn, L.; Lamsa, J.W.; McKay, R.; Meyer, W.T.; Rosenberg, E.I.; Thomas, W.D.; Wayne, M.R.; Boldini, M.; Cavallo, F.; Giordano, V.; Maselli, L.; Navarria, F.L.; Perrotta, A.; Rossi, U.; Valenti, G.; Bastie, C.; Bell, W.; Burmeister, H.; Camporesi, T.; Cattai, A.; Feindt, M.; Furstenau, H.; Gillespie, D.; Martin, J.; Schael, S.; Contri, R.; Crosetti, G.; Meola, G.; Morelli, A.; Morettini, P.; Piana, G.; Sannino, M.; Squarcia, S.; Traspedini, L.; Algeri, A.; Bohmer, R.; De Boer, W.; Kohler, W.; Konig, B.; Kreuter, C.; Podobrin, O.; Seitz, A.; Wielers, M.; Bonivento, W.; Calvi, M.; Chignoli, F.; De Min, A.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Ragazzi, S.; Tabarelli de Fatis, T.; Tonazzo, A.; Cerrito, L.; Colilli, S.; Graziani, E.; Passeri, A.; Privitera, P.; Sorrentino, S.; Spiriti, E.; Stanescu, C.; Tortora, L.; Cankocak, K.; Holmgren, S.O.; Hultqvist, K.; Jacobsson, R.; Johansson, E.; Karlsson, M.; Malgren, T.; Moa, T.; Thollander, L.; Doraba, K.; Krolikowski, J.; Lewandowski, M.; Marszal, T.; Sosnowski, R.; Szczekowski, M.; Szeptycka, M.; Szymanski, P.;
By: Chan, A.; Crawley, H.B.; Edsall, D.M.; Firestone, A.; Gorbics, M.S.; Gorn, L.; Lamsa, J.W.; McKay, R.; Meyer, W.T.; Rosenberg, E.I.; Thomas, W.D.; Wayne, M.R.; Boldini, M.; Cavallo, F.; Giordano, V.; Maselli, L.; Navarria, F.L.; Perrotta, A.; Rossi, U.; Valenti, G.; Bastie, C.; Bell, W.; Burmeister, H.; Camporesi, T.; Cattai, A.; Feindt, M.; Furstenau, H.; Gillespie, D.; Martin, J.; Schael, S.; Contri, R.; Crosetti, G.; Meola, G.; Morelli, A.; Morettini, P.; Piana, G.; Sannino, M.; Squarcia, S.; Traspedini, L.; Algeri, A.; Bohmer, R.; De Boer, W.; Kohler, W.; Konig, B.; Kreuter, C.; Podobrin, O.; Seitz, A.; Wielers, M.; Bonivento, W.; Calvi, M.; Chignoli, F.; De Min, A.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Ragazzi, S.; Tabarelli de Fatis, T.; Tonazzo, A.; Cerrito, L.; Colilli, S.; Graziani, E.; Passeri, A.; Privitera, P.; Sorrentino, S.; Spiriti, E.; Stanescu, C.; Tortora, L.; Cankocak, K.; Holmgren, S.O.; Hultqvist, K.; Jacobsson, R.; Johansson, E.; Karlsson, M.; Malgren, T.; Moa, T.; Thollander, L.; Doraba, K.; Krolikowski, J.; Lewandowski, M.; Marszal, T.; Sosnowski, R.; Szczekowski, M.; Szeptycka, M.; Szymanski, P.;
Noise and gain performance of pseudomorphic-HEMT vs temperature for microwave low-noise applications
1995 / IEEE / 0-7803-2537-0By: Sannino, M.; Livreri, P.;
1977 / IEEE
By: Bahar, E.; Besse, M.; Shen, L.C.; Sannino, M.; Borth, D.E.; Cain, C.A.; Caruso, G.; Cicconi, G.; Das, B.N.; Deshpande, M.D.; Falciasecca, G.; Garault, Y.; Gauthier, F.; Guillon, P.; Kelly, A.J.; Ladbrooke, P.H.; Lee, C.C.; Lin, J.C.; Moll, N.J.; Ogusu, K.; Rogai, S.; Rosatelli, C.; Saha, P.K.;
By: Bahar, E.; Besse, M.; Shen, L.C.; Sannino, M.; Borth, D.E.; Cain, C.A.; Caruso, G.; Cicconi, G.; Das, B.N.; Deshpande, M.D.; Falciasecca, G.; Garault, Y.; Gauthier, F.; Guillon, P.; Kelly, A.J.; Ladbrooke, P.H.; Lee, C.C.; Lin, J.C.; Moll, N.J.; Ogusu, K.; Rogai, S.; Rosatelli, C.; Saha, P.K.;
1978 / IEEE
By: Bahr, A.J.; Banerjee, D.K., Jr.; Walker, P.N.; Tulaja, V.; Behrens, G.H.; Caruso, G.; Chramiec, J.; Das, B.N.; Deshpande, M.D.; Easter, B.; Gopinath, A.; Gupta, C.; Gupta, K.K.; Helszajn, J.; Ikeda, M.; Jablonski, D.; Yasuyuki, K.; Kimura, T.; Kitayama, K.; Kohler, J.; Kumagai, N.; Morishita, K.; Neelakantaswamy, P.S.; Paolino, D.D.; Sakai, J.; Sannino, M.; Schiek, B.;
By: Bahr, A.J.; Banerjee, D.K., Jr.; Walker, P.N.; Tulaja, V.; Behrens, G.H.; Caruso, G.; Chramiec, J.; Das, B.N.; Deshpande, M.D.; Easter, B.; Gopinath, A.; Gupta, C.; Gupta, K.K.; Helszajn, J.; Ikeda, M.; Jablonski, D.; Yasuyuki, K.; Kimura, T.; Kitayama, K.; Kohler, J.; Kumagai, N.; Morishita, K.; Neelakantaswamy, P.S.; Paolino, D.D.; Sakai, J.; Sannino, M.; Schiek, B.;
1979 / IEEE
By: Allen, J.L.; Caruso, G.; Parkash, A.; Vaid, J.K.; Terakado, R.; Chatterjee, I.; D'Andrea, J.A.; Das, B.N.; Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hobdell, J.L.; Foong Chee Hong; Kobayashi, M.; Mansingh, A., Jr.; Medley, M.W.; Neelakantaswamy, P.S.; Pandharipande, V.M.; Sannino, M.; Somlo, P.I.;
By: Allen, J.L.; Caruso, G.; Parkash, A.; Vaid, J.K.; Terakado, R.; Chatterjee, I.; D'Andrea, J.A.; Das, B.N.; Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hobdell, J.L.; Foong Chee Hong; Kobayashi, M.; Mansingh, A., Jr.; Medley, M.W.; Neelakantaswamy, P.S.; Pandharipande, V.M.; Sannino, M.; Somlo, P.I.;
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Jost, B.; Jacobsson, R.; Guzik, Z.; Sannino, M.; Mini, G.; Fontanelli, F.; Neufeld, N.;
By: Jost, B.; Jacobsson, R.; Guzik, Z.; Sannino, M.; Mini, G.; Fontanelli, F.; Neufeld, N.;
2006 / IEEE
By: Jost, B.; Jacobsson, R.; Guzik, Z.; Sannino, M.; Mini, G.; Fontanelli, F.; Neufeld, N.;
By: Jost, B.; Jacobsson, R.; Guzik, Z.; Sannino, M.; Mini, G.; Fontanelli, F.; Neufeld, N.;
2008 / IEEE
By: Charlet, D.; Fontanelli, F.; Koestner, S.; Videau, I.; Sannino, M.; Robbe, P.; Potterat, C.; Nogueira, R.; Neufeld, N.; Breton, D.; Mini, G.; Jost, B.; Jacobsson, R.; Haefeli, G.; Gaspar, C.; Frank, M.;
By: Charlet, D.; Fontanelli, F.; Koestner, S.; Videau, I.; Sannino, M.; Robbe, P.; Potterat, C.; Nogueira, R.; Neufeld, N.; Breton, D.; Mini, G.; Jost, B.; Jacobsson, R.; Haefeli, G.; Gaspar, C.; Frank, M.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap