Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Saito, M.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Nishiwaki, K.; Tamaki, K.; Nagasaka, Y.; Kobayashi, K.; Kikuchi, Y.; Saito, M.;
By: Nishiwaki, K.; Tamaki, K.; Nagasaka, Y.; Kobayashi, K.; Kikuchi, Y.; Saito, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8327-3
By: Pagadarai, S.; Si Chen; Fujii, T.; Ohta, M.; Ohtake, M.; Al Abbasi, A.; Vuyyuru, R.; Oie, Y.; Tsuru, M.; Tsukamoto, K.; Saito, M.; Ihara, Y.; Nishida, K.; Fujii, Y.; Yoshimura, C.; Oshida, T.; Nishibori, M.; Altintas, O.; Wyglinski, A.M.;
By: Pagadarai, S.; Si Chen; Fujii, T.; Ohta, M.; Ohtake, M.; Al Abbasi, A.; Vuyyuru, R.; Oie, Y.; Tsuru, M.; Tsukamoto, K.; Saito, M.; Ihara, Y.; Nishida, K.; Fujii, Y.; Yoshimura, C.; Oshida, T.; Nishibori, M.; Altintas, O.; Wyglinski, A.M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1405-3
By: Kunze, L.; Inaba, M.; Okada, K.; Azuma, H.; Saito, M.; Beetz, M.;
By: Kunze, L.; Inaba, M.; Okada, K.; Azuma, H.; Saito, M.; Beetz, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1164-9
By: Yamashita, S.; Nakamura, M.; Suhara, M.; Okazaki, T.; Asakawa, K.; Takahagi, S.; Itagaki, Y.; Tegude, F.-J.; Prost, W.; Poloczek, A.; Keller, G.; Tchegho, A.; Saito, M.;
By: Yamashita, S.; Nakamura, M.; Suhara, M.; Okazaki, T.; Asakawa, K.; Takahagi, S.; Itagaki, Y.; Tegude, F.-J.; Prost, W.; Poloczek, A.; Keller, G.; Tchegho, A.; Saito, M.;
1989 / IEEE / 0-8186-1984-8
By: Aikawa, T.; Okamura, M.; Matoba, T.; Takamiya, T.; Maeda, K.; Saito, M.; Minagawa, K.;
By: Aikawa, T.; Okamura, M.; Matoba, T.; Takamiya, T.; Maeda, K.; Saito, M.; Minagawa, K.;
1988 / IEEE / 0-7803-0785-2
By: Saito, M.; Yamazaki, K.; Yokoyama, K.; Aruga, M.; Sekiya, T.; Kahtoh, S.;
By: Saito, M.; Yamazaki, K.; Yokoyama, K.; Aruga, M.; Sekiya, T.; Kahtoh, S.;
1992 / IEEE / 0-8186-2775-1
By: Yao, T.; Tanaka, Y.; Sato, H.; Tsutsumi, S.; Iwama, H.; Morikami, K.; Saito, M.; Kawakika, S.;
By: Yao, T.; Tanaka, Y.; Sato, H.; Tsutsumi, S.; Iwama, H.; Morikami, K.; Saito, M.; Kawakika, S.;
1992 / IEEE / 0-7803-0734-8
By: Nagatsuka, K.; Saito, M.; Inoue, T.; Nishimura, T.H.; Matsuo, H.; Senda, S.;
By: Nagatsuka, K.; Saito, M.; Inoue, T.; Nishimura, T.H.; Matsuo, H.; Senda, S.;
1993 / IEEE
By: Akasaka, Y.; Saito, M.; Ono, M.; Hara, H.; Yoshitomi, T.; Nii, H.; Iwai, H.; Ushiku, Y.; Katsumata, Y.; Momose, H.S.; Matsuda, S.;
By: Akasaka, Y.; Saito, M.; Ono, M.; Hara, H.; Yoshitomi, T.; Nii, H.; Iwai, H.; Ushiku, Y.; Katsumata, Y.; Momose, H.S.; Matsuda, S.;
1991 / IEEE
By: Takahashi, H.; Tsuchiya, T.; Nagatomo, H.O.; Konishi, K.; Arai, N.; Saito, M.; Miura, M.;
By: Takahashi, H.; Tsuchiya, T.; Nagatomo, H.O.; Konishi, K.; Arai, N.; Saito, M.; Miura, M.;
1994 / IEEE
By: Takeda, E.; Nishida, T.; Nagai, R.; Kimura, S.; Hisamoto, D.; Saito, M.; Nakamura, K.; Kobayashi, N.;
By: Takeda, E.; Nishida, T.; Nagai, R.; Kimura, S.; Hisamoto, D.; Saito, M.; Nakamura, K.; Kobayashi, N.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Hisamoto, D.; Takeda, E.; Nishida, T.; Nagai, R.; Nakamura, K.; Kimura, S.; Kobayashi, N.; Saito, M.;
By: Hisamoto, D.; Takeda, E.; Nishida, T.; Nagai, R.; Nakamura, K.; Kimura, S.; Kobayashi, N.; Saito, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Iwai, H.; Ushiku, Y.; Katsumata, Y.; Momose, H.S.; Matsuda, S.; Saito, M.; Nii, H.; Akasaka, Y.; Ono, M.; Yoshitomi, T.;
By: Iwai, H.; Ushiku, Y.; Katsumata, Y.; Momose, H.S.; Matsuda, S.; Saito, M.; Nii, H.; Akasaka, Y.; Ono, M.; Yoshitomi, T.;
1994 / IEEE / 0-7803-1921-4
By: Momose, H.S.; Ohguro, T.; Fiegna, C.; Yoshitomi, T.; Saito, M.; Ono, M.; Iwai, H.;
By: Momose, H.S.; Ohguro, T.; Fiegna, C.; Yoshitomi, T.; Saito, M.; Ono, M.; Iwai, H.;
1994 / IEEE
By: Morimoto, T.; Iwai, H.; Koike, M.; Nakamura, S.; Ohguro, T.; Nishiyama, A.; Saito, M.; Ono, M.; Yoshitomi, T.; Ushiku, Y.;
By: Morimoto, T.; Iwai, H.; Koike, M.; Nakamura, S.; Ohguro, T.; Nishiyama, A.; Saito, M.; Ono, M.; Yoshitomi, T.; Ushiku, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Ono, M.; Fiegna, C.; Yoshitomi, T.; Akasaka, Y.; Usuda, K.; Saito, M.; Yamada, K.; Ohguro, T.; Sugiyama, N.; Iwai, H.;
By: Ono, M.; Fiegna, C.; Yoshitomi, T.; Akasaka, Y.; Usuda, K.; Saito, M.; Yamada, K.; Ohguro, T.; Sugiyama, N.; Iwai, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Iwai, H.; Ohguro, T.; Fiegna, C.; Yoshitomi, T.; Saito, M.; Ono, M.;
By: Iwai, H.; Ohguro, T.; Fiegna, C.; Yoshitomi, T.; Saito, M.; Ono, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1859-5
By: Kuwana, K.; Maejima, Y.; Hirachi, K.; Eguchi, T.; Nishimura, T.H.; Saito, M.;
By: Kuwana, K.; Maejima, Y.; Hirachi, K.; Eguchi, T.; Nishimura, T.H.; Saito, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1993-1
By: Saito, M.; Sunayama, T.; Matumoto, T.; Katumata, M.; Endo, S.; Baba, A.; Yabe, H.;
By: Saito, M.; Sunayama, T.; Matumoto, T.; Katumata, M.; Endo, S.; Baba, A.; Yabe, H.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Momose, H.S.; Iwai, H.; Saito, M.; Nakamura, S.; Ohguro, T.; Yoshitomi, T.; Ono, M.;
By: Momose, H.S.; Iwai, H.; Saito, M.; Nakamura, S.; Ohguro, T.; Yoshitomi, T.; Ono, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Saito, M.; Yoshitomi, T.; Morifuji, E.; Ono, M.; Momose, H.S.; Nakamura, S.; Ohguro, T.; Iwai, H.;
By: Saito, M.; Yoshitomi, T.; Morifuji, E.; Ono, M.; Momose, H.S.; Nakamura, S.; Ohguro, T.; Iwai, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Yoshitomi, T.; Iwai, H.; Momose, H.S.; Morifuji, E.; Ono, M.; Saito, M.; Ohguro, T.;
By: Yoshitomi, T.; Iwai, H.; Momose, H.S.; Morifuji, E.; Ono, M.; Saito, M.; Ohguro, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Morifuji, E.; Ohgaro, T.; Iwai, H.; Ito, N.; Momose, H.S.; Yoshitomi, T.; Ono, M.; Saito, M.;
By: Morifuji, E.; Ohgaro, T.; Iwai, H.; Ito, N.; Momose, H.S.; Yoshitomi, T.; Ono, M.; Saito, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2618-0
By: Ohguro, T.; Iwai, H.; Momose, H.S.; Ono, M.; Yoshitomi, T.; Kakumoto, M.; Endo, K.; Saito, M.;
By: Ohguro, T.; Iwai, H.; Momose, H.S.; Ono, M.; Yoshitomi, T.; Kakumoto, M.; Endo, K.; Saito, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3286-5
By: Hanawa, T.; Iseki, Y.; Shizuki, Y.; Higuchi, K.; Takagi, E.; Miyagi, T.; Konno, M.; Yoshihara, K.; Saito, M.;
By: Hanawa, T.; Iseki, Y.; Shizuki, Y.; Higuchi, K.; Takagi, E.; Miyagi, T.; Konno, M.; Yoshihara, K.; Saito, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2602-4
By: Saito, M.; Yoshitomi, T.; Iwai, H.; Momose, H.S.; Ono, M.; Ohguro, T.;
By: Saito, M.; Yoshitomi, T.; Iwai, H.; Momose, H.S.; Ono, M.; Ohguro, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2602-4
By: Momose, H.S.; Sugiyama, N.; Ohguro, T.; Iwai, H.; Imai, K.; Ono, M.; Yoshitomi, T.; Saito, M.; Usuda, K.;
By: Momose, H.S.; Sugiyama, N.; Ohguro, T.; Iwai, H.; Imai, K.; Ono, M.; Yoshitomi, T.; Saito, M.; Usuda, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2602-4
By: Ito, N.; Tanimoto, H.; Takahashi, C.; Fujimoto, R.; Ono, M.; Ohguro, T.; Iwai, H.; Saito, M.; Momose, H.S.; Yoshitomi, T.;
By: Ito, N.; Tanimoto, H.; Takahashi, C.; Fujimoto, R.; Ono, M.; Ohguro, T.; Iwai, H.; Saito, M.; Momose, H.S.; Yoshitomi, T.;
1995 / IEEE / 0-8186-7165-3
By: Sakai, H.; Tanaka, K.; Ohmizo, T.; Wakamori, O.; Hayashi, H.; Saito, M.; Nozuwe, H.; Mogi, H.; Shung Ho Shing; Iwasa, S.;
By: Sakai, H.; Tanaka, K.; Ohmizo, T.; Wakamori, O.; Hayashi, H.; Saito, M.; Nozuwe, H.; Mogi, H.; Shung Ho Shing; Iwasa, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-3622-4
By: Yoshida, H.; Tabahashi, C.; Iseki, Y.; Shizuki, Y.; Kunio Yo; Saito, M.; Mori, M.;
By: Yoshida, H.; Tabahashi, C.; Iseki, Y.; Shizuki, Y.; Kunio Yo; Saito, M.; Mori, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3500-7
By: Saito, M.; Maejima, Y.; Hirachi, K.; Inoue, T.; Eguchi, T.; Nishimura, T.H.;
By: Saito, M.; Maejima, Y.; Hirachi, K.; Inoue, T.; Eguchi, T.; Nishimura, T.H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3315-2
By: Katayama, T.; Miyamura, Y.; Saito, M.; Jablonski, J.; Nakashima, S.;
By: Katayama, T.; Miyamura, Y.; Saito, M.; Jablonski, J.; Nakashima, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Saito, M.; Ohguro, T.; Iwai, H.; Katsumata, Y.; Momose, H.S.; Morimoto, T.; Yoshitomi, T.; Matsuzaki, K.; Murakami, K.; Morifuji, E.;
By: Saito, M.; Ohguro, T.; Iwai, H.; Katsumata, Y.; Momose, H.S.; Morimoto, T.; Yoshitomi, T.; Matsuzaki, K.; Murakami, K.; Morifuji, E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3692-5
By: Yamazato, T.; Sato, T.; Okada, H.; Saito, M.; Ogawa, A.; Katasyama, M.;
By: Yamazato, T.; Sato, T.; Okada, H.; Saito, M.; Ogawa, A.; Katasyama, M.;