Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Rotermund, F.
Results
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Chang Su Jun; Dong-Il Yeom; Rotermund, F.; Sun Young Choi; Byoung Yoon Kim; Sang Hwa Yoo; Ju Hee Im;
By: Chang Su Jun; Dong-Il Yeom; Rotermund, F.; Sun Young Choi; Byoung Yoon Kim; Sang Hwa Yoo; Ju Hee Im;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Hong, B.H.; Kim, K.; Yeom, D.; Pasiskevicius, V.; Agnesi, A.; Rotermund, F.; Petrov, V.; Cho, W.B.; Lee, H.W.; Choi, S.Y.; Baek, I.H.;
By: Hong, B.H.; Kim, K.; Yeom, D.; Pasiskevicius, V.; Agnesi, A.; Rotermund, F.; Petrov, V.; Cho, W.B.; Lee, H.W.; Choi, S.Y.; Baek, I.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Noack, F.; Rotermund, F.; Petrov, V.; Uda, S.; Sugawara, T.; Komatsu, R.;
By: Noack, F.; Rotermund, F.; Petrov, V.; Uda, S.; Sugawara, T.; Komatsu, R.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Laurell, F.; Hellstrom, J.; Pasiskevicius, V.; Noack, F.; Petrov, V.; Rotermund, F.;
By: Laurell, F.; Hellstrom, J.; Pasiskevicius, V.; Noack, F.; Petrov, V.; Rotermund, F.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Yelisseyev, A.; Isaenko, L.; Noack, F.; Petrov, V.; Rotermund, F.; Lobanov, S.;
By: Yelisseyev, A.; Isaenko, L.; Noack, F.; Petrov, V.; Rotermund, F.; Lobanov, S.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Yelisseyev, A.; Isaenko, L.; Zondy, J.-J.; Slekys, G.; Petrov, V.; Rotermund, F.; Lobanov, S.;
By: Yelisseyev, A.; Isaenko, L.; Zondy, J.-J.; Slekys, G.; Petrov, V.; Rotermund, F.; Lobanov, S.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Titov, A.; Petrov, V.; Zondy, J.-J.; Rotermund, F.; Noack, F.; Lobanov, S.; Yelisseyev, A.; Isaenko, L.;
By: Titov, A.; Petrov, V.; Zondy, J.-J.; Rotermund, F.; Noack, F.; Lobanov, S.; Yelisseyev, A.; Isaenko, L.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Petrov, V.; Isaenko, L.; Lobanov, S.; Yelisseyev, A.; Zondy, J.-J.; Rotermund, F.; Noack, F.;
By: Petrov, V.; Isaenko, L.; Lobanov, S.; Yelisseyev, A.; Zondy, J.-J.; Rotermund, F.; Noack, F.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Chang Jun Yoon; Rotermund, F.; Noack, F.; Petrov, V.; Kitamura, K.; Nan-Ei Yu; Kurimura, S.;
By: Chang Jun Yoon; Rotermund, F.; Noack, F.; Petrov, V.; Kitamura, K.; Nan-Ei Yu; Kurimura, S.;
2007 / IEEE / 1-4244-0609-9
By: Jong Hyuk Yim; Ken Ha Koh; Rotermund, F.; Soonil Lee; Jong Taek Kim;
By: Jong Hyuk Yim; Ken Ha Koh; Rotermund, F.; Soonil Lee; Jong Taek Kim;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Yim, J.H.; Kim, H.C.; Rotermund, F.; Ahn, Y.H.; Koh, K.H.; Lee, S.; Kim, J.T.;
By: Yim, J.H.; Kim, H.C.; Rotermund, F.; Ahn, Y.H.; Koh, K.H.; Lee, S.; Kim, J.T.;
Improved Maker-fringe analysis for estimation of second-order nonlinearities of arrayed ZnO nanorods
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3By: Koh, K.H.; Lee, S.; Lee, K.M.; Lee, H.W.; Kim, J.T.; Rotermund, F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Lee, J.; Rotermund, F.; Kim, K.; Cho, W.B.; Kurimura, S.; Lim, H.;
By: Lee, J.; Rotermund, F.; Kim, K.; Cho, W.B.; Kurimura, S.; Lim, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Yim, J.H.; Hong, N.T.; Baek, I.H.; Rotermund, F.; Koh, K.H.; Lee, S.; Ahn, Y.H.;
By: Yim, J.H.; Hong, N.T.; Baek, I.H.; Rotermund, F.; Koh, K.H.; Lee, S.; Ahn, Y.H.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Rotermund, F.; Soonil Lee; Ken Ha Koh; Kyung Moon Lee; Jong Taek Kim; Hwang Woon Lee;
By: Rotermund, F.; Soonil Lee; Ken Ha Koh; Kyung Moon Lee; Jong Taek Kim; Hwang Woon Lee;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Lim, H.; Rotermund, F.; Kim, K.; Cho, W.B.; Kitamura, K.; Kurimura, S.;
By: Lim, H.; Rotermund, F.; Kim, K.; Cho, W.B.; Kitamura, K.; Kurimura, S.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Rivier, S.; Schmidt, A.; Rotermund, F.; Soonil Lee; Won Bae Cho; Jong Hyuk Yim; Griebner, U.; Petrov, V.; Steinmeyer, G.;
By: Rivier, S.; Schmidt, A.; Rotermund, F.; Soonil Lee; Won Bae Cho; Jong Hyuk Yim; Griebner, U.; Petrov, V.; Steinmeyer, G.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Rotermund, F.; Kihong Kim; Yeong Hwan Ahn; Won Bae Cho; Steinmeyer, G.; Jong Hyuk Yim; Griebner, U.; Soonil Lee; Petrov, V.;
By: Rotermund, F.; Kihong Kim; Yeong Hwan Ahn; Won Bae Cho; Steinmeyer, G.; Jong Hyuk Yim; Griebner, U.; Soonil Lee; Petrov, V.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Noack, F.; Miller, S.; Guibao Xu; Rotermund, F.; Petrov, V.; Panyutin, V.;
By: Noack, F.; Miller, S.; Guibao Xu; Rotermund, F.; Petrov, V.; Panyutin, V.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Kurimura, S.; Lim, H.; Rotermund, F.; Cho, W.B.; Yoon, C.J.; Kitamura, K.;
By: Kurimura, S.; Lim, H.; Rotermund, F.; Cho, W.B.; Yoon, C.J.; Kitamura, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2119-0
By: Ahn, Y.H.; Seo, M.A.; Yim, J.H.; Lim, H.; Lee, S.; Kim, D.S.; Rotermund, F.;
By: Ahn, Y.H.; Seo, M.A.; Yim, J.H.; Lim, H.; Lee, S.; Kim, D.S.; Rotermund, F.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Rotermund, F.; Dong-Il Yeom; Soonil Lee; Jong Hyuk Yim; Steinmeyer, G.; Won Bae Cho; Griebner, U.; Sun Young Choi; Petrov, V.;
By: Rotermund, F.; Dong-Il Yeom; Soonil Lee; Jong Hyuk Yim; Steinmeyer, G.; Won Bae Cho; Griebner, U.; Sun Young Choi; Petrov, V.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Bock, M.; Das, S.K.; Rotermund, F.; Soonil Lee; Hwang Woon Lee; Kyung Moon Lee; Grunwald, R.; O'Neill, C.;
By: Bock, M.; Das, S.K.; Rotermund, F.; Soonil Lee; Hwang Woon Lee; Kyung Moon Lee; Grunwald, R.; O'Neill, C.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Peters, R.; Griebner, U.; Petrov, V.; Schmidt, A.; Rotermund, F.; Petermann, K.; Soonil Lee; Jong Hyuk Yim; Won Bae Cho; Huber, G.;
By: Peters, R.; Griebner, U.; Petrov, V.; Schmidt, A.; Rotermund, F.; Petermann, K.; Soonil Lee; Jong Hyuk Yim; Won Bae Cho; Huber, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3829-7
By: Kiran, A.J.; Rotermund, F.; Lim, H.; Kim, K.; Dharmaprakash, S.M.; Ravindra, H.J.; Lee, H.W.;
By: Kiran, A.J.; Rotermund, F.; Lim, H.; Kim, K.; Dharmaprakash, S.M.; Ravindra, H.J.; Lee, H.W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3829-7
By: Lee, S.; Hong, N.T.; Baek, I.H.; Rotermund, F.; Kim, K.; Ahn, Y.H.;
By: Lee, S.; Hong, N.T.; Baek, I.H.; Rotermund, F.; Kim, K.; Ahn, Y.H.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Hwang Woon Lee; Doo Jae Park; Soobong Choi; O-Pil Kwon; Ji Yon Seo; Sun Young Choi; Pil Ju Kim; Lim, H.; Rotermund, F.; Yeong Hwan Ahn;
By: Hwang Woon Lee; Doo Jae Park; Soobong Choi; O-Pil Kwon; Ji Yon Seo; Sun Young Choi; Pil Ju Kim; Lim, H.; Rotermund, F.; Yeong Hwan Ahn;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Park, D.J.; Moon, J.Y.; Lim, H.; Ahn, Y.H.; Lee, S.; Rotermund, F.; Yim, J.H.;
By: Park, D.J.; Moon, J.Y.; Lim, H.; Ahn, Y.H.; Lee, S.; Rotermund, F.; Yim, J.H.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Steinmyer, G.; Griebner, U.; Petrov, V.; Schmidt, A.; Rotermund, F.; Kihong Kim; Dong-Il Yeom; Soonil Lee; Jong Hyuk Yim; Sun Young Choi; Won Bae Cho;
By: Steinmyer, G.; Griebner, U.; Petrov, V.; Schmidt, A.; Rotermund, F.; Kihong Kim; Dong-Il Yeom; Soonil Lee; Jong Hyuk Yim; Sun Young Choi; Won Bae Cho;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Sun Young Choi; Rotermund, F.; Schmidt, A.; Won Bae Cho; Petrov, V.; Dong-Il Yeom; Soonil Lee; Steinmeyer, G.; Griebner, U.;
By: Sun Young Choi; Rotermund, F.; Schmidt, A.; Won Bae Cho; Petrov, V.; Dong-Il Yeom; Soonil Lee; Steinmeyer, G.; Griebner, U.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Sun Young Choi; Byung Hee Hong; Hwang Woon Lee; Won Bae Cho; Jun Wan Kim; Jinho Kim; Rotermund, F.; Dong-Il Yeom;
By: Sun Young Choi; Byung Hee Hong; Hwang Woon Lee; Won Bae Cho; Jun Wan Kim; Jinho Kim; Rotermund, F.; Dong-Il Yeom;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Ahn, Y.H.; Kim, D.S.; Lee, S.; Rotermund, F.; Park, D.J.; Hong, J.T.;
By: Ahn, Y.H.; Kim, D.S.; Lee, S.; Rotermund, F.; Park, D.J.; Hong, J.T.;
2012 / IEEE
By: Griebner, U.; Rotermund, F.; Sun Young Choi; Reali, G.; Petrov, V.; Ugolotti, E.; Pirzio, F.; Greborio, A.; Agnesi, A.;
By: Griebner, U.; Rotermund, F.; Sun Young Choi; Reali, G.; Petrov, V.; Ugolotti, E.; Pirzio, F.; Greborio, A.; Agnesi, A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Lee, S.; Jong Hyuk Yim; Sun Young Choi; Tonelli, M.; Won Bae Cho; Rotermund, F.; Veronesi, S.; Parisi, D.; Schmidt, A.; Petrov, V.; Griebner, U.;
By: Lee, S.; Jong Hyuk Yim; Sun Young Choi; Tonelli, M.; Won Bae Cho; Rotermund, F.; Veronesi, S.; Parisi, D.; Schmidt, A.; Petrov, V.; Griebner, U.;