Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Rosenfeld, A.B.
Results
2012 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Prokopovich, D.A.; Livingstone, J.; Rosenfeld, A.B.; Yasuda, H.; Dicello, J.F.; Perevertaylo, V.L.; Pisacane, V.L.; Ziegler, J.F.; Zaider, M.;
By: Reinhard, M.I.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Prokopovich, D.A.; Livingstone, J.; Rosenfeld, A.B.; Yasuda, H.; Dicello, J.F.; Perevertaylo, V.L.; Pisacane, V.L.; Ziegler, J.F.; Zaider, M.;
2012 / IEEE
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Rosenfeld, A.B.; Harvey, S.; Lian, C.; Cutajar, D.; Fuduli, I.; Chuamsaamarkkee, K.;
By: Rosenfeld, A.B.; Harvey, S.; Lian, C.; Cutajar, D.; Fuduli, I.; Chuamsaamarkkee, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Petasecca, M.; Franklin, D.R.; Safavi-Naeini, M.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.; De Geronimo, G.; Dunn, P.; Moorhead, G.; Kirkham, R.;
By: Petasecca, M.; Franklin, D.R.; Safavi-Naeini, M.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.; De Geronimo, G.; Dunn, P.; Moorhead, G.; Kirkham, R.;
2013 / IEEE
By: Han, Z.; Safavi-Naeini, M.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Bucci, J.A.; Pospisil, S.; Zemlicka, J.; Jakubek, J.; Franklin, D.R.; Lerch, M.; Petasecca, M.; Cutajar, D.;
By: Han, Z.; Safavi-Naeini, M.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Bucci, J.A.; Pospisil, S.; Zemlicka, J.; Jakubek, J.; Franklin, D.R.; Lerch, M.; Petasecca, M.; Cutajar, D.;
1992 / IEEE
By: Zinets, O.S.; Pugatch, V.M.; Rosenfeld, A.B.; Vasilyev, Yu.O.; Pavlenko, Yu.N.; Barabash, L.I.; Litovchenko, P.G.;
By: Zinets, O.S.; Pugatch, V.M.; Rosenfeld, A.B.; Vasilyev, Yu.O.; Pavlenko, Yu.N.; Barabash, L.I.; Litovchenko, P.G.;
1992 / IEEE
By: Vasiliev, Y.O.; Pavlenko, Y.N.; Pugatch, V.M.; Zinets, O.S.; Rosenfeld, A.B.; Nenakhov, A.N.; Litovchenko, P.G.; Berdnichenko, S.V.; Barabash, L.I.; Tkatch, N.M.;
By: Vasiliev, Y.O.; Pavlenko, Y.N.; Pugatch, V.M.; Zinets, O.S.; Rosenfeld, A.B.; Nenakhov, A.N.; Litovchenko, P.G.; Berdnichenko, S.V.; Barabash, L.I.; Tkatch, N.M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Nenakhov, A.N.; Vasiliev, Yu.D.; Pavlenko, Yu.N.; Pugatch, V.M.; Zinets, O.S.; Tkatch, N.M.; Rosenfeld, A.B.; Litovchenko, P.G.; Berdnichenko, S.V.; Barabash, L.I.;
By: Nenakhov, A.N.; Vasiliev, Yu.D.; Pavlenko, Yu.N.; Pugatch, V.M.; Zinets, O.S.; Tkatch, N.M.; Rosenfeld, A.B.; Litovchenko, P.G.; Berdnichenko, S.V.; Barabash, L.I.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Zinets, O.S.; Pugatch, V.M.; Rosenfeld, A.B.; Vasilyev, Y.O.; Pavlenko, Y.N.; Barabash, L.I.; Litovchenko, P.G.;
By: Zinets, O.S.; Pugatch, V.M.; Rosenfeld, A.B.; Vasilyev, Y.O.; Pavlenko, Y.N.; Barabash, L.I.; Litovchenko, P.G.;
1996 / IEEE
By: Khivrich, V.I.; Alexiev, D.; Carolan, M.; Rosenfeld, A.B.; Litovchenko, P.G.; Reinhard, M.I.; Zinets, O.S.; Anokhin, A.I.; Varentsov, M.D.;
By: Khivrich, V.I.; Alexiev, D.; Carolan, M.; Rosenfeld, A.B.; Litovchenko, P.G.; Reinhard, M.I.; Zinets, O.S.; Anokhin, A.I.; Varentsov, M.D.;
1996 / IEEE
By: Maughan, R.; Allen, B.J.; Carolan, M.G.; Kaplan, G.I.; Yudelev, M.; Rosenfeld, A.B.; Coderre, J.; Kota, C.;
By: Maughan, R.; Allen, B.J.; Carolan, M.G.; Kaplan, G.I.; Yudelev, M.; Rosenfeld, A.B.; Coderre, J.; Kota, C.;
1999 / IEEE
By: Lerch, M.; Alexiev, D.; Freeman, N.; Peak, L.; Rosenfeld, A.B.; Ihnat, P.; Marinaro, D.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.;
By: Lerch, M.; Alexiev, D.; Freeman, N.; Peak, L.; Rosenfeld, A.B.; Ihnat, P.; Marinaro, D.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.;
1999 / IEEE
By: Kron, T.; Kaplan, G.I.; Rosenfeld, A.B.; Holmes-Siedle, A.; Allen, B.J.; Lerch, M.L.F.; Ren, B.; Orion, I.; Dilmanian, A.;
By: Kron, T.; Kaplan, G.I.; Rosenfeld, A.B.; Holmes-Siedle, A.; Allen, B.J.; Lerch, M.L.F.; Ren, B.; Orion, I.; Dilmanian, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Cornelius, I.; Bradley, P.D.; Rosenfeld, A.B.; Hayakawa, Y.; Maruhashi, A.; Takada, Y.; Kaplan, G.I.; Bailey, J.; Schubert, J.; Van Meerbeeck, A.; Goitein, M.; Flanz, J.B.; Allen, B.J.;
By: Cornelius, I.; Bradley, P.D.; Rosenfeld, A.B.; Hayakawa, Y.; Maruhashi, A.; Takada, Y.; Kaplan, G.I.; Bailey, J.; Schubert, J.; Van Meerbeeck, A.; Goitein, M.; Flanz, J.B.; Allen, B.J.;
2000 / IEEE
By: Maruhashi, A.; Takada, Y.; Bailey, J.; Schubert, J.; Van Meerbeeck, A.; Goitein, M.; Hayakawa, Y.; Flanz, J.B.; Allen, B.J.; Kaplan, G.I.; Cornelius, I.; Bradley, P.D.; Rosenfeld, A.B.;
By: Maruhashi, A.; Takada, Y.; Bailey, J.; Schubert, J.; Van Meerbeeck, A.; Goitein, M.; Hayakawa, Y.; Flanz, J.B.; Allen, B.J.; Kaplan, G.I.; Cornelius, I.; Bradley, P.D.; Rosenfeld, A.B.;
2001 / IEEE
By: Taylor, G.N.; Simmonds, P.E.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.; Perevertailo, V.L.; Meikle, S.R.;
By: Taylor, G.N.; Simmonds, P.E.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.; Perevertailo, V.L.; Meikle, S.R.;
2001 / IEEE
By: Allen, B.J.; Holmes-Siedle, A.; Bravin, A.; Brauer-Krisch, E.; Kron, T.; Lerch, M.L.F.; Rosenfeld, A.B.;
By: Allen, B.J.; Holmes-Siedle, A.; Bravin, A.; Brauer-Krisch, E.; Kron, T.; Lerch, M.L.F.; Rosenfeld, A.B.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Meikle, S.R.; Fulham, M.J.; Rosenfeld, A.B.; Fulton, R.R.; Eberl, S.; Kench, P.; Majewski, S.; Smith, M.F.; Wojcik, R.; Weisenberger, A.G.;
By: Meikle, S.R.; Fulham, M.J.; Rosenfeld, A.B.; Fulton, R.R.; Eberl, S.; Kench, P.; Majewski, S.; Smith, M.F.; Wojcik, R.; Weisenberger, A.G.;
2002 / IEEE
By: Rosenfeld, A.B.; Fulton, R.R.; Eberl, S.; Majewski, S.; Smith, M.F.; Fulham, M.J.; Weisenberger, A.G.; Kench, P.; Meikle, S.R.; Wojcik, R.;
By: Rosenfeld, A.B.; Fulton, R.R.; Eberl, S.; Majewski, S.; Smith, M.F.; Fulham, M.J.; Weisenberger, A.G.; Kench, P.; Meikle, S.R.; Wojcik, R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7636-6
By: Wojcik, R.; Meikle, S.R.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.; Smith, M.F.; Weisenberger, A.G.; Eberl, S.; Kench, P.; Majewski, S.; Fulton, R.R.;
By: Wojcik, R.; Meikle, S.R.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.; Smith, M.F.; Weisenberger, A.G.; Eberl, S.; Kench, P.; Majewski, S.; Fulton, R.R.;
2003 / IEEE
By: Alexiev, D.; Pinkovskaya, M.; Khivrich, V.I.; Zinets, O.S.; Anokhin, I.E.; Perevertailo, V.L.; Reinhard, M.; Griffin, P.; Cornelius, I.; Lerch, M.L.F.; Yudelev, M.; Rosenfeld, A.B.;
By: Alexiev, D.; Pinkovskaya, M.; Khivrich, V.I.; Zinets, O.S.; Anokhin, I.E.; Perevertailo, V.L.; Reinhard, M.; Griffin, P.; Cornelius, I.; Lerch, M.L.F.; Yudelev, M.; Rosenfeld, A.B.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Meikle, S.R.; Pervertailo, V.L.; Simmonds, P.E.; Ward, R.; Lerch, M.L.F.; Rosenfeld, A.B.; Taylor, G.N.;
By: Meikle, S.R.; Pervertailo, V.L.; Simmonds, P.E.; Ward, R.; Lerch, M.L.F.; Rosenfeld, A.B.; Taylor, G.N.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Bucci, J.; Pervertailo, V.; Braddock, T.; Brady, J.; Takacs, G.J.; Kersley, J.; Cutajar, D.L.; Rosenfeld, A.B.; Zelefsky, M.; Lerch, M.L.F.; Zaider, M.;
By: Bucci, J.; Pervertailo, V.; Braddock, T.; Brady, J.; Takacs, G.J.; Kersley, J.; Cutajar, D.L.; Rosenfeld, A.B.; Zelefsky, M.; Lerch, M.L.F.; Zaider, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Majewski, S.; Weisenberger, A.G.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.; Smith, M.F.; Wojcik, R.; Kench, P.; Meikle, S.R.;
By: Majewski, S.; Weisenberger, A.G.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.; Smith, M.F.; Wojcik, R.; Kench, P.; Meikle, S.R.;
2004 / IEEE
By: Braddock, T.; Brady, J.; Cutajar, D.L.; Takacs, G.J.; Lerch, M.L.F.; Perevertaylo, V.L.; Rosenfeld, A.B.; Zelefsky, M.; Zaider, M.; Kearsley, J.; Bucci, J.;
By: Braddock, T.; Brady, J.; Cutajar, D.L.; Takacs, G.J.; Lerch, M.L.F.; Perevertaylo, V.L.; Rosenfeld, A.B.; Zelefsky, M.; Zaider, M.; Kearsley, J.; Bucci, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Bashkirov, V.; Schulte, R.; Wroe, A.J.; Grosswendt, B.; Rosenfeld, A.B.;
By: Bashkirov, V.; Schulte, R.; Wroe, A.J.; Grosswendt, B.; Rosenfeld, A.B.;
2005 / IEEE
By: Nettelback, H.; Painuly, N.; Takacs, G.J.; Cornelius, I.M.; Bravin, A.; Kron, T.; Holmes-Siedle, A.; Brauer-Krish, E.; Siegbahn, E.A.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.;
By: Nettelback, H.; Painuly, N.; Takacs, G.J.; Cornelius, I.M.; Bravin, A.; Kron, T.; Holmes-Siedle, A.; Brauer-Krish, E.; Siegbahn, E.A.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.;
2005 / IEEE
By: Ziegler, J.F.; Cornelius, I.M.; Pisacane, V.L.; Rosenfeld, A.B.; Nelson, M.E.; Wroe, A.J.; Dicello, J.F.; Zaider, M.; Cucinotta, F.;
By: Ziegler, J.F.; Cornelius, I.M.; Pisacane, V.L.; Rosenfeld, A.B.; Nelson, M.E.; Wroe, A.J.; Dicello, J.F.; Zaider, M.; Cucinotta, F.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Cucinotta, F.; Nelson, M.E.; Ziegler, J.F.; Pisacane, V.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Wroe, A.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.; Dicello, J.F.;
By: Cucinotta, F.; Nelson, M.E.; Ziegler, J.F.; Pisacane, V.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Wroe, A.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.; Dicello, J.F.;
2006 / IEEE
By: Schulte, R.; Wroe, A.J.; Grosswendt, B.; Sadrozinski, H.F.W.; Bashkirov, V.; Spradlin, P.; Keeney, B.; Rosenfeld, A.B.;
By: Schulte, R.; Wroe, A.J.; Grosswendt, B.; Sadrozinski, H.F.W.; Bashkirov, V.; Spradlin, P.; Keeney, B.; Rosenfeld, A.B.;
2006 / IEEE
By: Bucci, J.A.; Braddock, T.; Duggan, L.J.; Enari, K.E.; Zaider, M.; Zelefsky, M.; Rosenfeld, A.B.; Brady, J.; Lerch, M.L.F.; Takacs, G.J.; Cutajar, D.L.;
By: Bucci, J.A.; Braddock, T.; Duggan, L.J.; Enari, K.E.; Zaider, M.; Zelefsky, M.; Rosenfeld, A.B.; Brady, J.; Lerch, M.L.F.; Takacs, G.J.; Cutajar, D.L.;
2007 / IEEE
By: Holmes-Siedle, A.G.; Lerch, M.; Rosenfeld, A.B.; Glaser, M.; Ravotti, F.; Sarrabayrouse, G.;
By: Holmes-Siedle, A.G.; Lerch, M.; Rosenfeld, A.B.; Glaser, M.; Ravotti, F.; Sarrabayrouse, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.;
By: Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.M.; Prokopovich, D.A.; Rosenfeld, A.B.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.M.; Prokopovich, D.A.; Rosenfeld, A.B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
2008 / IEEE
By: Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Rosenfeld, A.B.; Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Reinhard, M.I.;
By: Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Rosenfeld, A.B.; Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Reinhard, M.I.;
2008 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Guatelli, S.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.; Mascialino, B.;
By: Reinhard, M.I.; Guatelli, S.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.; Mascialino, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Lim, W.H.; Lai, N.S.; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.; Ziebell, A.L.;
By: Lim, W.H.; Lai, N.S.; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.; Ziebell, A.L.;
2009 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
2009 / IEEE
By: Safavi-Naeini, M.; Rosenfeld, A.B.; Zorzi, N.; Betta, G.-F.D.; Franklin, D.R.; Pignatel, G.U.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Reinhard, M.;
By: Safavi-Naeini, M.; Rosenfeld, A.B.; Zorzi, N.; Betta, G.-F.D.; Franklin, D.R.; Pignatel, G.U.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Reinhard, M.;
2009 / IEEE
By: Ziebell, A.L.; Wee Han Lim; Nai Shyan Lai; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.;
By: Ziebell, A.L.; Wee Han Lim; Nai Shyan Lai; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: De Geronimo, G.; Dunn, P.; Moorhead, G.; Kirkham, R.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.; Petasecca, M.; Franklin, D.R.; Safavi-Naeini, M.;
By: De Geronimo, G.; Dunn, P.; Moorhead, G.; Kirkham, R.; Rosenfeld, A.B.; Lerch, M.L.F.; Petasecca, M.; Franklin, D.R.; Safavi-Naeini, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Petaseca, M.; Lerch, M.L.; Schulte, R.W.; Clasie, B.; Wroe, A.; Perevertaylo, V.; Reinhard, M.I.; Dowdell, S.J.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Anokhin, I.E.;
By: Petaseca, M.; Lerch, M.L.; Schulte, R.W.; Clasie, B.; Wroe, A.; Perevertaylo, V.; Reinhard, M.I.; Dowdell, S.J.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Anokhin, I.E.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.C.; Hands, A.; Rosenfeld, A.B.;
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.C.; Hands, A.; Rosenfeld, A.B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Schulte, R.W.; Penfold, S.N.; Rosenfeld, A.B.; Bashkirov, V.; Censor, Y.;
By: Schulte, R.W.; Penfold, S.N.; Rosenfeld, A.B.; Bashkirov, V.; Censor, Y.;
2010 / IEEE
By: Othman, M.A.R.; Rosenfeld, A.B.; Pospisil, S.; Jakubek, J.; Lerch, M.L.F.; Guatelli, S.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Marinaro, D.G.; Uher, J.; Petasecca, M.;
By: Othman, M.A.R.; Rosenfeld, A.B.; Pospisil, S.; Jakubek, J.; Lerch, M.L.F.; Guatelli, S.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Marinaro, D.G.; Uher, J.; Petasecca, M.;