Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Rosenbusch, P.
Results
2012 / IEEE
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-112-0
By: Gibble, K.; Reichel, J.; Deutsch, C.; Rosenbusch, P.; Maineult, W.;
By: Gibble, K.; Reichel, J.; Deutsch, C.; Rosenbusch, P.; Maineult, W.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1820-5
By: Maineult, W.; Rosenbusch, P.; Deutsch, C.; Reichel, J.; Gibble, K.;
By: Maineult, W.; Rosenbusch, P.; Deutsch, C.; Reichel, J.; Gibble, K.;
2014 / IEEE
By: Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.; Bize, S.; Abgrall, M.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.;
By: Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.; Bize, S.; Abgrall, M.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.;
2014 / IEEE
By: Abgrall, M.; Bize, S.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.; Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.;
By: Abgrall, M.; Bize, S.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.; Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.;
2013 / IEEE
By: Bouchoule, I.; Rosenbusch, P.; Reichel, J.; Guerlin, C.; Westbrook, C.; Dupont-Nivet, M.; Ammar, M.; Schwartz, S.; Huet, L.;
By: Bouchoule, I.; Rosenbusch, P.; Reichel, J.; Guerlin, C.; Westbrook, C.; Dupont-Nivet, M.; Ammar, M.; Schwartz, S.; Huet, L.;
2005 / IEEE
By: Tobar, M.; Salomon, C.; Clairon, A.; Santarelli, G.; Laurent, P.; Maksimovic, I.; Luiten, A.; Chambon, D.; Abgrall, M.; Zhang, S.; Cacciapuoti, L.; Bize, S.; Marion, H.; Rosenbusch, P.; Vian, C.;
By: Tobar, M.; Salomon, C.; Clairon, A.; Santarelli, G.; Laurent, P.; Maksimovic, I.; Luiten, A.; Chambon, D.; Abgrall, M.; Zhang, S.; Cacciapuoti, L.; Bize, S.; Marion, H.; Rosenbusch, P.; Vian, C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Mandache, C.; Salomon, C.; Tobar, M.E.; Luiten, A.N.; Clairon, A.; Rosenbusch, P.; Bize, S.; Santarelli, G.; Laurent, Ph.; Marion, H.; Vian, C.;
By: Mandache, C.; Salomon, C.; Tobar, M.E.; Luiten, A.N.; Clairon, A.; Rosenbusch, P.; Bize, S.; Santarelli, G.; Laurent, Ph.; Marion, H.; Vian, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8493-8
By: Marion, H.; Bize, S.; Salomon, C.; Luiten, A.; Tobar, M.; Clairon, A.; Laurent, P.; Santarelli, G.; Dos Santos, F.P.; Rosenbusch, P.; Grunert, J.; Vian, C.; Cacciapuotti, L.; Maksimovic, I.; Abgrall, M.; Narbonneau, F.; Chambon, D.;
By: Marion, H.; Bize, S.; Salomon, C.; Luiten, A.; Tobar, M.; Clairon, A.; Laurent, P.; Santarelli, G.; Dos Santos, F.P.; Rosenbusch, P.; Grunert, J.; Vian, C.; Cacciapuotti, L.; Maksimovic, I.; Abgrall, M.; Narbonneau, F.; Chambon, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Chapelet, F.; Abgrall, M.; Tobar, M.E.; Clairon, A.; Rovera, D.; Guena, J.; Santarelli, G.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Bize, S.;
By: Chapelet, F.; Abgrall, M.; Tobar, M.E.; Clairon, A.; Rovera, D.; Guena, J.; Santarelli, G.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Bize, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Baillard, X.; Schnatz, H.; Grosche, G.; Lipphardt, B.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Rovera, G.D.; Lecoq, Y.; Laurent, P.; Abgrall, M.; Rosenbusch, P.; Bize, S.; Chapelet, F.; Lecallier, A.; Westergaard, P.G.; Le Targat, R.; Fouche, M.;
By: Baillard, X.; Schnatz, H.; Grosche, G.; Lipphardt, B.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Rovera, G.D.; Lecoq, Y.; Laurent, P.; Abgrall, M.; Rosenbusch, P.; Bize, S.; Chapelet, F.; Lecallier, A.; Westergaard, P.G.; Le Targat, R.; Fouche, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2399-6
By: Abgrall, M.; Clairon, A.; Zhangu, S.; Santarelli, G.; Chapelet, F.; Bize, S.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Guena, J.; Rovera, G.D.;
By: Abgrall, M.; Clairon, A.; Zhangu, S.; Santarelli, G.; Chapelet, F.; Bize, S.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Guena, J.; Rovera, G.D.;
2009 / IEEE
By: Chapelet, F.; Guena, J.; Rosenbusch, P.; Governatori, G.; Lours, M.; Chambon, D.; Bize, S.; Santarelli, G.; Clairon, A.; Potier, T.; Laurent, P.; Tobar, M.;
By: Chapelet, F.; Guena, J.; Rosenbusch, P.; Governatori, G.; Lours, M.; Chambon, D.; Bize, S.; Santarelli, G.; Clairon, A.; Potier, T.; Laurent, P.; Tobar, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3511-1
By: Laurent, P.; Rosenbusch, P.; Guena, J.; Tobar, M.E.; Abgrall, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Santarelli, G.; Rovera, G.D.;
By: Laurent, P.; Rosenbusch, P.; Guena, J.; Tobar, M.E.; Abgrall, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Santarelli, G.; Rovera, G.D.;
2010 / IEEE
By: Schneider, T.; Deutsch, C.; Ramirez-Martinez, F.; Reinhard, F.; Lacroute, C.; Rosenbusch, P.; Reichel, J.;
By: Schneider, T.; Deutsch, C.; Ramirez-Martinez, F.; Reinhard, F.; Lacroute, C.; Rosenbusch, P.; Reichel, J.;
2010 / IEEE
By: Rosenbusch, P.; Guena, J.; Clairon, A.; Bize, S.; Laurent, P.; Tobar, M.E.; Santarelli, G.; Rovera, D.; Abgrall, M.;
By: Rosenbusch, P.; Guena, J.; Clairon, A.; Bize, S.; Laurent, P.; Tobar, M.E.; Santarelli, G.; Rovera, D.; Abgrall, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-112-0
By: Laurent, P.; Guena, J.; Tobar, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Rosenbusch, P.; Rovera, D.;
By: Laurent, P.; Guena, J.; Tobar, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Rosenbusch, P.; Rovera, D.;