Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Rose, D.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Maenchen, J.; Cordova, S.; Shelton, B.; Wilkins, F.; Gignac, R.; Droemer, D.; Barker, D.; Weber, B.; Hinshelwood, D.; Commisso, R.; Cooperstein, G.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.; Van De Valde, D.; Swanekamp, S.; Smith, I.; Johnson, D.L.; Bailey, V.; Sceiford, M.; Rovang, D.; Puetz, E.; Portillo, S.; Molina, I.; Jaramillo, D.; Hahn, K.; Griffin, F.;
By: Maenchen, J.; Cordova, S.; Shelton, B.; Wilkins, F.; Gignac, R.; Droemer, D.; Barker, D.; Weber, B.; Hinshelwood, D.; Commisso, R.; Cooperstein, G.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.; Van De Valde, D.; Swanekamp, S.; Smith, I.; Johnson, D.L.; Bailey, V.; Sceiford, M.; Rovang, D.; Puetz, E.; Portillo, S.; Molina, I.; Jaramillo, D.; Hahn, K.; Griffin, F.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Corcoran, P.; Rose, D.; Bailey, V.; Johnson, D.L.; Guy, T.; Droemer, D.; Welch, D.; Smith, I.; Olive, B.; Puetz, E.; Portillo, S.; Rovang, D.; Molina, I.; Hahn, K.; Maenchen, J.;
By: Corcoran, P.; Rose, D.; Bailey, V.; Johnson, D.L.; Guy, T.; Droemer, D.; Welch, D.; Smith, I.; Olive, B.; Puetz, E.; Portillo, S.; Rovang, D.; Molina, I.; Hahn, K.; Maenchen, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Houck, T.; Mclean, H.; Adams, M.; Blackfield, D.; Hawkins, S.; Cook, E.; Falabella, S.; Guethlein, G.; Tang, V.; Rose, D.; Welch, D.; Schmidt, A.; Caporaso, G.; Chen, Y.;
By: Houck, T.; Mclean, H.; Adams, M.; Blackfield, D.; Hawkins, S.; Cook, E.; Falabella, S.; Guethlein, G.; Tang, V.; Rose, D.; Welch, D.; Schmidt, A.; Caporaso, G.; Chen, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-1220-1
By: Asher, S.; Reedy, R.; Jones, R.M.; Rose, D.; Marshall, C.; Sopori, B.L.;
By: Asher, S.; Reedy, R.; Jones, R.M.; Rose, D.; Marshall, C.; Sopori, B.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3767-0
By: Levi, D.; Dhere, R.; Rose, D.; Albin, D.; Sheldon, P.; Swartzlander, A.; Woods, L.;
By: Levi, D.; Dhere, R.; Rose, D.; Albin, D.; Sheldon, P.; Swartzlander, A.; Woods, L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3767-0
By: Dhere, R.; Rose, D.; Albin, D.; Asher, S.; Al-Jassim, M.; Sheldon, P.; Swartzlander, A.; Moutinho, H.; Coutts, T.; Ribelin, R.; Cheong, H.;
By: Dhere, R.; Rose, D.; Albin, D.; Asher, S.; Al-Jassim, M.; Sheldon, P.; Swartzlander, A.; Moutinho, H.; Coutts, T.; Ribelin, R.; Cheong, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Bhat, M.; Nkansah, F.; Veeraraghavan, S.; Das, A.; De, H.; Sturtevant, J.; Feng, C.; McNelly, T.; Banks, E.; Nghiem, A.; McGuffin, K.; Rose, D.; Woods, M.; Huang, F.; Park, E.; Roman, B.; Kling, M.; Lucas, K.; Chu, B.; Mendonca, J.; Dang, C.; Clark, W.; Sparks, T.; Tiwari, R.; VanGompel, T.; Fu, C.; Boeck, B.; Angyal, M.; Pettinato, C.; Yang, I.; Gilbert, P.;
By: Bhat, M.; Nkansah, F.; Veeraraghavan, S.; Das, A.; De, H.; Sturtevant, J.; Feng, C.; McNelly, T.; Banks, E.; Nghiem, A.; McGuffin, K.; Rose, D.; Woods, M.; Huang, F.; Park, E.; Roman, B.; Kling, M.; Lucas, K.; Chu, B.; Mendonca, J.; Dang, C.; Clark, W.; Sparks, T.; Tiwari, R.; VanGompel, T.; Fu, C.; Boeck, B.; Angyal, M.; Pettinato, C.; Yang, I.; Gilbert, P.;
2000 / IEEE / 0-7803-5772-8
By: Dorer, G.; Klopping, J.; Faykosh, G.; Kormanyos, K.; McMaster, A.; Rose, D.; Maltby, M.; Jayamaha, U.; Powell, R.; Giolando, D.;
By: Dorer, G.; Klopping, J.; Faykosh, G.; Kormanyos, K.; McMaster, A.; Rose, D.; Maltby, M.; Jayamaha, U.; Powell, R.; Giolando, D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7471-1
By: Gupta, A.; Taylor, C.; Drayton, J.; Rose, D.; Bohn, R.G.; McCandless, B.E.; Compaan, A.D.; Rich, G.;
By: Gupta, A.; Taylor, C.; Drayton, J.; Rose, D.; Bohn, R.G.; McCandless, B.E.; Compaan, A.D.; Rich, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7471-1
By: Ohno, T.R.; Kaydanov, V.; Gilmore, A.S.; Erslev, P.; Feldman, S.D.; Rose, D.;
By: Ohno, T.R.; Kaydanov, V.; Gilmore, A.S.; Erslev, P.; Feldman, S.D.; Rose, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Rovang, D.; Johnson, D.L.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.; Van De Valde, D.; Hahn, K.; Droemer, D.; Sceiford, M.; Portillo, S.; Molina, I.; Maenchen, J.; Cordova, S.;
By: Rovang, D.; Johnson, D.L.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.; Van De Valde, D.; Hahn, K.; Droemer, D.; Sceiford, M.; Portillo, S.; Molina, I.; Maenchen, J.; Cordova, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Gignac, R.; Woodring, R.; Lucero, R.; Molina, I.; Rovang, D.; Cordova, S.; Hahn, K.; Maenchen, J.; Phillips, M.; McLean, J.; Beech, P.; Sinclair, M.A.; Rose, D.; Wilkins, F.;
By: Gignac, R.; Woodring, R.; Lucero, R.; Molina, I.; Rovang, D.; Cordova, S.; Hahn, K.; Maenchen, J.; Phillips, M.; McLean, J.; Beech, P.; Sinclair, M.A.; Rose, D.; Wilkins, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Molina, I.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Hanh, K.; Schamiloglu, E.; Johnson, D.L.; Portillo, S.; Bailey, V.; Welch, D.; Oliver, B.; Rose, D.; Rovang, D.;
By: Molina, I.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Hanh, K.; Schamiloglu, E.; Johnson, D.L.; Portillo, S.; Bailey, V.; Welch, D.; Oliver, B.; Rose, D.; Rovang, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Oliver, B.; Hahn, K.; Portillo, S.; Welch, D.; Maenchen, J.; Rose, D.; Johnson, D.L.; Cordova, S.; Molina, I.;
By: Oliver, B.; Hahn, K.; Portillo, S.; Welch, D.; Maenchen, J.; Rose, D.; Johnson, D.L.; Cordova, S.; Molina, I.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Yu, S.S.; Gilson, E.; Efthimion, P.; Welch, D.; Rose, D.; Sharp, W.; Bieniosek, F.M.; Waldron, W.; Shuman, D.; Roy, P.; Henestroza, E.; Eylon, S.; Anders, A.;
By: Yu, S.S.; Gilson, E.; Efthimion, P.; Welch, D.; Rose, D.; Sharp, W.; Bieniosek, F.M.; Waldron, W.; Shuman, D.; Roy, P.; Henestroza, E.; Eylon, S.; Anders, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Roy, P.K.; Rose, D.; Eylon, S.; Yu, S.S.; Henestroza, E.; Anders, A.; Welch, D.; Gilson, E.; Efthimion, P.; Sharp, W.;
By: Roy, P.K.; Rose, D.; Eylon, S.; Yu, S.S.; Henestroza, E.; Anders, A.; Welch, D.; Gilson, E.; Efthimion, P.; Sharp, W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Molina, I.; Maenchen, J.; Hahn, K.; Cordova, S.; Rovang, D.; Portillo, S.; Cooper, G.; McLean, J.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.;
By: Molina, I.; Maenchen, J.; Hahn, K.; Cordova, S.; Rovang, D.; Portillo, S.; Cooper, G.; McLean, J.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Oliver, B.; Rose, D.; Hahn, K.; Molina, I.; Portillo, S.; Rovang, D.; Maenchen, J.E.; Smith, I.; Corcoran, P.; Johnson, D.L.; Bailey, V.L.; Puetz, E.; Guy, T.; Droemer, D.; Welsh, D.;
By: Oliver, B.; Rose, D.; Hahn, K.; Molina, I.; Portillo, S.; Rovang, D.; Maenchen, J.E.; Smith, I.; Corcoran, P.; Johnson, D.L.; Bailey, V.L.; Puetz, E.; Guy, T.; Droemer, D.; Welsh, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8586-1
By: Rose, D.; Oliver, B.; Johnson, D.L.; Bailey, V.; Welch, D.; Hahn, K.; Portillo, S.; Maenchen, J.;
By: Rose, D.; Oliver, B.; Johnson, D.L.; Bailey, V.; Welch, D.; Hahn, K.; Portillo, S.; Maenchen, J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Oliver, B.; Johnson, D.; Welch, D.; Rose, D.; Genoni, T.; Bruner, N.;
By: Oliver, B.; Johnson, D.; Welch, D.; Rose, D.; Genoni, T.; Bruner, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Hegeler, F.; Giuliani, J.L.; Myers, M.; Sethian, J.D.; Giorgi, D.; Friedman, M.; Morton, D.; Weidenheimer, D.; Rose, D.; Wolford, M.;
By: Hegeler, F.; Giuliani, J.L.; Myers, M.; Sethian, J.D.; Giorgi, D.; Friedman, M.; Morton, D.; Weidenheimer, D.; Rose, D.; Wolford, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Maenchen, J.; Molina, I.; Cordova, S.; Hahn, K.; Smith, I.; Corcoran, P.; Altes, R.; Bailey, V.; Johnson, D.; Droemer, D.; Welch, D.; Oliver, B.; Rose, D.; Van De Valde, D.; Sceiford, M.; Puetz, E.; Portillo, S.;
By: Maenchen, J.; Molina, I.; Cordova, S.; Hahn, K.; Smith, I.; Corcoran, P.; Altes, R.; Bailey, V.; Johnson, D.; Droemer, D.; Welch, D.; Oliver, B.; Rose, D.; Van De Valde, D.; Sceiford, M.; Puetz, E.; Portillo, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Droemer, D.; Maron, Y.; Maenchen, J.; Portillo, S.; Rovang, D.; Hahn, K.; Johnston, M.D.;
By: Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Droemer, D.; Maron, Y.; Maenchen, J.; Portillo, S.; Rovang, D.; Hahn, K.; Johnston, M.D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Portillo, S.; Rose, D.; Crotch, I.; Jones, A.; Critchley, A.; Threadgold, J.;
By: Portillo, S.; Rose, D.; Crotch, I.; Jones, A.; Critchley, A.; Threadgold, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: McLean, J.; Van De Valde, D.; Bruner, N.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Cooper, G.; Schamiloglu, E.; Rovang, D.; Portillo, S.; Molina, I.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Hahn, K.;
By: McLean, J.; Van De Valde, D.; Bruner, N.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Cooper, G.; Schamiloglu, E.; Rovang, D.; Portillo, S.; Molina, I.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Hahn, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Droemer, D.; Johnston, M.D.; Maenchen, J.; Hahn, K.; Welch, D.; Maron, Y.; Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.;
By: Droemer, D.; Johnston, M.D.; Maenchen, J.; Hahn, K.; Welch, D.; Maron, Y.; Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Sviatoslavsky, G.; Snead, L.; Sethian, J.; Sawan, M.E.; Rose, D.; Wang, X.R.; Robson, A.E.; Priniski, C.; Gentile, C.; Dahlgren, F.; Raffray, A.R.;
By: Sviatoslavsky, G.; Snead, L.; Sethian, J.; Sawan, M.E.; Rose, D.; Wang, X.R.; Robson, A.E.; Priniski, C.; Gentile, C.; Dahlgren, F.; Raffray, A.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Bruner, N.; Threadgold, J.; Rose, D.; Oliver, B.; Portillo, S.; Cooperstein, G.; Allen, R.; Welch, D.; Mosher, D.; Ilinshelwood, D.; Ueathcote, A.; Cooper, G.; McLean, J.; Short, D.; Jones, A.; Martin, P.;
By: Bruner, N.; Threadgold, J.; Rose, D.; Oliver, B.; Portillo, S.; Cooperstein, G.; Allen, R.; Welch, D.; Mosher, D.; Ilinshelwood, D.; Ueathcote, A.; Cooper, G.; McLean, J.; Short, D.; Jones, A.; Martin, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Johnson, D.; Welch, D.; Rose, D.; Bruner, N.; Portillo, S.; Oliver, B.;
By: Johnson, D.; Welch, D.; Rose, D.; Bruner, N.; Portillo, S.; Oliver, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Boenig, N.; Frischkorn, F.; Miesner, J.; Boucke, K.; Vahrenkamp, T.; Rose, D.;
By: Boenig, N.; Frischkorn, F.; Miesner, J.; Boucke, K.; Vahrenkamp, T.; Rose, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: Short, D.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.; Portillo, S.; Cooperstein, G.; Allen, R.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.; Threadgold, J.; Martin, P.; Jones, A.; Bruner, N.; McLean, J.; Cooper, G.; Heathcote, A.;
By: Short, D.; Welch, D.; Rose, D.; Oliver, B.; Portillo, S.; Cooperstein, G.; Allen, R.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.; Threadgold, J.; Martin, P.; Jones, A.; Bruner, N.; McLean, J.; Cooper, G.; Heathcote, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4548-6
By: Garcia, G.; Bustabad, E.A.; Arnau, A.; Compere, C.; Rose, D.; Rodriguez-Pardo, L.; Lazerges, M.; Bucur, B.; Gabrielli, C.; Perrot, H.; Faria, J.;
By: Garcia, G.; Bustabad, E.A.; Arnau, A.; Compere, C.; Rose, D.; Rodriguez-Pardo, L.; Lazerges, M.; Bucur, B.; Gabrielli, C.; Perrot, H.; Faria, J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4648-3
By: Perrot, H.; Bustabad, E.A.; Garcia-Martinez, G.; Vives, A.A.; Compere, C.; Gabrielli, C.; Farina, J.; Rodriguez-Pardo, L.; Rose, D.; Lazerges, M.; Bucur, B.;
By: Perrot, H.; Bustabad, E.A.; Garcia-Martinez, G.; Vives, A.A.; Compere, C.; Gabrielli, C.; Farina, J.; Rodriguez-Pardo, L.; Rose, D.; Lazerges, M.; Bucur, B.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap