Author: Rochau, G.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Ming Wu; Rochau, G.; Tibbitts, A.; Kruschwitz, C.;

1989 / IEEE
By: Lockner, T.R.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Leeper, R.J.; Maenchen , J.E.; Stygar, W.A.; Rosenthal, S.E.; Kensek, R.; Desjarlais, M.P.; Mendel, C.W.; Rochau, G.; Quintenz, J.P.; Stinnett, R.W.; Coats, R.S.;

2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Burris-Mog, T.J.; Mehlhorn, T.A.; Slutz, S.A.; Peterson, K.; Lake, P.W.; Dunham, G.; Golovkin, I.E.; Rochau, G.; Bailey, J.E.; Mancini, R.C.; Chandler, G.A.; MacFarlane, J.J.;

2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Peterson, K.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.; Woodruff, P.R.; Rochau, G.; Golovkin, I.E.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Ming Wu; Kruschwitz, C.; Rochau, G.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Bailey, J.; Mazarakis, M.; Lopez, M.; Cuneo, M.; Lau, Y.Y.; Patel, S.; Rochau, G.; Zier, J.C.; Gilgenbach, R.M.; Gomez, M.R.; French, D.M.; Lake, P.;