Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Roccella, S.
Results
2012 / IEEE
By: della Corte, A.; Roccella, S.; Polli, G.M.; Villari, R.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Di Zenobio, A.;
By: della Corte, A.; Roccella, S.; Polli, G.M.; Villari, R.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Di Zenobio, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: De Rossi, S.M.M.; Vitiello, N.; Lenzi, T.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
By: De Rossi, S.M.M.; Vitiello, N.; Lenzi, T.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
2003 / IEEE / 0-7803-7759-1
By: Sebastiani, F.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
By: Sebastiani, F.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7736-2
By: Carrozza, M.C.; Dario, P.; Lazzarini, R.; Zecca, M.; Vecchi, F.; Cappiello, G.; Sebastiani, F.; Roccella, S.;
By: Carrozza, M.C.; Dario, P.; Lazzarini, R.; Zecca, M.; Vecchi, F.; Cappiello, G.; Sebastiani, F.; Roccella, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7860-1
By: Vecchi, F.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Sebastiani, F.; Zecca, M.; Roccella, S.;
By: Vecchi, F.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Sebastiani, F.; Zecca, M.; Roccella, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8463-6
By: Zecca, M.; Cabibihan, J.J.; Cappiello, G.; Dario, P.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Marsumoto, M.; Itoh, K.;
By: Zecca, M.; Cabibihan, J.J.; Cappiello, G.; Dario, P.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Marsumoto, M.; Itoh, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8564-0
By: Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Dario, P.; Matsumoto, M.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.;
By: Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Dario, P.; Matsumoto, M.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8863-1
By: Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Matsumoto, M.; Cabibihan, J.-J.; Roccella, S.; Cappiello, G.; Itoh, K.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Zecca, M.;
By: Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Matsumoto, M.; Cabibihan, J.-J.; Roccella, S.; Cappiello, G.; Itoh, K.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Zecca, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9320-1
By: Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Matsumoto, M.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Miwa, H.;
By: Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Matsumoto, M.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Miwa, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0040-6
By: Cattin, E.; Sardellitti, I.; Kyriakopoulos, K.J.; Artemiadis, P.K.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
By: Cattin, E.; Sardellitti, I.; Kyriakopoulos, K.J.; Artemiadis, P.K.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0040-6
By: Metta, G.; Dario, P.; Roccella, S.; Carrozza, M.C.; Sandini, G.; Cappiello, G.; Stellin, G.; Becchi, F.;
By: Metta, G.; Dario, P.; Roccella, S.; Carrozza, M.C.; Sandini, G.; Cappiello, G.; Stellin, G.; Becchi, F.;
2006 / IEEE / 1-4244-0040-6
By: Tucci, R.; Roccella, S.; Zollo, L.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Guglielmelli, E.; Siciliano, B.;
By: Tucci, R.; Roccella, S.; Zollo, L.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Guglielmelli, E.; Siciliano, B.;
2006 / IEEE / 0-7803-9505-0
By: Carrozza, M.C.; Cabibihan, J.J.; Roccella, S.; Ascari, L.; Beccai, L.; Edin, B.B.;
By: Carrozza, M.C.; Cabibihan, J.J.; Roccella, S.; Ascari, L.; Beccai, L.; Edin, B.B.;
2006 / IEEE / 1-4244-0258-1
By: Dario, P.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Nukariya, Y.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.;
By: Dario, P.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Nukariya, Y.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0911-2
By: Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Giovacchini, F.; Roccella, S.; Cattin, E.; Vitiello, N.; Dario, P.;
By: Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Giovacchini, F.; Roccella, S.; Cattin, E.; Vitiello, N.; Dario, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1319-5
By: Odetti, L.; Pisetta, A.; Beccai, L.; Carpaneto, J.; Roccella, S.; Vecchi, F.; Micera, S.; Laschi, C.; Carrozza, M.C.; Dario, P.; Mazzoleni, S.;
By: Odetti, L.; Pisetta, A.; Beccai, L.; Carpaneto, J.; Roccella, S.; Vecchi, F.; Micera, S.; Laschi, C.; Carrozza, M.C.; Dario, P.; Mazzoleni, S.;
2008 / IEEE
By: Beccai, L.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Sieber, A.; Valdastri, P.; Ascari, L.; Roccella, S.;
By: Beccai, L.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Sieber, A.; Valdastri, P.; Ascari, L.; Roccella, S.;
2008 / IEEE
By: Zani, L.; Yoshida, K.; Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Turck, B.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Portafaix, C.; Petrizzi, L.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Molinie, F.; Lacroix, B.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Duchateau, J.-L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Ciazynski, D.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.;
By: Zani, L.; Yoshida, K.; Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Turck, B.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Portafaix, C.; Petrizzi, L.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Molinie, F.; Lacroix, B.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Duchateau, J.-L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Ciazynski, D.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2882-3
By: Vecchi, F.; Cattin, E.; Roccella, S.; McIntyre, J.; Lenzi, T.; Vitiello, N.; Carrozza, M.C.;
By: Vecchi, F.; Cattin, E.; Roccella, S.; McIntyre, J.; Lenzi, T.; Vitiello, N.; Carrozza, M.C.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Calabro, G.; Cocilovo, V.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.; Pizzuto, A.; Pericoli-Ridolfini, V.; Maddaluno, G.; Brolatti, G.; Granucci, G.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Frosi, P.; Costa, P.; Coletti, R.; Coletti, A.;
By: Calabro, G.; Cocilovo, V.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.; Pizzuto, A.; Pericoli-Ridolfini, V.; Maddaluno, G.; Brolatti, G.; Granucci, G.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Frosi, P.; Costa, P.; Coletti, R.; Coletti, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3803-7
By: Giovacchini, F.; Chiri, A.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.; Cattin, E.; Vitiello, N.;
By: Giovacchini, F.; Chiri, A.; Carrozza, M.C.; Vecchi, F.; Roccella, S.; Cattin, E.; Vitiello, N.;
2012 / IEEE
By: Giovacchini, F.; Vitiello, N.; Chiri, A.; Carrozza, M. C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;
By: Giovacchini, F.; Vitiello, N.; Chiri, A.; Carrozza, M. C.; Vecchi, F.; Roccella, S.;