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Author: Roccella, M.
Results
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Cecchini, A.; Brolatti, G.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Maddaluno, G.; Lattanzi, D.; Ferro, C.; Ciotti, M.;
By: Cecchini, A.; Brolatti, G.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Maddaluno, G.; Lattanzi, D.; Ferro, C.; Ciotti, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Bartiromo, R.; Cardinali, A.; Alladio, F.; Tanga, A.; Salpietro, E.; Romanelli, F.; Roccella, M.; Pizzuto, A.; Pieroni, L.; Orsitto, F.P.; Barbato, E.; Mitchell, N.; Micozzi, P.; Mancuso, A.; Lovisetto, L.; Gasparotto, M.; Ferro, C.; De Marco, F.;
By: Bartiromo, R.; Cardinali, A.; Alladio, F.; Tanga, A.; Salpietro, E.; Romanelli, F.; Roccella, M.; Pizzuto, A.; Pieroni, L.; Orsitto, F.P.; Barbato, E.; Mitchell, N.; Micozzi, P.; Mancuso, A.; Lovisetto, L.; Gasparotto, M.; Ferro, C.; De Marco, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Miki, N.; Gasparotto, M.; Roccella, M.; Lucca, F.; Lattanzi, D.; Elio, F.; Chiocchio, S.; Rita, C.;
By: Miki, N.; Gasparotto, M.; Roccella, M.; Lucca, F.; Lattanzi, D.; Elio, F.; Chiocchio, S.; Rita, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Donne, M.D.; De Stefanis, L.; Cepraga, D.; Cheyne, A.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Danner, W.; Ferrari, M.; Zacchia, F.; Sherwood, D.; Scaffidi-Argentina, F.; Roccella, M.; Poitevin, Y.; Pizuto, A.; Pirozzi, M.; Pinna, T.; Petrizzi, L.; Mustoe, J.; Mazzone, G.; Masson, X.; Lucca, F.; Jahn, H.; Gulden, W.; Gay, J.-M.; Eid, M.;
By: Donne, M.D.; De Stefanis, L.; Cepraga, D.; Cheyne, A.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Danner, W.; Ferrari, M.; Zacchia, F.; Sherwood, D.; Scaffidi-Argentina, F.; Roccella, M.; Poitevin, Y.; Pizuto, A.; Pirozzi, M.; Pinna, T.; Petrizzi, L.; Mustoe, J.; Mazzone, G.; Masson, X.; Lucca, F.; Jahn, H.; Gulden, W.; Gay, J.-M.; Eid, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Barbaro, E.; Gasparotto, M.; Semeraro, L.; Ferrari, M.; Roccella, M.; Papastergiou, S.; Mazzone, G.; Maddahmo, G.;
By: Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Barbaro, E.; Gasparotto, M.; Semeraro, L.; Ferrari, M.; Roccella, M.; Papastergiou, S.; Mazzone, G.; Maddahmo, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Beaumont, B.; Bremond, S.; Baity, W.; Amarante, G.; Agarici, G.; Walton, R.; Vulliez, K.; Tigwell, P.; Testoni, P.; Sborchia, C.; Roccella, M.; Riccardo, V.; Noterdaeme, J.M.; Mazzone, G.; Lamalle, P.; Koch, R.; Kaye, A.; Heikkinen, J.; Goulding, R.; Fanthome, J.; Durodie, F.;
By: Beaumont, B.; Bremond, S.; Baity, W.; Amarante, G.; Agarici, G.; Walton, R.; Vulliez, K.; Tigwell, P.; Testoni, P.; Sborchia, C.; Roccella, M.; Riccardo, V.; Noterdaeme, J.M.; Mazzone, G.; Lamalle, P.; Koch, R.; Kaye, A.; Heikkinen, J.; Goulding, R.; Fanthome, J.; Durodie, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Pizzuto, A.; Petrizzi, L.; Merola, M.; MArin, A.; Roccella, M.; Lucca, F.; Mazzone, G.; Mainardi, E.; Zanotelli, G.;
By: Pizzuto, A.; Petrizzi, L.; Merola, M.; MArin, A.; Roccella, M.; Lucca, F.; Mazzone, G.; Mainardi, E.; Zanotelli, G.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Boert, F.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Wobker, H.G.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Celentano, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Frosi, P.; Crescenzi, C.; Coppi, B.;
By: Boert, F.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Wobker, H.G.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Celentano, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Frosi, P.; Crescenzi, C.; Coppi, B.;