Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Roberts, P.J.
Results
1988 / IEEE / 0-8186-1949-X
By: Haloutsos, G.E.; Murray, R.G.; Littler, W.A.; Roberts, P.J.; Fox, J.P.; Beattie, J.M.;
By: Haloutsos, G.E.; Murray, R.G.; Littler, W.A.; Roberts, P.J.; Fox, J.P.; Beattie, J.M.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Allan, D.C.; West, J.A.; Roberts, P.J.; Broeng, J.; Fajardo, J.C.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Mogilevtsev, D.; Birkst, T.A.;
By: Allan, D.C.; West, J.A.; Roberts, P.J.; Broeng, J.; Fajardo, J.C.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Mogilevtsev, D.; Birkst, T.A.;
2001 / IEEE
By: Roberts, P.J.; Lederer, F.; Peschel, U.; Reynolds, A.L.; de Maagt, P.J.L.; Krauss, T.F.;
By: Roberts, P.J.; Lederer, F.; Peschel, U.; Reynolds, A.L.; de Maagt, P.J.L.; Krauss, T.F.;
2002 / IEEE
By: Krauss, T.F.; Roberts, P.J.; Lederer, F.; Arredondo, B.; Reynolds, A.L.; Peschel, U.; de Maagt, P.J.I.;
By: Krauss, T.F.; Roberts, P.J.; Lederer, F.; Arredondo, B.; Reynolds, A.L.; Peschel, U.; de Maagt, P.J.I.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Mangan, B.J.; Couny, F.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Brown, E.A.M.; Murphy, D.F.; Mason, M.W.; Banham, M.; Williams, D.P.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.;
By: Mangan, B.J.; Couny, F.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Brown, E.A.M.; Murphy, D.F.; Mason, M.W.; Banham, M.; Williams, D.P.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Williams, D.P.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.; Mangan, B.J.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Flea, R.; Coupland, S.; Mason, M.; Lawman, M.;
By: Williams, D.P.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.; Mangan, B.J.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Flea, R.; Coupland, S.; Mason, M.; Lawman, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9236-1
By: Tomlinson, A.; Mason, M.W.; Farr, L.; Williams, D.P.; Mangan, B.J.; Knight, J.C.; Sabert, H.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Birks, T.A.; Russell, P.S.J.;
By: Tomlinson, A.; Mason, M.W.; Farr, L.; Williams, D.P.; Mangan, B.J.; Knight, J.C.; Sabert, H.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Birks, T.A.; Russell, P.S.J.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Farr, L.; Williams, D.P.; Sabert, H.; Mangan, B.J.; Couny, F.; St Russell, P.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Roberts, P.J.;
By: Farr, L.; Williams, D.P.; Sabert, H.; Mangan, B.J.; Couny, F.; St Russell, P.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Roberts, P.J.;
2002 / IEEE / 87-90974-63-8
By: Roberts, P.J.; Benabid, F.; Mangan, B.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Russell, P.St.;
By: Roberts, P.J.; Benabid, F.; Mangan, B.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Russell, P.St.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Roberts, P.J.; Benabid, F.; Couny, F.; Maier, S.A.; Burnett, M.T.;
By: Roberts, P.J.; Benabid, F.; Couny, F.; Maier, S.A.; Burnett, M.T.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Couny, F.; Raymer, M.G.; Light, P.S.; Roberts, P.J.; Benabid, F.;
By: Couny, F.; Raymer, M.G.; Light, P.S.; Roberts, P.J.; Benabid, F.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Humbert, G.; Roberts, P.J.; Benabid, F.; Light, P.S.; Wang, Y.Y.;
By: Humbert, G.; Roberts, P.J.; Benabid, F.; Light, P.S.; Wang, Y.Y.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Sokolov, A.V.; Jiahui Peng; Roberts, P.J.; Luiten, A.; Biancalana, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Couny, F.;
By: Sokolov, A.V.; Jiahui Peng; Roberts, P.J.; Luiten, A.; Biancalana, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Couny, F.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Couny, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Roberts, P.J.; Wheeler, N.V.; Ying Ying Wang;
By: Couny, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Roberts, P.J.; Wheeler, N.V.; Ying Ying Wang;