Author: Renk, T.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Haill, T.; Robinson, C.; Wenger, D.; Leeper, R.; Stygar, B.; Lockner, T.; Renk, T.; Johnson, D.J.; Ruiz, C.; Kuswa, C.W.; Struckman, C.;

1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Johnson, D.J.; Haill, T.; Kuswa, G.W.; Renk, T.; Rosenthal, S.;

1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Mehlhorn, T.; Quintenz, J.; Torres, G.; Lamppa, K.; Hanson, D.; Turman, B.; Renk, T.; Koinuma, H.; Saitoh, S.; Funatsu, M.; Kamiya, T.; Kishi, Y.; Kasuya, K.; Tompson, M.;

1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Kasuya, K.; Yamashita, T.; Kishi, Y.; Tamamura, S.; Wu, C.; Kamiya, T.; Funatsu, M.; Saitoh, S.; Koinuma, H.; Renk, T.; Hanson, D.; Lamppa, K.; Torres, G.; Turman, B.; Mehrhorn, T.; Leeper, R.; Quintenz, J.; Thompson, M.;

2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Garrity, J.E.; McKenney, J.L.; Renk, T.; Johnson, D.J.; Stygar, W.A.; Seamen, J.F.; Spielman, R.B.; Romero, A.R.; Lobley, D.K.; Gluth, J.W.;

2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Kasuya, K.; Quintenz, J.; Turman, B.; Renk, T.; Funatsu, M.; Kamiya, T.;

2007 / IEEE / 1-4244-0663-3
By: Holland, O.; Muck, M.; Aghvami, A.H.; Attar, A.; Agusti, R.; Romero, J.P.; Giupponi, L.; Mobner, K.; Slanina, P.; Jianming Pan; Renk, T.; Klock, C.; Grandblaise, D.; Houze, P.; Martigne, P.; Bourse, D.; Cordier, P.; Ben Jemaa, S.;

2007 / IEEE / 1-4244-0663-3
By: Yang, J.; Moessner, K.; Levine, P.; Bag, P.; Pan, M.; Renk, T.; Kloeck, C.; Grandblaise, D.; Zhang, K.;

2007 / IEEE / 1-4244-0663-3
By: Renk, T.; Klock, C.; Mazet, L.; Muck, M.; Cordier, P.; Holland, O.;

2007 / IEEE / 1-4244-1662-0
By: Renk, T.; Jondral, F.K.; Burgkhardt, D.; Kloeck, C.;

2007 / IEEE / 1-4244-1662-0
By: Kloeck, C.; Renk, T.; Negredo, F.; Holland, O.; Cordier, P.; Jondral, F.K.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2052-0
By: Jondral, F.K.; Renk, T.; Blaschke, V.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0814-6
By: Renk, T.; Jaekel, H.; Blaschke, V.; Jondral, F. K.; Kloeck, C.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0814-6
By: Kloeck, C.; Renk, T.; Dunat, J. C.; Gault, S.; Grandblaise, D.; Jondral, F. K.; Burgkhardt, D.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1652-3
By: Jaekel, H.; Kloeck, C.; Renk, T.; Jondral, F.K.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2517-4
By: Renk, T.; Jondral, F.K.; Iankov, D.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3423-7
By: Bogucka, H.; Piesiewicz, R.; Diaz, A.S.; Wen Xu; Dimitriou, N.; Polydoros, A.; Zeisberg, S.; Rom, C.; Mueck, M.; Jung, P.; Jondral, F.; Renk, T.; Jaekel, H.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4672-8
By: Renk, T.; Jondral, F.K.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4982-8
By: Jondral, F.K.; Jaekel, H.; Renk, T.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2514-3
By: Jondral, F.K.; Jaekel, H.; Renk, T.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2514-3
By: Gunduz, D.; Jondral, F.K.; Jakel, H.; Renk, T.; Goldsmith, A.;

2010 / IEEE
By: Sethian, J.D.; Colombant, D.G.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Myers, M.C.; Obenschain, S.P.; Schmitt, A.J.; Weaver, J.; Wolford, M.F.; Hegeler, F.; Friedman, M.; Robson, A.E.; Bayramian, A.; Caird, J.; Ebbers, C.; Latkowski, J.; Hogan, W.; Meier, W.R.; Perkins, L.J.; Schaffers, K.; Abdel Kahlik, S.; Schoonover, K.; Sadowski, D.; Boehm, K.; Carlson, L.; Pulsifer, J.; Najmabadi, F.; Raffray, A.R.; Tillack, M.S.; Kulcinski, G.; Blanchard, J.P.; Heltemes, T.; Ibrahim, A.; Marriott, E.; Moses, G.; Radell, R.; Sawan, M.; Santarius, J.; Sviatoslavsky, G.; Zenobia, S.; Ghoniem, N.M.; Sharafat, S.; El-Awady, J.; Hu, Q.; Duty, C.; Leonard, K.; Romanoski, G.; Snead, L.L.; Zinkle, S.J.; Gentile, C.; Parsells, W.; Prinksi, C.; Kozub, T.; Dodson, T.; Rose, D.V.; Renk, T.; Olson, C.; Alexander, N.; Bozek, A.; Flint, G.; Goodin, D.T.; Hund, J.; Paguio, R.; Petzoldt, R.W.; Schroen, D.G.; Sheliak, J.; Bernat, T.; Bittner, D.; Karnes, J.; Petta, N.; Streit, J.; Geller, D.; Hoffer, J.K.; McGeoch, M.W.; Glidden, S.C.; Sanders, H.; Weidenheimer, D.; Morton, D.; Smith, I.D.; Bobecia, M.; Harding, D.; Lehecka, T.; Gilliam, S.B.; Gidcumb, S.M.; Forsythe, D.; Parikh, N.R.; O'Dell, S.; Gorensek, M.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6287-2
By: Renk, T.; Jondral, F.K.; Jaekel, H.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6001-4
By: Jondral, F.K.; Jaekel, H.; Renk, T.; Goldsmith, A.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-3573-9
By: Jondral, F.K.; Jaekel, H.; Renk, T.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-7092-1
By: Di Renzo, M.; Mueck, M.; Renk, T.; Debbah, M.;