Author: Reed, K.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

1992 / IEEE
By: Reed, K.; Cybulski, J.L.;

1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Neau, E.; Harjes, C.; Pena, G.; Weber, G.; Martinez, L.; Mann, O.; Butler, M.; Adcock, J.; Wavrik, R.; Laderach, O.; McClanahan, C.; Reed, K.; Penn, K.;

1998 / IEEE / 0-8186-9183-2
By: Baragry, J.; Reed, K.;

1998 / IEEE / 0-8186-9183-2
By: Cybulski, J.L.; Reed, K.;

1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Martinez, L.; Pena, G.; Harjes, H.; Reed, K.; Schneider, L.; Harden, M.;

2001 / IEEE / 0-7695-1360-3
By: Reed, K.; Baragry, J.;

2001 / IEEE / 0-7695-1254-2
By: Reed, K.; Murnane, T.;

2002 / IEEE
By: Cui, Y.; Wright, G.; James, R.B.; Li, L.; Lu, F.; Burger, A.; Reed, K.; Barnett, C.; Roy, U.N.;

2002 / IEEE / 0-7695-1850-8
By: Hannington, A.; Reed, K.;

2003 / IEEE
By: Reed, K.;

2004 / IEEE / 0-7695-2089-8
By: Reed, K.; Murnane, T.; Ng, S.P.; Chen, T.Y.; Grant, D.;

2004 / IEEE / 0-7803-8232-3
By: Reed, K.; Patton, J.; Colgate, J.E.; Peshkin, M.;

2005 / IEEE
By: Reed, K.;

2005 / IEEE / 0-7695-2413-3
By: Hall, R.; Murnane, T.; Reed, K.;

2005 / IEEE
By: Reed, K.; Thompson, J.B.;

2006 / IEEE
By: Reed, K.;

2006 / IEEE / 0-7695-2551-2
By: Hall, R.; Reed, K.; Murnane, T.;

2006 / IEEE
By: Reed, K.;

2006 / IEEE / 1-4244-0016-3
By: Ballif, C.; Reed, K.; Bates, K.; Poe, G.; Wyrsch, N.; Bailat, J.; Feitknecht, L.; Freitas, F.; Domine, D.;

2007 / IEEE / 0-7695-2778-7
By: Hall, R.; Reed, K.; Murnane, T.;

2007 / IEEE / 0-7695-2778-7
By: Hannington, A.; Reed, K.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1693-6
By: Bertis, V.; Reed, K.; Desprez, F.; Bolze, R.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1489-5
By: Reed, K.; Fugazza, C.; Ceravolo, P.;

2008 / IEEE / 978-0-7695-3446-6
By: Ruffatti, G.; Reed, K.; Oltolina, S.; Frati, F.; Damiani, E.; Colombo, A.;

2009 / IEEE / 978-0-7695-3450-3
By: Reed, K.; Anderson, D.P.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3935-5
By: Reed, K.; Taufer, M.; Estrada, T.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3751-1
By: Taufer, M.; Estrada, T.; Anderson, D.P.; Reed, K.;