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Author: Ramogida, G.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Boert, F.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Wobker, H.G.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Celentano, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Frosi, P.; Crescenzi, C.; Coppi, B.;
By: Boert, F.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Wobker, H.G.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Celentano, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Frosi, P.; Crescenzi, C.; Coppi, B.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Sforna, M.; Starace, F.; Ramogida, G.; Novaro, R.; Maffia, G.; Florio, A.; Santinelli, M.; Costa, P.; Cuccharo, A.; Consani, T.; Coletti, R.; Candela, G.; Cadore; Allegra, G.; Coletti; Trevisan, L.;
By: Sforna, M.; Starace, F.; Ramogida, G.; Novaro, R.; Maffia, G.; Florio, A.; Santinelli, M.; Costa, P.; Cuccharo, A.; Consani, T.; Coletti, R.; Candela, G.; Cadore; Allegra, G.; Coletti; Trevisan, L.;
2008 / IEEE
By: Zani, L.; Yoshida, K.; Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Turck, B.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Portafaix, C.; Petrizzi, L.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Molinie, F.; Lacroix, B.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Duchateau, J.-L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Ciazynski, D.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.;
By: Zani, L.; Yoshida, K.; Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Turck, B.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Portafaix, C.; Petrizzi, L.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Molinie, F.; Lacroix, B.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Duchateau, J.-L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Ciazynski, D.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Calabro, G.; Cocilovo, V.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.; Pizzuto, A.; Pericoli-Ridolfini, V.; Maddaluno, G.; Brolatti, G.; Granucci, G.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Frosi, P.; Costa, P.; Coletti, R.; Coletti, A.;
By: Calabro, G.; Cocilovo, V.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.; Pizzuto, A.; Pericoli-Ridolfini, V.; Maddaluno, G.; Brolatti, G.; Granucci, G.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Frosi, P.; Costa, P.; Coletti, R.; Coletti, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Cocilovo, V.; Rita, C.; Ramogida, G.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Calabro, G.;
By: Cocilovo, V.; Rita, C.; Ramogida, G.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Calabro, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: D'Epifanio, C.; Zaccarian, L.; Sadeghi, Y.; Crisanti, F.; Vitale, E.; Boncagni, L.; Ramogida, G.;
By: D'Epifanio, C.; Zaccarian, L.; Sadeghi, Y.; Crisanti, F.; Vitale, E.; Boncagni, L.; Ramogida, G.;
2010 / IEEE
By: Boncagni, L.; Ramogida, G.; Sadeghi, Y.; Zaccarian, L.; Crisanti, F.; Vitale, V.; D'Epifanio, C.;
By: Boncagni, L.; Ramogida, G.; Sadeghi, Y.; Zaccarian, L.; Crisanti, F.; Vitale, V.; D'Epifanio, C.;
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