Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Prokopovich, D.A.
Results
2012 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Prokopovich, D.A.; Livingstone, J.; Rosenfeld, A.B.; Yasuda, H.; Dicello, J.F.; Perevertaylo, V.L.; Pisacane, V.L.; Ziegler, J.F.; Zaider, M.;
By: Reinhard, M.I.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Prokopovich, D.A.; Livingstone, J.; Rosenfeld, A.B.; Yasuda, H.; Dicello, J.F.; Perevertaylo, V.L.; Pisacane, V.L.; Ziegler, J.F.; Zaider, M.;
2012 / IEEE
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
2012 / IEEE
By: James, R.B.; Bolotnikov, A.E.; Reinhard, M.I.; Kim, K.; Rafiei, R.; Sarbutt, A.; Boardman, D.; Prokopovich, D.A.;
By: James, R.B.; Bolotnikov, A.E.; Reinhard, M.I.; Kim, K.; Rafiei, R.; Sarbutt, A.; Boardman, D.; Prokopovich, D.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Cucinotta, F.; Nelson, M.E.; Ziegler, J.F.; Pisacane, V.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Wroe, A.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.; Dicello, J.F.;
By: Cucinotta, F.; Nelson, M.E.; Ziegler, J.F.; Pisacane, V.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Wroe, A.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.; Dicello, J.F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.;
By: Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.M.; Prokopovich, D.A.; Rosenfeld, A.B.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.M.; Prokopovich, D.A.; Rosenfeld, A.B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
2008 / IEEE
By: Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Rosenfeld, A.B.; Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Reinhard, M.I.;
By: Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Rosenfeld, A.B.; Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Reinhard, M.I.;
2008 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Guatelli, S.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.; Mascialino, B.;
By: Reinhard, M.I.; Guatelli, S.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.; Mascialino, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M. I.; Lai, N.S.; Lim, W.H.; Siegele, R.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B; Dzurak, A.S.;
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M. I.; Lai, N.S.; Lim, W.H.; Siegele, R.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B; Dzurak, A.S.;
2009 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.C.; Hands, A.; Rosenfeld, A.B.;
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.C.; Hands, A.; Rosenfeld, A.B.;
2010 / IEEE
By: Othman, M.A.R.; Rosenfeld, A.B.; Pospisil, S.; Jakubek, J.; Lerch, M.L.F.; Guatelli, S.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Marinaro, D.G.; Uher, J.; Petasecca, M.;
By: Othman, M.A.R.; Rosenfeld, A.B.; Pospisil, S.; Jakubek, J.; Lerch, M.L.F.; Guatelli, S.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Marinaro, D.G.; Uher, J.; Petasecca, M.;