Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Prevedelli, M.
Results
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Sorrentino, F.; Ferrari, G.; Drullinger, R.E.; Poli, N.;
By: Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Sorrentino, F.; Ferrari, G.; Drullinger, R.E.; Poli, N.;
2013 / IEEE
By: Gligorova, A.; Aghion, S.; Ahlen, O.; Belov, A. S.; Bonomi, G.; Braunig, P.; Bremer, J.; Brusa, R. S.; Burghart, G.; Cabaret, L.; Caccia, M.; Canali, C.; Caravita, R.; Castelli, F.; Cerchiari, G.; Cialdi, S.; Comparat, D.; Consolati, G.; Derking, J. H.; Da Via, C.; Di Domizio, S.; Di Noto, L.; Doser, M.; Dudarev, A.; Ferragut, R.; Fontana, A.; Genova, P.; Giammarchi, M.; Gninenko, S. N.; Haider, S.; Huse, T.; Jordan, E.; Jorgensen, L. V.; Kaltenbacher, T.; Kellerbauer, A.; Knecht, A.; Krasnicky, D.; Lagomarsino, V.; Lehner, S.; Magnani, A.; Malbrunot, C.; Mariazzi, S.; Matveev, V. A.; Moia, F.; Nellist, C.; Nebbia, G.; Nedelec, P.; Oberthaler, M.; Pacifico, N.; Petracek, V.; Prelz, F.; Prevedelli, M.; Regenfus, C.; Riccardi, C.; Rohne, O.; Rotondi, A.; Sandaker, H.; Subieta Vasquez, M. A.; Spacek, M.; Testera, G.; Widmann, E.; Yzombard, P.; Zavatarelli, S.; Zmeskal, J.;
By: Gligorova, A.; Aghion, S.; Ahlen, O.; Belov, A. S.; Bonomi, G.; Braunig, P.; Bremer, J.; Brusa, R. S.; Burghart, G.; Cabaret, L.; Caccia, M.; Canali, C.; Caravita, R.; Castelli, F.; Cerchiari, G.; Cialdi, S.; Comparat, D.; Consolati, G.; Derking, J. H.; Da Via, C.; Di Domizio, S.; Di Noto, L.; Doser, M.; Dudarev, A.; Ferragut, R.; Fontana, A.; Genova, P.; Giammarchi, M.; Gninenko, S. N.; Haider, S.; Huse, T.; Jordan, E.; Jorgensen, L. V.; Kaltenbacher, T.; Kellerbauer, A.; Knecht, A.; Krasnicky, D.; Lagomarsino, V.; Lehner, S.; Magnani, A.; Malbrunot, C.; Mariazzi, S.; Matveev, V. A.; Moia, F.; Nellist, C.; Nebbia, G.; Nedelec, P.; Oberthaler, M.; Pacifico, N.; Petracek, V.; Prelz, F.; Prevedelli, M.; Regenfus, C.; Riccardi, C.; Rohne, O.; Rotondi, A.; Sandaker, H.; Subieta Vasquez, M. A.; Spacek, M.; Testera, G.; Widmann, E.; Yzombard, P.; Zavatarelli, S.; Zmeskal, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3376-4
By: Konig, W.; Huber, A.; Leibfried, D.; Weitz, M.; Prevedelli, M.; Udem, T.; Geiger, H.; Dimitriev, S.;
By: Konig, W.; Huber, A.; Leibfried, D.; Weitz, M.; Prevedelli, M.; Udem, T.; Geiger, H.; Dimitriev, S.;
1997 / IEEE
By: Huber, A.; Udem, T.; Hansch, T.W.; Geiger, H.; Leibfried, D.; Dimitriev, A.; Prevedelli, M.; Konig, W.; Weitz, M.;
By: Huber, A.; Udem, T.; Hansch, T.W.; Geiger, H.; Leibfried, D.; Dimitriev, A.; Prevedelli, M.; Konig, W.; Weitz, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4231-3
By: Cataliotti, F.S.; Cornell, E.A.; Ensher, J.R.; Fort, C.; Inguscio, M.; Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Ricci, L.;
By: Cataliotti, F.S.; Cornell, E.A.; Ensher, J.R.; Fort, C.; Inguscio, M.; Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Ricci, L.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Cornell, E.A.; Prevedelli, M.; Schwinst, P.D.D.; Muller, D.; Anderson, D.Z.; Grow, R.J.;
By: Cornell, E.A.; Prevedelli, M.; Schwinst, P.D.D.; Muller, D.; Anderson, D.Z.; Grow, R.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Sorrentino, F.; Prevedelli, M.; Moretti, A.; Maccioni, E.; Galzerano, G.; Svelto, C.; Carelli, G.; Beverini, N.; Bava, E.; De Michele, A.;
By: Sorrentino, F.; Prevedelli, M.; Moretti, A.; Maccioni, E.; Galzerano, G.; Svelto, C.; Carelli, G.; Beverini, N.; Bava, E.; De Michele, A.;
2005 / IEEE
By: Carelli, G.; Beverini, N.; Bava, E.; Svelto, C.; Galzerano, G.; De Michele, A.; Prevedelli, M.; Moretti, A.; Maccioni, E.; Sorrentino, F.;
By: Carelli, G.; Beverini, N.; Bava, E.; Svelto, C.; Galzerano, G.; De Michele, A.; Prevedelli, M.; Moretti, A.; Maccioni, E.; Sorrentino, F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8493-8
By: Prevedelli, M.; Lamporesi, G.; Fattori, M.; Cacciapuoti, L.; Petelski, T.; Tino, G.M.; Stuhler, J.;
By: Prevedelli, M.; Lamporesi, G.; Fattori, M.; Cacciapuoti, L.; Petelski, T.; Tino, G.M.; Stuhler, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Tarallo, M.G.; Drullinger, R.E.; Poli, N.;
By: Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Tarallo, M.G.; Drullinger, R.E.; Poli, N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Sorrentino, F.; de Angelis, M.; Giorgini, A.; Tino, G.M.; Ertmer, W.; Rasel, E.M.; Peters, A.; Landragin, A.; Bouyer, P.; Wendrich, T.; Muller, T.; Zaiser, M.; Mehlstauble, T.; Pereira Dos Santos, F.; Le Gouet, J.; Gauguet, A.; Impens, F.; Brantut, J.P.; Lugan, P.; Nyman, R.; Josse, V.; Kovalchuk, E.; Senger, A.; Schmidt, M.; Prevedelli, M.;
By: Sorrentino, F.; de Angelis, M.; Giorgini, A.; Tino, G.M.; Ertmer, W.; Rasel, E.M.; Peters, A.; Landragin, A.; Bouyer, P.; Wendrich, T.; Muller, T.; Zaiser, M.; Mehlstauble, T.; Pereira Dos Santos, F.; Le Gouet, J.; Gauguet, A.; Impens, F.; Brantut, J.P.; Lugan, P.; Nyman, R.; Josse, V.; Kovalchuk, E.; Senger, A.; Schmidt, M.; Prevedelli, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Schioppo, M.; Prevedelli, M.; Poli, N.; Drullinger, R.E.; Sorrentino, F.; Ferrari, G.; Alberti, A.; Tino, G.M.;
By: Schioppo, M.; Prevedelli, M.; Poli, N.; Drullinger, R.E.; Sorrentino, F.; Ferrari, G.; Alberti, A.; Tino, G.M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Prevedelli, M.; Cacciapuoti, L.; Lamporesi, G.; Bertoldi, A.; Tino, G.M.;
By: Prevedelli, M.; Cacciapuoti, L.; Lamporesi, G.; Bertoldi, A.; Tino, G.M.;