Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Pointon, T.D.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Harjes, C.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Pointon, T.D.; Hall, C.A.; Bliss, D.E.; Davis, J.-P.; Deeney, C.;
By: Harjes, C.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Pointon, T.D.; Hall, C.A.; Bliss, D.E.; Davis, J.-P.; Deeney, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Jennings, C.A.; Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Coats, R.S.; McKee, G.R.; Langston, W.L.; VanDevender, J.P.; Pasik, M.F.; Schneider, L.X.;
By: Jennings, C.A.; Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Coats, R.S.; McKee, G.R.; Langston, W.L.; VanDevender, J.P.; Pasik, M.F.; Schneider, L.X.;
2014 / IEEE
By: Swanekamp, S.B.; Richardson, A.S.; Angus, J.; Mosher, D.; Cartwright, K.L.; Oliver, B.V.; Pointon, T.D.;
By: Swanekamp, S.B.; Richardson, A.S.; Angus, J.; Mosher, D.; Cartwright, K.L.; Oliver, B.V.; Pointon, T.D.;
1989 / IEEE
By: Quintenz, J.P.; Bailey, J.E.; Bieg, K.W.; Bloomquist, D.D.; Cook, D.L.; Crow, J.T.; Coats, R.S.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Dreike, P.L.; Gerber, R.A.; Hussey, T.W.; Johnson, D.J.; Johnson, W.A.; Kensek, R.P.; Kuswa, G.W.; Lee, J.R.; Leeper, R.J.; Lockner, T.R.; Maenchen, J.E.; McDaniel, D.H.; McKay, P.F.; Mehlhorn, T.A.; Mendel, C.W., Jr.; Mix, L.P.; Neau, E.L.; Olson, C.L.; Pointon, T.D.; Pregenzer, A.L.; Renk, T.J.; Rochau, G.E.; Rosenthal, S.E.; Ruiz, C.L.; Schneider, L.X.; Slutz, S.A.; Stinnett, R.W.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Tisone, F.C.; Turman, B.N.; VanDevender, J.P.; Woodworth, J.R.;
By: Quintenz, J.P.; Bailey, J.E.; Bieg, K.W.; Bloomquist, D.D.; Cook, D.L.; Crow, J.T.; Coats, R.S.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Dreike, P.L.; Gerber, R.A.; Hussey, T.W.; Johnson, D.J.; Johnson, W.A.; Kensek, R.P.; Kuswa, G.W.; Lee, J.R.; Leeper, R.J.; Lockner, T.R.; Maenchen, J.E.; McDaniel, D.H.; McKay, P.F.; Mehlhorn, T.A.; Mendel, C.W., Jr.; Mix, L.P.; Neau, E.L.; Olson, C.L.; Pointon, T.D.; Pregenzer, A.L.; Renk, T.J.; Rochau, G.E.; Rosenthal, S.E.; Ruiz, C.L.; Schneider, L.X.; Slutz, S.A.; Stinnett, R.W.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Tisone, F.C.; Turman, B.N.; VanDevender, J.P.; Woodworth, J.R.;
1992 / IEEE
By: Mehlhorn, T.A.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Pointon, T.D.; Desjarlais, M.P.; Coats, R.S.; Bacon, L.D.; Quintenz, J.P.; Krall, N.A.; Kiefer, M.L.;
By: Mehlhorn, T.A.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Pointon, T.D.; Desjarlais, M.P.; Coats, R.S.; Bacon, L.D.; Quintenz, J.P.; Krall, N.A.; Kiefer, M.L.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Renk, T.J.; Pointon, T.D.; Mehlhorn, T.A.; Lake, P.; McGuire, E.J.; Stygar, W.; Johnson, D.J.; Carlson, A.L.; Filuk, A.B.; Bailey, J.E.; Maron, Y.;
By: Renk, T.J.; Pointon, T.D.; Mehlhorn, T.A.; Lake, P.; McGuire, E.J.; Stygar, W.; Johnson, D.J.; Carlson, A.L.; Filuk, A.B.; Bailey, J.E.; Maron, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-2906-6
By: Mehlhorn, T.A.; Welch, D.R.; Bailey, J.E.; Bernard, M.A.; Carlson, A.; Cuneo, M.E.; Desjarlais, M.P.; Filuk, A.B.; Fowler, W.E.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Lake, P.; Lockner, T.R.; Maron, Y.; Menge, P.R.; Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Stark, M.A.; Vesey, R.A.;
By: Mehlhorn, T.A.; Welch, D.R.; Bailey, J.E.; Bernard, M.A.; Carlson, A.; Cuneo, M.E.; Desjarlais, M.P.; Filuk, A.B.; Fowler, W.E.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Lake, P.; Lockner, T.R.; Maron, Y.; Menge, P.R.; Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Stark, M.A.; Vesey, R.A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0683-X
By: Pointon, T.D.; Coats, R.S.; Kiefer, M.L.; Seidel, D.B.; Quintenz, J.P.;
By: Pointon, T.D.; Coats, R.S.; Kiefer, M.L.; Seidel, D.B.; Quintenz, J.P.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: McGuire, E.J.; Lake, P.; Johnson, D.J.; Filuk, A.B.; Carlson, A.L.; Mehlhorn, T.A.; Stambulchik, E.; Maron, Y.; Bailey, J.E.; Rosenthal, S.E.; Pointon, T.D.;
By: McGuire, E.J.; Lake, P.; Johnson, D.J.; Filuk, A.B.; Carlson, A.L.; Mehlhorn, T.A.; Stambulchik, E.; Maron, Y.; Bailey, J.E.; Rosenthal, S.E.; Pointon, T.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Merge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Johnson, D.J.; Hanson, P.R.; Nielsen, D.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Ching, C.H.; Bailey, J.E.; Armijo, J.; Adams, R.G.; Cuneo, M.E.; Wenger, D.F.; Versey, R.A.; Stark, M.A.;
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Merge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Johnson, D.J.; Hanson, P.R.; Nielsen, D.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Ching, C.H.; Bailey, J.E.; Armijo, J.; Adams, R.G.; Cuneo, M.E.; Wenger, D.F.; Versey, R.A.; Stark, M.A.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Quintenz, J.P.; Adams, R.G.; Allshouse, G.O.; Bailey, J.E.; Bloomquist, D.D.; Chandler, G.A.; Coats, R.S.; Cook, D.L.; Cuneo, M.E.; Deeney, C.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Douglas, M.R.; Fehl, D.L.; Filuk, A.B.; Haill, T.A.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Kiefer, M.L.; Lash, J.S.; Leeper, R.J.; Marder, B.M.; Matzen, M.K.; McDaniel, D.H.; McGuire, E.J.; Mehlhorn, T.A.; Mix, L.P.; Moats, A.R.; Nash, T.J.; Olson, C.L.; Olson, R.E.; Pointon, T.D.; Porter, J.L.; Ruiz, C.L.; Sanford, T.W.L.; Seamen, J.F.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Spielman, R.B.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Vesey, R.A.; Wenger, D.F.;
By: Quintenz, J.P.; Adams, R.G.; Allshouse, G.O.; Bailey, J.E.; Bloomquist, D.D.; Chandler, G.A.; Coats, R.S.; Cook, D.L.; Cuneo, M.E.; Deeney, C.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Douglas, M.R.; Fehl, D.L.; Filuk, A.B.; Haill, T.A.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Kiefer, M.L.; Lash, J.S.; Leeper, R.J.; Marder, B.M.; Matzen, M.K.; McDaniel, D.H.; McGuire, E.J.; Mehlhorn, T.A.; Mix, L.P.; Moats, A.R.; Nash, T.J.; Olson, C.L.; Olson, R.E.; Pointon, T.D.; Porter, J.L.; Ruiz, C.L.; Sanford, T.W.L.; Seamen, J.F.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Spielman, R.B.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Vesey, R.A.; Wenger, D.F.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Johnson, D.J.; Hanson, D.L.; Olson, C.L.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Adams, R.G.; Mehlhorn, T.A.; Wenger, D.F.; Welch, D.R.; Vesey, R.A.;
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Johnson, D.J.; Hanson, D.L.; Olson, C.L.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Adams, R.G.; Mehlhorn, T.A.; Wenger, D.F.; Welch, D.R.; Vesey, R.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Menge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Johnson, D.J.; Olson, C.L.; Hanson, D.L.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Bailey, J.E.; Adams, G.; Cuneo, M.E.; Welch, D.R.; Wenger, D.F.; Vesey, R.A.;
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Menge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Johnson, D.J.; Olson, C.L.; Hanson, D.L.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Bailey, J.E.; Adams, G.; Cuneo, M.E.; Welch, D.R.; Wenger, D.F.; Vesey, R.A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7540-8
By: McDaniel, D.H.; Corley, J.P.; Bliss, D.E.; Elizondo, J.M.; Harjes, H.C.; Ives, H.C., III; Kitterman, D.L.; Maenchen, J.E.; Pointon, T.D.; Rosenthal, S.E.; Smith, D.L.; Struve, K.W.; Stygar, W.A.; Weinbrecht, E.A.; Johnson, D.L.; Mazarakis, M.G.;
By: McDaniel, D.H.; Corley, J.P.; Bliss, D.E.; Elizondo, J.M.; Harjes, H.C.; Ives, H.C., III; Kitterman, D.L.; Maenchen, J.E.; Pointon, T.D.; Rosenthal, S.E.; Smith, D.L.; Struve, K.W.; Stygar, W.A.; Weinbrecht, E.A.; Johnson, D.L.; Mazarakis, M.G.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Lemke, R.W.; Bliss, D.E.; Savage, M.E.; Harjes, H.C.; Pointon, T.D.;
By: Lemke, R.W.; Bliss, D.E.; Savage, M.E.; Harjes, H.C.; Pointon, T.D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Oliver, B.V.; Clark, R.E.; Hughes, T.P.; Stygar, W.A.; Pointon, T.D.;
By: Oliver, B.V.; Clark, R.E.; Hughes, T.P.; Stygar, W.A.; Pointon, T.D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Corley, J.P.; McDaniel, D.H.; Struve, K.W.; Maenchen, J.E.; Lehr, J.M.; Johnson, D.L.; Elizondo, J.M.; Pointon, T.D.; Rosenthal, S.E.; Johnson, W.A.;
By: Corley, J.P.; McDaniel, D.H.; Struve, K.W.; Maenchen, J.E.; Lehr, J.M.; Johnson, D.L.; Elizondo, J.M.; Pointon, T.D.; Rosenthal, S.E.; Johnson, W.A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Genoni, T.C.; Oliver, B.V.; Hughes, T.P.; Savage, M.E.; Pointon, T.D.;
By: Genoni, T.C.; Oliver, B.V.; Hughes, T.P.; Savage, M.E.; Pointon, T.D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Hinshelwood, D.D.; Pointon, T.D.; Swanekamp, S.B.; Strasburg, S.D.; Kiefer, M.L.; Seidel, D.B.;
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Hinshelwood, D.D.; Pointon, T.D.; Swanekamp, S.B.; Strasburg, S.D.; Kiefer, M.L.; Seidel, D.B.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Savage, M.E.; Wakeland, P.E.; Romero, D.H.; Wagoner, T.C.; Mendel, C.W.;
By: Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Savage, M.E.; Wakeland, P.E.; Romero, D.H.; Wagoner, T.C.; Mendel, C.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Owen, A.C.; Kincy, M.A.; Savage, M.; Mendez, T.A.; Pointon, T.D.; Wakeland, P.E.; Wagoner, T.C.; Shoup, R.W.;
By: Owen, A.C.; Kincy, M.A.; Savage, M.; Mendez, T.A.; Pointon, T.D.; Wakeland, P.E.; Wagoner, T.C.; Shoup, R.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Stygar, W.A.; McDaniel, D.H.; Bennett, L.F.; Elizondo, J.M.; Savage, M.E.; Shoup, R.W.; Harjes, H.C.; Struve, K.W.; Stoltzfus, B.S.; Pasik, M.; Pointon, T.D.; Owen, A.C.;
By: Stygar, W.A.; McDaniel, D.H.; Bennett, L.F.; Elizondo, J.M.; Savage, M.E.; Shoup, R.W.; Harjes, H.C.; Struve, K.W.; Stoltzfus, B.S.; Pasik, M.; Pointon, T.D.; Owen, A.C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Smith, I.A.; Prestwich, K.R.; Stygar, W.A.; Pointon, T.D.; Elizondo, J.M.; Harjes, H.; Bennett, L.F.; Savage, M.E.; Shoup, R.W.;
By: Smith, I.A.; Prestwich, K.R.; Stygar, W.A.; Pointon, T.D.; Elizondo, J.M.; Harjes, H.; Bennett, L.F.; Savage, M.E.; Shoup, R.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Elizondo-Decanini, J.M.; Johnson, W.A.; Coats, R.S.; Pasik, M.F.; Pointon, T.D.; Lehr, J.M.; Savage, M.E.; Bohnhoff, W.J.; Turner, C.D.;
By: Elizondo-Decanini, J.M.; Johnson, W.A.; Coats, R.S.; Pasik, M.F.; Pointon, T.D.; Lehr, J.M.; Savage, M.E.; Bohnhoff, W.J.; Turner, C.D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Strasburg, S.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Harper-Slaboszewicz, V.; Pointon, T.D.; Weber, B.V.;
By: Strasburg, S.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Harper-Slaboszewicz, V.; Pointon, T.D.; Weber, B.V.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Rosenthal, S.E.; Maenchen, J.E.; Coats, R.S.; Warne, L.K.; Pointon, T.D.;
By: Rosenthal, S.E.; Maenchen, J.E.; Coats, R.S.; Warne, L.K.; Pointon, T.D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Pointon, T.D.; Seidel, D.B.; Kiefer, M.L.;
By: Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Pointon, T.D.; Seidel, D.B.; Kiefer, M.L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Bennett, L.F.; Bliss, D.E.; Savage, M.E.; Johnson, D.L.; Shoup, R.W.; Prestwich, K.R.; Mendel, C.W.; Woodworth, J.R.; Warne, L.K.; Struve, K.W.; Stoltzfus, B.S.; Smith, D.L.; Seidel, D.B.; Owen, A.C.; Pointon, T.D.; Pasik, M.F.; McDaniel, D.H.; Maenchen, J.E.; Lehr, J.M.; Harjes, H.C.; LeChien, K.R.; Elizondo, J.M.; Coats, R.S.; Clark, W.T.;
By: Bennett, L.F.; Bliss, D.E.; Savage, M.E.; Johnson, D.L.; Shoup, R.W.; Prestwich, K.R.; Mendel, C.W.; Woodworth, J.R.; Warne, L.K.; Struve, K.W.; Stoltzfus, B.S.; Smith, D.L.; Seidel, D.B.; Owen, A.C.; Pointon, T.D.; Pasik, M.F.; McDaniel, D.H.; Maenchen, J.E.; Lehr, J.M.; Harjes, H.C.; LeChien, K.R.; Elizondo, J.M.; Coats, R.S.; Clark, W.T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Jackson, S.L.; Hinshelwood, D.; Seidel, D.B.; Swanekamp, S.B.; Kiefer, M.L.; Pointon, T.D.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.;
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Jackson, S.L.; Hinshelwood, D.; Seidel, D.B.; Swanekamp, S.B.; Kiefer, M.L.; Pointon, T.D.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Yilmaz, M.F.; Osbome, G.; Williamson, K.; Cline, W.; Shrestha, I.; Esaulov, A.A.; Safronova, A.S.; Presura, R.; Astanovitskiy, A.L.; Kantsyrev, V.L.; Chuvatin, A.S.; Mikkelson, K.A.; Pointon, T.D.; Cuneo, M.E.; Rudakov, L.I.; Nalajala, N.; LeGalloudec, B.; Jarrett, T.;
By: Yilmaz, M.F.; Osbome, G.; Williamson, K.; Cline, W.; Shrestha, I.; Esaulov, A.A.; Safronova, A.S.; Presura, R.; Astanovitskiy, A.L.; Kantsyrev, V.L.; Chuvatin, A.S.; Mikkelson, K.A.; Pointon, T.D.; Cuneo, M.E.; Rudakov, L.I.; Nalajala, N.; LeGalloudec, B.; Jarrett, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Davis, J.-P.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Coats, R.S.; Langston, W.L.;
By: Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Davis, J.-P.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Coats, R.S.; Langston, W.L.;
1990 / IEEE
By: Seidel, D.B.; Johnson, W.A.; Quintenz, J.P.; Pointon, T.D.; Coats, R.S.; Kiefer, M.L.;
By: Seidel, D.B.; Johnson, W.A.; Quintenz, J.P.; Pointon, T.D.; Coats, R.S.; Kiefer, M.L.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap