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Author: Pizzuto, A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Cecchini, A.; Brolatti, G.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Maddaluno, G.; Lattanzi, D.; Ferro, C.; Ciotti, M.;
By: Cecchini, A.; Brolatti, G.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Maddaluno, G.; Lattanzi, D.; Ferro, C.; Ciotti, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Bartiromo, R.; Cardinali, A.; Alladio, F.; Tanga, A.; Salpietro, E.; Romanelli, F.; Roccella, M.; Pizzuto, A.; Pieroni, L.; Orsitto, F.P.; Barbato, E.; Mitchell, N.; Micozzi, P.; Mancuso, A.; Lovisetto, L.; Gasparotto, M.; Ferro, C.; De Marco, F.;
By: Bartiromo, R.; Cardinali, A.; Alladio, F.; Tanga, A.; Salpietro, E.; Romanelli, F.; Roccella, M.; Pizzuto, A.; Pieroni, L.; Orsitto, F.P.; Barbato, E.; Mitchell, N.; Micozzi, P.; Mancuso, A.; Lovisetto, L.; Gasparotto, M.; Ferro, C.; De Marco, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Riccardi, B.; Vieider, G.; Diotalevi, M.; Bertamini, L.; Pizzuto, A.;
By: Riccardi, B.; Vieider, G.; Diotalevi, M.; Bertamini, L.; Pizzuto, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Pizzuto, A.; Petrizzi, L.; Merola, M.; MArin, A.; Roccella, M.; Lucca, F.; Mazzone, G.; Mainardi, E.; Zanotelli, G.;
By: Pizzuto, A.; Petrizzi, L.; Merola, M.; MArin, A.; Roccella, M.; Lucca, F.; Mazzone, G.; Mainardi, E.; Zanotelli, G.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Boert, F.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Wobker, H.G.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Celentano, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Frosi, P.; Crescenzi, C.; Coppi, B.;
By: Boert, F.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Wobker, H.G.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Celentano, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Frosi, P.; Crescenzi, C.; Coppi, B.;
2008 / IEEE
By: Portafaix, C.; Dolgetta, N.; Matsukawa, M.; Tamai, H.; Yoshida, K.; Zani, L.; Suzuki, Y.; Tsuchiya, K.; Kizu, K.; Pizzuto, A.;
By: Portafaix, C.; Dolgetta, N.; Matsukawa, M.; Tamai, H.; Yoshida, K.; Zani, L.; Suzuki, Y.; Tsuchiya, K.; Kizu, K.; Pizzuto, A.;
2008 / IEEE
By: Decool, P.; Duchateau, J.-L.; Nicollet, S.; Portafaix, C.; Pizzuto, A.; Di Zenobio, A.; Turtu, S.; Lacroix, B.; Muzzi, L.; della Corte, A.; Kikuchi, M.; Matsukawa, M.; Tamai, H.; Tsuchiya, K.; Kizu, K.; Yoshida, K.; Zani, L.;
By: Decool, P.; Duchateau, J.-L.; Nicollet, S.; Portafaix, C.; Pizzuto, A.; Di Zenobio, A.; Turtu, S.; Lacroix, B.; Muzzi, L.; della Corte, A.; Kikuchi, M.; Matsukawa, M.; Tamai, H.; Tsuchiya, K.; Kizu, K.; Yoshida, K.; Zani, L.;
2008 / IEEE
By: Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Reccia, L.; Portafaix, C.; Polli, G.M.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Lacroix, B.; Kizu, K.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Heller, R.; Fietz, W.H.; Duchateau, J.L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Bayetti, P.; Zani, L.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.; Yoshida, K.;
By: Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Reccia, L.; Portafaix, C.; Polli, G.M.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Lacroix, B.; Kizu, K.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Heller, R.; Fietz, W.H.; Duchateau, J.L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Bayetti, P.; Zani, L.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.; Yoshida, K.;
2008 / IEEE
By: Zani, L.; Yoshida, K.; Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Turck, B.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Portafaix, C.; Petrizzi, L.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Molinie, F.; Lacroix, B.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Duchateau, J.-L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Ciazynski, D.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.;
By: Zani, L.; Yoshida, K.; Villari, R.; Verger, J.-M.; Turtu, S.; Turck, B.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Portafaix, C.; Petrizzi, L.; Nicollet, S.; Muzzi, L.; Molinie, F.; Lacroix, B.; Kikuchi, M.; Hertout, P.; Duchateau, J.-L.; Dolgetta, N.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Ciazynski, D.; Semeraro, L.; Pizzuto, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Calabro, G.; Cocilovo, V.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.; Pizzuto, A.; Pericoli-Ridolfini, V.; Maddaluno, G.; Brolatti, G.; Granucci, G.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Frosi, P.; Costa, P.; Coletti, R.; Coletti, A.;
By: Calabro, G.; Cocilovo, V.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.; Pizzuto, A.; Pericoli-Ridolfini, V.; Maddaluno, G.; Brolatti, G.; Granucci, G.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Frosi, P.; Costa, P.; Coletti, R.; Coletti, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Cocilovo, V.; Rita, C.; Ramogida, G.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Calabro, G.;
By: Cocilovo, V.; Rita, C.; Ramogida, G.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Calabro, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Villari, R.; Brolatti, G.; Pizzuto, A.; Petrizzi, L.; Cucchiaro, A.; Moro, F.; Marocco, D.; Esposito, B.;
By: Villari, R.; Brolatti, G.; Pizzuto, A.; Petrizzi, L.; Cucchiaro, A.; Moro, F.; Marocco, D.; Esposito, B.;
2010 / IEEE
By: Petrizzi, L.; Moro, F.; Esposito, B.; Marocco, D.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Villari, R.; Brolatti, G.;
By: Petrizzi, L.; Moro, F.; Esposito, B.; Marocco, D.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Villari, R.; Brolatti, G.;
2010 / IEEE
By: Reccia, L.; Yoshida, K.; Pizzuto, A.; Phillips, G.; Peyrot, M.; Nannini, M.; Muzzi, L.; Portafaix, C.; Meunier, L.; Duglue, D.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Barabaschi, P.; Tomarchio, V.; Zani, L.;
By: Reccia, L.; Yoshida, K.; Pizzuto, A.; Phillips, G.; Peyrot, M.; Nannini, M.; Muzzi, L.; Portafaix, C.; Meunier, L.; Duglue, D.; Di Zenobio, A.; della Corte, A.; Decool, P.; Cucchiaro, A.; Barabaschi, P.; Tomarchio, V.; Zani, L.;
2011 / IEEE
By: Polli, G.M.; Muzzi, L.; della Corte, A.; Di Zenobio, A.; Villari, R.; Reccia, L.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Turtu, S.;
By: Polli, G.M.; Muzzi, L.; della Corte, A.; Di Zenobio, A.; Villari, R.; Reccia, L.; Pizzuto, A.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Turtu, S.;
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