Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Pfau, T.
Results
2012 / IEEE
By: Gavioli, G.; Bertolini, M.; Pepe, M.; Pfau, T.; Magarini, M.; Spalvieri, A.; Barletta, L.; Vacondio, F.;
By: Gavioli, G.; Bertolini, M.; Pepe, M.; Pfau, T.; Magarini, M.; Spalvieri, A.; Barletta, L.; Vacondio, F.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Leven, A.; Qi Yang; Corteselli, S.; Pfau, T.; Kaneda, N.; Young-Kai Chen;
By: Leven, A.; Qi Yang; Corteselli, S.; Pfau, T.; Kaneda, N.; Young-Kai Chen;
2015 / IEEE
By: Youn, C.J.; Chen, Y.; Lee, J.; Zhang, H.; Kwon, Y.H.; Kaneda, N.; Chandrasekhar, S.; Num, E.S.; Pfau, T.;
By: Youn, C.J.; Chen, Y.; Lee, J.; Zhang, H.; Kwon, Y.H.; Kaneda, N.; Chandrasekhar, S.; Num, E.S.; Pfau, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3171-0
By: Voigt, D.; Ekstrom, C.R.; Kurtsiefer, C.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Dross, O.;
By: Voigt, D.; Ekstrom, C.R.; Kurtsiefer, C.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Dross, O.;
1996 / IEEE / 0-7803-3171-0
By: Drodofsky, U.; MIynsk, J.; Pfau, T.; Stuhler, J.; Weber, C.; Krogmann, D.; Schreiber, G.; Brezger, B.; Drewsen, M.;
By: Drodofsky, U.; MIynsk, J.; Pfau, T.; Stuhler, J.; Weber, C.; Krogmann, D.; Schreiber, G.; Brezger, B.; Drewsen, M.;
1997 / IEEE / 1-55752-501-3
By: Keller, C.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Spreeuw, R.J.C.; Muller-Seydfitz, T.; Hansel, H.; Brezger, B.; Hartl, M.;
By: Keller, C.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Spreeuw, R.J.C.; Muller-Seydfitz, T.; Hansel, H.; Brezger, B.; Hartl, M.;
1997 / IEEE / 1-55752-501-3
By: Drewsen, M.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Nowak, S.; Drodofsky, U.; Brezger, B.; Schulze, Th.; Stuhler, J.;
By: Drewsen, M.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Nowak, S.; Drodofsky, U.; Brezger, B.; Schulze, Th.; Stuhler, J.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Schulze, Th.; Schmidt, P.O.; Brezger, B.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Bell, A.;
By: Schulze, Th.; Schmidt, P.O.; Brezger, B.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Bell, A.;
1998 / IEEE / 0-7803-4231-3
By: Schneble, D.; Hartl, M.; Gauck, H.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Schnitzler, H.;
By: Schneble, D.; Hartl, M.; Gauck, H.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Schnitzler, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4231-3
By: Schulze, T.; Schmidt, P.O.; Brezger, B.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Bell, A.;
By: Schulze, T.; Schmidt, P.O.; Brezger, B.; Mlynek, J.; Pfau, T.; Bell, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Orgassa, K.; Schneble, D.; Gauck, H.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Adams, R.;
By: Orgassa, K.; Schneble, D.; Gauck, H.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Adams, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Bell, A.; Schmidt, P.O.; Stuhler, J.; Hensler, S.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Locher, S.;
By: Bell, A.; Schmidt, P.O.; Stuhler, J.; Hensler, S.; Pfau, T.; Mlynek, J.; Locher, S.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Ketterle, W.; Pritchard, D.E.; Gorlitz, A.; Chikkatur, A.P.; Gupta, S.; Pfau, T.; Inouye, S.;
By: Ketterle, W.; Pritchard, D.E.; Gorlitz, A.; Chikkatur, A.P.; Gupta, S.; Pfau, T.; Inouye, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7733-8
By: Werner, J.; Schmidt, P.; Hensler, S.; Pfau, T.; Gorlitz, A.; Griesmaier, A.;
By: Werner, J.; Schmidt, P.; Hensler, S.; Pfau, T.; Gorlitz, A.; Griesmaier, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-8973-5
By: Pfau, T.; Hensler, S.; Werner, J.; Fattori, M.; Griesmaier, A.; Stuhler, J.;
By: Pfau, T.; Hensler, S.; Werner, J.; Fattori, M.; Griesmaier, A.; Stuhler, J.;
2006 / IEEE
By: Adamczyk, O.; Ibrahim, S.K.; Peveling, R.; Bhandare, S.; Porrmann, M.; Hoffmann, S.; Pfau, T.; Achiam, Y.; Noe, R.;
By: Adamczyk, O.; Ibrahim, S.K.; Peveling, R.; Bhandare, S.; Porrmann, M.; Hoffmann, S.; Pfau, T.; Achiam, Y.; Noe, R.;
2007 / IEEE / 1-4244-0687-0
By: Porrmann, M.; Hoffmann, S.; Herath, V.; Peveling, R.; Ibrahim, S.K.; Pfau, T.; Noe, R.; Adamczyk, O.; Bhandare, S.;
By: Porrmann, M.; Hoffmann, S.; Herath, V.; Peveling, R.; Ibrahim, S.K.; Pfau, T.; Noe, R.; Adamczyk, O.; Bhandare, S.;
2007 / IEEE / 1-4244-0926-8
By: Adaraczyk, O.; Pfau, T.; Noe, R.; Porrmann, M.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; Herath, V.;
By: Adaraczyk, O.; Pfau, T.; Noe, R.; Porrmann, M.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; Herath, V.;
2007 / IEEE / 1-4244-0926-8
By: Koslovsky, A.; Benarush, Y.; Achiam, Y.; Noe, R.; Porrmann, M.; Schlieder, D.; Adamczyk, O.; Sandel, D.; Ibrahim, S.; Bhandare, S.; Hoffinann, S.; Peveling, R.; Pfau, T.; Porte, H.; Grossard, N.; Hauden, J.;
By: Koslovsky, A.; Benarush, Y.; Achiam, Y.; Noe, R.; Porrmann, M.; Schlieder, D.; Adamczyk, O.; Sandel, D.; Ibrahim, S.; Bhandare, S.; Hoffinann, S.; Peveling, R.; Pfau, T.; Porte, H.; Grossard, N.; Hauden, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Falkenau, M.; Aghajani-Talesh, A.; Sebastian, J.; Greiner, A.; Griesmaier, A.; Pfau, T.; Rehme, P.;
By: Falkenau, M.; Aghajani-Talesh, A.; Sebastian, J.; Greiner, A.; Griesmaier, A.; Pfau, T.; Rehme, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Butscher, B.; Bendkowsky, V.; Raitzsch, U.; Heidemann, R.; Low, R.; Pfau, T.;
By: Butscher, B.; Bendkowsky, V.; Raitzsch, U.; Heidemann, R.; Low, R.; Pfau, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Stuhler, J.; Hensler, S.; Griesmaier, A.; Goetz, S.; Pfau, T.; Koch, T.; Lahaye, T.; Fattori, M.;
By: Stuhler, J.; Hensler, S.; Griesmaier, A.; Goetz, S.; Pfau, T.; Koch, T.; Lahaye, T.; Fattori, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Koch, T.; Lahaye, T.; Pfau, T.; Griesmaier, A.; Frohlich, B.; Fattori, M.;
By: Koch, T.; Lahaye, T.; Pfau, T.; Griesmaier, A.; Frohlich, B.; Fattori, M.;
2007 / IEEE
By: Hoffmann, S.; Achiam, Y.; Porte, H.; Grossard, N.; Hauden, J.; Peveling, R.; Ibrahim, S.K.; Noe, R.; Porrmann, M.; Pfau, T.; Sandel, D.; Bhandare, S.; Adamczyk, O.;
By: Hoffmann, S.; Achiam, Y.; Porte, H.; Grossard, N.; Hauden, J.; Peveling, R.; Ibrahim, S.K.; Noe, R.; Porrmann, M.; Pfau, T.; Sandel, D.; Bhandare, S.; Adamczyk, O.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-856-8
By: Porrmann, M.; Bhandare, S.; Adamczyk, O.; Hoffmann, S.; Noe, R.; Peveling, R.; Wordehoff, C.; Pfau, T.; Ibrahim, S.K.;
By: Porrmann, M.; Bhandare, S.; Adamczyk, O.; Hoffmann, S.; Noe, R.; Peveling, R.; Wordehoff, C.; Pfau, T.; Ibrahim, S.K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1925-8
By: Noe, R.; Porrmann, M.; Peveling, R.; Herath, V.; Adamczyk, O.; Pfau, T.; Hoffmann, S.;
By: Noe, R.; Porrmann, M.; Peveling, R.; Herath, V.; Adamczyk, O.; Pfau, T.; Hoffmann, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1925-8
By: Pfau, T.; Noe, R.; Porrmann, M.; Adamczyk, O.; Wordehoff, C.; Koch, B.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; El-Darawy, M.;
By: Pfau, T.; Noe, R.; Porrmann, M.; Adamczyk, O.; Wordehoff, C.; Koch, B.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; El-Darawy, M.;
2008 / IEEE
By: Pfau, T.; Bhandare, S.; Wordehoff, C.; Peveling, R.; Porrmann, M.; Noe, R.; Adamczyk, O.; Hoffmann, S.;
By: Pfau, T.; Bhandare, S.; Wordehoff, C.; Peveling, R.; Porrmann, M.; Noe, R.; Adamczyk, O.; Hoffmann, S.;
2008 / IEEE
By: Koch, B.; Wordehoff, C.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; Porrmann, M.; Pfau, T.; El-Darawy, M.; Noe, R.; Adamczyk, O.;
By: Koch, B.; Wordehoff, C.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; Porrmann, M.; Pfau, T.; El-Darawy, M.; Noe, R.; Adamczyk, O.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2227-2
By: El-Darawy, M.; Pfau, T.; Wordehoff, C.; Koch, B.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; Porrmann, M.; Noe, R.;
By: El-Darawy, M.; Pfau, T.; Wordehoff, C.; Koch, B.; Hoffmann, S.; Peveling, R.; Porrmann, M.; Noe, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Peveling, R.; Herath, V.; Noe, R.; Porrmann, M.; Pfau, T.; Wordehoff, C.; Hoffmann, S.; Adamezyk, O.;
By: Peveling, R.; Herath, V.; Noe, R.; Porrmann, M.; Pfau, T.; Wordehoff, C.; Hoffmann, S.; Adamezyk, O.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Hoffmann, S.; Herath, V.; Peveling, R.; Pfau, T.; Wordehoff, C.; Noe, R.; Porrmann, M.; Adamczyk, O.;
By: Hoffmann, S.; Herath, V.; Peveling, R.; Pfau, T.; Wordehoff, C.; Noe, R.; Porrmann, M.; Adamczyk, O.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Kastel, J.; Weiss, T.; Langguth, L.; Na Liu; Giessen, H.; Pfau, T.; Fleischhauer, M.;
By: Kastel, J.; Weiss, T.; Langguth, L.; Na Liu; Giessen, H.; Pfau, T.; Fleischhauer, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5096-1
By: El-Darawy, M.; Pfau, T.; Peveling, R.; Hoffmann, S.; Ruckert, U.; Noe, R.; Al-Bermani, A.;
By: El-Darawy, M.; Pfau, T.; Peveling, R.; Hoffmann, S.; Ruckert, U.; Noe, R.; Al-Bermani, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3680-4
By: Pfau, T.; El-Darawy, M.; Hoffmann, S.; Noe, R.; Ruckert, U.; Peveling, R.; Wordehoff, C.;
By: Pfau, T.; El-Darawy, M.; Hoffmann, S.; Noe, R.; Ruckert, U.; Peveling, R.; Wordehoff, C.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3680-4
By: Fleischhauer, M.; Kastel, J.; Weiss, T.; Langguth, L.; Na Liu; Giessen, H.; Pfau, T.;
By: Fleischhauer, M.; Kastel, J.; Weiss, T.; Langguth, L.; Na Liu; Giessen, H.; Pfau, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4836-4
By: El-Darawy, M.; Herath, V.; Hoffmann, S.; Noe, R.; Pfau, T.; Ruckert, U.; Peveling, R.; Wordehoff, C.;
By: El-Darawy, M.; Herath, V.; Hoffmann, S.; Noe, R.; Pfau, T.; Ruckert, U.; Peveling, R.; Wordehoff, C.;