Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Peterson, K.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Shankar, K.; Whittaker, W.; Moidel, J.; Jones, H.; Peterson, K.;
By: Shankar, K.; Whittaker, W.; Moidel, J.; Jones, H.; Peterson, K.;
2014 / IEEE
By: Han, C. J.; Skidmore, G.; Peterson, K.; Li, C.; Lannon, J.; Anderson, R.; Temple, D. S.; Vick, E.;
By: Han, C. J.; Skidmore, G.; Peterson, K.; Li, C.; Lannon, J.; Anderson, R.; Temple, D. S.; Vick, E.;
1996 / IEEE / 0-8186-7414-8
By: Yamano, L.; Karzes, T.; Peterson, K.; Massalin, H.; Abbott, C.; Kellogg, G.;
By: Yamano, L.; Karzes, T.; Peterson, K.; Massalin, H.; Abbott, C.; Kellogg, G.;
1996 / IEEE / 0-7803-3371-3
By: MacDougall, G.; Weeks, T.; Fournier, J.; Ebel, C.; Knotts, T.; Peterson, K.; Gallagher, M.; Chung Lam;
By: MacDougall, G.; Weeks, T.; Fournier, J.; Ebel, C.; Knotts, T.; Peterson, K.; Gallagher, M.; Chung Lam;
1996 / IEEE / 0-7803-3504-X
By: Peterson, K.; Mondal, J.; Moghe, S.; Fudem, H.; Haubenstricker, R.; Vu, K.; Wong, K.; Guthrie, W.; Blubaugh, J.; Geske, S.; Consolazio, S.; Dietz, G.;
By: Peterson, K.; Mondal, J.; Moghe, S.; Fudem, H.; Haubenstricker, R.; Vu, K.; Wong, K.; Guthrie, W.; Blubaugh, J.; Geske, S.; Consolazio, S.; Dietz, G.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: King, N.S.P.; Hedges, S.; Obst, A.W.; Gray, N.; Holmes, V.; Jaramillo, S.; Yates, G.J.; Picklesimer, A.; Platts, D.; Stokes, J.; Hockaday, M.P.; Coulter, W.; Oona, H.; Findley, C.; Adams, P.; Guzik, J.; Lund, C.; Bowers, R.; Malone, B.; Watts, P.; Flurer, R.; Frogget, B.; Westley, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Malson, D.; Crain, D.; Jones, P.; Ley, M.; Sorenson, D.S.;
By: King, N.S.P.; Hedges, S.; Obst, A.W.; Gray, N.; Holmes, V.; Jaramillo, S.; Yates, G.J.; Picklesimer, A.; Platts, D.; Stokes, J.; Hockaday, M.P.; Coulter, W.; Oona, H.; Findley, C.; Adams, P.; Guzik, J.; Lund, C.; Bowers, R.; Malone, B.; Watts, P.; Flurer, R.; Frogget, B.; Westley, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Malson, D.; Crain, D.; Jones, P.; Ley, M.; Sorenson, D.S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Malone, B.; Ciarcia, C.; Watson, S.; Taylor, A.J.; Platts, D.; Hockaday, M.P.; Roberts, J.P.; Sheppard, M.; Lee, H.; Scannapieco, A.J.; King, N.S.P.; Obst, A.; Sorenson, D.S.; Crain, D.; Malson, D.; Pritchett, B.; Peterson, K.; Watts, P.; Flurer, R.; Westley, D.; Frogget, B.;
By: Malone, B.; Ciarcia, C.; Watson, S.; Taylor, A.J.; Platts, D.; Hockaday, M.P.; Roberts, J.P.; Sheppard, M.; Lee, H.; Scannapieco, A.J.; King, N.S.P.; Obst, A.; Sorenson, D.S.; Crain, D.; Malson, D.; Pritchett, B.; Peterson, K.; Watts, P.; Flurer, R.; Westley, D.; Frogget, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-4083-3
By: Moghe, S.; Laux, P.; Haubenstricker, R.; McReynolds, K.; Rice, P.; Peterson, K.; Dietz, G.; Mondal, J.; Aina, L.;
By: Moghe, S.; Laux, P.; Haubenstricker, R.; McReynolds, K.; Rice, P.; Peterson, K.; Dietz, G.; Mondal, J.; Aina, L.;
1997 / IEEE
By: Wong, K.; Peterson, K.; Mondal, J.; Moghe, S.; Fudem, H.; Haubenstricker, R.; Vu, K.; Dietz, G.; Guthrie, W.; Blubaugh, J.; Geske, S.; Consolazio, S.;
By: Wong, K.; Peterson, K.; Mondal, J.; Moghe, S.; Fudem, H.; Haubenstricker, R.; Vu, K.; Dietz, G.; Guthrie, W.; Blubaugh, J.; Geske, S.; Consolazio, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-5049-9
By: Gluck, L.; Calanca, N.; Haubenstricker, R.; Dietz, G.; Peterson, K.; Moghe, S.; Richardson, D.; Wong, K.; Mondal, J.; Vu, K.;
By: Gluck, L.; Calanca, N.; Haubenstricker, R.; Dietz, G.; Peterson, K.; Moghe, S.; Richardson, D.; Wong, K.; Mondal, J.; Vu, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Lessner, E.; McDowell, W.; Horan, D.; Kustom, R.; Harkay, K.; Crosbie, E.; Chae, Y.-C.; Cho, Y.; White, M.; Wang, J.; Thompson, K.; Peterson, K.; Norek, G.; Nielsen, R.; Moe, H.; McGhee, D.;
By: Lessner, E.; McDowell, W.; Horan, D.; Kustom, R.; Harkay, K.; Crosbie, E.; Chae, Y.-C.; Cho, Y.; White, M.; Wang, J.; Thompson, K.; Peterson, K.; Norek, G.; Nielsen, R.; Moe, H.; McGhee, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-7189-5
By: Novak, J.; Nguyen, T.; Van Der Star, J.; Consolazio, S.; Becker, R.; Peterson, K.; Gawron, J.; Bogus, E.; Haubenstricker, R.; Bourgeois, B.; Ferek, A.; Sahm, P.; Dietz, G.;
By: Novak, J.; Nguyen, T.; Van Der Star, J.; Consolazio, S.; Becker, R.; Peterson, K.; Gawron, J.; Bogus, E.; Haubenstricker, R.; Bourgeois, B.; Ferek, A.; Sahm, P.; Dietz, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Peterson, K.; Alvey, K.; Studebaker, J.K.; Anderson, B.G.; Oro, D.M.; Olson, R.T.; Froggett, B.C.;
By: Peterson, K.; Alvey, K.; Studebaker, J.K.; Anderson, B.G.; Oro, D.M.; Olson, R.T.; Froggett, B.C.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Froggett, B.C.; Peterson, K.; Alvey, K.; Studebaker, J.K.; Anderson, B.G.; Oro, D.M.; Olson, R.T.;
By: Froggett, B.C.; Peterson, K.; Alvey, K.; Studebaker, J.K.; Anderson, B.G.; Oro, D.M.; Olson, R.T.;
1987 / IEEE
By: Marston, A.; Burroughs, G.; Wu, R.; Wiemann, A.; Wangunhardjo, J.; Saperstein, B.; Peterson, K.; Peebles, A.; Najami, F.; Lee, R.; Hsu, J.; Emerson, G.; Al Desroches; Chen, K.-C.;
By: Marston, A.; Burroughs, G.; Wu, R.; Wiemann, A.; Wangunhardjo, J.; Saperstein, B.; Peterson, K.; Peebles, A.; Najami, F.; Lee, R.; Hsu, J.; Emerson, G.; Al Desroches; Chen, K.-C.;
2002 / IEEE
By: Turchi, P.J.; Taylor, A.J.; Adams, C.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.E.; Armijo, E.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Cameron, B.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Corrow, R.; Degnan, J.H.; Echave, J.; Froggett, B.; Gale, D.; Garcia, F.; Guzik, J.A.; Henneke, B.; Kanzleiter, R.J.; Kiuttu, G.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Parker, J.V.; Peterkin, R.E., Jr.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, D.; Sandoval, G.; Salazar, M.A.; Sommars, W.; Steckle, W.; Stokes, J.L.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Taylor, A.J.; Adams, C.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.E.; Armijo, E.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Cameron, B.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Corrow, R.; Degnan, J.H.; Echave, J.; Froggett, B.; Gale, D.; Garcia, F.; Guzik, J.A.; Henneke, B.; Kanzleiter, R.J.; Kiuttu, G.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Parker, J.V.; Peterkin, R.E., Jr.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, D.; Sandoval, G.; Salazar, M.A.; Sommars, W.; Steckle, W.; Stokes, J.L.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Alvey, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0258-1
By: Struble, J.; Spiker, S.; Peterson, K.; Miller, N.; Gutierrez, A.; Urmson, C.; Whittaker, W.;
By: Struble, J.; Spiker, S.; Peterson, K.; Miller, N.; Gutierrez, A.; Urmson, C.; Whittaker, W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Burris-Mog, T.J.; Mehlhorn, T.A.; Slutz, S.A.; Peterson, K.; Lake, P.W.; Dunham, G.; Golovkin, I.E.; Rochau, G.; Bailey, J.E.; Mancini, R.C.; Chandler, G.A.; MacFarlane, J.J.;
By: Burris-Mog, T.J.; Mehlhorn, T.A.; Slutz, S.A.; Peterson, K.; Lake, P.W.; Dunham, G.; Golovkin, I.E.; Rochau, G.; Bailey, J.E.; Mancini, R.C.; Chandler, G.A.; MacFarlane, J.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Rochau, G.A.; Bailey, J.E.; Woodruff, P.R.; Golovkin, I.E.; MacFarlane, J.J.; Peterson, K.;
By: Rochau, G.A.; Bailey, J.E.; Woodruff, P.R.; Golovkin, I.E.; MacFarlane, J.J.; Peterson, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Peterson, K.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.; Woodruff, P.R.; Rochau, G.; Golovkin, I.E.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.;
By: Peterson, K.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.; Woodruff, P.R.; Rochau, G.; Golovkin, I.E.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Rochau, G.A.; Jennings, C.A.; Sinars, D.B.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Jones, B.; Maron, Y.; Coverdale, C.A.; Peterson, K.;
By: Rochau, G.A.; Jennings, C.A.; Sinars, D.B.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Jones, B.; Maron, Y.; Coverdale, C.A.; Peterson, K.;
2008 / IEEE
By: Degertekin, F.L.; Littrell, R.; Okandan, M.; Hall, N.A.; Serkland, D.K.; Garcia, C.T.; Bicen, B.; Peterson, K.; Keeler, G.A.;
By: Degertekin, F.L.; Littrell, R.; Okandan, M.; Hall, N.A.; Serkland, D.K.; Garcia, C.T.; Bicen, B.; Peterson, K.; Keeler, G.A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3803-7
By: Gallagher, G.; Ratliff, N.; Ziebart, B.D.; Srinivasa, S.; Mertz, C.; Dey, A.K.; Hebert, M.; Bagnell, J.A.; Peterson, K.;
By: Gallagher, G.; Ratliff, N.; Ziebart, B.D.; Srinivasa, S.; Mertz, C.; Dey, A.K.; Hebert, M.; Bagnell, J.A.; Peterson, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6519-4
By: Rim, K.; Mocuta, A.; Bayat, B.; Clougherty, F.; Norfleet, A.; Walsh, B.; Dubuque, L.; Zamdmer, N.; Winslow, J.; Bazan, G.; Dezfulian, K.; Xiaojun Yu; Logan, R.; Peterson, K.;
By: Rim, K.; Mocuta, A.; Bayat, B.; Clougherty, F.; Norfleet, A.; Walsh, B.; Dubuque, L.; Zamdmer, N.; Winslow, J.; Bazan, G.; Dezfulian, K.; Xiaojun Yu; Logan, R.; Peterson, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9474-3
By: Jun He; Chen Zhao; Degang Chen; Geiger, R.; Peterson, K.; Sheng-Huang Lee;
By: Jun He; Chen Zhao; Degang Chen; Geiger, R.; Peterson, K.; Sheng-Huang Lee;