Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Parker, A.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4535-5
By: Doherty, S.; Smith, G.; Sheldon, T.; Parker, A.; Donelly, T.; Waddell, R.;
By: Doherty, S.; Smith, G.; Sheldon, T.; Parker, A.; Donelly, T.; Waddell, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5515-6
By: Parker, A.; Jayasinghe, R.P.; Annakkage, U.D.; Dirks, E.; McLaren, P.G.;
By: Parker, A.; Jayasinghe, R.P.; Annakkage, U.D.; Dirks, E.; McLaren, P.G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7173-9
By: McLaren, P.G.; Chandrasena, W.; Parker, A.; Dirks, E.; Muthumuni, D.; Jayasinghe, R.P.;
By: McLaren, P.G.; Chandrasena, W.; Parker, A.; Dirks, E.; Muthumuni, D.; Jayasinghe, R.P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9312-0
By: Cowley, W.; Batty, M.; Rathmell, J.; Harrison, J.; Parker, A.; Davis, L.M.; Burnet, C.; Lauterbach, A.P.; Howarth, J.A.; Weste, N.; Boers, M.J.; Abbott, D.; Hall, L.;
By: Cowley, W.; Batty, M.; Rathmell, J.; Harrison, J.; Parker, A.; Davis, L.M.; Burnet, C.; Lauterbach, A.P.; Howarth, J.A.; Weste, N.; Boers, M.J.; Abbott, D.; Hall, L.;
2008 / IEEE
By: Parker, A.; Rashidi, M.; Liao, C.; Khare, V.; Wang, F.; Yike Guo; Sining Wu; Helian, N.; Derek Deng;
By: Parker, A.; Rashidi, M.; Liao, C.; Khare, V.; Wang, F.; Yike Guo; Sining Wu; Helian, N.; Derek Deng;