Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Park, J.C.
Results
1990 / IEEE
By: Yu, K.M.; Lee, K.P.; Yoo, K.-H.; Schlapp, W.; Park, J.C.; Weiman, G.; Engelmann, H.-J.; Hein, G.; Bliek, L.;
By: Yu, K.M.; Lee, K.P.; Yoo, K.-H.; Schlapp, W.; Park, J.C.; Weiman, G.; Engelmann, H.-J.; Hein, G.; Bliek, L.;
1995 / IEEE
By: Lee, Y.H.; Rogalla, H.; Flokstra, J.; Adelerhof, D.J.; van Duuren, M.J.; Park, J.C.; Park, Y.K.; Kwon, H.C.; Kim, J.M.;
By: Lee, Y.H.; Rogalla, H.; Flokstra, J.; Adelerhof, D.J.; van Duuren, M.J.; Park, J.C.; Park, Y.K.; Kwon, H.C.; Kim, J.M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7480-0
By: Choi, J.L.; Park, H.J.; Song, B.S.; Nam, H.W.; Choi, H.C.; Cho, J.H.; Lee, J.T.; Kim, M.N.; Park, J.C.;
By: Choi, J.L.; Park, H.J.; Song, B.S.; Nam, H.W.; Choi, H.C.; Cho, J.H.; Lee, J.T.; Kim, M.N.; Park, J.C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Baek, I.G.; Moon, J.T.; Chung, U.-In.; Yoo, I.K.; Kim, H.S.; Seo, S.; Lee, M.S.; Park, J.C.; Suh, D.-S.; Seo, D.H.; Lee, M.J.; Park, S.O.;
By: Baek, I.G.; Moon, J.T.; Chung, U.-In.; Yoo, I.K.; Kim, H.S.; Seo, S.; Lee, M.S.; Park, J.C.; Suh, D.-S.; Seo, D.H.; Lee, M.J.; Park, S.O.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Kim, J.V.; Oh, H.J.; Kinam Kim; Park, Y.J.; Jin, G.Y.; Park, J.C.; Lee, W.S.; Lee, C.S.; Shim, M.S.; Shin, D.W.; Jin, C.; Kim, Y.I.; Jung, M.Y.; Cho, M.H.; Kim, S.B.; Lee, B.H.; Huh, M.; Park, B.J.; Kim, D.I.; Hwang, Y.S.; Park, J.M.; Kang, N.J.; Kim, H.J.; Ha, G.W.; Kim, S.E.; Kim, D.H.; Lee, Y.S.; Woo, D.S.;
By: Kim, J.V.; Oh, H.J.; Kinam Kim; Park, Y.J.; Jin, G.Y.; Park, J.C.; Lee, W.S.; Lee, C.S.; Shim, M.S.; Shin, D.W.; Jin, C.; Kim, Y.I.; Jung, M.Y.; Cho, M.H.; Kim, S.B.; Lee, B.H.; Huh, M.; Park, B.J.; Kim, D.I.; Hwang, Y.S.; Park, J.M.; Kang, N.J.; Kim, H.J.; Ha, G.W.; Kim, S.E.; Kim, D.H.; Lee, Y.S.; Woo, D.S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Baek, I.G.; Ryu, B.I.; Lee, M.J.; Kim, H.-J.; Yim, E.K.; Lee, M.S.; Lee, J.E.; Ahn, S.E.; Seo, S.; Lee, J.H.; Park, J.C.; Cha, Y.K.; Park, S.O.; Kim, H.S.; Yoo, I.K.; U-In Chung; Moon, J.T.; Kim, D.C.;
By: Baek, I.G.; Ryu, B.I.; Lee, M.J.; Kim, H.-J.; Yim, E.K.; Lee, M.S.; Lee, J.E.; Ahn, S.E.; Seo, S.; Lee, J.H.; Park, J.C.; Cha, Y.K.; Park, S.O.; Kim, H.S.; Yoo, I.K.; U-In Chung; Moon, J.T.; Kim, D.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1634-9
By: Dong-Soo Kwon; Yoon Keun Kwak; Kyung-Won Lee; Soon-Young Park; Su Hun Jo; Jeong Woo Park; Hui Sung Lee; Hye-Jin Min; Kyung Hak Hyun; Eun Ho Kim; Jong-Chan Park; Young-Min Kim; Hyoung-Rock Kim; Kyung-Sook Park; Eun-Sook Jee; Myung Jin Chung; Park, J.C.;
By: Dong-Soo Kwon; Yoon Keun Kwak; Kyung-Won Lee; Soon-Young Park; Su Hun Jo; Jeong Woo Park; Hui Sung Lee; Hye-Jin Min; Kyung Hak Hyun; Eun Ho Kim; Jong-Chan Park; Young-Min Kim; Hyoung-Rock Kim; Kyung-Sook Park; Eun-Sook Jee; Myung Jin Chung; Park, J.C.;