Author: Owen, A.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

1991 / IEEE / 0-8186-2485-X
By: Owen, A.;

2000 / IEEE / 0-7803-6293-4
By: Rimell, A.; Owen, A.;

2007 / IEEE / 1-4244-0708-7
By: Harvey, I.; Owen, A.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0634-0
By: Owen, A.; Bryden, I.G.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0634-0
By: Owen, A.; Turner, N.E.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2619-5
By: Hossain, M.; Owen, A.; Turner, N.E.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2619-5
By: Okorie, P.O.; Owen, A.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4178-5
By: Anderson, T.; McKenna, M.; Horner, D.; McKenna, J.; Clymer, A.; Doray, E.; Owen, A.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Garde, J.; Lips, J.; Stygar, W.; Mckee, R.; Owen, A.;