Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Ottinger, P.F.
Results
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Ottinger, P.F.; Grossmann, J.M.; Swanekamp, S.B.; Cooperstein, G.; Kellogg, J.C.;
By: Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Ottinger, P.F.; Grossmann, J.M.; Swanekamp, S.B.; Cooperstein, G.; Kellogg, J.C.;
2000 / IEEE
By: Cooperstein, G.; Stephanakis, S.J.; DeHope, W.J.; Droemer, D.; Hunt, E.; Fulton, D.; Oro, D.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Carlson, R.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Maenchen, J.E.; Menge, P.R.; Olson, C.L.; Oliver, B.V.; Rose, D.V.; Welch, D.R.;
By: Cooperstein, G.; Stephanakis, S.J.; DeHope, W.J.; Droemer, D.; Hunt, E.; Fulton, D.; Oro, D.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Carlson, R.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Maenchen, J.E.; Menge, P.R.; Olson, C.L.; Oliver, B.V.; Rose, D.V.; Welch, D.R.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Hinshelwood, D.D.; Cooperstein, G.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Stephanakis, S.J.; Swanekamp, S.B.; Young, F.C.; Weber, B.V.;
By: Hinshelwood, D.D.; Cooperstein, G.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Stephanakis, S.J.; Swanekamp, S.B.; Young, F.C.; Weber, B.V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Allen, R.J.; Young, F.C.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Cooperstein, G.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Fisher, R.C.;
By: Allen, R.J.; Young, F.C.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Cooperstein, G.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Fisher, R.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Jackson, S.L.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Apruzese, J.P.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Caruso, A.N.; Cardenas, E.S.; Larsen, Z.M.; Hunt, A.W.; Zier, J.C.; Young, F.C.; Weber, B.V.;
By: Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Jackson, S.L.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Apruzese, J.P.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Caruso, A.N.; Cardenas, E.S.; Larsen, Z.M.; Hunt, A.W.; Zier, J.C.; Young, F.C.; Weber, B.V.;
1988 / IEEE
By: Hinshelwood, D.D.; Davis, J.; Cooperstein, G.; Burkhalter, P.G.; Apruzese, J.P.; Stephenakis, S.J.; Mehlman, G.; Welch, B.L.; Thornhill, J.W.; Young, F.C.; Scherrer, V.E.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.;
By: Hinshelwood, D.D.; Davis, J.; Cooperstein, G.; Burkhalter, P.G.; Apruzese, J.P.; Stephenakis, S.J.; Mehlman, G.; Welch, B.L.; Thornhill, J.W.; Young, F.C.; Scherrer, V.E.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.;
1991 / IEEE
By: Kellogg, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Grossmann, J.M.; Goodrich, P.J.; Commisso, R.J.; Weber, B.V.; Ottinger, P.F.;
By: Kellogg, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Grossmann, J.M.; Goodrich, P.J.; Commisso, R.J.; Weber, B.V.; Ottinger, P.F.;
1992 / IEEE
By: Stephanakis, S.J.; Goodrich, P.J.; Ottinger, P.F.; Young, F.C.; Hinshelwood, D.D.; Rose, D.V.; Neri, J.M.; Mosher, D.;
By: Stephanakis, S.J.; Goodrich, P.J.; Ottinger, P.F.; Young, F.C.; Hinshelwood, D.D.; Rose, D.V.; Neri, J.M.; Mosher, D.;
1989 / IEEE
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Kellogg, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Grossmann, J.M.; Boller, J.R.; Commisso, R.J.;
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Kellogg, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Grossmann, J.M.; Boller, J.R.; Commisso, R.J.;
1989 / IEEE
By: Stephanakis, S.J.; Scherrer, V.C.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Watrous, J.J.; Goodrich, P.J.; Cooperstein, G.; Boller, J.R.; Neri, J.M.; Young, F.C.;
By: Stephanakis, S.J.; Scherrer, V.C.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Watrous, J.J.; Goodrich, P.J.; Cooperstein, G.; Boller, J.R.; Neri, J.M.; Young, F.C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Commisso, R.J.; Fruchtman, A.; Swanekamp, S.B.; Grossmann, J.M.; Huba, J.D.; Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.;
By: Commisso, R.J.; Fruchtman, A.; Swanekamp, S.B.; Grossmann, J.M.; Huba, J.D.; Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Greenly, J.B.; Fisher, R.C.; Hinshelwood, D.D.; Young, F.C.; Neri, J.M.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.;
By: Greenly, J.B.; Fisher, R.C.; Hinshelwood, D.D.; Young, F.C.; Neri, J.M.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.; Jones, T.G.; Hinshelwood, D.D.; Boller, J.R.; Stephanakis, S.J.; Young, F.C.; Greenly, J.B.; Neri, J.M.; Fisher, R.C.;
By: Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.; Jones, T.G.; Hinshelwood, D.D.; Boller, J.R.; Stephanakis, S.J.; Young, F.C.; Greenly, J.B.; Neri, J.M.; Fisher, R.C.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Ottinger, P.F.; Boller, J.R.; Neri, J.M.; Greenly, J.; Rose, D.V.; Hinshelwood, D.D.; Stephanakis, S.J.;
By: Ottinger, P.F.; Boller, J.R.; Neri, J.M.; Greenly, J.; Rose, D.V.; Hinshelwood, D.D.; Stephanakis, S.J.;
Electron density measurements during transport of intense, MeV proton beams through low-pressure gas
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7By: Stephanakis, S.J.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Boller, J.R.; Rose, D.V.; Hinshelwood, D.D.; Young, F.C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Grossmann, J.M.; Young, F.C.; Rose, D.V.; Boller, J.R.; Commisso, R.J.; Cooperstein, G.;
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Grossmann, J.M.; Young, F.C.; Rose, D.V.; Boller, J.R.; Commisso, R.J.; Cooperstein, G.;
1997 / IEEE
By: Babineau, M.A.; Thompson, J.R.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Goyer, J.R.; Weber, B.V.; Sincerny, P.S.; Childers, F.K.; Kortbawi, D.;
By: Babineau, M.A.; Thompson, J.R.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Goyer, J.R.; Weber, B.V.; Sincerny, P.S.; Childers, F.K.; Kortbawi, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Rose, D.V.; Oliver, B.V.; Jones, T.G.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Young, F.C.;
By: Rose, D.V.; Oliver, B.V.; Jones, T.G.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Young, F.C.;
Design and initial operation of a shallow-focusing, annular, extraction applied-magnetic-field diode
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5By: Young, F.C.; Neri, J.M.; Ottinger, P.F.; Oliver, B.V.; Jones, T.G.; Hinshelwood, D.D.; Greenly, J.G.; Fischer, R.C.; Boller, J.R.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Moschella, J.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Commisso, R.J.; Weber, B.V.;
By: Moschella, J.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Commisso, R.J.; Weber, B.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Swandkamp, S.B.; Schumer, J.W.; Weber, B.V.;
By: Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Swandkamp, S.B.; Schumer, J.W.; Weber, B.V.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Commisso, R.J.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Thompson, J.R.; Kortbawi, D.; Babineau, M.A.; Goyer, J.R.; Rauch, J.E.;
By: Commisso, R.J.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Thompson, J.R.; Kortbawi, D.; Babineau, M.A.; Goyer, J.R.; Rauch, J.E.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Kortbawi, D.; Goyer, J.R.; Rauch, J.E.; Thompson, J.R.;
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Kortbawi, D.; Goyer, J.R.; Rauch, J.E.; Thompson, J.R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Neri, J.M.; Young, F.C.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.;
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Neri, J.M.; Young, F.C.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Kellog, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Grossmann, J.M.; Goodrich, P.J.; Cooperstein, G.; Boller, J.R.; Commisso, R.J.;
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Kellog, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Grossmann, J.M.; Goodrich, P.J.; Cooperstein, G.; Boller, J.R.; Commisso, R.J.;
1989 / IEEE
By: Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Mosher, D.; Kellogg, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Grossmann, J.M.; Goodrich, P.J.; Commisso, R.J.; Boller, J.R.; Weber, B.V.;
By: Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Mosher, D.; Kellogg, J.C.; Hinshelwood, D.D.; Grossmann, J.M.; Goodrich, P.J.; Commisso, R.J.; Boller, J.R.; Weber, B.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Moschella, J.J.; Moosman, B.; Black, D.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Vidoli, C.;
By: Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Moschella, J.J.; Moosman, B.; Black, D.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Vidoli, C.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Young, F.C.; Hinshelwood, D.D.; Commisso, R.J.; Cooperstein, G.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.;
By: Young, F.C.; Hinshelwood, D.D.; Commisso, R.J.; Cooperstein, G.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Watrous, J.J.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Jones, T.G.; Riley, R.A.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Grossmann, J.M.; Commisso, R.J.;
By: Watrous, J.J.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Jones, T.G.; Riley, R.A.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Grossmann, J.M.; Commisso, R.J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.;
By: Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Young, F.C.; Ottinger, P.F.; Rose, D.V.; Stepanakis, S.J.; Neri, J.M.; Weber, B.V.; Olson, C.L.; Welch, D.R.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Myers, M.;
By: Young, F.C.; Ottinger, P.F.; Rose, D.V.; Stepanakis, S.J.; Neri, J.M.; Weber, B.V.; Olson, C.L.; Welch, D.R.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Myers, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Myers, M.C.; Neri, J.M.; Welch, D.R.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Ottinger, P.F.; Rose, D.V.;
By: Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Myers, M.C.; Neri, J.M.; Welch, D.R.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Ottinger, P.F.; Rose, D.V.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.;
By: Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Stephanakis, S.J.; Rose, D.V.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Mosher, D.; Schumer, J.W.; Commisso, R.J.;
By: Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Mosher, D.; Schumer, J.W.; Commisso, R.J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Stephanakis, S.J.; Young, F.C.; Neri, J.M.; Weber, B.V.; Hinshelwood, D.D.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.;
By: Stephanakis, S.J.; Young, F.C.; Neri, J.M.; Weber, B.V.; Hinshelwood, D.D.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Stephanakis, S.J.;
By: Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Hinshelwood, D.D.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Stephanakis, S.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Harper-Slaboszewicz, V.; Schumer, J.W.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Cooperstein, G.; Black, D.C.; Hinshelwood, D.D.;
By: Harper-Slaboszewicz, V.; Schumer, J.W.; Rose, D.V.; Ottinger, P.F.; Cooperstein, G.; Black, D.C.; Hinshelwood, D.D.;
2001 / IEEE
By: Smithe, D.N.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ludeking, L.D.;
By: Smithe, D.N.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ludeking, L.D.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Kalinin, Y.G.; Dolgachev, G.I.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Commisso, R.J.; Ushakov, A.G.; Kingsep, A.S.;
By: Kalinin, Y.G.; Dolgachev, G.I.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Commisso, R.J.; Ushakov, A.G.; Kingsep, A.S.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Young, F.C.; Boller, J.R.; Cooperstein, G.; Dehope, W.J.; Droemer, D.W.; Hunt, E.E.;
By: Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Young, F.C.; Boller, J.R.; Cooperstein, G.; Dehope, W.J.; Droemer, D.W.; Hunt, E.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Commisso, R.J.; Ushakov, A.G.; Kingsep, A.S.; Kalinin, Yu.G.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Dolgachev, G.I.; Swanekamp, S.B.;
By: Commisso, R.J.; Ushakov, A.G.; Kingsep, A.S.; Kalinin, Yu.G.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Dolgachev, G.I.; Swanekamp, S.B.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Cooperstein, G.; DeHope, W.J.; Droemer, D.W.; Hunt, E.E.; Young, F.C.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Commisso, R.J.; Boller, J.R.;
By: Cooperstein, G.; DeHope, W.J.; Droemer, D.W.; Hunt, E.E.; Young, F.C.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Commisso, R.J.; Boller, J.R.;
2002 / IEEE
By: Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Hinshelwood, D.D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Young, F.C.;
By: Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Hinshelwood, D.D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Young, F.C.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Maron, Y.; Weber, B.V.; Strasburg, S.D.; Schumer, J.W.; Arad, R.; Commisso, R.J.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.;
By: Maron, Y.; Weber, B.V.; Strasburg, S.D.; Schumer, J.W.; Arad, R.; Commisso, R.J.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Young, F.C.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Hinshelwood, D.D.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Schumer, J.W.;
By: Young, F.C.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Hinshelwood, D.D.; Ottinger, P.F.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Schumer, J.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Schumer, J.W.; Hinshelwood, D.D.; Strasburg, S.; Chorny, V.; Commisso, R.J.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.;
By: Schumer, J.W.; Hinshelwood, D.D.; Strasburg, S.; Chorny, V.; Commisso, R.J.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Stoltz, O.; Childers, K.; Phipps, D.G.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Murphy, D.P.; Schumer, J.W.; Holt, T.A.; Hinshelwoor, D.D.; Fisher, R.C.; Cooperstein, G.; Boller, J.R.; Allen, R.J.; Commisso, R.J.; Bluhm, H.J.; Hoppe, P.; Smith, I.; Nishimoto, H.; Klatt, M.; Kishi, J.; Johnson, D.L.; Drury, D.; Creely, D.; Bailey, V.;
By: Stoltz, O.; Childers, K.; Phipps, D.G.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Murphy, D.P.; Schumer, J.W.; Holt, T.A.; Hinshelwoor, D.D.; Fisher, R.C.; Cooperstein, G.; Boller, J.R.; Allen, R.J.; Commisso, R.J.; Bluhm, H.J.; Hoppe, P.; Smith, I.; Nishimoto, H.; Klatt, M.; Kishi, J.; Johnson, D.L.; Drury, D.; Creely, D.; Bailey, V.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Schumer, J.W.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Allen, R.J.; Holt, T.A.; Johnson, D.L.; Smith, I.; Hoppe, P.;
By: Schumer, J.W.; Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Allen, R.J.; Holt, T.A.; Johnson, D.L.; Smith, I.; Hoppe, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Strasburg, S.;
By: Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Mosher, D.; Hinshelwood, D.D.; Strasburg, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Young, F.C.; Mosher, D.; Schumer, J.W.; Cooperstein, G.; Swanekamp, S.B.;
By: Commisso, R.J.; Ottinger, P.F.; Young, F.C.; Mosher, D.; Schumer, J.W.; Cooperstein, G.; Swanekamp, S.B.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Malley, J.O.; Threadgold, J.; Younga, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Crotch, I.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Huhman, B.M.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.;
By: Malley, J.O.; Threadgold, J.; Younga, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Crotch, I.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Huhman, B.M.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Young, F.C.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Cooperstein, G.; Huhman, B.M.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.;
By: Young, F.C.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Cooperstein, G.; Huhman, B.M.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Hinshelwood, D.D.; Pointon, T.D.; Swanekamp, S.B.; Strasburg, S.D.; Kiefer, M.L.; Seidel, D.B.;
By: Weber, B.V.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Hinshelwood, D.D.; Pointon, T.D.; Swanekamp, S.B.; Strasburg, S.D.; Kiefer, M.L.; Seidel, D.B.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Berry, C.L.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Smith, I.; Johnson, D.L.; Young, F.C.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Schumer, J.W.; Phipps, D.G.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Murphy, D.P.; Miller, A.T.; Holt, T.A.; Hinshelwood, D.D.; Fisher, R.C.; Cooperstein, G.;
By: Berry, C.L.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Smith, I.; Johnson, D.L.; Young, F.C.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Schumer, J.W.; Phipps, D.G.; Ottinger, P.F.; Neri, J.M.; Murphy, D.P.; Miller, A.T.; Holt, T.A.; Hinshelwood, D.D.; Fisher, R.C.; Cooperstein, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Stephanakis, S.J.; Young, F.C.; Cooperstein, G.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.;
By: Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Stephanakis, S.J.; Young, F.C.; Cooperstein, G.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Schumer, J.W.; Stephanakis, S.J.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Ponce, D.M.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.; Threadgold, J.; O'Malley, J.; Crotch, I.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.;
By: Schumer, J.W.; Stephanakis, S.J.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Ponce, D.M.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.; Threadgold, J.; O'Malley, J.; Crotch, I.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Strasburg, S.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Harper-Slaboszewicz, V.; Pointon, T.D.; Weber, B.V.;
By: Strasburg, S.; Ottinger, P.F.; Swanekamp, S.B.; Harper-Slaboszewicz, V.; Pointon, T.D.; Weber, B.V.;
2007 / IEEE
By: Allen, R.J.; Commisso, R.J.; Threadgold, J.R.; O'Malley, J.; Crotch, I.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Hinshelwood, D.D.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Huhman, B.M.; Cooperstein, G.;
By: Allen, R.J.; Commisso, R.J.; Threadgold, J.R.; O'Malley, J.; Crotch, I.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Hinshelwood, D.D.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Huhman, B.M.; Cooperstein, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Murphy, D.P.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Comrmsso, R.J.; Allen, R.; Weber, B.V.; Garden, T.; Swatton, D.; Sinclair, M.; Jones, A.; Clough, S.; Biddle, L.; Threadgold, J.; Pope, S.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Schumer, J.W.; Phipps, D.G.;
By: Murphy, D.P.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Comrmsso, R.J.; Allen, R.; Weber, B.V.; Garden, T.; Swatton, D.; Sinclair, M.; Jones, A.; Clough, S.; Biddle, L.; Threadgold, J.; Pope, S.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.; Schumer, J.W.; Phipps, D.G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Mosher, D.; Jackson, S.L.; Murphy, D.P.; Huhman, B.M.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.; Oliver, B.V.; Threadgold, J.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.;
By: Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Mosher, D.; Jackson, S.L.; Murphy, D.P.; Huhman, B.M.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Hinshelwood, D.; Oliver, B.V.; Threadgold, J.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Pointon, T.D.; Seidel, D.B.; Kiefer, M.L.;
By: Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Mosher, D.; Pointon, T.D.; Seidel, D.B.; Kiefer, M.L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Hinshelwood, D.D.; Blackburn, B.W.; Commisso, R.J.; Schumer, J.W.; Valles, N.O.; Johnson, J.; Jones, J.L.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Phipps, D.G.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.;
By: Hinshelwood, D.D.; Blackburn, B.W.; Commisso, R.J.; Schumer, J.W.; Valles, N.O.; Johnson, J.; Jones, J.L.; Mosher, D.; Cooperstein, G.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Phipps, D.G.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.;
2008 / IEEE
By: Phipps, D.G.; Schumer, J.W.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Weber, B.V.; Oliver, B.V.; Carden, T.; Swatton, D.; Sinclair, M.A.; Jones, A.; Clough, S.G.; Biddle, L.A.; Threadgold, J.R.; Pope, S.C.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.;
By: Phipps, D.G.; Schumer, J.W.; Murphy, D.P.; Mosher, D.; Ottinger, P.F.; Hinshelwood, D.D.; Cooperstein, G.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Weber, B.V.; Oliver, B.V.; Carden, T.; Swatton, D.; Sinclair, M.A.; Jones, A.; Clough, S.G.; Biddle, L.A.; Threadgold, J.R.; Pope, S.C.; Swanekamp, S.B.; Stephanakis, S.J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Jackson, S.L.; Hinshelwood, D.; Seidel, D.B.; Swanekamp, S.B.; Kiefer, M.L.; Pointon, T.D.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.;
By: Ottinger, P.F.; Mosher, D.; Jackson, S.L.; Hinshelwood, D.; Seidel, D.B.; Swanekamp, S.B.; Kiefer, M.L.; Pointon, T.D.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: Hinshelwood, David; Allen, R.J.; Oliver, B. V.; Threadgold, J.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Commisso, R.J.; Cooperstein, G.; Huhman, B.M.; Jackson, S. L.; Mosher, D.;
By: Hinshelwood, David; Allen, R.J.; Oliver, B. V.; Threadgold, J.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Swanekamp, S.B.; Schumer, J.W.; Ottinger, P.F.; Murphy, D.P.; Commisso, R.J.; Cooperstein, G.; Huhman, B.M.; Jackson, S. L.; Mosher, D.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap