Author: Olson, R.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-1563-1
By: ten Bruggencate, M.; Vishnu, A.; Olson, R.;

2014 / IEEE
By: Losee, P.; Bolotnikov, A.; Stevanovic, L.; Stolkarts, V.; Zhu, X.; Olson, R.; Sandvik, P.; Hartig, M.; Gowda, A.; Esler, D.; Yu, L.; Beaupre, R.; Stum, Z.; Kennerly, S.; Dunne, G.; Sui, Y.; Kretchmer, J.; Johnson, A.; Arthur, S.; Saia, R.; McMahon, J.; Lilienfeld, D.;

1989 / IEEE
By: Olson, R.;

1992 / IEEE / 0-8186-2697-6
By: Olson, R.;

1995 / IEEE
By: Papka, M.E.; Olson, R.; Nickless, W.; Henderson, M.W.; Evard, R.; Disz, T.L.; Stevens, R.;

1993 / IEEE / 0-7803-1424-7
By: Yira, J.; Olson, R.;

1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Smith, M.L.; Alberts, T.; Olson, R.; Derzon, M.; Hebron, D.;

1997 / IEEE / 0-8186-7959-X
By: Disz, T.; Olson, R.; Stevens, R.;

1997 / IEEE / 0-8186-8117-9
By: Disz, T.; Stevens, R.; Olson, R.; Judson, I.;

1998 / IEEE
By: Diola, T.; Olson, R.; Arnett, P.; Cheng, D.; Fitzpatrick, J.; Wilson, B.; Taratorin, A.; Wang, S.X.;

1999 / IEEE
By: Wang, R.; Moore, J.; Williams, M.; Hsiao, R.; Payne, R.; Olson, R.; Arnett, P.; Marinero, E.; Santini, H.; Pinarbasi, M.; Tsang, C.; Fontana, R.; Lin, T.; Gurney, B.;

1999 / IEEE
By: Klaassen, K.; Cheng, D.; Hsiao, W.; Lee, E.; Werner, D.; Yuan, S.; van Peppen, J.; Olson, R.; Arnett, P.;

1975 / IEEE
By: Olson, R.; Bletzinger, P.; Garscadden, A.; Sarka, B.; Grosjean, D.;

1976 / IEEE
By: Bletzinger, P.; Olson, R.; Garscadden, A.;

1966 / IEEE
By: Olson, R.; Rounds, D.; Johnson, F.;

1972 / IEEE
By: McDonald, V.; Keller, G.; Richards, A.; Olson, R.;

2005 / IEEE / 0-7803-9043-1
By: Stevens, R.; Overbeek, R.; Olson, R.; Kubal, M.; Disz, T.;

2006 / IEEE / 1-4244-0257-3
By: Malicky, D.; Olson, R.;

2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Olson, R.; Terraciano, M. L.; Rice, P. R.; Clemens, J. P.; Orozco, L. A.; Jing, J.; Norris, D.;

2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Olson, R.; Terraciano, M.L.; Rice, P.R.; Orozco, L.A.; Freimund, D.;