Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Olafsen, L.J.
Results
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Murry, S.J.; Pei, S.S.; Zhang, D.; Lin, C.-H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Murry, S.J.; Pei, S.S.; Zhang, D.; Lin, C.-H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
1999 / IEEE
By: Vurgaftman, I.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Stokes, D.W.; Meyer, J.R.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
By: Vurgaftman, I.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Stokes, D.W.; Meyer, J.R.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
1999 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Lee, H.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Stokes, D.W.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Lee, H.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Stokes, D.W.; Felix, C.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
By: Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
High-temperature continuous-wave operation of optically-pumped type-II W lasers from 3-6.3 /spl mu/m
1999 / IEEE / 1-55752-595-1By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Shanabrook, B.V.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Connolly, J.C.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5451-6
By: Wong, G.K.L.; Hoffman, C.A.; DiVenere, A.; Yunki Kim; Sunglae Cho; Freeman, A.J.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Olafsen, L.J.; Ketterson, J.B.;
By: Wong, G.K.L.; Hoffman, C.A.; DiVenere, A.; Yunki Kim; Sunglae Cho; Freeman, A.J.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Olafsen, L.J.; Ketterson, J.B.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;