Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Okoshi, T.
Results
1971 / IEEE
By: Eisenhart, R.L.; Hashiguchi, S.; Kalikstein, K.; Khan, P.J.; Kleinman, C.J.; Okoshi, T.; Snyder, A.W.; Wenzel, R.J.; Weidmann, G.; Thaler, H.-J.; Ulrich, G.;
By: Eisenhart, R.L.; Hashiguchi, S.; Kalikstein, K.; Khan, P.J.; Kleinman, C.J.; Okoshi, T.; Snyder, A.W.; Wenzel, R.J.; Weidmann, G.; Thaler, H.-J.; Ulrich, G.;
1972 / IEEE
By: Atia, A.E.; Ince, W.J.; Kretzschmar, J.G.; Miyoshi, T.; Okoshi, T.; Royer, E.G.; Takayama, Y.; Willwerth, F.G.; Williams, A.E.; Tsandoulas, G.N.;
By: Atia, A.E.; Ince, W.J.; Kretzschmar, J.G.; Miyoshi, T.; Okoshi, T.; Royer, E.G.; Takayama, Y.; Willwerth, F.G.; Williams, A.E.; Tsandoulas, G.N.;
1974 / IEEE
By: Itoh, T.; Kanda, M.; Kawasaki, K.; Peter Linner, L.J.; May, W.G.; Okamoto, K.; Umeno, M.; Takagi, H.; Okoshi, T.;
By: Itoh, T.; Kanda, M.; Kawasaki, K.; Peter Linner, L.J.; May, W.G.; Okamoto, K.; Umeno, M.; Takagi, H.; Okoshi, T.;
1975 / IEEE
By: Dickens, L.E.; Egami, S.; Helszajn, J.; Kitazawa, S.; Maki, D.W.; Okoshi, T.; Tan, F.C.; Snell, W.W.; Schneider, M.V., Jr.;
By: Dickens, L.E.; Egami, S.; Helszajn, J.; Kitazawa, S.; Maki, D.W.; Okoshi, T.; Tan, F.C.; Snell, W.W.; Schneider, M.V., Jr.;
1976 / IEEE
By: Kun-Mu Chen; de Santis, P.; Weiner, D.D.; Sweet, A.A.; Guru, B.S.; Hashimoto, M.; Hines, M.E.; Kumagai, N.; Naditch, G.H.; Okamoto, K.; Okoshi, T.; Posner, R.S.; Sawa, S.;
By: Kun-Mu Chen; de Santis, P.; Weiner, D.D.; Sweet, A.A.; Guru, B.S.; Hashimoto, M.; Hines, M.E.; Kumagai, N.; Naditch, G.H.; Okamoto, K.; Okoshi, T.; Posner, R.S.; Sawa, S.;
1977 / IEEE
By: Cornick, J.A.F.; Davidson, E.G.S.; Yip, G.L.; Tsutsumi, M.; Emtage, P.R.; Gardiol, F.E.; Helszajn, J.; Joshi, J.S.; Kumagai, N.; Le-Ngoc, S.; Murray, R.W.; Nagao, T.; Nemoto, S.; Okamoto, K.; Okoshi, T.; Parriaux, O.; Pospieszalski, M.W.; Sakaguchi, Y.; Stitzer, S.N.; Suttie, R.A.;
By: Cornick, J.A.F.; Davidson, E.G.S.; Yip, G.L.; Tsutsumi, M.; Emtage, P.R.; Gardiol, F.E.; Helszajn, J.; Joshi, J.S.; Kumagai, N.; Le-Ngoc, S.; Murray, R.W.; Nagao, T.; Nemoto, S.; Okamoto, K.; Okoshi, T.; Parriaux, O.; Pospieszalski, M.W.; Sakaguchi, Y.; Stitzer, S.N.; Suttie, R.A.;
1977 / IEEE
By: Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Caldwell, L.R.; Saito, M.; Gopinath, A.; Gupta, C.; Guy, A.W.; Hagmann, M.J.; Haine, J.L.; Hoefer, W.J.R.; Kato, F.; Ku, W.H.; Lin, J.C.; Mokari-Bolhassan, M.E.; Okoshi, T.; Rehnmark, S.; Rhodes, J.D.;
By: Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Caldwell, L.R.; Saito, M.; Gopinath, A.; Gupta, C.; Guy, A.W.; Hagmann, M.J.; Haine, J.L.; Hoefer, W.J.R.; Kato, F.; Ku, W.H.; Lin, J.C.; Mokari-Bolhassan, M.E.; Okoshi, T.; Rehnmark, S.; Rhodes, J.D.;
1980 / IEEE
By: Aitchison, C.S.; Chun Hsuing Chen; Yoshikawa, S.; Wong, A.; Kwo Ray Chu; Drobot, A.T.; Enegren, T.A.; Gilgenbach, R.M.; Goben, C.A.; Granatstein, V.L.; Gupta, S.S.; Hagstrom, C.E.; Huruya, J.; Ishihara, O.; Kharadly, M.M.Z.; Kisliuk, M.; Kollberg, E.L.; Kunieda, H.; Lai, B.C.H.; Chuen-Der Lien; Yuen Tze Lo, Jr.; Lucey, R.F.; Mori, T.; Nakatani, M.; Navarro, M.S.; Nordgard, J.D.; Okoshi, T.; Oyamada, K.; Read, M.E.; Rozzi, T.E.; Sato, R.; Sawano, H.; Smith, G.S.; Srivastava, N.C.; Jim Temmyo;
By: Aitchison, C.S.; Chun Hsuing Chen; Yoshikawa, S.; Wong, A.; Kwo Ray Chu; Drobot, A.T.; Enegren, T.A.; Gilgenbach, R.M.; Goben, C.A.; Granatstein, V.L.; Gupta, S.S.; Hagstrom, C.E.; Huruya, J.; Ishihara, O.; Kharadly, M.M.Z.; Kisliuk, M.; Kollberg, E.L.; Kunieda, H.; Lai, B.C.H.; Chuen-Der Lien; Yuen Tze Lo, Jr.; Lucey, R.F.; Mori, T.; Nakatani, M.; Navarro, M.S.; Nordgard, J.D.; Okoshi, T.; Oyamada, K.; Read, M.E.; Rozzi, T.E.; Sato, R.; Sawano, H.; Smith, G.S.; Srivastava, N.C.; Jim Temmyo;
1980 / IEEE
By: Abouzabra, M.W.; Botten, L.C.; Willing, H.A.; Weinreb, S.; Brown, P.V.K.; Deleuil, R.; Delogne, P.P.; D'Inzeo, G.; Fukui, K.; Giannini, F.; Haddad, G.I.; Kobayashi, Y.; Laloux, A.A.; Larsen, L.E.; Lewin, L.; Lewis, J.E.; Mains, R.K.; Maystre, D.; Mc Phedran, R.C.; Nogi, S.; Okoshi, T.; Oyamada, K.; Rauscher, C.; Rengarajan, S.R.; Saleh, A.A.M.; Sorrentino, R.; Tanaka, S.;
By: Abouzabra, M.W.; Botten, L.C.; Willing, H.A.; Weinreb, S.; Brown, P.V.K.; Deleuil, R.; Delogne, P.P.; D'Inzeo, G.; Fukui, K.; Giannini, F.; Haddad, G.I.; Kobayashi, Y.; Laloux, A.A.; Larsen, L.E.; Lewin, L.; Lewis, J.E.; Mains, R.K.; Maystre, D.; Mc Phedran, R.C.; Nogi, S.; Okoshi, T.; Oyamada, K.; Rauscher, C.; Rengarajan, S.R.; Saleh, A.A.M.; Sorrentino, R.; Tanaka, S.;
1981 / IEEE
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap