Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Oka, T.
Results
2012 / IEEE
By: Yabuno, R.; Fukui, S.; Kawasaki, N.; Oka, T.; Ogawa, J.; Itoh, Y.; Terasawa, T.; Sato, T.;
By: Yabuno, R.; Fukui, S.; Kawasaki, N.; Oka, T.; Ogawa, J.; Itoh, Y.; Terasawa, T.; Sato, T.;
2012 / IEEE / 978-89-5519-163-9
By: Hatamoto, H.; Kikuchi, N.; Kobayashi, K.; Kitazawa, S.; Shimizu, S.; Nakamoto, N.; Ban, H.; Oka, T.; Hara, M.;
By: Hatamoto, H.; Kikuchi, N.; Kobayashi, K.; Kitazawa, S.; Shimizu, S.; Nakamoto, N.; Ban, H.; Oka, T.; Hara, M.;
2015 / IEEE
By: Fukui, S.; Ogawa, J.; Shimoda, T.; Ota, H.; Sato, T.; Langer, M.; Murakami, A.; Yokoyama, K.; Oka, T.;
By: Fukui, S.; Ogawa, J.; Shimoda, T.; Ota, H.; Sato, T.; Langer, M.; Murakami, A.; Yokoyama, K.; Oka, T.;
1996 / IEEE
By: Honma, T.; Waki, H.; Tsuchimoto, M.; Mizutani, U.; Itoh, Y.; Yamada, Y.; Oka, T.; Yoshikawa, M.; Yanagi, Y.;
By: Honma, T.; Waki, H.; Tsuchimoto, M.; Mizutani, U.; Itoh, Y.; Yamada, Y.; Oka, T.; Yoshikawa, M.; Yanagi, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2
By: Mozume, T.; Ouchi, K.; Hosomi, K.; Pierce, M.W.; Masuda, H.; Oka, T.; Tanoue, T.; Terano, A.;
By: Mozume, T.; Ouchi, K.; Hosomi, K.; Pierce, M.W.; Masuda, H.; Oka, T.; Tanoue, T.; Terano, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2781-0
By: Takashima, K.; Nakajima, H.; Shikai, M.; Oka, T.; Schmid, E.; Usami, T.;
By: Takashima, K.; Nakajima, H.; Shikai, M.; Oka, T.; Schmid, E.; Usami, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Koyama, H.; Oka, T.; Ushijima, T.; Nishino, N.; Taki, S.; Xinyu Chang;
By: Koyama, H.; Oka, T.; Ushijima, T.; Nishino, N.; Taki, S.; Xinyu Chang;
1997 / IEEE / 0-7803-4083-3
By: Masuda, H.; Tanoue, T.; Matsubara, H.; Oka, T.; Ouchi, K.; Watanabe, K.; Suzuki, H.; Terano, A.;
By: Masuda, H.; Tanoue, T.; Matsubara, H.; Oka, T.; Ouchi, K.; Watanabe, K.; Suzuki, H.; Terano, A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Mochizuki, K.; Uchiyama, H.; Ouchi, L.K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.;
By: Mochizuki, K.; Uchiyama, H.; Ouchi, L.K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Ouchi, K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.; Uchiyama, H.;
By: Ouchi, K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.; Uchiyama, H.;
2001 / IEEE
By: Itoh, Y.; Ishihara, H.; Yanagi, Y.; Yoshikawa, M.; Oka, T.; Hosokawa, T.; Ikuta, H.; Mizutani, U.;
By: Itoh, Y.; Ishihara, H.; Yanagi, Y.; Yoshikawa, M.; Oka, T.; Hosokawa, T.; Ikuta, H.; Mizutani, U.;
2000 / IEEE / 0-7803-6462-7
By: Nishihashi, T.; Yokoo, H.; Hisamune, T.; Shimizu, T.; Fukui, R.; Suzuki, H.; Sakurada, Y.; Niikura, K.; Fuwa, K.; Oka, T.; Kashimoto, K.; Fujiyama, J.; Kageyama, K.;
By: Nishihashi, T.; Yokoo, H.; Hisamune, T.; Shimizu, T.; Fukui, R.; Suzuki, H.; Sakurada, Y.; Niikura, K.; Fuwa, K.; Oka, T.; Kashimoto, K.; Fujiyama, J.; Kageyama, K.;
2001 / IEEE
By: Ouchi, K.; Suzuki, H.; Hirata, K.; Oka, T.; Uchiyama, H.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.;
By: Ouchi, K.; Suzuki, H.; Hirata, K.; Oka, T.; Uchiyama, H.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7250-6
By: Ueda, K.; Yoshimura, T.; Ishiwaki, M.; Azekawa, Y.; Chiba, O.; Kondoh, H.; Oka, T.; Wada, Y.; Takasoh, J.;
By: Ueda, K.; Yoshimura, T.; Ishiwaki, M.; Azekawa, Y.; Chiba, O.; Kondoh, H.; Oka, T.; Wada, Y.; Takasoh, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7398-7
By: Oka, T.; Klein, E.; Hayes, G.; Fraser, M.; Reeve, R.; Chapman, T.; Bos, J.; Theobalt, C.; Espinosa-Romero, A.;
By: Oka, T.; Klein, E.; Hayes, G.; Fraser, M.; Reeve, R.; Chapman, T.; Bos, J.; Theobalt, C.; Espinosa-Romero, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7525-4
By: Nagata, Y.; Nishizawa, H.; Ohta, H.; Koyama, S.; Akagi, Y.; Oka, T.;
By: Nagata, Y.; Nishizawa, H.; Ohta, H.; Koyama, S.; Akagi, Y.; Oka, T.;
2003 / IEEE
By: Noto, K.; Katagiri, K.; Okada, H.; Mizutani, U.; Oka, T.; Itoh, Y.; Yokoyama, K.; Ikuta, H.;
By: Noto, K.; Katagiri, K.; Okada, H.; Mizutani, U.; Oka, T.; Itoh, Y.; Yokoyama, K.; Ikuta, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7695-1
By: Kawamura, H.; Sakuno, K.; Yamashita, M.; Oka, T.; Liu, Y.; Takahashi, N.; Hasegawa, M.; Fujita, K.; Sato, H.; Kijima, H.; Shirakawa, K.; Kagoshima, K.; Koh, H.;
By: Kawamura, H.; Sakuno, K.; Yamashita, M.; Oka, T.; Liu, Y.; Takahashi, N.; Hasegawa, M.; Fujita, K.; Sato, H.; Kijima, H.; Shirakawa, K.; Kagoshima, K.; Koh, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7820-2
By: Fujita, K.; Oka, T.; Sakuno, K.; Kijima, H.; Kagoshima, K.; Takahashi, N.; Shirakawa, K.; Hasegawa, M.; Kawamura, H.; Yamashita, M.; Liu, Y.; Koh, H.;
By: Fujita, K.; Oka, T.; Sakuno, K.; Kijima, H.; Kagoshima, K.; Takahashi, N.; Shirakawa, K.; Hasegawa, M.; Kawamura, H.; Yamashita, M.; Liu, Y.; Koh, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-8614-0
By: Hasegawa, M.; Kawamura, H.; Yamashita, M.; Liu, Y.; Takahashi, N.; Shirakawa, K.; Koh, H.; Oka, T.; Sakuno, K.; Fujita, K.; Kijima, H.; Kagoshima, K.;
By: Hasegawa, M.; Kawamura, H.; Yamashita, M.; Liu, Y.; Takahashi, N.; Shirakawa, K.; Koh, H.; Oka, T.; Sakuno, K.; Fujita, K.; Kijima, H.; Kagoshima, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8845-3
By: Sakuno, K.; Kawamura, H.; Hirata, M.; Yamashita, M.; Fujita, K.; Hasegawa, M.; Oka, T.;
By: Sakuno, K.; Kawamura, H.; Hirata, M.; Yamashita, M.; Fujita, K.; Hasegawa, M.; Oka, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0126-7
By: Oka, T.; Sakuno, K.; Kawamura, H.; Ishimaru, Y.; Amano, Y.; Hirata, M.; Hasegawa, M.;
By: Oka, T.; Sakuno, K.; Kawamura, H.; Ishimaru, Y.; Amano, Y.; Hirata, M.; Hasegawa, M.;
2002 / IEEE
By: Koh, H.; Sakuno, K.; Sato, H.; Matsumoto, N.; Yamashita, M.; Fujita, K.; Oka, T.; Liu, Y.; Takahashi, N.; Shirakawa, K.; Kagoshima, K.; Hasegawa, M.; Amano, Y.; Kawamura, H.;
By: Koh, H.; Sakuno, K.; Sato, H.; Matsumoto, N.; Yamashita, M.; Fujita, K.; Oka, T.; Liu, Y.; Takahashi, N.; Shirakawa, K.; Kagoshima, K.; Hasegawa, M.; Amano, Y.; Kawamura, H.;
Exact Convergence Analysis of Adaptive Filter Algorithms Without the Persistently Exciting Condition
2007 / IEEEBy: Sakai, H.; Oka, T.; Jun-Mei Yang;
2007 / IEEE
By: Fukui, S.; Ogawa, J.; Tomita, M.; Sato, R.; Takada, M.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Oka, T.;
By: Fukui, S.; Ogawa, J.; Tomita, M.; Sato, R.; Takada, M.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Oka, T.;
2007 / IEEE
By: Sakuno, K.; Kawamura, H.; Ishimaru, Y.; Amano, Y.; Hirata, M.; Hasegawa, M.; Oka, T.;
By: Sakuno, K.; Kawamura, H.; Ishimaru, Y.; Amano, Y.; Hirata, M.; Hasegawa, M.; Oka, T.;
2008 / IEEE
By: Tsukamoto, O.; Takao, T.; Furuse, M.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Fukui, S.; Ogawa, J.; Nishijyo, T.; Ohsugi, K.; Oka, T.;
By: Tsukamoto, O.; Takao, T.; Furuse, M.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Fukui, S.; Ogawa, J.; Nishijyo, T.; Ohsugi, K.; Oka, T.;
2008 / IEEE
By: Sato, S.; Oka, T.; Fukui, S.; Ogawa, J.; Yamaguchi, M.; Shinkai, K.; Kume, S.; Sato, T.;
By: Sato, S.; Oka, T.; Fukui, S.; Ogawa, J.; Yamaguchi, M.; Shinkai, K.; Kume, S.; Sato, T.;
2010 / IEEE
By: Saito, K.; Kazama, K.; Fukui, S.; Miyazaki, S.; Sekiya, S.; Sorimachi, S.; Sato, T.; Oka, T.; Ogawa, J.;
By: Saito, K.; Kazama, K.; Fukui, S.; Miyazaki, S.; Sekiya, S.; Sorimachi, S.; Sato, T.; Oka, T.; Ogawa, J.;