Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ohba, A.
Results
1989 / IEEE
By: Nishimura, T.; Satoh, H.; Kuramitsu, Y.; Sakaue, K.; Hine, S.; Ohba, A.; Tatsuki, M.;
By: Nishimura, T.; Satoh, H.; Kuramitsu, Y.; Sakaue, K.; Hine, S.; Ohba, A.; Tatsuki, M.;
1991 / IEEE
By: Hatanaka, M.; Ohbayashi, S.; Ohba, A.; Kayano, S.; Nagao, S.; Shiomi, T.; Ishigaki, Y.; Honda, H.; Anami, K.; Takano, S.;
By: Hatanaka, M.; Ohbayashi, S.; Ohba, A.; Kayano, S.; Nagao, S.; Shiomi, T.; Ishigaki, Y.; Honda, H.; Anami, K.; Takano, S.;
1992 / IEEE / 0-7803-0701-1
By: Kohno, Y.; Honda, K.; Hosogane, A.; Hirose, T.; Sato, H.; Ohba, A.; Anami, K.;
By: Kohno, Y.; Honda, K.; Hosogane, A.; Hirose, T.; Sato, H.; Ohba, A.; Anami, K.;
1993 / IEEE
By: Hine, S.; Ishigaki, Y.; Honda, H.; Ohba, A.; Ohbayashi, S.; Anami, K.; Shiomi, T.; Sumi, T.; Wada, T.; Suzuki, K.;
By: Hine, S.; Ishigaki, Y.; Honda, H.; Ohba, A.; Ohbayashi, S.; Anami, K.; Shiomi, T.; Sumi, T.; Wada, T.; Suzuki, K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Tanaka, T.; Miwa, H.; Miyazawa, K.; Hori, R.; Tsuchiya, O.; Nakamura, Y.; Oshima, K.; Furukawa, T.; Kouro, Y.; Ohba, A.; Ishii, T.; Ikeda, Y.;
By: Tanaka, T.; Miwa, H.; Miyazawa, K.; Hori, R.; Tsuchiya, O.; Nakamura, Y.; Oshima, K.; Furukawa, T.; Kouro, Y.; Ohba, A.; Ishii, T.; Ikeda, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2495-1
By: Kunori, Y.; Yuzuriha, K.; Terada, Y.; Ohba, A.; Ajika, N.; Hosogane, A.; Futatsuya, T.; Ishii, M.; Miyawaki, Y.; Mihara, M.; Kobayashi, S.; Kiguchi, Y.; Taniguchi, Y.; Matsuo, A.; Uji, Y.; Yoshihara, T.; Miyoshi, H.; Hatanaka, M.;
By: Kunori, Y.; Yuzuriha, K.; Terada, Y.; Ohba, A.; Ajika, N.; Hosogane, A.; Futatsuya, T.; Ishii, M.; Miyawaki, Y.; Mihara, M.; Kobayashi, S.; Kiguchi, Y.; Taniguchi, Y.; Matsuo, A.; Uji, Y.; Yoshihara, T.; Miyoshi, H.; Hatanaka, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2495-1
By: Nozoe, A.; Yamazaki, T.; Nakajima, M.; Fukumoto, A.; Sakamoto, O.; Kouro, Y.; Ohba, A.; Shukuri, S.; Nishimoto, T.; Hori, R.; Kume, H.; Kimura, K.; Kato, M.; Kawahara, T.; Tanaka, T.; Manita, K.; Kubono, S.; Kotani, H.; Sato, H.;
By: Nozoe, A.; Yamazaki, T.; Nakajima, M.; Fukumoto, A.; Sakamoto, O.; Kouro, Y.; Ohba, A.; Shukuri, S.; Nishimoto, T.; Hori, R.; Kume, H.; Kimura, K.; Kato, M.; Kawahara, T.; Tanaka, T.; Manita, K.; Kubono, S.; Kotani, H.; Sato, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3734-4
By: Kageyama, M.; Ohba, A.; Matsushita, T.; Suzuki, T.; Tanabe, H.; Kinoshita, T.; Kumagai, Y.; Yoshigi, H.;
By: Kageyama, M.; Ohba, A.; Matsushita, T.; Suzuki, T.; Tanabe, H.; Kinoshita, T.; Kumagai, Y.; Yoshigi, H.;
1997 / IEEE
By: Kageyama, M.; Kinoshita, T.; Yoshigi, H.; Kumagai, Y.; Tanabe, H.; Suzuki, T.; Matsushita, T.; Ohba, A.;
By: Kageyama, M.; Kinoshita, T.; Yoshigi, H.; Kumagai, Y.; Tanabe, H.; Suzuki, T.; Matsushita, T.; Ohba, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Yutaka, T.; Okada, T.; Furuhashi, M.; Yamamoto, Y.; Ohba, A.; Tanaka, M.; Oka, M.; Okamoto, S.; Magoshi, H.; Hiroi, T.; Suzuoki, M.; Kutaragi, K.; Aono, A.; Ohtaguro, Y.; Murakami, H.; Ide, N.; Hashimoto, K.; Goto, H.; Kunimatsu, A.; Funyu, M.; Urakawa, Y.; Nagamatsu, M.;
By: Yutaka, T.; Okada, T.; Furuhashi, M.; Yamamoto, Y.; Ohba, A.; Tanaka, M.; Oka, M.; Okamoto, S.; Magoshi, H.; Hiroi, T.; Suzuoki, M.; Kutaragi, K.; Aono, A.; Ohtaguro, Y.; Murakami, H.; Ide, N.; Hashimoto, K.; Goto, H.; Kunimatsu, A.; Funyu, M.; Urakawa, Y.; Nagamatsu, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Oka, M.; Ohba, A.; Kobayashi, T.; Fujimoto, Y.; Yoshioka, S.; Yoshida, T.; Hiroi, T.; Sakamoto, T.; Teruyama, T.; Tago, H.; Landman, H.A.; Malik, K.; Agarwal, R.; Raam, F.M.; Yamamoto, Y.; Yutaka, T.; Suzuoki, M.;
By: Oka, M.; Ohba, A.; Kobayashi, T.; Fujimoto, Y.; Yoshioka, S.; Yoshida, T.; Hiroi, T.; Sakamoto, T.; Teruyama, T.; Tago, H.; Landman, H.A.; Malik, K.; Agarwal, R.; Raam, F.M.; Yamamoto, Y.; Yutaka, T.; Suzuoki, M.;
1999 / IEEE
By: Suzuoki, M.; Aono, A.; Hiroi, T.; Magoshi, H.; Okamoto, S.; Oka, M.; Ohba, A.; Yamamoto, Y.; Furuhashi, M.; Tanaka, M.; Yutaka, T.; Okada, T.; Nagamatsu, M.; Urakawa, Y.; Funyu, M.; Kunimatsu, A.; Goto, H.; Hashimoto, K.; Ide, N.; Murakami, H.; Ohtaguro, Y.; Kutaragi, K.;
By: Suzuoki, M.; Aono, A.; Hiroi, T.; Magoshi, H.; Okamoto, S.; Oka, M.; Ohba, A.; Yamamoto, Y.; Furuhashi, M.; Tanaka, M.; Yutaka, T.; Okada, T.; Nagamatsu, M.; Urakawa, Y.; Funyu, M.; Kunimatsu, A.; Goto, H.; Hashimoto, K.; Ide, N.; Murakami, H.; Ohtaguro, Y.; Kutaragi, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Kai, Y.; Shimizu, S.; Ohnakado, T.; Sugihara, I.; Bez, R.; Grossi, A.; Modelli, A.; Khouri, P.O.; Torelli, G.; Campardo, G.; Micheloni, R.; Commodaro, S.; Yero, E.; Zammabio, M.; Mognoni, S.; Sacco, A.; Picca, M.; Manstleita, A.; Scotti, M.; Motta, I.; Golla, C.; Pierin, A.; Ohba, A.; Fulatsuya, T.; Makabe, R.; Kawai, S.;
By: Kai, Y.; Shimizu, S.; Ohnakado, T.; Sugihara, I.; Bez, R.; Grossi, A.; Modelli, A.; Khouri, P.O.; Torelli, G.; Campardo, G.; Micheloni, R.; Commodaro, S.; Yero, E.; Zammabio, M.; Mognoni, S.; Sacco, A.; Picca, M.; Manstleita, A.; Scotti, M.; Motta, I.; Golla, C.; Pierin, A.; Ohba, A.; Fulatsuya, T.; Makabe, R.; Kawai, S.;
2000 / IEEE
By: Kamei, T.; Hirano, M.; Murakami, H.; Endo, Y.; Sato, T.; Ide, N.; Kunimatsu, A.; Suzuoki, M.; Okada, T.; Yutaka, T.; Ohba, A.; Oka, M.; Tago, H.; Ishihara, F.;
By: Kamei, T.; Hirano, M.; Murakami, H.; Endo, Y.; Sato, T.; Ide, N.; Kunimatsu, A.; Suzuoki, M.; Okada, T.; Yutaka, T.; Ohba, A.; Oka, M.; Tago, H.; Ishihara, F.;
1990 / IEEE
By: Ohbayashi, S.; Ohba, A.; Kayano, S.; Nagao, S.; Hatanaka, M.; Ishigaki, Y.; Honda, H.; Anami, K.; Takano, S.; Shiomi, T.;
By: Ohbayashi, S.; Ohba, A.; Kayano, S.; Nagao, S.; Hatanaka, M.; Ishigaki, Y.; Honda, H.; Anami, K.; Takano, S.; Shiomi, T.;