Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Norris, D.J.
Results
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Harrison, P.; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Paul, D.J.; Arnone, D.D.; Bates, R.; Loudon, A.; Lynch, S.A.; Murzyn, P.; Pidgeon, C.R.;
By: Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Harrison, P.; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Paul, D.J.; Arnone, D.D.; Bates, R.; Loudon, A.; Lynch, S.A.; Murzyn, P.; Pidgeon, C.R.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Bates, R.; Paul, D.J.; Lynch, S.A.; Loudon, A.; Harrison, P.; Pidgeon, C.R.; Murzyn, P.; Arnone, D.D.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.;
By: Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Bates, R.; Paul, D.J.; Lynch, S.A.; Loudon, A.; Harrison, P.; Pidgeon, C.R.; Murzyn, P.; Arnone, D.D.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7630-7
By: Harrison, P.; Ikonic, Z.; Kelsall, R.W.; D Arnone, D.; Pidgeon, C.R.; Murzyn, P.; Lynch, S.A.; Robbins, D.J.; Cullis, A.G.; San Lin Liew; Norris, D.J.; Paul, D.J.; Bates, R.;
By: Harrison, P.; Ikonic, Z.; Kelsall, R.W.; D Arnone, D.; Pidgeon, C.R.; Murzyn, P.; Lynch, S.A.; Robbins, D.J.; Cullis, A.G.; San Lin Liew; Norris, D.J.; Paul, D.J.; Bates, R.;
2003 / IEEE
By: Olsen, S.H.; Robbins, D.J.; Paul, D.J.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Driscoll, L.S.; O'Neill, A.G.; Tang, Y.T.; Waite, A.M.; Chattopadhyay, S.; Kwa, K.S.K.; Evans, A.G.R.;
By: Olsen, S.H.; Robbins, D.J.; Paul, D.J.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Driscoll, L.S.; O'Neill, A.G.; Tang, Y.T.; Waite, A.M.; Chattopadhyay, S.; Kwa, K.S.K.; Evans, A.G.R.;
2003 / IEEE / 0-7803-8139-4
By: Gamble, H.S.; Zhang, J.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Liew, S.L.; Harrison, P.; Tribe, W.R.; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Townsend, P.; Lynch, S.A.; Paul, D.J.; Arnone, D.D.;
By: Gamble, H.S.; Zhang, J.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Liew, S.L.; Harrison, P.; Tribe, W.R.; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Townsend, P.; Lynch, S.A.; Paul, D.J.; Arnone, D.D.;
2004 / IEEE
By: O'Neill, A.G.; Olsen, S.H.; Paul, D.J.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Kwa, K.S.K.; Driscoll, L.S.; Chattopadhyay, S.;
By: O'Neill, A.G.; Olsen, S.H.; Paul, D.J.; Cullis, A.G.; Norris, D.J.; Kwa, K.S.K.; Driscoll, L.S.; Chattopadhyay, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8703-1
By: Bain, N.; Gamble, H.S.; Li, X.; Cullis, A.G.; Liew, S.L.; Jing Zhang; Norris, D.J.; Harrison, P.; Ikonic, Z.; Kelsall, R.W.; Lynch, S.A.; Townsend, P.; Paul, D.J.; Arnone, D.D.; Tribe, W.R.;
By: Bain, N.; Gamble, H.S.; Li, X.; Cullis, A.G.; Liew, S.L.; Jing Zhang; Norris, D.J.; Harrison, P.; Ikonic, Z.; Kelsall, R.W.; Lynch, S.A.; Townsend, P.; Paul, D.J.; Arnone, D.D.; Tribe, W.R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8474-1
By: Norris, D.J.; Paul, D.J.; Townsend, P.; Domic, Z.; Lynch, S.A.; Harrison, P.; Liew, S.L.; Kelsall, R.W.; Gamble, H.S.; Bain, M.; Zhang, J.; Li, X.; Cullis, A.G.;
By: Norris, D.J.; Paul, D.J.; Townsend, P.; Domic, Z.; Lynch, S.A.; Harrison, P.; Liew, S.L.; Kelsall, R.W.; Gamble, H.S.; Bain, M.; Zhang, J.; Li, X.; Cullis, A.G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9070-9
By: Murzyn, P.; Murdin, B.N.; Pidgeon, C.R.; Li, X.; Zhang, J.; Cullis, G.; Paul, D.J.; Norris, D.J.; Harrison, P.; Ikonic, Z.; Kelsall, R.W.; Lynch, S.A.; Townsend, P.;
By: Murzyn, P.; Murdin, B.N.; Pidgeon, C.R.; Li, X.; Zhang, J.; Cullis, G.; Paul, D.J.; Norris, D.J.; Harrison, P.; Ikonic, Z.; Kelsall, R.W.; Lynch, S.A.; Townsend, P.;
2006 / IEEE
By: Lynch, S.A.; Wei-Xin Ni; Townsend, P.; Matmon, G.; Zhang Suet; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Harrison, P.; Jing Zhang; Norris, D.J.; Cullis, A.G.; Pidgeon, C.R.; Murzyn, P.; Murdin, B.; Bain, M.; Gamble, H.S.; Ming Zhao; Paul, D.J.;
By: Lynch, S.A.; Wei-Xin Ni; Townsend, P.; Matmon, G.; Zhang Suet; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Harrison, P.; Jing Zhang; Norris, D.J.; Cullis, A.G.; Pidgeon, C.R.; Murzyn, P.; Murdin, B.; Bain, M.; Gamble, H.S.; Ming Zhao; Paul, D.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Yunhoo Jun; Kalkman, J.; Hong Wei; Euser, T.G.; Vos, W.L.; Norris, D.J.; Polman, A.;
By: Yunhoo Jun; Kalkman, J.; Hong Wei; Euser, T.G.; Vos, W.L.; Norris, D.J.; Polman, A.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Guina, M.; Euser, T.G.; Vos, W.L.; Norris, D.J.; Wei, H.; Jun, Y.; Polman, A.; Kalkman, J.; Suomalainen, S.;
By: Guina, M.; Euser, T.G.; Vos, W.L.; Norris, D.J.; Wei, H.; Jun, Y.; Polman, A.; Kalkman, J.; Suomalainen, S.;