Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nguyen, L.D.
Results
1988 / IEEE
By: Nguyen, L.D.; Eastman, L.F.; Foisy, M.C.; Palmateer, L.F.; Lepore, A.N.; Tasker, P.J.; Schaff, W.J.;
By: Nguyen, L.D.; Eastman, L.F.; Foisy, M.C.; Palmateer, L.F.; Lepore, A.N.; Tasker, P.J.; Schaff, W.J.;
Low-temperature buffer AlInAs/GaInAs on InP HEMT technology for ultra-high-speed integrated circuits
1989 / IEEEBy: Thompson, M.S.; Nguyen, L.D.; Mishra, U.K.; Larson, L.E.; Brown, A.S.; Hooper, C.E.; Delaney, M.J.; Chou, C.S.; Jensen, J.F.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Mishra, U.K.; Rosenbaum, S.E.; Nguyen, L.D.; Thompson, M.; Jelloian, L.M.; Brown, A.S.;
By: Mishra, U.K.; Rosenbaum, S.E.; Nguyen, L.D.; Thompson, M.; Jelloian, L.M.; Brown, A.S.;
1992 / IEEE
By: Nguyen, L.D.; Matloubian, M.; Larson, L.E.; Jelloian, L.M.; Thompson, M.A.; Brown, A.S.;
By: Nguyen, L.D.; Matloubian, M.; Larson, L.E.; Jelloian, L.M.; Thompson, M.A.; Brown, A.S.;
1991 / IEEE / 0-87942-591-1
By: Larson, L.E.; Brown, A.S.; Nguyen, L.D.; Matloubian, M.; Thompson, M.A.; Melendes, M.A.;
By: Larson, L.E.; Brown, A.S.; Nguyen, L.D.; Matloubian, M.; Thompson, M.A.; Melendes, M.A.;
1991 / IEEE / 0-87942-591-1
By: Thompson, M.A.; Litvin, K.; Rosenbaum, S.E.; Pierson, D.; Mishra, U.; Chou, C.S.; Henige, J.; Lui, M.; Ngo, C.; Nguyen, L.D.; Larson, L.E.;
By: Thompson, M.A.; Litvin, K.; Rosenbaum, S.E.; Pierson, D.; Mishra, U.; Chou, C.S.; Henige, J.; Lui, M.; Ngo, C.; Nguyen, L.D.; Larson, L.E.;
1993 / IEEE
By: Larson, L.E.; Matloubian, M.; Melendes, M.A.; Nguyen, L.D.; Brown, A.S.; Delancey, M.J.; Henige, J.A.; Thompson, M.A.; Rhodes, R.A.; Pence, J.E.;
By: Larson, L.E.; Matloubian, M.; Melendes, M.A.; Nguyen, L.D.; Brown, A.S.; Delancey, M.J.; Henige, J.A.; Thompson, M.A.; Rhodes, R.A.; Pence, J.E.;
1993 / IEEE
By: Larson, L.; Brown, A.S.; Melendes, M.A.; Nguyen, L.D.; Delaney, M.; Matloubian, M.; Pence, J.; Rhodes, R.; Thompson, M.;
By: Larson, L.; Brown, A.S.; Melendes, M.A.; Nguyen, L.D.; Delaney, M.; Matloubian, M.; Pence, J.; Rhodes, R.; Thompson, M.;
1993 / IEEE
By: Larson, L.E.; Liu, T.; Lui, M.; Jelloian, L.M.; Matloubian, M.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.;
By: Larson, L.E.; Liu, T.; Lui, M.; Jelloian, L.M.; Matloubian, M.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.;
1993 / IEEE
By: Matloubian, M.; Pence, J.E.; Rhodes, R.A.; Thompson, M.A.; Delaney, M.J.; Larson, L.E.; Nguyen, L.D.; Brown, A.S.; Jelloian, L.M.;
By: Matloubian, M.; Pence, J.E.; Rhodes, R.A.; Thompson, M.A.; Delaney, M.J.; Larson, L.E.; Nguyen, L.D.; Brown, A.S.; Jelloian, L.M.;
1993 / IEEE / 0-7803-1209-0
By: Larson, L.E.; Jelloian, L.M.; Nguyen, L.D.; Brown, A.S.; Delaney, M.J.; Matloubian, M.; Pence, J.E.; Rhodes, R.A.; Thompson, M.A.;
By: Larson, L.E.; Jelloian, L.M.; Nguyen, L.D.; Brown, A.S.; Delaney, M.J.; Matloubian, M.; Pence, J.E.; Rhodes, R.A.; Thompson, M.A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1476-X
By: Brown, A.S.; Larson, L.E.; Henige, J.A.; Nguyen, L.D.; Schmitz, A.E.;
By: Brown, A.S.; Larson, L.E.; Henige, J.A.; Nguyen, L.D.; Schmitz, A.E.;
1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Thompson, M.A.; Liu, T.; Lui, M.; Nguyen, L.D.; Pospieszalski, M.W.; Delaney, M.I.;
By: Thompson, M.A.; Liu, T.; Lui, M.; Nguyen, L.D.; Pospieszalski, M.W.; Delaney, M.I.;
1995 / IEEE
By: Kormanyos, B.K.; Rosenbaum, S.E.; Rebeiz, G.M.; Katehi, L.P.B.; Thompson, M.A.; Nguyen, L.D.; Larson, L.E.; Brown, A.S.; Matloubian, M.; Jelloian, L.M.;
By: Kormanyos, B.K.; Rosenbaum, S.E.; Rebeiz, G.M.; Katehi, L.P.B.; Thompson, M.A.; Nguyen, L.D.; Larson, L.E.; Brown, A.S.; Matloubian, M.; Jelloian, L.M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Thompson, M.A.; Lakatosh, W.J.; Pospieszalski, M.W.; Delaney, M.J.; Nguyen, L.D.; Minh Le; Takyiu Lin; Lui, M.;
By: Thompson, M.A.; Lakatosh, W.J.; Pospieszalski, M.W.; Delaney, M.J.; Nguyen, L.D.; Minh Le; Takyiu Lin; Lui, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Jensen, J.F.; Larson, L.; Rodwell, M.J.W.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.; Yu, R.Y.; Agarwal, B.; Pusl, J.; Pullela, R.; Case, M.G.;
By: Jensen, J.F.; Larson, L.; Rodwell, M.J.W.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.; Yu, R.Y.; Agarwal, B.; Pusl, J.; Pullela, R.; Case, M.G.;
1995 / IEEE / 0-7803-2590-7
By: Pusl, J.; Case, M.G.; Yu, R.Y.; Jensen, J.F.; Larson, L.; Rodwell, M.J.W.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.; Pullela, R.; Agarwal, B.;
By: Pusl, J.; Case, M.G.; Yu, R.Y.; Jensen, J.F.; Larson, L.; Rodwell, M.J.W.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.; Pullela, R.; Agarwal, B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2442-0
By: Nguyen, L.D.; Mishra, U.K.; Hooper, C.E.; Sun, H.C.; Thompson, M.A.; Hafizi, M.; Shealy, J.B.;
By: Nguyen, L.D.; Mishra, U.K.; Hooper, C.E.; Sun, H.C.; Thompson, M.A.; Hafizi, M.; Shealy, J.B.;
1996 / IEEE / 0-7803-3246-6
By: Case, M.G.; Docter, D.P.; Hu, M.; Schmitz, A.E.; Thompson, M.A.; Shealy, J.B.; Brown, J.J.; Pusl, J.A.; Nguyen, L.D.;
By: Case, M.G.; Docter, D.P.; Hu, M.; Schmitz, A.E.; Thompson, M.A.; Shealy, J.B.; Brown, J.J.; Pusl, J.A.; Nguyen, L.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Nguyen, L.D.; Wollack, E.; Lakatosh, W.J.; Pospieszalski, M.W.; Takyiu Liu; Lui, M.; Minh Le;
By: Nguyen, L.D.; Wollack, E.; Lakatosh, W.J.; Pospieszalski, M.W.; Takyiu Liu; Lui, M.; Minh Le;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Brown, J.J.; Widman, R.D.; Pusl, J.A.; Nguyen, L.D.; BeZaire, M.; Kaur, N.; Hu, M.;
By: Brown, J.J.; Widman, R.D.; Pusl, J.A.; Nguyen, L.D.; BeZaire, M.; Kaur, N.; Hu, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2448-X
By: Pullela, R.; Bowers, J.E.; Rodwell, M.J.W.; Nguyen, L.D.; Pusl, J.; Giboney, K.;
By: Pullela, R.; Bowers, J.E.; Rodwell, M.J.W.; Nguyen, L.D.; Pusl, J.; Giboney, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Nguyen, L.D.; Brown, J.J.; Janke, P.B.; Widman, R.D.; Hooper, C.E.; Docter, D.P.; Harvey, D.S.; Ming Hu; Kiziloglu, K.; Burkhart, S.R.;
By: Nguyen, L.D.; Brown, J.J.; Janke, P.B.; Widman, R.D.; Hooper, C.E.; Docter, D.P.; Harvey, D.S.; Ming Hu; Kiziloglu, K.; Burkhart, S.R.;
2000 / IEEE / 0-7803-6280-2
By: Lui, M.; Le, M.; Nguyen, L.D.; Webber, J.; Pospieszalski, M.W.; Thacker, D.; Bailey, N.; Wollack, E.J.;
By: Lui, M.; Le, M.; Nguyen, L.D.; Webber, J.; Pospieszalski, M.W.; Thacker, D.; Bailey, N.; Wollack, E.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Webber, J.; Thacker, D.; Bailey, N.; Wollack, E.J.; Nguyen, L.D.; Pospieszalski, M.W.; Lui, M.; Le, N.;
By: Webber, J.; Thacker, D.; Bailey, N.; Wollack, E.J.; Nguyen, L.D.; Pospieszalski, M.W.; Lui, M.; Le, N.;
1993 / IEEE
By: Jellolan, L.M.; Matioubian, M.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.; Larson, L.E.; Liu, T.; Lul, M.;
By: Jellolan, L.M.; Matioubian, M.; Le, M.V.; Nguyen, L.D.; Larson, L.E.; Liu, T.; Lul, M.;