Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Nelson, B.E.
Results
1989 / IEEE
By: Nelson, B.E.; Attaya, H.; Gohar, Y.; Raffray, R.; Billone, M.C.; Baker, C.C.; Turner, L.R.; Majumdar, S.; Finn, P.;
By: Nelson, B.E.; Attaya, H.; Gohar, Y.; Raffray, R.; Billone, M.C.; Baker, C.C.; Turner, L.R.; Majumdar, S.; Finn, P.;
1989 / IEEE
By: Nelson, B.E.; Lousteau, D.C.; Lindquist, W.B.; Miller, J.M.; Thomson, S.L.; Lee, V.D.;
By: Nelson, B.E.; Lousteau, D.C.; Lindquist, W.B.; Miller, J.M.; Thomson, S.L.; Lee, V.D.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Hirshman, S.P.; Nelson, B.E.; Peng, Y.-K.M.; Galambos, J.D.; Fogarty, P.J.;
By: Hirshman, S.P.; Nelson, B.E.; Peng, Y.-K.M.; Galambos, J.D.; Fogarty, P.J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Yugo, J.J.; Sayer, R.O.; Nelson, B.E.; Conner, D.L.; Williamson, D.E.;
By: Yugo, J.J.; Sayer, R.O.; Nelson, B.E.; Conner, D.L.; Williamson, D.E.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Fogarty, P.J.; Conner, D.L.; Nelson, B.E.; Williamson, D.E.; Lousteau, D.C.; Jones, G.H.;
By: Fogarty, P.J.; Conner, D.L.; Nelson, B.E.; Williamson, D.E.; Lousteau, D.C.; Jones, G.H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Gohar, Y.; Goranson, P.L.; Jones, G.H.; Fogarty, P.J.; Nelson, B.E.; Cole, M.J.; Liew, S.L.;
By: Gohar, Y.; Goranson, P.L.; Jones, G.H.; Fogarty, P.J.; Nelson, B.E.; Cole, M.J.; Liew, S.L.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Langley, R.A.; St. Onge, K.D.; Ulrickson, M.A.; Jones, G.H.; Fogarty, P.J.; Nelson, B.E.;
By: Langley, R.A.; St. Onge, K.D.; Ulrickson, M.A.; Jones, G.H.; Fogarty, P.J.; Nelson, B.E.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Galambos, J.D.; Davis, F.C.; Nelson, B.E.; Williamson, D.E.; Lousteau, D.C.; Goranson, P.L.; Conner, D.L.;
By: Galambos, J.D.; Davis, F.C.; Nelson, B.E.; Williamson, D.E.; Lousteau, D.C.; Goranson, P.L.; Conner, D.L.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Nelson, B.E.; Conner, D.L.; Riemer, B.W.; Williamson, D.E.; Shimizu, K.; Strickler, D.S.; Sayer, R.O.;
By: Nelson, B.E.; Conner, D.L.; Riemer, B.W.; Williamson, D.E.; Shimizu, K.; Strickler, D.S.; Sayer, R.O.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Ono, M.; Kaye, S.M.; Neumeyer, C.; Peng, Y.-K.M.; Williams, M.; Barnes, G.; Bell, M.; Bialek, J.; Bigelow, T.; Blanchard, W.; Brooks, A.; Carter, M.D.; Chrzanowski, J.; Davis, W.; Dudek, L.; Ellis, R.; Fan, H.M.; Fredd, E.; Gates, D.; Gibney, T.; Goranson, P.; Hatcher, R.E.; Heitzenroeder, P.; Hosea, J.; Jardin, S.C.; Jarboe, T.; Johnson, D.; Kalish, M.; Kaita, R.; Kessel, C.; Kugel, H.; Majeski, R.; McCormack, B.; Maingi, R.; Menard, J.; Maqueda, R.; Marsala, R.; Mueller, D.; Nelson, B.E.; Nelson, B.A.; Oliaro, G.; Paoletti, F.; Parsells, R.; Perry, E.; Pearson, G.; Ramakrishnan, S.; Raman, R.; Robinson, J.; Roney, P.; Roquemore, L.; Ryan, P.; Sabbagh, S.; Sichta, P.; Stevenson, T.; Swain, D.; Viola, M.; Von Halle, A.; Wilson, J.R.; Wurden, G.; Zweben, S.;
By: Ono, M.; Kaye, S.M.; Neumeyer, C.; Peng, Y.-K.M.; Williams, M.; Barnes, G.; Bell, M.; Bialek, J.; Bigelow, T.; Blanchard, W.; Brooks, A.; Carter, M.D.; Chrzanowski, J.; Davis, W.; Dudek, L.; Ellis, R.; Fan, H.M.; Fredd, E.; Gates, D.; Gibney, T.; Goranson, P.; Hatcher, R.E.; Heitzenroeder, P.; Hosea, J.; Jardin, S.C.; Jarboe, T.; Johnson, D.; Kalish, M.; Kaita, R.; Kessel, C.; Kugel, H.; Majeski, R.; McCormack, B.; Maingi, R.; Menard, J.; Maqueda, R.; Marsala, R.; Mueller, D.; Nelson, B.E.; Nelson, B.A.; Oliaro, G.; Paoletti, F.; Parsells, R.; Perry, E.; Pearson, G.; Ramakrishnan, S.; Raman, R.; Robinson, J.; Roney, P.; Roquemore, L.; Ryan, P.; Sabbagh, S.; Sichta, P.; Stevenson, T.; Swain, D.; Viola, M.; Von Halle, A.; Wilson, J.R.; Wurden, G.; Zweben, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Gentile, C.A.; Nelson, B.E.; Foster, C.A.; Gouge, M.J.; Fisher, P.W.;
By: Gentile, C.A.; Nelson, B.E.; Foster, C.A.; Gouge, M.J.; Fisher, P.W.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Nelson, B.E.; Harris, J.S., Jr.; Chien-Chung Lin; Piestun, R.; Miller, D.A.B.; Gerken, M.;
By: Nelson, B.E.; Harris, J.S., Jr.; Chien-Chung Lin; Piestun, R.; Miller, D.A.B.; Gerken, M.;
2002 / IEEE
By: Miller, D.A.B.; Thienpont, H.; Helman, N.C.; Nelson, B.E.; Debaes, C.; Agarwal, D.; Keeler, G.A.;
By: Miller, D.A.B.; Thienpont, H.; Helman, N.C.; Nelson, B.E.; Debaes, C.; Agarwal, D.; Keeler, G.A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Ware, A.S.; Williamson, D.E.; Spong, D.A.; Monticello, D.A.; Mioduszewski, P.K.; Lyon, J.F.; Jones, G.H.; Hirschman, S.P.; Heitzenroeder, P.; Goranson, P.L.; Fogrty, P.J.; Cole, M.J.; Brooks, A.B.; Berry, L.A.; Benson, R.D.; Nelson, B.E.; Strickler, D.J.;
By: Ware, A.S.; Williamson, D.E.; Spong, D.A.; Monticello, D.A.; Mioduszewski, P.K.; Lyon, J.F.; Jones, G.H.; Hirschman, S.P.; Heitzenroeder, P.; Goranson, P.L.; Fogrty, P.J.; Cole, M.J.; Brooks, A.B.; Berry, L.A.; Benson, R.D.; Nelson, B.E.; Strickler, D.J.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Miller, D.A.B.; Helman, N.C.; Nelson, B.E.; Agarwal, D.; Keeler, G.A.;
By: Miller, D.A.B.; Helman, N.C.; Nelson, B.E.; Agarwal, D.; Keeler, G.A.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Agarwal, D.; Keeler, G.A.; Nelson, B.E.; Miller, D.A.B.; Helman, N.C.;
By: Agarwal, D.; Keeler, G.A.; Nelson, B.E.; Miller, D.A.B.; Helman, N.C.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Agarwal, D.; Miller, D.A.B.; Helman, N.C.; Nelson, B.E.; Keeler, G.A.;
By: Agarwal, D.; Miller, D.A.B.; Helman, N.C.; Nelson, B.E.; Keeler, G.A.;
2003 / IEEE
By: Bhatnagar, A.; Helman, N.C.; Debaes, C.; Agarwal, D.; Nelson, B.E.; Keeler, G.A.; Miller, D.A.B.;
By: Bhatnagar, A.; Helman, N.C.; Debaes, C.; Agarwal, D.; Nelson, B.E.; Keeler, G.A.; Miller, D.A.B.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nygren, R.E.; Ulrickson, M.A.; Eberle, C.; Fogarty, P.J.; Nelson, B.E.; Smolentsev, S.; Rensink, M.E.; Rognlien, T.D.;
By: Nygren, R.E.; Ulrickson, M.A.; Eberle, C.; Fogarty, P.J.; Nelson, B.E.; Smolentsev, S.; Rensink, M.E.; Rognlien, T.D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Sawan, M.E.; Nelson, B.E.; Sze, D.K.; Nygren, R.E.; Majeski, R.; Merrill, B.J.; Fogarty, P.J.; Youssef, M.Z.; Smolentsev, S.; Rensink, M.E.; Rognlien, T.D.; Eberle, C.;
By: Sawan, M.E.; Nelson, B.E.; Sze, D.K.; Nygren, R.E.; Majeski, R.; Merrill, B.J.; Fogarty, P.J.; Youssef, M.Z.; Smolentsev, S.; Rensink, M.E.; Rognlien, T.D.; Eberle, C.;
1984 / IEEE
By: Organick, E.I.; Carter, T.M.; Maloney, M.P.; Davis, A.; Hayes, A.B.; Klass, D.; Smith, K.F.; Nelson, B.E.; Lindstrom, G.;
By: Organick, E.I.; Carter, T.M.; Maloney, M.P.; Davis, A.; Hayes, A.B.; Klass, D.; Smith, K.F.; Nelson, B.E.; Lindstrom, G.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap