Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Nelson, B.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1484-9
By: Hutchings, B.; Nelson, B.; Lundrigan, P.; Lamprecht, J.; Padilla, M.; Lavin, C.;
By: Hutchings, B.; Nelson, B.; Lundrigan, P.; Lamprecht, J.; Padilla, M.; Lavin, C.;
1990 / IEEE
By: Dufault, M.; Allen, B.; Archer, E.; Jones, W.; Streit, D.; Nelson, B.; Oshita, F.; Liu, P.;
By: Dufault, M.; Allen, B.; Archer, E.; Jones, W.; Streit, D.; Nelson, B.; Oshita, F.; Liu, P.;
1992 / IEEE / 0-7803-0677-5
By: Jones, W.; Best, T.; Maguire, J.; Sholly, M.; Brunone, D.; Wang, H.; Hwang, Y.; Kasody, R.; Shaw, L.; Nelson, B.;
By: Jones, W.; Best, T.; Maguire, J.; Sholly, M.; Brunone, D.; Wang, H.; Hwang, Y.; Kasody, R.; Shaw, L.; Nelson, B.;
1992 / IEEE / 0-7803-0611-2
By: Sholly, M.; Nelson, B.; Wang, H.; Best, T.; Maguire, J.; Shaw, L.; Brunone, D.; Jones, W.; Hwang, Y.; Kasody, R.;
By: Sholly, M.; Nelson, B.; Wang, H.; Best, T.; Maguire, J.; Shaw, L.; Brunone, D.; Jones, W.; Hwang, Y.; Kasody, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Lousteau, D.; Smith, D.L.; Williamson, D.; Raffray, A.; Badawi, A.; Ying, A.; Abdou, M.; El-Guebaly, L.; Sawan, M.; Sviatoslavsky, I.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.; Nelson, B.; Mattas, R.; Majumdar, S.; Kopasz, J.; Johnson, C.; Billone, M.; Attaya, H.; Gohar, Y.;
By: Lousteau, D.; Smith, D.L.; Williamson, D.; Raffray, A.; Badawi, A.; Ying, A.; Abdou, M.; El-Guebaly, L.; Sawan, M.; Sviatoslavsky, I.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.; Nelson, B.; Mattas, R.; Majumdar, S.; Kopasz, J.; Johnson, C.; Billone, M.; Attaya, H.; Gohar, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-1418-2
By: Biendenbender, M.; Jones, W.; Minot, K.; Nelson, B.; Lai, R.; Kobayashi, K.W.; Berenz, J.B.; Esfandiari, R.; Tan, K.L.;
By: Biendenbender, M.; Jones, W.; Minot, K.; Nelson, B.; Lai, R.; Kobayashi, K.W.; Berenz, J.B.; Esfandiari, R.; Tan, K.L.;
1995 / IEEE
By: Nelson, B.; Laster, J.; Remaklus, P.W.; Safaai-Jazi, A.; Pratt, T.; Stutzman, W.L.; Ajaz, H.;
By: Nelson, B.; Laster, J.; Remaklus, P.W.; Safaai-Jazi, A.; Pratt, T.; Stutzman, W.L.; Ajaz, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1246-5
By: Laster, J.; Nelson, B.; Pratt, T.; Safaai-Jazi, A.; Stutzman, W.L.; Ajaz, H.;
By: Laster, J.; Nelson, B.; Pratt, T.; Safaai-Jazi, A.; Stutzman, W.L.; Ajaz, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Streit, D.; Huang, P.; Oki, A.; Jones, W.L.; Yamasaki, W.; Nelson, B.; Bui, S.; Liu, P.;
By: Streit, D.; Huang, P.; Oki, A.; Jones, W.L.; Yamasaki, W.; Nelson, B.; Bui, S.; Liu, P.;
1995 / IEEE / 0-7803-2590-7
By: Nelson, B.; Bui, S.; Liu, P.; Yamasaki, W.; Huang, P.; Oki, A.; Jones, W.L.; Streit, D.;
By: Nelson, B.; Bui, S.; Liu, P.; Yamasaki, W.; Huang, P.; Oki, A.; Jones, W.L.; Streit, D.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Johnson, G.; Ioki, K.; Barabaschi, P.; Strickler, D.; Shimizu, K.; Riemer, B.; Nelson, B.; Sayer, R.; Williamson, D.;
By: Johnson, G.; Ioki, K.; Barabaschi, P.; Strickler, D.; Shimizu, K.; Riemer, B.; Nelson, B.; Sayer, R.; Williamson, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Bashore, D.; Ramakrishnan, S.; Kaita, R.; Dudek, L.; Wilson, R.; Perry, E.; Spitzer, J.; Nelson, B.; Chrzanowski, J.; Heitzenroeder, P.; Neumeyer, C.;
By: Bashore, D.; Ramakrishnan, S.; Kaita, R.; Dudek, L.; Wilson, R.; Perry, E.; Spitzer, J.; Nelson, B.; Chrzanowski, J.; Heitzenroeder, P.; Neumeyer, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Onozuka, M.; Vallone, C.; Nelson, B.; Neilson, H.; Kuzmin, E.; Koizumi, K.; Ioki, K.; Parker, R.; Iizuka, T.; Takahashi, K.; Utin, Y.; Sannazzaro, G.; Johnson, G.;
By: Onozuka, M.; Vallone, C.; Nelson, B.; Neilson, H.; Kuzmin, E.; Koizumi, K.; Ioki, K.; Parker, R.; Iizuka, T.; Takahashi, K.; Utin, Y.; Sannazzaro, G.; Johnson, G.;
1999 / IEEE / 0-7695-0375-6
By: Rytting, M.; Nelson, B.; Hemmert, S.; Hawkins, J.; Bellows, P.; Hutchings, B.;
By: Rytting, M.; Nelson, B.; Hemmert, S.; Hawkins, J.; Bellows, P.; Hutchings, B.;
2000 / IEEE / 0-7803-5886-4
By: French, H.; Krantz, D.G.; Dvorak, M.; Gini, M.; Budenske, J.R.; Bonney, J.C.; Benjaafar, S.; Hougen, D.F.; Yesin, K.B.; Voyles, R.; Stoeter, S.A.; Rybski, P.E.; Papanikolopoulos, N.; Nelson, B.; Malver, F.; Li, P.Y.;
By: French, H.; Krantz, D.G.; Dvorak, M.; Gini, M.; Budenske, J.R.; Bonney, J.C.; Benjaafar, S.; Hougen, D.F.; Yesin, K.B.; Voyles, R.; Stoeter, S.A.; Rybski, P.E.; Papanikolopoulos, N.; Nelson, B.; Malver, F.; Li, P.Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Neumeyer, C.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.; Chrzanowski, J.; Barnes, G.; Goranson, P.; Ping, J.;
By: Neumeyer, C.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.; Chrzanowski, J.; Barnes, G.; Goranson, P.; Ping, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Kaita, R.; McCormack, B.; Kugel, H.W.; Roquemore, A.L.; Neumeyer, C.; Goranson, P.; Nelson, B.; Johnson, D.; Holoman, T.; Hatcher, R.; Gutttadora, L.;
By: Kaita, R.; McCormack, B.; Kugel, H.W.; Roquemore, A.L.; Neumeyer, C.; Goranson, P.; Nelson, B.; Johnson, D.; Holoman, T.; Hatcher, R.; Gutttadora, L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Heitzenroeder, P.; Hechler, M.; Goranson, P.; Cole, M.; Fan, H.-M.; Nelson, B.; Brown, T.; Brooks, A.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.;
By: Heitzenroeder, P.; Hechler, M.; Goranson, P.; Cole, M.; Fan, H.-M.; Nelson, B.; Brown, T.; Brooks, A.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Chesser, J.; Brown, T.; Burgess, T.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.; Dilling, D.;
By: Chesser, J.; Brown, T.; Burgess, T.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.; Dilling, D.;
2000 / IEEE / 1-55752-630-3
By: LaBrake, D.L.; Jorgensen, C.; Nelson, B.; Cronk, B.; Gates, B.; Paolucci, D.; Brennan, J.F., III; David, M.M.; Valenti, J.; Byrd, C.;
By: LaBrake, D.L.; Jorgensen, C.; Nelson, B.; Cronk, B.; Gates, B.; Paolucci, D.; Brennan, J.F., III; David, M.M.; Valenti, J.; Byrd, C.;
2000 / IEEE
By: Yesin, K.B.; Krantz, D.G.; Stoeter, S.A.; Papanikolopoulos, N.P.; Rybski, P.E.; Gini, M.; Nelson, B.; Erickson, M.D.; Hougen, D.F.; Voyles, R.;
By: Yesin, K.B.; Krantz, D.G.; Stoeter, S.A.; Papanikolopoulos, N.P.; Rybski, P.E.; Gini, M.; Nelson, B.; Erickson, M.D.; Hougen, D.F.; Voyles, R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Gates, D.A.; Bell, M.G.; Bell, R.E.; Bialek, J.; Bigelow, T.; Bitter, M.; Bonoli, P.; Darrow, D.; Efthimion, P.; Ferron, J.; Fredrickson, E.; Grisham, L.; Hosea, J.; Johnson, D.; Kaita, R.; Kaye, S.; Kubota, S.; Kugel, H.; LeBlanc, B.; Maingi, R.; Manickam, J.; Mau, T.K.; Maqueda, R.J.; Mazzucato, E.; Menard, J.; Mueller, D.; Nelson, B.; Nishino, N.; Ono, M.; Paoletti, F.; Paul, S.; Peng, Y.-K.M.; Phillips, C.K.; Raman, R.; Ryan, P.; Sabbagh, S.A.; Schaffer, M.; Skinner, C.H.; Stutman, D.; Swain, D.; Synakowski, E.; Takase, Y.; Wilgen, J.; Wilson, J.R.; Zhu, W.; Zweben, S.; Bers, A.; Carter, M.; Deng, B.; Domier, C.; Doyle, E.; Finkenthal, M.; Hill, K.; Jarboe, T.; Jardin, S.; Ji, H.; Lao, L.; Lee, K.C.; Luhmann, N.; Majeski, R.; Park, H.; Peebles, T.; Pinsker, R.I.; Porter, G.; Ram, A.; Rensink, M.; Rognlien, T.; Stotler, D.; Stratton, B.; Taylor, G.; Wampler, W.; Wurden, G.A.; Xu, X.Q.; Zeng, L.;
By: Gates, D.A.; Bell, M.G.; Bell, R.E.; Bialek, J.; Bigelow, T.; Bitter, M.; Bonoli, P.; Darrow, D.; Efthimion, P.; Ferron, J.; Fredrickson, E.; Grisham, L.; Hosea, J.; Johnson, D.; Kaita, R.; Kaye, S.; Kubota, S.; Kugel, H.; LeBlanc, B.; Maingi, R.; Manickam, J.; Mau, T.K.; Maqueda, R.J.; Mazzucato, E.; Menard, J.; Mueller, D.; Nelson, B.; Nishino, N.; Ono, M.; Paoletti, F.; Paul, S.; Peng, Y.-K.M.; Phillips, C.K.; Raman, R.; Ryan, P.; Sabbagh, S.A.; Schaffer, M.; Skinner, C.H.; Stutman, D.; Swain, D.; Synakowski, E.; Takase, Y.; Wilgen, J.; Wilson, J.R.; Zhu, W.; Zweben, S.; Bers, A.; Carter, M.; Deng, B.; Domier, C.; Doyle, E.; Finkenthal, M.; Hill, K.; Jarboe, T.; Jardin, S.; Ji, H.; Lao, L.; Lee, K.C.; Luhmann, N.; Majeski, R.; Park, H.; Peebles, T.; Pinsker, R.I.; Porter, G.; Ram, A.; Rensink, M.; Rognlien, T.; Stotler, D.; Stratton, B.; Taylor, G.; Wampler, W.; Wurden, G.A.; Xu, X.Q.; Zeng, L.;
2002 / IEEE / 0-7803-7272-7
By: Burt, I.; Drenner, A.; Yesin, K.B.; Waletzko, D.; Stubbs, K.; Dahlin, T.; Rybski, P.E.; Papanikolopoulos, N.; Nelson, B.; McMillen, C.; Kratochvil, B.;
By: Burt, I.; Drenner, A.; Yesin, K.B.; Waletzko, D.; Stubbs, K.; Dahlin, T.; Rybski, P.E.; Papanikolopoulos, N.; Nelson, B.; McMillen, C.; Kratochvil, B.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Dahgren, F.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrznowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Berry, L.; Nelson, B.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.; Strickler, D.; Neilson, H.; Lyon, J.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Goranson, P.; Fogarty, P.;
By: Dahgren, F.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrznowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Berry, L.; Nelson, B.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.; Strickler, D.; Neilson, H.; Lyon, J.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Goranson, P.; Fogarty, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Majeski, R.; Kaita, R.; Jardin, S.; Jones, B.; Kessel, C.; Ulrickson, M.; Spaleta, J.; Woolley, R.; Zakharov, L.; Nelson, B.;
By: Majeski, R.; Kaita, R.; Jardin, S.; Jones, B.; Kessel, C.; Ulrickson, M.; Spaleta, J.; Woolley, R.; Zakharov, L.; Nelson, B.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Strickler, D.; Nelson, B.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Reiersen, W.; Brooks, A.; Cole, M.; Williamson, D.;
By: Strickler, D.; Nelson, B.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Reiersen, W.; Brooks, A.; Cole, M.; Williamson, D.;
2005 / IEEE
By: Horowitz, S.H.; Kennedy, W.O.; Chano, S.R.; Castro, C.H.; Apostolov, A.P.; Tziouvaras, D.A.; Sidhu, T.S.; Uchiyama, J.T.; Thorp, J.S.; Sachdev, M.S.; Plumptre, F.P.; Nelson, B.; Nagpal, M.; Mysore, P.; Mustaphi, K.K.; Michel, G.L.; McLaren, P.G.; Martilla, R.J.; Sungsoo Kim;
By: Horowitz, S.H.; Kennedy, W.O.; Chano, S.R.; Castro, C.H.; Apostolov, A.P.; Tziouvaras, D.A.; Sidhu, T.S.; Uchiyama, J.T.; Thorp, J.S.; Sachdev, M.S.; Plumptre, F.P.; Nelson, B.; Nagpal, M.; Mysore, P.; Mustaphi, K.K.; Michel, G.L.; McLaren, P.G.; Martilla, R.J.; Sungsoo Kim;
2004 / IEEE / 0-7803-8580-2
By: Haggag, H.; Soma, M.; Lin, H.; Nguyen, H.; Huard, J.; Nelson, B.; Taylor, K.; Chong, A.; Braatz, J.;
By: Haggag, H.; Soma, M.; Lin, H.; Nguyen, H.; Huard, J.; Nelson, B.; Taylor, K.; Chong, A.; Braatz, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Cole, M.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Viola, M.; Reiersen, W.; Williamson, D.; Brown, T.; Heitzenroeder, P.; Keilbach, R.; Neilson, G.H.; Goranson, P.;
By: Nelson, B.; Cole, M.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Viola, M.; Reiersen, W.; Williamson, D.; Brown, T.; Heitzenroeder, P.; Keilbach, R.; Neilson, G.H.; Goranson, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Benson, R.; Williamson, D.; Ware, A.; Strickler, D.; Spong, D.; Parang, M.; Neilson, G.; Monticello, D.; Mioduszewski, P.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fortier, G.; Fogarty, P.; Cole, M.; Berry, L.; Brooks, A.;
By: Nelson, B.; Benson, R.; Williamson, D.; Ware, A.; Strickler, D.; Spong, D.; Parang, M.; Neilson, G.; Monticello, D.; Mioduszewski, P.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fortier, G.; Fogarty, P.; Cole, M.; Berry, L.; Brooks, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Chrzanowski, J.; Zatz, I.J.; Fabian, P.; Williamson, D.;
By: Nelson, B.; Chrzanowski, J.; Zatz, I.J.; Fabian, P.; Williamson, D.;
2005 / IEEE
By: Haggag, H.; Soma, M.; Chan, E.; Lin, H.; Huard, J.; Nelson, B.; Taylor, K.A.; Chong, A.; Braatz, J.;
By: Haggag, H.; Soma, M.; Chan, E.; Lin, H.; Huard, J.; Nelson, B.; Taylor, K.A.; Chong, A.; Braatz, J.;
2006 / IEEE
By: Kim, E.S.; Felder, R.A.; Zhang, M.; Meldrum, D.; Zheng, Y.F.; Pruitt, B.L.; Nelson, B.;
By: Kim, E.S.; Felder, R.A.; Zhang, M.; Meldrum, D.; Zheng, Y.F.; Pruitt, B.L.; Nelson, B.;
2006 / IEEE / 1-4244-0040-6
By: Liang, D.; Niemeyer, G.; Nelson, B.; Koolwal, A.; Park, B.-H.; Tung, A.T.;
By: Liang, D.; Niemeyer, G.; Nelson, B.; Koolwal, A.; Park, B.-H.; Tung, A.T.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Goranson, P.; Raftopoulos, S.; Fogarty, P.; Chrzanowski, J.; Cole, M.; Brown, T.; Gettelfinger, G.; Brooks, A.; Zarnstorff, M.; Reiersen, W.; Nelson, B.; Lyon, J.; Heitzenroeder, P.; Neilson, G.H.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Simmons, R.; Stratton, B.; Schmidt, J.;
By: Goranson, P.; Raftopoulos, S.; Fogarty, P.; Chrzanowski, J.; Cole, M.; Brown, T.; Gettelfinger, G.; Brooks, A.; Zarnstorff, M.; Reiersen, W.; Nelson, B.; Lyon, J.; Heitzenroeder, P.; Neilson, G.H.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Simmons, R.; Stratton, B.; Schmidt, J.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Strickler, D.; Spong, D.; Shannon, T.; Parang, M.; Neilson, G.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lumsdaine, A.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fogarty, P.; Cole, M.; Brooks, A.; Berry, L.; Benson, R.; Nelson, B.; Williamson, D.;
By: Strickler, D.; Spong, D.; Shannon, T.; Parang, M.; Neilson, G.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lumsdaine, A.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fogarty, P.; Cole, M.; Brooks, A.; Berry, L.; Benson, R.; Nelson, B.; Williamson, D.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Hatzilias, K.; Bowling, K.; Edwards, J.; Goddard, B.; Horton, N.; Williamson, D.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Neilson, G.; Brown, T.;
By: Hatzilias, K.; Bowling, K.; Edwards, J.; Goddard, B.; Horton, N.; Williamson, D.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Neilson, G.; Brown, T.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Nelson, B.; Raftopolous, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Fogarty, P.; Freudenberg, K.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown T; Brooks, A.; Williamson, D.; Strickler, D.; Lovett, G.; Stratton, B.; Reiersen, W.;
By: Nelson, B.; Raftopolous, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Fogarty, P.; Freudenberg, K.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown T; Brooks, A.; Williamson, D.; Strickler, D.; Lovett, G.; Stratton, B.; Reiersen, W.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Meighan, T.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Raftopoulos, S.; Nelson, B.;
By: Meighan, T.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Raftopoulos, S.; Nelson, B.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Malinowski, F.; Heitzenroeder, P.; Brown, T.; Viola, M.E.; McCorkle, D.; Reiersen, W.; Cole, M.; Manuel, M.; Nelson, B.; Goranson, P.; Sutton, L.;
By: Malinowski, F.; Heitzenroeder, P.; Brown, T.; Viola, M.E.; McCorkle, D.; Reiersen, W.; Cole, M.; Manuel, M.; Nelson, B.; Goranson, P.; Sutton, L.;
2007 / IEEE / 1-4244-1296-X
By: Bukhala, Z.; Patel, S.; Reichard, Michael; Mozina, Charles J.; Yalla, M.; Waudby, P.; Usman, S.; Uchiyama, J.; Thompson, M.; Sevcik, D.; Nelson, B.; Conrad, S.; Kumar, P.; Kobet, G.; Khan, S.; Kerrigan, P.; Johnson, G.; Henriksen, L.; Herbst, D.; Hasenwinkle, I.; Hamilton, R.; Gardell, J.; Crawley, T.;
By: Bukhala, Z.; Patel, S.; Reichard, Michael; Mozina, Charles J.; Yalla, M.; Waudby, P.; Usman, S.; Uchiyama, J.; Thompson, M.; Sevcik, D.; Nelson, B.; Conrad, S.; Kumar, P.; Kobet, G.; Khan, S.; Kerrigan, P.; Johnson, G.; Henriksen, L.; Herbst, D.; Hasenwinkle, I.; Hamilton, R.; Gardell, J.; Crawley, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Raftopoulos, S.; Meighan, T.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.;
By: Raftopoulos, S.; Meighan, T.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Reiersen, W.; Zarnstorff, M.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Stratton, B.; Raftopoulos, S.; Neilson, G.H.; Lyon, J.; Labik, G.; Kalish, M.; Goranson, P.; Gettelfinger, G.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Dudek, L.;
By: Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Reiersen, W.; Zarnstorff, M.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Stratton, B.; Raftopoulos, S.; Neilson, G.H.; Lyon, J.; Labik, G.; Kalish, M.; Goranson, P.; Gettelfinger, G.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Dudek, L.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap