Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Neilson, J.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Chernin, D.; Dobbs, R.; Booske, J.; Weikle, R.; Barker, N.S.; Maiwald, F.; Neilson, J.; Levush, B.; Joye, C.; Calame, J.; Pershing, D.; Wright, E.; Hyttinen, M.; Roitman, A.; Berry, D.; Blank, M.; Khanh Nguyen; Jabotinski, V.;
By: Chernin, D.; Dobbs, R.; Booske, J.; Weikle, R.; Barker, N.S.; Maiwald, F.; Neilson, J.; Levush, B.; Joye, C.; Calame, J.; Pershing, D.; Wright, E.; Hyttinen, M.; Roitman, A.; Berry, D.; Blank, M.; Khanh Nguyen; Jabotinski, V.;
2014 / IEEE
By: Borchard, P.; Collins, G.; Moriyama, S.; Kobayashi, T.; Mizuhara, M.; Ives, L.; Neilson, J.;
By: Borchard, P.; Collins, G.; Moriyama, S.; Kobayashi, T.; Mizuhara, M.; Ives, L.; Neilson, J.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Feinstein, J.; Chodorow, M.; Shively, J.; Pendleton, R.; Jory, H.; Neilson, J.; LaRue, A.; Hess, C.; Felch, K.; Ives, L.; Martorana, R.; Zitelli, L.;
By: Feinstein, J.; Chodorow, M.; Shively, J.; Pendleton, R.; Jory, H.; Neilson, J.; LaRue, A.; Hess, C.; Felch, K.; Ives, L.; Martorana, R.; Zitelli, L.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Felch, K.; Zitelli, L.; Pirkle, D.; Pendleton, R.; Hess, C.; Feinstein, J.; Jory, H.; Jongewaard, E.; Huey, H.; Neilson, J.;
By: Felch, K.; Zitelli, L.; Pirkle, D.; Pendleton, R.; Hess, C.; Feinstein, J.; Jory, H.; Jongewaard, E.; Huey, H.; Neilson, J.;
1993 / IEEE
By: Zitelli, L.; Jory, H.R.; Ives, R.L.; Martorana, R.; Neilson, J.; LaRue, A.D.; Feinstein, J.; Chodorow, M.;
By: Zitelli, L.; Jory, H.R.; Ives, R.L.; Martorana, R.; Neilson, J.; LaRue, A.D.; Feinstein, J.; Chodorow, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Lin, A.; Chong, C.; Schumacher, R.; Mizuhara, M.; Neilson, J.; Luhmann, N., Jr.; Hu, G.; DeHope, W.; Stewart, T.; McDermott, D.;
By: Lin, A.; Chong, C.; Schumacher, R.; Mizuhara, M.; Neilson, J.; Luhmann, N., Jr.; Hu, G.; DeHope, W.; Stewart, T.; McDermott, D.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Felch, K.; DeHope, W.; McDermott, D.; Luhmann, N., Jr.; Chong, C.; Mizuhara, M.; Hu, G.; Stockwell, B.; Schumacher, R.; Reysner, P.; Neilson, J.; Baikcum, A.;
By: Felch, K.; DeHope, W.; McDermott, D.; Luhmann, N., Jr.; Chong, C.; Mizuhara, M.; Hu, G.; Stockwell, B.; Schumacher, R.; Reysner, P.; Neilson, J.; Baikcum, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Lorbeck, J.A.; Neilson, J.; Loring, C.M., Jr.; Jory, H.; Haldeman, G.; Borchard, P.; Chu, T.S.; Felch, K.; Blank, M.;
By: Lorbeck, J.A.; Neilson, J.; Loring, C.M., Jr.; Jory, H.; Haldeman, G.; Borchard, P.; Chu, T.S.; Felch, K.; Blank, M.;
1999 / IEEE
By: Granatstein, V.L.; Mizuhara, M.; Singh, A.; Ives, R.L.; Schumacher, R.; Casey, J.A.; Gaudreau, M.; Neilson, J.;
By: Granatstein, V.L.; Mizuhara, M.; Singh, A.; Ives, R.L.; Schumacher, R.; Casey, J.A.; Gaudreau, M.; Neilson, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Mizuhara, M.; Ives, L.; Granatstein, V.; Singh, A.; Schumacher, R.; Neilson, J.;
By: Mizuhara, M.; Ives, L.; Granatstein, V.; Singh, A.; Schumacher, R.; Neilson, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Tokurnoto, S.; Takata, K.; Mizuno, H.; Chin, Y.H.; Tantawi, S.; Menegat, A.; Ives, R.L.; Loewen, R.; Fowkes, W.R.; Vlieks, A.E.; Jongewaard, E.; Neilson, J.;
By: Tokurnoto, S.; Takata, K.; Mizuno, H.; Chin, Y.H.; Tantawi, S.; Menegat, A.; Ives, R.L.; Loewen, R.; Fowkes, W.R.; Vlieks, A.E.; Jongewaard, E.; Neilson, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Ives, L.; Schwartzkopf, S.; Witherspoon, R.; Kory, C.; Caplan, M.; Read, M.; Neilson, J.;
By: Ives, L.; Schwartzkopf, S.; Witherspoon, R.; Kory, C.; Caplan, M.; Read, M.; Neilson, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7699-4
By: Schwartzkopf, S.; Neilson, J.; Kory, C.; Caplan, M.; Marsden, D.; Ives, L.;
By: Schwartzkopf, S.; Neilson, J.; Kory, C.; Caplan, M.; Marsden, D.; Ives, L.;
2003 / IEEE / 0-7803-7699-4
By: Mizuhara, M.; Read, M.; Ives, L.; Neilson, J.; Marsden, D.; Lawson, W.; Hogan, B.; Guevara, J.; Robinson, T.;
By: Mizuhara, M.; Read, M.; Ives, L.; Neilson, J.; Marsden, D.; Lawson, W.; Hogan, B.; Guevara, J.; Robinson, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Kory, C.; Ives, L.; Robinson, T.; Wilcox, R.; Read, M.; Chubun, N.; Caplan, M.; Neilson, J.;
By: Kory, C.; Ives, L.; Robinson, T.; Wilcox, R.; Read, M.; Chubun, N.; Caplan, M.; Neilson, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Welter, J.; Bhattacharjee, S.; Booske, J.; Phillips, P.; Miram, G.; Neilson, J.; Jiang, H.; Read, M.; Ives, L.; Kory, C.; Limbach, S.; van der Weide, D.;
By: Welter, J.; Bhattacharjee, S.; Booske, J.; Phillips, P.; Miram, G.; Neilson, J.; Jiang, H.; Read, M.; Ives, L.; Kory, C.; Limbach, S.; van der Weide, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Miram, G.; Ives, R.L.; Ferguson, P.; Song, L.; Neilson, J.; Mizuhara, M.; Marsden, D.;
By: Miram, G.; Ives, R.L.; Ferguson, P.; Song, L.; Neilson, J.; Mizuhara, M.; Marsden, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Shephard, M.; Bauer, A.; Peoples, V.; Neilson, J.; Tran, H.; Thuc Bui; Ives, L.; Vogler, W.; Beall, M.;
By: Shephard, M.; Bauer, A.; Peoples, V.; Neilson, J.; Tran, H.; Thuc Bui; Ives, L.; Vogler, W.; Beall, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Marsden, D.; Ives, L.; Witherspoon, R.; Schwartzkopf, S.; Caplan, M.; Robinson, T.; Wilcox, R.; Neilson, J.; Kory, C.;
By: Marsden, D.; Ives, L.; Witherspoon, R.; Schwartzkopf, S.; Caplan, M.; Robinson, T.; Wilcox, R.; Neilson, J.; Kory, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Ives, R.L.; Jackson, R.; Miram, G.; Neilson, J.; Read, M.; Song, L.; Nusinovich, G.; Jabotinski, V.;
By: Ives, R.L.; Jackson, R.; Miram, G.; Neilson, J.; Read, M.; Song, L.; Nusinovich, G.; Jabotinski, V.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Kory, C.; Caplan, M.; Lawrence Ives, R.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Robinson, T.;
By: Kory, C.; Caplan, M.; Lawrence Ives, R.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Robinson, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Kory, C.; Caplan, M.; Ives, L.; Witherspoon, R.; Read, M.; Schwartzkopf, S.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Robinson, T.;
By: Kory, C.; Caplan, M.; Ives, L.; Witherspoon, R.; Read, M.; Schwartzkopf, S.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Robinson, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Tran, H.; Bauer, A.; Shephard, M.; Read, M.; Beall, M.; Vogler, W.; Ives, L.; Thuc Bui; Neilson, J.;
By: Tran, H.; Bauer, A.; Shephard, M.; Read, M.; Beall, M.; Vogler, W.; Ives, L.; Thuc Bui; Neilson, J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Ives, R.L.; Creek, C.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Caplan, M.; Collins, G.; Read, M.; Kory, C.;
By: Ives, R.L.; Creek, C.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Caplan, M.; Collins, G.; Read, M.; Kory, C.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1715-5
By: Borchard, P.; Nusinovich, G.; Neilson, J.; Read, M.E.; Ives, R.L.;
By: Borchard, P.; Nusinovich, G.; Neilson, J.; Read, M.E.; Ives, R.L.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2119-0
By: Nusinovich, G.; Neilson, J.; Read, M.; Ives, R.L.; Borchard, P.;
By: Nusinovich, G.; Neilson, J.; Read, M.; Ives, R.L.; Borchard, P.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Ives, R.L.; Read, M.E.; Borchard, P.; Marsden, D.; Mizuhara, M.; Neilson, J.;
By: Ives, R.L.; Read, M.E.; Borchard, P.; Marsden, D.; Mizuhara, M.; Neilson, J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Lohr, J.; Cengher, M.; Deboo, J.; Gorelov, I.A.; Moeller, C.P.; Neilson, J.; Young, D.; Ponce, D.;
By: Lohr, J.; Cengher, M.; Deboo, J.; Gorelov, I.A.; Moeller, C.P.; Neilson, J.; Young, D.; Ponce, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Mizuhara, M.; Neilson, J.; Ives, R.L.; Read, M.E.; Borchard, P.; Marsden, D.;
By: Mizuhara, M.; Neilson, J.; Ives, R.L.; Read, M.E.; Borchard, P.; Marsden, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Torrezan, A.C.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.; Neilson, J.; Mastovsky, I.; Tax, D.S.;
By: Torrezan, A.C.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.; Neilson, J.; Mastovsky, I.; Tax, D.S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7099-0
By: Hidaka, Y.; Choi, E.M.; Tax, D.S.; Neilson, J.; Mastovsky, I.; Torrezan, A.C.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.;
By: Hidaka, Y.; Choi, E.M.; Tax, D.S.; Neilson, J.; Mastovsky, I.; Torrezan, A.C.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7099-0
By: Chernyavskiy, I.; Calame, J.; Burke, A.; Chernin, D.; Booske, J.; Weikle, R.; Barker, N.S.; Skalare, A.; Gaier, T.; Neilson, J.; Levush, B.; Petillo, J.; Wright, E.; Pershing, D.; Jabotinsky, V.; Nguyen, K.; Blank, M.; Berry, D.; Hyttinen, M.; Horoyski, P.; Roitman, A.; Dobbs, R.;
By: Chernyavskiy, I.; Calame, J.; Burke, A.; Chernin, D.; Booske, J.; Weikle, R.; Barker, N.S.; Skalare, A.; Gaier, T.; Neilson, J.; Levush, B.; Petillo, J.; Wright, E.; Pershing, D.; Jabotinsky, V.; Nguyen, K.; Blank, M.; Berry, D.; Hyttinen, M.; Horoyski, P.; Roitman, A.; Dobbs, R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5221-7
By: Pritchard, T.; Neilson, J.; Mesley, E.; Ingleton, T.; Davies, P.; Jordan, A.;
By: Pritchard, T.; Neilson, J.; Mesley, E.; Ingleton, T.; Davies, P.; Jordan, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8661-8
By: Neilson, J.; Collins, G.; Mizuhara, M.; Marsden, D.; Ives, R.L.; Borchard, P.;
By: Neilson, J.; Collins, G.; Mizuhara, M.; Marsden, D.; Ives, R.L.; Borchard, P.;