Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nakamura, S.
Results
2011 / IEEE
By: Konami, S.; Nakamura, S.; Hayato, A.; Tamagawa, T.; Iwahashi, T.; Makishima, K.; Asami, F.; Tokanai, F.; Miyasaka, H.; Sakurai, H.; Kitamura, H.; Yasuda, N.;
By: Konami, S.; Nakamura, S.; Hayato, A.; Tamagawa, T.; Iwahashi, T.; Makishima, K.; Asami, F.; Tokanai, F.; Miyasaka, H.; Sakurai, H.; Kitamura, H.; Yasuda, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0279-2
By: Nakamura, S.; Higashiyama, M.; Nakamura, Y.; Hirose, T.; Umemura, T.; Takada, H.; Kozako, M.; Hikita, M.; Hayashi, M.;
By: Nakamura, S.; Higashiyama, M.; Nakamura, Y.; Hirose, T.; Umemura, T.; Takada, H.; Kozako, M.; Hikita, M.; Hayashi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0192-4
By: Chida, K.; Gossard, A.C.; Hashisaka, M.; Yamauchi, Y.; Nakamura, S.; Kobayashi, K.; Utsumi, Y.; Saito, K.; Ensslin, K.; Leturcq, R.; Ono, T.;
By: Chida, K.; Gossard, A.C.; Hashisaka, M.; Yamauchi, Y.; Nakamura, S.; Kobayashi, K.; Utsumi, Y.; Saito, K.; Ensslin, K.; Leturcq, R.; Ono, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-244-8
By: Cohen, D.A.; Fujito, K.; Kelchner, K.M.; Farrell, R.M.; Po Shan Hsu; DenBaars, S.P.; Holder, C.; Haeger, D.A.; Nakamura, S.; Speck, J.S.;
By: Cohen, D.A.; Fujito, K.; Kelchner, K.M.; Farrell, R.M.; Po Shan Hsu; DenBaars, S.P.; Holder, C.; Haeger, D.A.; Nakamura, S.; Speck, J.S.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Hino, T.; Tajima, A.; Nakamura, S.; Takahashi, S.; Namiki, S.; Kurumida, J.; Sakauchi, M.;
By: Hino, T.; Tajima, A.; Nakamura, S.; Takahashi, S.; Namiki, S.; Kurumida, J.; Sakauchi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Maekawa, R.; Oshima, T.; Wakayama, T.; Yamamoto, K.; Matsuda, S.; Suwa, K.; Nakamura, S.; Morita, S.;
By: Maekawa, R.; Oshima, T.; Wakayama, T.; Yamamoto, K.; Matsuda, S.; Suwa, K.; Nakamura, S.; Morita, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1804-5
By: Sugimoto, M.; Terabayashi, K.; Nakamura, S.; Sato, T.; Hashizume, H.;
By: Sugimoto, M.; Terabayashi, K.; Nakamura, S.; Sato, T.; Hashizume, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Fujiwara, T.; Anai, T.; Toda, M.; Nakamura, S.; Ueda, K.; Kosuga, K.; Ikeda, R.; Idehara, T.; Matsuki, Y.;
By: Fujiwara, T.; Anai, T.; Toda, M.; Nakamura, S.; Ueda, K.; Kosuga, K.; Ikeda, R.; Idehara, T.; Matsuki, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Sugita, N.; Harada, K.; Nakamura, S.; Kaneko, M.; Mitsuishi, M.;
By: Sugita, N.; Harada, K.; Nakamura, S.; Kaneko, M.; Mitsuishi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Nakamura, S.; DenBaars, S.P.; Speck, J.S.; Rudy, P.; Schmidt, M.C.; Bai, C.; Lin, Y.; Poblenz, C.; Raring, J.W.;
By: Nakamura, S.; DenBaars, S.P.; Speck, J.S.; Rudy, P.; Schmidt, M.C.; Bai, C.; Lin, Y.; Poblenz, C.; Raring, J.W.;
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Matoba, O.; Nitta, K.; Nakamura, S.; Maruyama, T.; Fujiwara, K.;
By: Matoba, O.; Nitta, K.; Nakamura, S.; Maruyama, T.; Fujiwara, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2015-4
By: Masumoto, D.; Uehara, Y.; Endo, S.; Sugimura, M.; Baba, T.; Nakamura, S.; Ishihara, M.;
By: Masumoto, D.; Uehara, Y.; Endo, S.; Sugimura, M.; Baba, T.; Nakamura, S.; Ishihara, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Hirayanagi, M.; Sakai, K.; Uchida, H.; Shimizu, K.; Omura, T.; Nakamura, S.;
By: Hirayanagi, M.; Sakai, K.; Uchida, H.; Shimizu, K.; Omura, T.; Nakamura, S.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Takeshita, H.; Hino, T.; Kurata, K.; Ogura, I.; Ushida, J.; Tajima, A.; Takahashi, S.; Nakamura, S.; Guo-Qiang Lo; Ming-Bin Yu;
By: Takeshita, H.; Hino, T.; Kurata, K.; Ogura, I.; Ushida, J.; Tajima, A.; Takahashi, S.; Nakamura, S.; Guo-Qiang Lo; Ming-Bin Yu;
2012 / IEEE / 978-4-88552-263-5
By: Takeshita, H.; Namiki, S.; Kurumida, J.; Tajima, A.; Nakamura, S.; Hino, T.;
By: Takeshita, H.; Namiki, S.; Kurumida, J.; Tajima, A.; Nakamura, S.; Hino, T.;
2013 / IEEE
By: Suzuki, H.; Nakamura, S.; Takeuchi, K.; Fujita, T.; Nishiyama, T.; Kataoka, J.; Nakamoto, K.; Ohsuka, S.; Uchiyama, T.; Adachi, S.; Hirayanagi, M.;
By: Suzuki, H.; Nakamura, S.; Takeuchi, K.; Fujita, T.; Nishiyama, T.; Kataoka, J.; Nakamoto, K.; Ohsuka, S.; Uchiyama, T.; Adachi, S.; Hirayanagi, M.;
2013 / IEEE
By: Takeuchi, K.; Kataoka, J.; Kato, T.; Ishikawa, Y.; Uchiyama, T.; Hirayanagi, M.; Adachi, A.; Nakamura, S.; Ohsuka, S.; Kishimoto, A.; Nishiyama, T.; Fujita, T.;
By: Takeuchi, K.; Kataoka, J.; Kato, T.; Ishikawa, Y.; Uchiyama, T.; Hirayanagi, M.; Adachi, A.; Nakamura, S.; Ohsuka, S.; Kishimoto, A.; Nishiyama, T.; Fujita, T.;
2013 / IEEE
By: Sonoda, S.; Kubo, H.; Tanimori, T.; Takada, A.; Kimura, H.; Kabuki, S.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Nakamura, S.; Sawano, T.; Matsuoka, Y.; Komura, S.;
By: Sonoda, S.; Kubo, H.; Tanimori, T.; Takada, A.; Kimura, H.; Kabuki, S.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Nakamura, S.; Sawano, T.; Matsuoka, Y.; Komura, S.;
2013 / IEEE
By: Komura, S.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Oda, M.; Nakamura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Sonoda, S.; Tomono, D.; Sawano, T.;
By: Komura, S.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Oda, M.; Nakamura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Sonoda, S.; Tomono, D.; Sawano, T.;
2013 / IEEE
By: Tomono, D.; Tanimori, T.; Matsumoto, E.; Ito, H.; Bando, N.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Sawano, T.; Mizumura, Y.; Mizumoto, T.; Takada, A.; Kubo, H.; Nabetani, A.;
By: Tomono, D.; Tanimori, T.; Matsumoto, E.; Ito, H.; Bando, N.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Sawano, T.; Mizumura, Y.; Mizumoto, T.; Takada, A.; Kubo, H.; Nabetani, A.;
2013 / IEEE
By: Mizumoto, T.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Miuchi, K.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Sawano, T.; Tomono, D.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Sonoda, S.; Mizumura, Y.;
By: Mizumoto, T.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Miuchi, K.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Sawano, T.; Tomono, D.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Sonoda, S.; Mizumura, Y.;
2013 / IEEE
By: Omura, T.; Watanabe, M.; Baba, T.; Uchiyama, T.; Suzuki, H.; Hirayanagi, M.; Nakamura, S.; Adachi, S.;
By: Omura, T.; Watanabe, M.; Baba, T.; Uchiyama, T.; Suzuki, H.; Hirayanagi, M.; Nakamura, S.; Adachi, S.;
2013 / IEEE
By: Lang, J. R.; Mishra, U. K.; Perl, E. E.; Young, N. G.; Friedman, D. J.; Farrell, R. M.; Speck, J. S.; Bowers, J. E.; Neufeld, C. J.; Iza, M.; Cruz, S. C.; Keller, S.; McMahon, W. E.; Nakamura, S.; DenBaars, S. P.; Singh, N.;
By: Lang, J. R.; Mishra, U. K.; Perl, E. E.; Young, N. G.; Friedman, D. J.; Farrell, R. M.; Speck, J. S.; Bowers, J. E.; Neufeld, C. J.; Iza, M.; Cruz, S. C.; Keller, S.; McMahon, W. E.; Nakamura, S.; DenBaars, S. P.; Singh, N.;
1988 / IEEE
By: Iino, A.; Ogai, M.; Kinoshita, E.; Nakamura, S.; Koguchi, M.; Tamura, J.; Matsubara, K.;
By: Iino, A.; Ogai, M.; Kinoshita, E.; Nakamura, S.; Koguchi, M.; Tamura, J.; Matsubara, K.;
1991 / IEEE
By: Wada, K.; Yamagishi, M.; Nakamura, S.; Iizuka, T.; Yonemoto, K.; Tomiya, Y.; Kanbe, H.; Harada, K.; Abe, H.; Yamazaki, Y.; Kamide, Y.; Ishimaru, T.; Shinohara, K.; Tsunakawa, T.; Yamada, H.; Negishi, M.;
By: Wada, K.; Yamagishi, M.; Nakamura, S.; Iizuka, T.; Yonemoto, K.; Tomiya, Y.; Kanbe, H.; Harada, K.; Abe, H.; Yamazaki, Y.; Kamide, Y.; Ishimaru, T.; Shinohara, K.; Tsunakawa, T.; Yamada, H.; Negishi, M.;
1990 / IEEE
By: Nakamura, S.; Iizuku, T.; Yonemoto, K.; Yamagishi, M.; Yamasaki, T.; Kamide, Y.; Harada, K.; Ishimaru, T.; Shinohara, K.; Tsunakawa, T.; Yamada, H.; Negishi, M.; Wada, K.;
By: Nakamura, S.; Iizuku, T.; Yonemoto, K.; Yamagishi, M.; Yamasaki, T.; Kamide, Y.; Harada, K.; Ishimaru, T.; Shinohara, K.; Tsunakawa, T.; Yamada, H.; Negishi, M.; Wada, K.;
1991 / IEEE / 0-87942-585-7
By: Sokooshi, H.; Usuda, T.; Nanto, H.; Takeuchi, N.; Inabe, K.; Nakamura, S.;
By: Sokooshi, H.; Usuda, T.; Nanto, H.; Takeuchi, N.; Inabe, K.; Nakamura, S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Saka, T.; Takeuchi, Y.; Mizuta, M.; Kato, T.; Kamiya, Y.; Itoga, K.; Nakamura, S.; Horinaka, H.; Furuya, T.; Baba, T.; Aoyagi, H.; Omori, T.; Kurihara, Y.; Nakanishi, T.; Yoshioka, M.; Tsubata, M.;
By: Saka, T.; Takeuchi, Y.; Mizuta, M.; Kato, T.; Kamiya, Y.; Itoga, K.; Nakamura, S.; Horinaka, H.; Furuya, T.; Baba, T.; Aoyagi, H.; Omori, T.; Kurihara, Y.; Nakanishi, T.; Yoshioka, M.; Tsubata, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Ikegami, K.; Matsuda, T.; Nakanishi, T.; Okuda, S.; Iwamoto, M.; Yamada, T.; Itagaki, H.; Fujimura, S.; Nakata, S.; Yamamoto, S.; Kodera, I.; Nakamura, S.; Tanaka, H.; Maruyama, A.; Tsukishima, C.; Nakagawa, T.;
By: Ikegami, K.; Matsuda, T.; Nakanishi, T.; Okuda, S.; Iwamoto, M.; Yamada, T.; Itagaki, H.; Fujimura, S.; Nakata, S.; Yamamoto, S.; Kodera, I.; Nakamura, S.; Tanaka, H.; Maruyama, A.; Tsukishima, C.; Nakagawa, T.;
1993 / IEEE
By: Takahashi, K.; Ban, M.; Meguro, S.; Nakamura, S.; Nakanishi, K.; Yamaguchi, K.; Sakai, S.; Ogawa, T.; Ikeno, Y.; Uyeda, K.; Kasahara, H.; Torri, S.; Akita, S.;
By: Takahashi, K.; Ban, M.; Meguro, S.; Nakamura, S.; Nakanishi, K.; Yamaguchi, K.; Sakai, S.; Ogawa, T.; Ikeno, Y.; Uyeda, K.; Kasahara, H.; Torri, S.; Akita, S.;
1993 / IEEE
By: Takeuchi, T.; Matsuda, T.; Kawaguchi, T.; Yamamoto, S.; Iwamoto, M.; Yamada, T.; Kodera, I.; Nakamura, S.; Shimohata, K.; Yokoyama, S.; Morita, M.; Amano, T.;
By: Takeuchi, T.; Matsuda, T.; Kawaguchi, T.; Yamamoto, S.; Iwamoto, M.; Yamada, T.; Kodera, I.; Nakamura, S.; Shimohata, K.; Yokoyama, S.; Morita, M.; Amano, T.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Kato, I.; Hasegawa, K.; Sueda, M.; Toyofuku, T.; Nakamura, S.; Takada, T.;
By: Kato, I.; Hasegawa, K.; Sueda, M.; Toyofuku, T.; Nakamura, S.; Takada, T.;