Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Mirov, S.B.
Results
2015 / IEEE
By: Fedorov, V.V.; Mirov, S.B.; Vasilyev, S.; Mirov, M.; Moskalev, I.S.; Martyshkin, D.;
By: Fedorov, V.V.; Mirov, S.B.; Vasilyev, S.; Mirov, M.; Moskalev, I.S.; Martyshkin, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Noginova, N.; Noginov, M.A.; Mirov, S.B.; Williams, A.; Venkateswarlu, P.; Caulfield, H.J.; Egarievwe, S.U.;
By: Noginova, N.; Noginov, M.A.; Mirov, S.B.; Williams, A.; Venkateswarlu, P.; Caulfield, H.J.; Egarievwe, S.U.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Walling, J.C.; Heller, D.P.; Okorogu, A.; Mirov, S.B.; Lee, W.; Crouthamel, D.I.; Yan, W.-B.;
By: Walling, J.C.; Heller, D.P.; Okorogu, A.; Mirov, S.B.; Lee, W.; Crouthamel, D.I.; Yan, W.-B.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Barnes, N.P.; Osiko, V.V.; Basiev, T.T.; Orlovskii, Yu.V.; Mirov, S.B.;
By: Barnes, N.P.; Osiko, V.V.; Basiev, T.T.; Orlovskii, Yu.V.; Mirov, S.B.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Panutin, V.; Badikov, V.V.; Moskalev, I.S.; Graham, K.; Fedorov, V.V.; Mirov, S.B.;
By: Panutin, V.; Badikov, V.V.; Moskalev, I.S.; Graham, K.; Fedorov, V.V.; Mirov, S.B.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Frost, R.; Mirov, S.B.; Boczar, B.; Fedorov, V.V.; Kramer, N.; Walling, J.C.; Thevar, T.; Pryor, B.;
By: Frost, R.; Mirov, S.B.; Boczar, B.; Fedorov, V.V.; Kramer, N.; Walling, J.C.; Thevar, T.; Pryor, B.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Berman, E.; Basiev, T.T.; Grimes, G.J.; Fedorov, V.V.; Mirov, S.B.; Moskalev, I.S.; Abeles, J.;
By: Berman, E.; Basiev, T.T.; Grimes, G.J.; Fedorov, V.V.; Mirov, S.B.; Moskalev, I.S.; Abeles, J.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Badikov, V.V.; Mirov, S.B.; Fedorov, V.V.; Gallian, A.; Panyutin, V.; Todorov, S.; Moskalev, I.S.; Kudryashov, I.; Garbusov, D.;
By: Badikov, V.V.; Mirov, S.B.; Fedorov, V.V.; Gallian, A.; Panyutin, V.; Todorov, S.; Moskalev, I.S.; Kudryashov, I.; Garbusov, D.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Fedorov, V.V.; Gallian, A.; Lalayants, A.I.; Voronkin, E.F.; Galkin, S.N.; Badikov, V.V.; Mirov, S.B.;
By: Fedorov, V.V.; Gallian, A.; Lalayants, A.I.; Voronkin, E.F.; Galkin, S.N.; Badikov, V.V.; Mirov, S.B.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Fedorov, V.V.; Gallian, A.; Badikov, V.V.; Mirov, S.B.; Moskalev, I.S.;
By: Fedorov, V.V.; Gallian, A.; Badikov, V.V.; Mirov, S.B.; Moskalev, I.S.;
2006 / IEEE
By: Kozlovsky, V.I.; Korostelin, Y.V.; Gallian, A.; Frolov, M.P.; Badikov, D.V.; Landman, A.I.; Mirov, S.B.; Fedorov, V.V.; Voronov, A.A.; Akimov, V.A.; Podmar'kov, Y.P.;
By: Kozlovsky, V.I.; Korostelin, Y.V.; Gallian, A.; Frolov, M.P.; Badikov, D.V.; Landman, A.I.; Mirov, S.B.; Fedorov, V.V.; Voronov, A.A.; Akimov, V.A.; Podmar'kov, Y.P.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Kim, C.; Martyshkin, D.V.; Mirov, S.B.; Fedorov, V.V.; Moskalev, I.S.;
By: Kim, C.; Martyshkin, D.V.; Mirov, S.B.; Fedorov, V.V.; Moskalev, I.S.;