Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Meyer, W.
Results
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Hulsey, S.; Makowski, M.; Fields, S.; Ferguson, S.W.; Fenstermacher, M.; Felker, B.; Lasnier, C.J.; Allen, S.L.; Wood, R.; Stallard, B.; Scharlemann, E.T.; Hooper, E.B.; Petersen, D.; Meyer, W.; Moller, J.;
By: Hulsey, S.; Makowski, M.; Fields, S.; Ferguson, S.W.; Fenstermacher, M.; Felker, B.; Lasnier, C.J.; Allen, S.L.; Wood, R.; Stallard, B.; Scharlemann, E.T.; Hooper, E.B.; Petersen, D.; Meyer, W.; Moller, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Felker, B.; Stallard, B.; Allen, S.; Bell, H.; Bowman, J.; Delong, M.; Fenstermacher, M.; Ferguson, S.W.; Fields, W.F., IV; Hathaway, D.; Hooper, E.B.; Hulsey, S.; Jackson, M.; Lang, D.D.; Lasnier, C.; Makowski, M.; Moller, J.; Meyer, W.; Nilson, D.G.; Peterson, D.; Seilhymer, D.B.;
By: Felker, B.; Stallard, B.; Allen, S.; Bell, H.; Bowman, J.; Delong, M.; Fenstermacher, M.; Ferguson, S.W.; Fields, W.F., IV; Hathaway, D.; Hooper, E.B.; Hulsey, S.; Jackson, M.; Lang, D.D.; Lasnier, C.; Makowski, M.; Moller, J.; Meyer, W.; Nilson, D.G.; Peterson, D.; Seilhymer, D.B.;
1996 / IEEE / 0-8186-7573-X
By: Meyer, W.; Holtmann, U.; Seawright, A.; Buck, J.; Verbrugghe, R.; Pangrle, B.;
By: Meyer, W.; Holtmann, U.; Seawright, A.; Buck, J.; Verbrugghe, R.; Pangrle, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Greenwald, M.; Greenwood, D.; Fredian, T.; Gibney, T.; Fonck, R.; Casper, T.; Barnes, D.; Davis, S.; Wurden, G.; Stillerman, J.; Roney, P.; Moller, J.; Meyer, W.; McHarg, B.; Keith, K.; Henline, P.;
By: Greenwald, M.; Greenwood, D.; Fredian, T.; Gibney, T.; Fonck, R.; Casper, T.; Barnes, D.; Davis, S.; Wurden, G.; Stillerman, J.; Roney, P.; Moller, J.; Meyer, W.; McHarg, B.; Keith, K.; Henline, P.;
1984 / IEEE
By: Wawersig, J.; Bahring, M.; Bender, R.; Goetz, J.R.; Kantz, D.; Muller, W.; Meyer, W.;
By: Wawersig, J.; Bahring, M.; Bender, R.; Goetz, J.R.; Kantz, D.; Muller, W.; Meyer, W.;
1977 / IEEE
By: Akaike, M.; Amano, A.; Yuan, L.T.; Ying, R.S.; Atia, A.E.; Begemann, G.; Bell, A.B.; Bernick, R.L.; Chang, D.C.; Chao, C.; Chen, M.H.; Cowan, D.A.; Cronson, H.M.; Douville, R.J.; Engen, G.F.; Ganguly, A.K.; Gnerlich, H.R.; Harrison, R.G.; Hoer, C.A.; Ishii, T.; Itoh, T.; Kaji, E.; Knochel, R.; Komarek, E.L.; Kondoh, H.; Kuester, E.F.; Kuwabara, N.; Lee, D.H.; Maekawa, E.; Mercer, P.; Meyer, W.; Mitsui, S.; Mitsui, Y.; Mizushina, S.; Nagai, N.; Nagao, T.; Nakaji, E.M.; Nakatani, M.; Niehenke, E.C.; Nishitani, K.; Ohnishi, K.; Ondria, J.; Ono, K.; Rehnmark, S.; Safi, M.; Sawano, H.; Schunemann, K.; Shuch, H.P.; Snyder, R.V.; Sobhy, M.I.; Speciale, R.A.; Spielman, B.E.; Susman, L.; Weidman, M.P.; Weller, K.P.; Williams, A.E.;
By: Akaike, M.; Amano, A.; Yuan, L.T.; Ying, R.S.; Atia, A.E.; Begemann, G.; Bell, A.B.; Bernick, R.L.; Chang, D.C.; Chao, C.; Chen, M.H.; Cowan, D.A.; Cronson, H.M.; Douville, R.J.; Engen, G.F.; Ganguly, A.K.; Gnerlich, H.R.; Harrison, R.G.; Hoer, C.A.; Ishii, T.; Itoh, T.; Kaji, E.; Knochel, R.; Komarek, E.L.; Kondoh, H.; Kuester, E.F.; Kuwabara, N.; Lee, D.H.; Maekawa, E.; Mercer, P.; Meyer, W.; Mitsui, S.; Mitsui, Y.; Mizushina, S.; Nagai, N.; Nagao, T.; Nakaji, E.M.; Nakatani, M.; Niehenke, E.C.; Nishitani, K.; Ohnishi, K.; Ondria, J.; Ono, K.; Rehnmark, S.; Safi, M.; Sawano, H.; Schunemann, K.; Shuch, H.P.; Snyder, R.V.; Sobhy, M.I.; Speciale, R.A.; Spielman, B.E.; Susman, L.; Weidman, M.P.; Weller, K.P.; Williams, A.E.;
1980 / IEEE
By: Adelseck, B.; Armstrong, B.M.; Yamashita, S.; Witters, D.M.; Ashiki, M.; Bahl, I.J.; Baird, J.M.; Barnett, L.R.; Bert, A.G.; Brown, R.; Chatterjee, I.; Engen, G.F.; Fliflet, A.W.; Gandhi, O.P.; Granatstein, V.L.; Hagmann, M.J.; Hoefer, W.J.R.; Hoppe, W.; Chia-lun J. Hu; Itoh, T.; Kaminsky, D.; Kantor, G.; Young-El Ma; Makimoto, M.; Meyer, W.; Mizushina, S.; Rix, F.; Schilz, W.M.; Yi-Chi Shih; Stewart, J.A.C.; Stuchly, M.A.; Stuchly, S.S.; Cheng Sun;
By: Adelseck, B.; Armstrong, B.M.; Yamashita, S.; Witters, D.M.; Ashiki, M.; Bahl, I.J.; Baird, J.M.; Barnett, L.R.; Bert, A.G.; Brown, R.; Chatterjee, I.; Engen, G.F.; Fliflet, A.W.; Gandhi, O.P.; Granatstein, V.L.; Hagmann, M.J.; Hoefer, W.J.R.; Hoppe, W.; Chia-lun J. Hu; Itoh, T.; Kaminsky, D.; Kantor, G.; Young-El Ma; Makimoto, M.; Meyer, W.; Mizushina, S.; Rix, F.; Schilz, W.M.; Yi-Chi Shih; Stewart, J.A.C.; Stuchly, M.A.; Stuchly, S.S.; Cheng Sun;
1981 / IEEE
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
1981 / IEEE
By: Abe, T.; Abouzabra, M.D.; Yamaguchi, Y.; Toutain, S.; Alberty, M.; Bandler, J.W.; Beyer, A.; Christou, A.; Citerne, J.; Cohen, E.D.; El-Sherbiny, A.-M.A.; Galani, Z.; Gelin, P.; Hatori, K.; Helszajn, J.; Honjo, K.; Kennis, P.; Komizo, H.; Lampen, J.L.; Lipparini, A.; Macpherson, A.C.; Meyer, W.; Nisbet, W.T.; Ohm, G.; Riblet, H.J.; Rizk, M.R.M.; Rizzoli, V.; Schilz, W.M.; Shibata, K.; Takayama, Y.; Temple, S.J.; Tokumitsu, Y.;
By: Abe, T.; Abouzabra, M.D.; Yamaguchi, Y.; Toutain, S.; Alberty, M.; Bandler, J.W.; Beyer, A.; Christou, A.; Citerne, J.; Cohen, E.D.; El-Sherbiny, A.-M.A.; Galani, Z.; Gelin, P.; Hatori, K.; Helszajn, J.; Honjo, K.; Kennis, P.; Komizo, H.; Lampen, J.L.; Lipparini, A.; Macpherson, A.C.; Meyer, W.; Nisbet, W.T.; Ohm, G.; Riblet, H.J.; Rizk, M.R.M.; Rizzoli, V.; Schilz, W.M.; Shibata, K.; Takayama, Y.; Temple, S.J.; Tokumitsu, Y.;
1984 / IEEE
By: Goetz, J.; Kantz, D.; Mueller, W.; Meyer, W.; Wawersig, J.; Baehring, M.; Bender, R.;
By: Goetz, J.; Kantz, D.; Mueller, W.; Meyer, W.; Wawersig, J.; Baehring, M.; Bender, R.;
Bandwidth-efficient resilience in metro networks - a fast network-processor-based RPR implementation
2004 / IEEE / 0-7803-8375-3By: Wolf, E.; Meyer, W.; Hof, A.; Kirstadter, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9553-0
By: Felba, J.; Moscicki, A.; Meyer, W.; Arp, A.; Kudzia, J.; Sobierajski, T.;
By: Felba, J.; Moscicki, A.; Meyer, W.; Arp, A.; Kudzia, J.; Sobierajski, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9553-0
By: Calderone, F.; Arp, A.; Kolbe, J.; Stuve, M.; Schaefer, H.; Meyer, W.; Meyer, E.M.;
By: Calderone, F.; Arp, A.; Kolbe, J.; Stuve, M.; Schaefer, H.; Meyer, W.; Meyer, E.M.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap