Author: Meier, W.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

1991 / IEEE
By: Grimm, L.; Niemeyer, J.; Popel, R.; Meier, W.; Dunschede, F.;

1990 / IEEE
By: Fromknecht, R.; Niemeyer, J.; Popel, R.; Grimm, L.; Meier, W.;

1991 / IEEE / 0-8186-2163-X
By: Meier, W.; Graf, J.;

1991 / IEEE
By: Fromknecht, R.; Popel, R.; Niemeyer, J.; Meier, W.;

1990 / IEEE / 0-8186-2024-2
By: Meier, W.;

1994 / IEEE / 0-7803-9992-7
By: Angstenberger, J.; Meier, W.; Weber, R.;

1994 / IEEE / 0-8186-6952-7
By: Meier, W.; von Stein, H.-D.;

1996 / IEEE / 0-8186-7424-5
By: Meier, W.; Barke, E.; Scherber, F.;

1996 / IEEE / 0-7803-3068-4
By: Maslanik, J.; Meier, W.; Fowler, C.; Key, J.;

1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Meier, W.; Foreman, L.; Fagaly, R.L.; Bernat, T.; Schultz, K.R.; Petzoldt, R.;

1996 / IEEE / 0-7803-3376-4
By: Gutm, P.; Kohlmann, J.; Popel, R.; Muller, F.; Niemeyer, J.; Dunschede, F.; Grimm, L.; Weimann, T.; Meier, W.;

1997 / IEEE
By: Niemeyer, J.; Kohlmann, J.; Popel, R.; Muller, F.; Meier, W.; Gutmann, P.; Dunschede, F.-W.; Grimm, L.; Weimann, T.;

1997 / IEEE
By: Gutmann, P.; Muller, F.; Kohlmann, J.; Niemeyer, J.; Popel, R.; Meier, W.; Dunschede, F.-W.; Grimm, L.;

1998 / IEEE / 0-7803-4484-7
By: Damm, M.; Schloen, J.; Worn, H.; Henrich, D.; Wurll, C.; Meier, W.;

2001 / IEEE / 0-7803-7031-7
By: Van Woert, M.L.; Meier, W.; Cheng-Zhi Zou; Beesley, T.; Bertoia, C.; Hovey, P.;

1991 / IEEE
By: Grimm, L.; Meier, W.; Fromknecht, R.; Niemeyer, J.; Popel, R.; Dunschede, F.W.;

2003 / IEEE / 0-7803-7728-1
By: Johansson, T.; Ekdahl, P.; Meier, W.;

2004 / IEEE
By: Sukhorukov, G.B.; Fournier, D.; da Silva Gomes, J.F.P.; Germain, M.; Ruysschaert, T.; Winterhalter, M.; Meier, W.;

2004 / IEEE / 0-7803-8742-2
By: Meier, W.; Marquis, M.; Weaver, R.; Kaminski, M.;

2006 / IEEE / 1-4244-0505-X
By: Meier, W.; Maximov, A.; Johansson, T.; Hell, M.;

1985 / IEEE
By: Vollmer, E.; Meier, W.; Niemeyer, J.; Hinken, J.H.;

2008 / IEEE / 978-83-922632-7-2
By: Atani, R. E.; Meier, W.; Atani, S. E.; Mirzakuchaki, S.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-8121-7
By: Meier, W.; Khalsa, S.J.S.; Brodzik, M.J.;