Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Mehlhorn, T.A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Genoni, T.; Mudaliar, S.; Sotnikov, V.;
By: Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Genoni, T.; Mudaliar, S.; Sotnikov, V.;
1989 / IEEE
By: Quintenz, J.P.; Bailey, J.E.; Bieg, K.W.; Bloomquist, D.D.; Cook, D.L.; Crow, J.T.; Coats, R.S.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Dreike, P.L.; Gerber, R.A.; Hussey, T.W.; Johnson, D.J.; Johnson, W.A.; Kensek, R.P.; Kuswa, G.W.; Lee, J.R.; Leeper, R.J.; Lockner, T.R.; Maenchen, J.E.; McDaniel, D.H.; McKay, P.F.; Mehlhorn, T.A.; Mendel, C.W., Jr.; Mix, L.P.; Neau, E.L.; Olson, C.L.; Pointon, T.D.; Pregenzer, A.L.; Renk, T.J.; Rochau, G.E.; Rosenthal, S.E.; Ruiz, C.L.; Schneider, L.X.; Slutz, S.A.; Stinnett, R.W.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Tisone, F.C.; Turman, B.N.; VanDevender, J.P.; Woodworth, J.R.;
By: Quintenz, J.P.; Bailey, J.E.; Bieg, K.W.; Bloomquist, D.D.; Cook, D.L.; Crow, J.T.; Coats, R.S.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Dreike, P.L.; Gerber, R.A.; Hussey, T.W.; Johnson, D.J.; Johnson, W.A.; Kensek, R.P.; Kuswa, G.W.; Lee, J.R.; Leeper, R.J.; Lockner, T.R.; Maenchen, J.E.; McDaniel, D.H.; McKay, P.F.; Mehlhorn, T.A.; Mendel, C.W., Jr.; Mix, L.P.; Neau, E.L.; Olson, C.L.; Pointon, T.D.; Pregenzer, A.L.; Renk, T.J.; Rochau, G.E.; Rosenthal, S.E.; Ruiz, C.L.; Schneider, L.X.; Slutz, S.A.; Stinnett, R.W.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Tisone, F.C.; Turman, B.N.; VanDevender, J.P.; Woodworth, J.R.;
1992 / IEEE
By: Mehlhorn, T.A.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Pointon, T.D.; Desjarlais, M.P.; Coats, R.S.; Bacon, L.D.; Quintenz, J.P.; Krall, N.A.; Kiefer, M.L.;
By: Mehlhorn, T.A.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Pointon, T.D.; Desjarlais, M.P.; Coats, R.S.; Bacon, L.D.; Quintenz, J.P.; Krall, N.A.; Kiefer, M.L.;
1989 / IEEE
By: Lockner, T.R.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Leeper, R.J.; Maenchen , J.E.; Stygar, W.A.; Rosenthal, S.E.; Kensek, R.; Desjarlais, M.P.; Mendel, C.W.; Rochau, G.; Quintenz, J.P.; Stinnett, R.W.; Coats, R.S.;
By: Lockner, T.R.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Leeper, R.J.; Maenchen , J.E.; Stygar, W.A.; Rosenthal, S.E.; Kensek, R.; Desjarlais, M.P.; Mendel, C.W.; Rochau, G.; Quintenz, J.P.; Stinnett, R.W.; Coats, R.S.;
1989 / IEEE
By: Johnson, D.J.; Bailey, J.E.; Lockner, T.R.; Stinnett, R.W.; McKay, P.F.; Hanson, D.L.; Slutz, S.A.; Rosenthal, S.E.; Quintenz, J.P.; Kensek, R.P.; Coates, R.S.; Stygar, W.A.; Ruiz, C.; Maenchen, J.; Leeper, R.J.; Woodworth, J.R.; Pregenzer, A.L.; Bieg, K.W.; Desjarlais, M.P.; Mehlhorn, T.A.;
By: Johnson, D.J.; Bailey, J.E.; Lockner, T.R.; Stinnett, R.W.; McKay, P.F.; Hanson, D.L.; Slutz, S.A.; Rosenthal, S.E.; Quintenz, J.P.; Kensek, R.P.; Coates, R.S.; Stygar, W.A.; Ruiz, C.; Maenchen, J.; Leeper, R.J.; Woodworth, J.R.; Pregenzer, A.L.; Bieg, K.W.; Desjarlais, M.P.; Mehlhorn, T.A.;
1989 / IEEE
By: Ruiz, C.L.; Stygar, W.A.; Maenchen, J.E.; Leeper, R.J.; Mehlhorn, T.A.; Johnson, D.J.; Gerber, R.A.; Lockner, T.R.; Bieg, K.W.; Pregenzer, A.L.; Woodworth, J.R.; Halliburton, M.; Penn, K.J.; Johnson, P.R.; Jaramillo, W.H.; Kensek, R.P.;
By: Ruiz, C.L.; Stygar, W.A.; Maenchen, J.E.; Leeper, R.J.; Mehlhorn, T.A.; Johnson, D.J.; Gerber, R.A.; Lockner, T.R.; Bieg, K.W.; Pregenzer, A.L.; Woodworth, J.R.; Halliburton, M.; Penn, K.J.; Johnson, P.R.; Jaramillo, W.H.; Kensek, R.P.;
1989 / IEEE
By: Mix, L.P.; Stygar, W.A.; Reyes, P.; Nelson, W.E.; Lockner, T.R.; Leeper, R.J.; Johnson, D.J.; Hebron, D.E.; Brock, E.R.; Maenchen, J.; Mehlhorn, T.A.;
By: Mix, L.P.; Stygar, W.A.; Reyes, P.; Nelson, W.E.; Lockner, T.R.; Leeper, R.J.; Johnson, D.J.; Hebron, D.E.; Brock, E.R.; Maenchen, J.; Mehlhorn, T.A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Renk, T.J.; Pointon, T.D.; Mehlhorn, T.A.; Lake, P.; McGuire, E.J.; Stygar, W.; Johnson, D.J.; Carlson, A.L.; Filuk, A.B.; Bailey, J.E.; Maron, Y.;
By: Renk, T.J.; Pointon, T.D.; Mehlhorn, T.A.; Lake, P.; McGuire, E.J.; Stygar, W.; Johnson, D.J.; Carlson, A.L.; Filuk, A.B.; Bailey, J.E.; Maron, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.; Desjarlais, M.P.; Johnson, D.J.; Wenger, D.F.; Rosenthal, S.E.;
By: Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.; Desjarlais, M.P.; Johnson, D.J.; Wenger, D.F.; Rosenthal, S.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: MacFarlane, J.J.; Haill, T.A.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.; Wang, P.;
By: MacFarlane, J.J.; Haill, T.A.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.; Wang, P.;
1996 / IEEE / 0-7803-2906-6
By: Mehlhorn, T.A.; Welch, D.R.; Bailey, J.E.; Bernard, M.A.; Carlson, A.; Cuneo, M.E.; Desjarlais, M.P.; Filuk, A.B.; Fowler, W.E.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Lake, P.; Lockner, T.R.; Maron, Y.; Menge, P.R.; Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Stark, M.A.; Vesey, R.A.;
By: Mehlhorn, T.A.; Welch, D.R.; Bailey, J.E.; Bernard, M.A.; Carlson, A.; Cuneo, M.E.; Desjarlais, M.P.; Filuk, A.B.; Fowler, W.E.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Lake, P.; Lockner, T.R.; Maron, Y.; Menge, P.R.; Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Stark, M.A.; Vesey, R.A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Hanson, D.L.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Bernard, M.A.; Bailey, J.E.; Lockner, T.R.; Menge, P.R.; Welch, D.R.; Cuneo, M.E.; Slutz, S.A.; Mehlhorn, T.A.;
By: Hanson, D.L.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Bernard, M.A.; Bailey, J.E.; Lockner, T.R.; Menge, P.R.; Welch, D.R.; Cuneo, M.E.; Slutz, S.A.; Mehlhorn, T.A.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lockner, T.R.; Desjarlais, M.P.; Johnson, J.; Wenger, D.F.; Stygar, W.A.; Mehlhorn, T.A.;
By: Lockner, T.R.; Desjarlais, M.P.; Johnson, J.; Wenger, D.F.; Stygar, W.A.; Mehlhorn, T.A.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Mendel, C.W.; Mix, L.P.; Haill, T.A.; Filuk, A.B.; Kensek, R.P.; Coats, R.S.; Bailey, J.E.; Desjarlais, M.P.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Wenger, D.F.; Ruiz, C.L.; Rosenthal, S.E.; Moats, A.R.;
By: Mendel, C.W.; Mix, L.P.; Haill, T.A.; Filuk, A.B.; Kensek, R.P.; Coats, R.S.; Bailey, J.E.; Desjarlais, M.P.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Wenger, D.F.; Ruiz, C.L.; Rosenthal, S.E.; Moats, A.R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Desjarlais, M.P.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.; Wenger, D.F.;
By: Desjarlais, M.P.; Johnson, D.J.; Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.; Wenger, D.F.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: McGuire, E.J.; Lake, P.; Johnson, D.J.; Filuk, A.B.; Carlson, A.L.; Mehlhorn, T.A.; Stambulchik, E.; Maron, Y.; Bailey, J.E.; Rosenthal, S.E.; Pointon, T.D.;
By: McGuire, E.J.; Lake, P.; Johnson, D.J.; Filuk, A.B.; Carlson, A.L.; Mehlhorn, T.A.; Stambulchik, E.; Maron, Y.; Bailey, J.E.; Rosenthal, S.E.; Pointon, T.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Merge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Johnson, D.J.; Hanson, P.R.; Nielsen, D.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Ching, C.H.; Bailey, J.E.; Armijo, J.; Adams, R.G.; Cuneo, M.E.; Wenger, D.F.; Versey, R.A.; Stark, M.A.;
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Merge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Johnson, D.J.; Hanson, P.R.; Nielsen, D.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Ching, C.H.; Bailey, J.E.; Armijo, J.; Adams, R.G.; Cuneo, M.E.; Wenger, D.F.; Versey, R.A.; Stark, M.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Cuneo, M.E.; Filuk, A.B.; Mehlhorn, T.A.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.;
By: Cuneo, M.E.; Filuk, A.B.; Mehlhorn, T.A.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Nielson, D.; Armijo, J.; Johnston, R.R.; Mehlhorn, T.A.; Hanson, D.L.; Wenger, D.F.; Johnson, D.J.; Cuneo, M.E.; Welch, D.R.;
By: Nielson, D.; Armijo, J.; Johnston, R.R.; Mehlhorn, T.A.; Hanson, D.L.; Wenger, D.F.; Johnson, D.J.; Cuneo, M.E.; Welch, D.R.;
1989 / IEEE
By: Johnson, D.J.; Lockner, T.R.; Stinnett, R.W.; Quintenz, J.P.; Rosenthal, S.E.; Nelson, W.E.; Mehlhorn, T.A.; Kensek, R.P.; Desjarlais, M.P.; Coats, R.S.; Stygar, W.A.; Rochau, C.E.; Mendel, C.W.; Leeper, R.J.; Maenchen, J.E.;
By: Johnson, D.J.; Lockner, T.R.; Stinnett, R.W.; Quintenz, J.P.; Rosenthal, S.E.; Nelson, W.E.; Mehlhorn, T.A.; Kensek, R.P.; Desjarlais, M.P.; Coats, R.S.; Stygar, W.A.; Rochau, C.E.; Mendel, C.W.; Leeper, R.J.; Maenchen, J.E.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Quintenz, J.P.; Adams, R.G.; Allshouse, G.O.; Bailey, J.E.; Bloomquist, D.D.; Chandler, G.A.; Coats, R.S.; Cook, D.L.; Cuneo, M.E.; Deeney, C.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Douglas, M.R.; Fehl, D.L.; Filuk, A.B.; Haill, T.A.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Kiefer, M.L.; Lash, J.S.; Leeper, R.J.; Marder, B.M.; Matzen, M.K.; McDaniel, D.H.; McGuire, E.J.; Mehlhorn, T.A.; Mix, L.P.; Moats, A.R.; Nash, T.J.; Olson, C.L.; Olson, R.E.; Pointon, T.D.; Porter, J.L.; Ruiz, C.L.; Sanford, T.W.L.; Seamen, J.F.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Spielman, R.B.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Vesey, R.A.; Wenger, D.F.;
By: Quintenz, J.P.; Adams, R.G.; Allshouse, G.O.; Bailey, J.E.; Bloomquist, D.D.; Chandler, G.A.; Coats, R.S.; Cook, D.L.; Cuneo, M.E.; Deeney, C.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Douglas, M.R.; Fehl, D.L.; Filuk, A.B.; Haill, T.A.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Kiefer, M.L.; Lash, J.S.; Leeper, R.J.; Marder, B.M.; Matzen, M.K.; McDaniel, D.H.; McGuire, E.J.; Mehlhorn, T.A.; Mix, L.P.; Moats, A.R.; Nash, T.J.; Olson, C.L.; Olson, R.E.; Pointon, T.D.; Porter, J.L.; Ruiz, C.L.; Sanford, T.W.L.; Seamen, J.F.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Spielman, R.B.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Vesey, R.A.; Wenger, D.F.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Johnson, D.J.; Hanson, D.L.; Olson, C.L.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Adams, R.G.; Mehlhorn, T.A.; Wenger, D.F.; Welch, D.R.; Vesey, R.A.;
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Johnson, D.J.; Hanson, D.L.; Olson, C.L.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Adams, R.G.; Mehlhorn, T.A.; Wenger, D.F.; Welch, D.R.; Vesey, R.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Menge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Johnson, D.J.; Olson, C.L.; Hanson, D.L.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Bailey, J.E.; Adams, G.; Cuneo, M.E.; Welch, D.R.; Wenger, D.F.; Vesey, R.A.;
By: Pointon, T.D.; Slutz, S.A.; Menge, P.R.; Mehlhorn, T.A.; Johnson, D.J.; Olson, C.L.; Hanson, D.L.; Fowler, W.E.; Filuk, A.B.; Desjarlais, M.P.; Bailey, J.E.; Adams, G.; Cuneo, M.E.; Welch, D.R.; Wenger, D.F.; Vesey, R.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Ruggles, L.E.; Mehlhorn, T.A.; Hall, C.A.; Cuneo, M.E.; Porter, J.L., Jr.; Simpson, W.W.; Koch, J.; Landen, O.; Vesey, R.A.; Hammer, J.H.; Vargas, M.F.;
By: Ruggles, L.E.; Mehlhorn, T.A.; Hall, C.A.; Cuneo, M.E.; Porter, J.L., Jr.; Simpson, W.W.; Koch, J.; Landen, O.; Vesey, R.A.; Hammer, J.H.; Vargas, M.F.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Sanford, T.W.L.; Lemke, R.W.; Peterson, D.L.;
By: Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Sanford, T.W.L.; Lemke, R.W.; Peterson, D.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Garasi, C.J.; Haill, T.A.; Brunner, T.A.; Budge, K.G.; Campbell, R.B.; Desjarlais, N.I.; Oliver, B.V.; Lawrence, R.J.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Robinson, A.C.; Cochrane, K.;
By: Garasi, C.J.; Haill, T.A.; Brunner, T.A.; Budge, K.G.; Campbell, R.B.; Desjarlais, N.I.; Oliver, B.V.; Lawrence, R.J.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Robinson, A.C.; Cochrane, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Sanford, T.W.L.; Watt, R.G.; Mock, R.C.; Chandler, G.A.; Fehl, D.L.; Hebron, D.E.; Leeper, R.J.; Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Ruiz, C.L.; Slutz, S.A.; Struve, K.W.; Peterson, D.L.; Chrien, R.E.; Idzorek, G.C.; Lemke, R.W.;
By: Sanford, T.W.L.; Watt, R.G.; Mock, R.C.; Chandler, G.A.; Fehl, D.L.; Hebron, D.E.; Leeper, R.J.; Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Ruiz, C.L.; Slutz, S.A.; Struve, K.W.; Peterson, D.L.; Chrien, R.E.; Idzorek, G.C.; Lemke, R.W.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Cochrane, K.; Robinson, A.C.; Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Lawrence, R.J.; Haill, T.A.; Garasi, C.J.; Desjarlais, M.P.; Budge, K.G.; Brunner, T.A.;
By: Cochrane, K.; Robinson, A.C.; Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Lawrence, R.J.; Haill, T.A.; Garasi, C.J.; Desjarlais, M.P.; Budge, K.G.; Brunner, T.A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Lemke, R.W.; Leeper, R.J.; Chandler, G.A.; Mock, R.C.; Sanford, T.W.L.; Mosher, D.; Lebedev, S.V.; Haines, M.G.; Chittenden, J.P.; Watt, R.G.; Peterson, D.L.; Idzorek, G.C.; Chrien, R.E.; Waisman, E.M.; Sarkisov, G.S.;
By: Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Lemke, R.W.; Leeper, R.J.; Chandler, G.A.; Mock, R.C.; Sanford, T.W.L.; Mosher, D.; Lebedev, S.V.; Haines, M.G.; Chittenden, J.P.; Watt, R.G.; Peterson, D.L.; Idzorek, G.C.; Chrien, R.E.; Waisman, E.M.; Sarkisov, G.S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Bennett, G.R.; Cuneo, M.E.; Vesey, R.A.; Simpson, W.W.; Hanson, D.L.; Ruggles, L.E.; Mehlhorn, T.A.; Porter, J.L.;
By: Bennett, G.R.; Cuneo, M.E.; Vesey, R.A.; Simpson, W.W.; Hanson, D.L.; Ruggles, L.E.; Mehlhorn, T.A.; Porter, J.L.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Oliver, B.V.; Wunsch, S.E.; Bland, S.N.; Bott, S.; Lebedev, S.V.; Ampleford, D.; Robinson, A.C.; Mehlhorn, T.A.; Jones, B.; Deeney, C.; Garasi, C.J.;
By: Oliver, B.V.; Wunsch, S.E.; Bland, S.N.; Bott, S.; Lebedev, S.V.; Ampleford, D.; Robinson, A.C.; Mehlhorn, T.A.; Jones, B.; Deeney, C.; Garasi, C.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.E.; Jones, M.C.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Johnston, M.D.; Strickler, T.S.;
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.E.; Jones, M.C.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Johnston, M.D.; Strickler, T.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Cooper, G.W.; Starner, J.R.; Mehlhorn, T.A.; Leeper, R.J.; Franklin, J.K.; Ruiz, C.L.;
By: Cooper, G.W.; Starner, J.R.; Mehlhorn, T.A.; Leeper, R.J.; Franklin, J.K.; Ruiz, C.L.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Gomez, M.R.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.S.; Zier, J.; Johnston, M.D.; Mazarakis, M.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.;
By: Gomez, M.R.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.S.; Zier, J.; Johnston, M.D.; Mazarakis, M.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Mehlhorn, T.A.; Lepell, P.D.; Jones, B.M.; Haill, T.A.; Dunham, G.S.; Deeney, C.; Hyun-Kyung Chung; Cochrane, K.R.; Bliss, D.E.; Bailey, J.E.; Chantrenne, S.; Coverdale, C.A.;
By: Mehlhorn, T.A.; Lepell, P.D.; Jones, B.M.; Haill, T.A.; Dunham, G.S.; Deeney, C.; Hyun-Kyung Chung; Cochrane, K.R.; Bliss, D.E.; Bailey, J.E.; Chantrenne, S.; Coverdale, C.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Lau, Y.Y.; Tang, W.; Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.; Garasi, C.; Gomez, M.; Zier, J.; Yu, E.;
By: Lau, Y.Y.; Tang, W.; Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.; Garasi, C.; Gomez, M.; Zier, J.; Yu, E.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Leboeuf, J.-N.; Cowan, T.E.; Ivanov, V.I.; Sotnikov, V.I.; Mehlhorn, T.A.; Deeney, C.; Oliver, B.V.;
By: Leboeuf, J.-N.; Cowan, T.E.; Ivanov, V.I.; Sotnikov, V.I.; Mehlhorn, T.A.; Deeney, C.; Oliver, B.V.;
2006 / IEEE
By: Oliver, B.V.; Sotnikov, V.I.; Leboeuf, J.-N.G.; Cowan, T.E.; Ivanov, V.V.; Coverdale, C.A.; LePell, P.D.; Sarkisov, G.S.; Mehlhorn, T.A.; Deeney, C.; Jones, B.M.;
By: Oliver, B.V.; Sotnikov, V.I.; Leboeuf, J.-N.G.; Cowan, T.E.; Ivanov, V.V.; Coverdale, C.A.; LePell, P.D.; Sarkisov, G.S.; Mehlhorn, T.A.; Deeney, C.; Jones, B.M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Slutz, S.A.; Rochau, G.A.; Chandler, G.A.; Dunham, G.; Bailey, J.E.; Nielson, D.; Calhoun, D.; Moore, T.;
By: Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Slutz, S.A.; Rochau, G.A.; Chandler, G.A.; Dunham, G.; Bailey, J.E.; Nielson, D.; Calhoun, D.; Moore, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Burris-Mog, T.J.; Mehlhorn, T.A.; Slutz, S.A.; Peterson, K.; Lake, P.W.; Dunham, G.; Golovkin, I.E.; Rochau, G.; Bailey, J.E.; Mancini, R.C.; Chandler, G.A.; MacFarlane, J.J.;
By: Burris-Mog, T.J.; Mehlhorn, T.A.; Slutz, S.A.; Peterson, K.; Lake, P.W.; Dunham, G.; Golovkin, I.E.; Rochau, G.; Bailey, J.E.; Mancini, R.C.; Chandler, G.A.; MacFarlane, J.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Peterson, K.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.; Woodruff, P.R.; Rochau, G.; Golovkin, I.E.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.;
By: Peterson, K.; MacFarlane, J.J.; Wang, P.; Woodruff, P.R.; Rochau, G.; Golovkin, I.E.; Mehlhorn, T.A.; Bailey, J.E.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Haill, T.A.; Davis, J.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Deeney, C.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.; Mehlhorn, T.A.;
By: Haill, T.A.; Davis, J.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Deeney, C.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.; Mehlhorn, T.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Chantrenne, S.; Waisman, E.M.; Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.; Cuneo, M.E.;
By: Chantrenne, S.; Waisman, E.M.; Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.; Cuneo, M.E.;
2007 / IEEE
By: Ivanov, V.V.; Sotnikov, V.I.; Sarkisov, G.; Astanovitskiy, A.L.; Laca, P.J.; Leboeuf, J.-N.G.; Jones, B..; Deeney, C..; Oliver, B.V.; Mehlhorn, T.A.; Cowan, T.E.;
By: Ivanov, V.V.; Sotnikov, V.I.; Sarkisov, G.; Astanovitskiy, A.L.; Laca, P.J.; Leboeuf, J.-N.G.; Jones, B..; Deeney, C..; Oliver, B.V.; Mehlhorn, T.A.; Cowan, T.E.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Covington, A.; Sotnikov, V.I.; Travnicek, P.; Hellinger, P.; Sarkisov, G.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Leboeuf, J.N.; Farkas, A.; Darling, T.;
By: Covington, A.; Sotnikov, V.I.; Travnicek, P.; Hellinger, P.; Sarkisov, G.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Leboeuf, J.N.; Farkas, A.; Darling, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Oliver, B.V.; Hahn, K.; Welch, D.R.; Maron, Y.; Starbird, R.L.; Droemer, D.W.; Rose, D.V.;
By: Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Oliver, B.V.; Hahn, K.; Welch, D.R.; Maron, Y.; Starbird, R.L.; Droemer, D.W.; Rose, D.V.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Maron, Y.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Heathcote, A.; Maenchen, J.E.; Droemer, D.; Bruner, N.; Rose, D.V.; Welch, D.R.; Mehlhorn, T.A.;
By: Maron, Y.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Heathcote, A.; Maenchen, J.E.; Droemer, D.; Bruner, N.; Rose, D.V.; Welch, D.R.; Mehlhorn, T.A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Strickler, T.; Zier, J.; Douglas, J.; Chalenski, D.; Greenly, J.; Kusse, B.; Hammer, D.A.; Mehlhorn, T.A.; Tang, W.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.; Gomez, M.R.;
By: Strickler, T.; Zier, J.; Douglas, J.; Chalenski, D.; Greenly, J.; Kusse, B.; Hammer, D.A.; Mehlhorn, T.A.; Tang, W.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.; Gomez, M.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Zier, J.C.; Gomez, M.R.; Cuneo, M.E.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Mehlhorn, T.A.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.; Gilgenbach, R.M.;
By: Zier, J.C.; Gomez, M.R.; Cuneo, M.E.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Mehlhorn, T.A.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.; Gilgenbach, R.M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.; Garasi, C.; Yu, E.; Gomez, M.; Tang, W.; Zier, J.; Gilgenbach, R.M.; Lau, Y.Y.; Strickler, T.;
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.; Garasi, C.; Yu, E.; Gomez, M.; Tang, W.; Zier, J.; Gilgenbach, R.M.; Lau, Y.Y.; Strickler, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Asay, J.R.; Haill, T.A.; LaFollett, J.; Bakeman, C.J.; Gupta, Y.M.; Lawrence, R.J.; Mehlhorn, T.A.;
By: Asay, J.R.; Haill, T.A.; LaFollett, J.; Bakeman, C.J.; Gupta, Y.M.; Lawrence, R.J.; Mehlhorn, T.A.;
2008 / IEEE
By: Zier, J.; Gomez, M.R.; French, D.M.; Gilgenbach, R.M.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.W.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.;
By: Zier, J.; Gomez, M.R.; French, D.M.; Gilgenbach, R.M.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.W.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Desjarlais, M.P.; Sinars, D.B.; Waisman, E.M.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Yu, E.P.; Cuneo, M.E.; Hanshaw, H.L.; Brunner, T.A.; Haill, T.A.;
By: Desjarlais, M.P.; Sinars, D.B.; Waisman, E.M.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Yu, E.P.; Cuneo, M.E.; Hanshaw, H.L.; Brunner, T.A.; Haill, T.A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Critchley, A.; Heathcote, A.; Stambulchik, E.; Bernshtam, V.; Mehlhorn, T.A.; Klodzh, E.; Maron, Y.; Droemer, D.; Bruner, N.;
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Critchley, A.; Heathcote, A.; Stambulchik, E.; Bernshtam, V.; Mehlhorn, T.A.; Klodzh, E.; Maron, Y.; Droemer, D.; Bruner, N.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Mehlhorn, T.A.; Jones, B.M.; Oliver, B.V.; Onishchenko, O.G.; Leboeuf, J.N.; Deeney, C.; Ivanov, V.I.; Sotnikov, V.I.; Kindel, J.M.; Presura, R.;
By: Mehlhorn, T.A.; Jones, B.M.; Oliver, B.V.; Onishchenko, O.G.; Leboeuf, J.N.; Deeney, C.; Ivanov, V.I.; Sotnikov, V.I.; Kindel, J.M.; Presura, R.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Jordan, N.; Cruz, E.; French, D.; Hoff, B.W.; Tang, W.; Zier, J.; Gomez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Sinebryukhov, V.A.; Kim, A.A.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.; Mazarakis, M.G.; Lau, Y.Y.;
By: Jordan, N.; Cruz, E.; French, D.; Hoff, B.W.; Tang, W.; Zier, J.; Gomez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Sinebryukhov, V.A.; Kim, A.A.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.; Mazarakis, M.G.; Lau, Y.Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: LaFollett, J.; Bakeman, C.J.; Lawrence, R. J.; Gupta, Y.M.; Asay, J.R.; Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.;
By: LaFollett, J.; Bakeman, C.J.; Lawrence, R. J.; Gupta, Y.M.; Asay, J.R.; Mehlhorn, T.A.; Haill, T.A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Lopez, M.R.; Cuneo, M.E.; Mazarakis, M.G.; Zier, J.C.; French, D.M.; Gomez, M.R.; Tang, W.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.;
By: Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Lopez, M.R.; Cuneo, M.E.; Mazarakis, M.G.; Zier, J.C.; French, D.M.; Gomez, M.R.; Tang, W.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap