Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Mawst, L.J.
Results
2012 / IEEE
By: Huang, J.Y.T.; Jeng-Ya Yeh; Menoni, C.S.; Pikal, J.M.; Mawst, L.J.; Patel, D.; Lifang Xu; Tansu, N.;
By: Huang, J.Y.T.; Jeng-Ya Yeh; Menoni, C.S.; Pikal, J.M.; Mawst, L.J.; Patel, D.; Lifang Xu; Tansu, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: LiFang Xu; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Jeng-Ya Yeh; Menoni, C.S.; Patel, D.;
By: LiFang Xu; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Jeng-Ya Yeh; Menoni, C.S.; Patel, D.;
2014 / IEEE
By: Sin, Y.; Presser, N.; Earles, T.; Lindberg, D.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Boyle, C.; Chang, C.C.; Kirch, J.; Brodie, M.; Lingley, Z.; Moss, S.C.;
By: Sin, Y.; Presser, N.; Earles, T.; Lindberg, D.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Boyle, C.; Chang, C.C.; Kirch, J.; Brodie, M.; Lingley, Z.; Moss, S.C.;
1993 / IEEE
By: Boetz, D.; Mawst, L.J.; Yang, J.J.; Valley, M.; Peterson, G.; Roth, T.J.; Tu, C.A.; Sergant, M.; Ou, S.S.; Zmudzinski, C.; Jansen, M.;
By: Boetz, D.; Mawst, L.J.; Yang, J.J.; Valley, M.; Peterson, G.; Roth, T.J.; Tu, C.A.; Sergant, M.; Ou, S.S.; Zmudzinski, C.; Jansen, M.;
1996 / IEEE
By: Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Nesnidal, M.P.; Abeles, J.H.; Connolly, J.C.; DiMarco, L.; Botez, D.;
By: Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Nesnidal, M.P.; Abeles, J.H.; Connolly, J.C.; DiMarco, L.; Botez, D.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Mawst, L.J.; Nesnidal, M.P.; Abeles, J.H.; Connolly, J.C.; DiMarco, L.; Botez, D.; Bhattacharya, A.;
By: Mawst, L.J.; Nesnidal, M.P.; Abeles, J.H.; Connolly, J.C.; DiMarco, L.; Botez, D.; Bhattacharya, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Botez, D.; Lopez, J.; Nesnidal, M.; Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Zory, P.; Morris, J.A.;
By: Botez, D.; Lopez, J.; Nesnidal, M.; Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Zory, P.; Morris, J.A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3163-X
By: Nabiev, R.F.; Fang, F.; Jansen, M.; Connolly, J.C.; DeMarco, L.; Mawst, L.J.; Botez, D.; Lopez, J.; Bhattacharya, A.; Garbuzov, D.Z.;
By: Nabiev, R.F.; Fang, F.; Jansen, M.; Connolly, J.C.; DeMarco, L.; Mawst, L.J.; Botez, D.; Lopez, J.; Bhattacharya, A.; Garbuzov, D.Z.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Fang, F.; Jansen, M.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Wade, J.K.; Nabiev, R.F.;
By: Fang, F.; Jansen, M.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Wade, J.K.; Nabiev, R.F.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Mawst, L.J.; Yang, H.; Botez, D.; Bhattacharya, A.; Lopez, J.; Nesnidal, M.;
By: Mawst, L.J.; Yang, H.; Botez, D.; Bhattacharya, A.; Lopez, J.; Nesnidal, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Forrest, S.R.; Dries, C.; Botez, D.; Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.; Odubanjo, B.; Morris, N.; Garbuzov, D.;
By: Forrest, S.R.; Dries, C.; Botez, D.; Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.; Odubanjo, B.; Morris, N.; Garbuzov, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Morris, J.A.; Jansen, M.; Nabiev, R.F.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Wade, J.K.;
By: Morris, J.A.; Jansen, M.; Nabiev, R.F.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Wade, J.K.;
780 nm emitting Al-free active region diode lasers with compressively-strained InGaAsP quantum wells
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2By: Wade, J.K.; Al-Muhanna, A.; Fu, R.J.; Mawst, L.J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
By: Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
1990 / IEEE / 0-87942-550-4
By: Hayashida, P.; Botez, D.; Yang, J.J.; Anderson, E.; Mawst, L.J.; Jansen, M.; Peterson, G.; Roth, T.J.;
By: Hayashida, P.; Botez, D.; Yang, J.J.; Anderson, E.; Mawst, L.J.; Jansen, M.; Peterson, G.; Roth, T.J.;
1998 / IEEE
By: Mawst, L.J.; Al-Muhanna, A.; Nesnidal, M.; Yang, H.; Botez, D.; Johnson, R.; Alvarez, F.D.; Vang, T.A.;
By: Mawst, L.J.; Al-Muhanna, A.; Nesnidal, M.; Yang, H.; Botez, D.; Johnson, R.; Alvarez, F.D.; Vang, T.A.;
1998 / IEEE / 0-7803-4223-2
By: Al-Muhanna, A.; Mawst, L.J.; Nesnidal, M.; Yang, H.; Botez, D.; Johnson, R.; Alvarez, F.D.; Vang, T.A.;
By: Al-Muhanna, A.; Mawst, L.J.; Nesnidal, M.; Yang, H.; Botez, D.; Johnson, R.; Alvarez, F.D.; Vang, T.A.;
1992 / IEEE / 4-930813-51-4
By: Yang, J.J.; Peterson, G.; Tu, C.; Roth, T.J.; Sergant, M.; Ou, S.S.; Zmudzinski, C.; Jansen, M.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
By: Yang, J.J.; Peterson, G.; Tu, C.; Roth, T.J.; Sergant, M.; Ou, S.S.; Zmudzinski, C.; Jansen, M.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Lopez, J.; Nesnidal, M.; Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Boetz, D.; Suruceanu, G.I.; Yakovlev, V.P.; Syrbu, A.V.; Mereutza, A.Z.;
By: Lopez, J.; Nesnidal, M.; Bhattacharya, A.; Mawst, L.J.; Boetz, D.; Suruceanu, G.I.; Yakovlev, V.P.; Syrbu, A.V.; Mereutza, A.Z.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Bour, D.P.; Takeuchi, T.; Ying-Lan Chang; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Tan, M.R.T.; Corzine, S.W.;
By: Bour, D.P.; Takeuchi, T.; Ying-Lan Chang; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Tan, M.R.T.; Corzine, S.W.;
2002 / IEEE
By: Takeuchi, T.; Ying-Lan Chang; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Tan, M.R.T.; Corzine, S.W.; Bour, D.P.;
By: Takeuchi, T.; Ying-Lan Chang; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Tan, M.R.T.; Corzine, S.W.; Bour, D.P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Kim, N.H.; Elkin, N.N.; Troshchieva, V.N.; Vysotsky, D.V.; Napartovich, A.P.; Mawst, L.J.; Bao, L.;
By: Kim, N.H.; Elkin, N.N.; Troshchieva, V.N.; Vysotsky, D.V.; Napartovich, A.P.; Mawst, L.J.; Bao, L.;
2003 / IEEE / 0-7803-7734-6
By: Vysotsky, D.V.; Napartovich, A.P.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Stiers, E.; Nesnidal, M.; Sukharev, A.G.; Elkin, N.N.;
By: Vysotsky, D.V.; Napartovich, A.P.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Stiers, E.; Nesnidal, M.; Sukharev, A.G.; Elkin, N.N.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Jeng-Ya Yeh; Blood, P.; Smowton, P.M.; Palmer, D.J.; Tansu, N.; Mawst, L.J.;
By: Jeng-Ya Yeh; Blood, P.; Smowton, P.M.; Palmer, D.J.; Tansu, N.; Mawst, L.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Nam Heon Kim; Ling Bao; Mawst, L.J.; Napartovich, A.P.; Vysotsky, D.V.; Troshchieva, V.N.; Elkin, N.N.;
By: Nam Heon Kim; Ling Bao; Mawst, L.J.; Napartovich, A.P.; Vysotsky, D.V.; Troshchieva, V.N.; Elkin, N.N.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Jeng-Ya Yeh; Menoni, C.S.; Anton, O.; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.;
By: Jeng-Ya Yeh; Menoni, C.S.; Anton, O.; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9149-7
By: Vysotsky, D.V.; Elkin, N.N.; Troshchieva, V.N.; Sukharev, A.G.; Nesnidal, M.; Napartovich, A.P.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Stiers, E.;
By: Vysotsky, D.V.; Elkin, N.N.; Troshchieva, V.N.; Sukharev, A.G.; Nesnidal, M.; Napartovich, A.P.; Botez, D.; Mawst, L.J.; Stiers, E.;
2005 / IEEE
By: Ling Bao; Napartovich, A.P.; Vysotsky, D.V.; Troshchieva, V.N.; Elkin, N.N.; Mawst, L.J.; Nam-Heon Kim;
By: Ling Bao; Napartovich, A.P.; Vysotsky, D.V.; Troshchieva, V.N.; Elkin, N.N.; Mawst, L.J.; Nam-Heon Kim;
2005 / IEEE
By: Menoni, C.S.; Patel, D.; Anton, O.H.; Tansu, N.; Pikal, J.M.; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.; Jeng-Ya Yeh;
By: Menoni, C.S.; Patel, D.; Anton, O.H.; Tansu, N.; Pikal, J.M.; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.; Jeng-Ya Yeh;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Yeh, J.-Y.; Menoni, C.S.; Anton, O.; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.;
By: Yeh, J.-Y.; Menoni, C.S.; Anton, O.; Tansu, N.; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Yeh, J.-Y.; Blood, P.; Smowton, P.M.; Palmer, D.J.; Tansu, N.; Mawst, L.J.;
By: Yeh, J.-Y.; Blood, P.; Smowton, P.M.; Palmer, D.J.; Tansu, N.; Mawst, L.J.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Menoni, C.S.; Anton, O.; Vaschenko, G.; Patel, D.; Jeng-Ya Yeh; Tansu, N.; Lifang Xu; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.;
By: Menoni, C.S.; Anton, O.; Vaschenko, G.; Patel, D.; Jeng-Ya Yeh; Tansu, N.; Lifang Xu; Mawst, L.J.; Van Roy, T.T.;
2006 / IEEE
By: Mawst, L.J.; Ling Bao; Nam-Heon Kim; Hagness, S.C.; Elkin, N.N.; Vysotsky, D.V.; Troshchieva, V.N.; Napartovich, A.P.; Tae-Woo Lee;
By: Mawst, L.J.; Ling Bao; Nam-Heon Kim; Hagness, S.C.; Elkin, N.N.; Vysotsky, D.V.; Troshchieva, V.N.; Napartovich, A.P.; Tae-Woo Lee;
2006 / IEEE
By: Van Roy, T.T.; Yeh, J.Y.; Patel, D.; Menoni, C.S.; Mawst, L.J.; Xu, L.F.; Anton, O.; Tansu, N.;
By: Van Roy, T.T.; Yeh, J.Y.; Patel, D.; Menoni, C.S.; Mawst, L.J.; Xu, L.F.; Anton, O.; Tansu, N.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Huang, J.Y.T.; Yeh, J.-Y.; Menoni, C.S.; Patel, D.; Xu, L.; Tansu, N.; Mawst, L.J.;
By: Huang, J.Y.T.; Yeh, J.-Y.; Menoni, C.S.; Patel, D.; Xu, L.; Tansu, N.; Mawst, L.J.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Xu, D.; Huang, J.Y.T.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Kuech, T.F.; Mawst, L.J.; Park, J.H.;
By: Xu, D.; Huang, J.Y.T.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Kuech, T.F.; Mawst, L.J.; Park, J.H.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap