Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Martinelli, R.U.
Results
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Riris, H.; Carlisle, C.B.; Cooper, D.E.; Stewart, T.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.;
By: Riris, H.; Carlisle, C.B.; Cooper, D.E.; Stewart, T.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.;
1995 / IEEE
By: Olsen, G.H.; Forrest, S.R.; Kim, D.S.; Di Giuseppe, N.J.; Martinelli, R.U.; Lange, M.J.;
By: Olsen, G.H.; Forrest, S.R.; Kim, D.S.; Di Giuseppe, N.J.; Martinelli, R.U.; Lange, M.J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Narayan, S.Y.; Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; York, P.K.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Connolly, J.C.;
By: Narayan, S.Y.; Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; York, P.K.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Connolly, J.C.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
By: Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
10.6 W cw front-facet power from 100 /spl mu/m-aperture 0.97-/spl mu/m emitting Al-free diode lasers
1998 / IEEE / 1-55752-339-0By: Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.I.; Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.;
1992 / IEEE / 0-7803-0526-4
By: Carlisle, C.B.; Martinelli, R.U.; Cooper, D.E.; Menna, R.J.; Bour, D.P.; Riris, H.;
By: Carlisle, C.B.; Martinelli, R.U.; Cooper, D.E.; Menna, R.J.; Bour, D.P.; Riris, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Lee, H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.;
By: Lee, H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.;
By: Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.;
High-temperature continuous-wave operation of optically-pumped type-II W lasers from 3-6.3 /spl mu/m
1999 / IEEE / 1-55752-595-1By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Shanabrook, B.V.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Connolly, J.C.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.;
2000 / IEEE
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: DiMarco, L.A.; Braun, A.M.; Menna, R.J.; Maiorov, M.; Martinelli, R.U.; Abeles, J.H.; Sugg, A.R.; Connolly, J.C.;
By: DiMarco, L.A.; Braun, A.M.; Menna, R.J.; Maiorov, M.; Martinelli, R.U.; Abeles, J.H.; Sugg, A.R.; Connolly, J.C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6259-4
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Connolly, J.C.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Ranallo, M.J.; Vermaak, J.S.;
By: Connolly, J.C.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Ranallo, M.J.; Vermaak, J.S.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Belenky, G.L.; Westerfeld, D.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.;
By: Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Belenky, G.L.; Westerfeld, D.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.;
2001 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7432-0
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7598-X
By: Kim, J.G.; Belenky, G.; Garbuzov, D.; Martinelli, R.U.; Shterengas, L.;
By: Kim, J.G.; Belenky, G.; Garbuzov, D.; Martinelli, R.U.; Shterengas, L.;
2004 / IEEE
By: Shterengas, L.; Westerfeld, D.; Martinelli, R.U.; Kim, J.G.; Donetsky, D.; Gourevitch, A.; Belenky, G.L.;
By: Shterengas, L.; Westerfeld, D.; Martinelli, R.U.; Kim, J.G.; Donetsky, D.; Gourevitch, A.; Belenky, G.L.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Braun, A.M.; Martinelli, R.U.; Khalfin, V.; Li, J.; Willner, B.L.; Abeles, J.H.; Shellenbarger, Z.; Harvey, M.;
By: Braun, A.M.; Martinelli, R.U.; Khalfin, V.; Li, J.; Willner, B.L.; Abeles, J.H.; Shellenbarger, Z.; Harvey, M.;
Current-gain characteristics of Schottky-barrier and p-n junction electron-beam semiconductor diodes
1974 / IEEEBy: Siekanowicz, W.W.; Ho-Chung Huang; Enstrom, R.E.; Martinelli, R.U.; Ponczak, S.; Olmstead, J.;
A study of forward second-breakdown in silicon bipolar power transistors using the unit-cell concept
1982 / IEEEBy: Sassaman, K.A.; Wheatley, C.F., Jr.; Martinelli, R.U.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap