Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Martinelli, R.U.
Results
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Riris, H.; Carlisle, C.B.; Cooper, D.E.; Stewart, T.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.;
By: Riris, H.; Carlisle, C.B.; Cooper, D.E.; Stewart, T.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.;
1995 / IEEE
By: Olsen, G.H.; Forrest, S.R.; Kim, D.S.; Di Giuseppe, N.J.; Martinelli, R.U.; Lange, M.J.;
By: Olsen, G.H.; Forrest, S.R.; Kim, D.S.; Di Giuseppe, N.J.; Martinelli, R.U.; Lange, M.J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Narayan, S.Y.; Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; York, P.K.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Connolly, J.C.;
By: Narayan, S.Y.; Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; York, P.K.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Connolly, J.C.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
By: Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.J.;
10.6 W cw front-facet power from 100 /spl mu/m-aperture 0.97-/spl mu/m emitting Al-free diode lasers
1998 / IEEE / 1-55752-339-0By: Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Botez, D.; Mawst, L.I.; Al-Muhanna, A.; Connolly, J.C.;
1992 / IEEE / 0-7803-0526-4
By: Carlisle, C.B.; Martinelli, R.U.; Cooper, D.E.; Menna, R.J.; Bour, D.P.; Riris, H.;
By: Carlisle, C.B.; Martinelli, R.U.; Cooper, D.E.; Menna, R.J.; Bour, D.P.; Riris, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Lee, H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.;
By: Lee, H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.;
By: Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.;
High-temperature continuous-wave operation of optically-pumped type-II W lasers from 3-6.3 /spl mu/m
1999 / IEEE / 1-55752-595-1By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Shanabrook, B.V.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Connolly, J.C.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.;
2000 / IEEE
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: DiMarco, L.A.; Braun, A.M.; Menna, R.J.; Maiorov, M.; Martinelli, R.U.; Abeles, J.H.; Sugg, A.R.; Connolly, J.C.;
By: DiMarco, L.A.; Braun, A.M.; Menna, R.J.; Maiorov, M.; Martinelli, R.U.; Abeles, J.H.; Sugg, A.R.; Connolly, J.C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6259-4
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Connolly, J.C.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Ranallo, M.J.; Vermaak, J.S.;
By: Connolly, J.C.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Ranallo, M.J.; Vermaak, J.S.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Belenky, G.L.; Westerfeld, D.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.;
By: Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Belenky, G.L.; Westerfeld, D.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.;
2001 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7432-0
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7598-X
By: Kim, J.G.; Belenky, G.; Garbuzov, D.; Martinelli, R.U.; Shterengas, L.;
By: Kim, J.G.; Belenky, G.; Garbuzov, D.; Martinelli, R.U.; Shterengas, L.;
2004 / IEEE
By: Shterengas, L.; Westerfeld, D.; Martinelli, R.U.; Kim, J.G.; Donetsky, D.; Gourevitch, A.; Belenky, G.L.;
By: Shterengas, L.; Westerfeld, D.; Martinelli, R.U.; Kim, J.G.; Donetsky, D.; Gourevitch, A.; Belenky, G.L.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Braun, A.M.; Martinelli, R.U.; Khalfin, V.; Li, J.; Willner, B.L.; Abeles, J.H.; Shellenbarger, Z.; Harvey, M.;
By: Braun, A.M.; Martinelli, R.U.; Khalfin, V.; Li, J.; Willner, B.L.; Abeles, J.H.; Shellenbarger, Z.; Harvey, M.;
Current-gain characteristics of Schottky-barrier and p-n junction electron-beam semiconductor diodes
1974 / IEEEBy: Siekanowicz, W.W.; Ho-Chung Huang; Enstrom, R.E.; Martinelli, R.U.; Ponczak, S.; Olmstead, J.;
A study of forward second-breakdown in silicon bipolar power transistors using the unit-cell concept
1982 / IEEEBy: Sassaman, K.A.; Wheatley, C.F., Jr.; Martinelli, R.U.;