Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Martin, D.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1799-4
By: Lee, M.J.; Jun Kong; Farris, A.B.; Saltz, J.H.; Adsay, N.V.; Martin, D.; Sharma, P.; Bagci, P.;
By: Lee, M.J.; Jun Kong; Farris, A.B.; Saltz, J.H.; Adsay, N.V.; Martin, D.; Sharma, P.; Bagci, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1676-8
By: Hidalgo, J.I.; Herran, A.; Cuesta, A.; Martin, D.; Poza, F.; Abanades, M.A.; Colmenar, J.M.;
By: Hidalgo, J.I.; Herran, A.; Cuesta, A.; Martin, D.; Poza, F.; Abanades, M.A.; Colmenar, J.M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1216-6
By: Zong-Ying Yang; Yuang-Shung Lee; Chuang Liu; Andrade, E.; Chien Liang Chen; Kuan-Hung Wu; Martin, D.; Jih-Sheng Lai; Ribeiro, P.;
By: Zong-Ying Yang; Yuang-Shung Lee; Chuang Liu; Andrade, E.; Chien Liang Chen; Kuan-Hung Wu; Martin, D.; Jih-Sheng Lai; Ribeiro, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0192-3
By: Trentzsch, M.; van Bentum, R.; Schloesser, T.; Slesazeck, S.; Sundquist, J.; Paul, J.; Schroeder, U.; Muller, S.; Yurchuk, E.; Martin, D.; Muller, J.; Mikojajick, T.;
By: Trentzsch, M.; van Bentum, R.; Schloesser, T.; Slesazeck, S.; Sundquist, J.; Paul, J.; Schroeder, U.; Muller, S.; Yurchuk, E.; Martin, D.; Muller, J.; Mikojajick, T.;
HfO2-Based Ferroelectric Field-Effect Transistors with 260 nm Channel Length and Long Data Retention
2012 / IEEE / 978-1-4673-1081-9By: Slesazeck, S.; Muller, S.; Schlosser, T.; Boschke, R.; Martin, D.; Paul, J.; van Bentum, R.; Muller, J.; Yurchuk, E.; Mikolajick, T.; Hoffmann, R.; Schroder, U.; Trentzsch, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Sundqvist, J.; Czernohorsky, M.; Slesazeck, S.; Martin, D.; Polakowski, P.; Muller, S.; Hoffmann, R.; Paul, J.; Schlosser, T.; Yurchuk, E.; Muller, J.; Mikolajick, T.; Schroder, U.; Gebauer, K.; Trentzsch, M.; Boschke, R.; Kucher, P.; Seidel, K.;
By: Sundqvist, J.; Czernohorsky, M.; Slesazeck, S.; Martin, D.; Polakowski, P.; Muller, S.; Hoffmann, R.; Paul, J.; Schlosser, T.; Yurchuk, E.; Muller, J.; Mikolajick, T.; Schroder, U.; Gebauer, K.; Trentzsch, M.; Boschke, R.; Kucher, P.; Seidel, K.;
2014 / IEEE
By: Martin, D.; Schlosser, T.; Paul, J.; Muller, J.; Yurchuk, E.; Hoffmann, R.; van Bentum, R.; Boschke, R.; Schroeder, U.; Slesazeck, S.; Mueller, S.; Mikolajick, T.;
By: Martin, D.; Schlosser, T.; Paul, J.; Muller, J.; Yurchuk, E.; Hoffmann, R.; van Bentum, R.; Boschke, R.; Schroeder, U.; Slesazeck, S.; Mueller, S.; Mikolajick, T.;
2014 / IEEE
By: Rodriguez-Garavito, C. H.; Armingol, J.M.; de la Escalera, A.; Martin, D.; Garcia, F.; Ponz, A.;
By: Rodriguez-Garavito, C. H.; Armingol, J.M.; de la Escalera, A.; Martin, D.; Garcia, F.; Ponz, A.;
1989 / IEEE
By: Siemann, R.; Shafer, R.; McConnell, D.; Jackson, G.; Martin, D.; Fellenz, B.; Cliff, P.; Horton, B.;
By: Siemann, R.; Shafer, R.; McConnell, D.; Jackson, G.; Martin, D.; Fellenz, B.; Cliff, P.; Horton, B.;
1989 / IEEE
By: Siemann, R.; Shafer, R.; Johnson, M.; Hood, C.; Fellenz, B.; Martin, D.; Zurawski, J.;
By: Siemann, R.; Shafer, R.; Johnson, M.; Hood, C.; Fellenz, B.; Martin, D.; Zurawski, J.;
1989 / IEEE
By: Falter, H.D.; Altmann, H.; Tivey, R.B.; Papastergiou, S.; Martin, D.; Hemsworth, R.S.;
By: Falter, H.D.; Altmann, H.; Tivey, R.B.; Papastergiou, S.; Martin, D.; Hemsworth, R.S.;
1990 / IEEE / 0-8186-2084-6
By: Martin, D.; Maechler, M.; Hwang, J.N.; Csoppenszky, M.; Schimert, J.;
By: Martin, D.; Maechler, M.; Hwang, J.N.; Csoppenszky, M.; Schimert, J.;
1992 / IEEE
By: Morier-Genoud, F.; Martin, D.; Reinhart, F.K.; Marti, U.; Alvarado, S.F.; Renaud, P.; Silva, P.C.;
By: Morier-Genoud, F.; Martin, D.; Reinhart, F.K.; Marti, U.; Alvarado, S.F.; Renaud, P.; Silva, P.C.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Ringwall, A.; Sethi, R.; Jamieson, G.; Hurd, J.; Guy, F.; Martin, D.; Goren, Y.; Funk, W.; Enegren, T.; Datte, P.; Combs, C.; Haworth, M.; Meyer, R.; Kraus, R.; Barlow, D.; Swenson, D.;
By: Ringwall, A.; Sethi, R.; Jamieson, G.; Hurd, J.; Guy, F.; Martin, D.; Goren, Y.; Funk, W.; Enegren, T.; Datte, P.; Combs, C.; Haworth, M.; Meyer, R.; Kraus, R.; Barlow, D.; Swenson, D.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Jones, A.; Beechy, D.; Aiello, R.; Jamieson, G.; Martin, D.; Wood, F.; Datte, P.; Webber, R.; Riordon, J.;
By: Jones, A.; Beechy, D.; Aiello, R.; Jamieson, G.; Martin, D.; Wood, F.; Datte, P.; Webber, R.; Riordon, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Clay, W.; Snitchler, G.; Clark, D.; Chou, W.; Shu, Q.S.; Zbasnik, J.; Yu, K.; Walling, L.; Turner, W.; Tuli, M.; Goren, Y.; Simmons, J.; Morales, G.; Mihelic, R.; Meyer, D.; Martin, D.; Maddocks, J.; Leung, K.; Kraushaar, P.; Kovachev, V.; Kersevan, R.;
By: Clay, W.; Snitchler, G.; Clark, D.; Chou, W.; Shu, Q.S.; Zbasnik, J.; Yu, K.; Walling, L.; Turner, W.; Tuli, M.; Goren, Y.; Simmons, J.; Morales, G.; Mihelic, R.; Meyer, D.; Martin, D.; Maddocks, J.; Leung, K.; Kraushaar, P.; Kovachev, V.; Kersevan, R.;
1994 / IEEE / 0-7803-1921-4
By: Hansen, H.; Holmes, S.; Geissler, S.; Givens, J.; Davari, B.; Clark, W.; Adkisson, J.; Koburger, C.; Stiffler, S.; Nakos, J.; Mittl, S.; Martin, D.; Luce, S.; Lee, J.; Lee, H.K.;
By: Hansen, H.; Holmes, S.; Geissler, S.; Givens, J.; Davari, B.; Clark, W.; Adkisson, J.; Koburger, C.; Stiffler, S.; Nakos, J.; Mittl, S.; Martin, D.; Luce, S.; Lee, J.; Lee, H.K.;
1993 / IEEE / 0-7803-1482-4
By: Genalo, L.; Saylor, J.; Martin, D.; Krishnagopalan, J.; Agogino, A.M.; Harris, J.; Mink, K.; Sheppard, S.;
By: Genalo, L.; Saylor, J.; Martin, D.; Krishnagopalan, J.; Agogino, A.M.; Harris, J.; Mink, K.; Sheppard, S.;
1995 / IEEE
By: Bowman, C.; Bogorad, A.; Blaes, B.; Martin, D.; Dennis, A.; Buehler, M.; Herschitz, R.; Lang, D.; Beck, J.;
By: Bowman, C.; Bogorad, A.; Blaes, B.; Martin, D.; Dennis, A.; Buehler, M.; Herschitz, R.; Lang, D.; Beck, J.;
1997 / IEEE
By: Marti, U.; Robadey, J.; Reinhart, F.K.; Bobard, F.; Jouneau, P.-H.; Magnenat, Y.; Silva, P.C.; Morier-Genoud, F.; Martin, D.; Achtenhagen, M.; Filipowitz, F.; Glick, M.; Miles, R.O.;
By: Marti, U.; Robadey, J.; Reinhart, F.K.; Bobard, F.; Jouneau, P.-H.; Magnenat, Y.; Silva, P.C.; Morier-Genoud, F.; Martin, D.; Achtenhagen, M.; Filipowitz, F.; Glick, M.; Miles, R.O.;
1997 / IEEE / 0-8186-8206-X
By: Golbus, J.; Fromm, R.; Yelick, K.; Brown, A.; Asanovic, K.; Patterson, D.; Gribstad, B.; Treuhaft, N.; Thomas, R.; Perissakis, S.; Martin, D.; Kozyrakis, C.; Keeton, K.;
By: Golbus, J.; Fromm, R.; Yelick, K.; Brown, A.; Asanovic, K.; Patterson, D.; Gribstad, B.; Treuhaft, N.; Thomas, R.; Perissakis, S.; Martin, D.; Kozyrakis, C.; Keeton, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Bickley, A.; Svensson, L.; Young, D.; Martin, D.; Konarski, A.; Challis, C.D.; Browne, A.; Godden, D.; Falter, H.D.; de Esch, H.; Cox, S.; Jones, T.T.C.;
By: Bickley, A.; Svensson, L.; Young, D.; Martin, D.; Konarski, A.; Challis, C.D.; Browne, A.; Godden, D.; Falter, H.D.; de Esch, H.; Cox, S.; Jones, T.T.C.;
1998 / IEEE / 0-7803-4231-3
By: Gourgon, C.; Filipowitz, F.; Reinhart, F.K.; Bobard, F.; Giaccari, P.; Magnenat, Y.; Martin, D.;
By: Gourgon, C.; Filipowitz, F.; Reinhart, F.K.; Bobard, F.; Giaccari, P.; Magnenat, Y.; Martin, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Oproiu, C.; Martin, D.; Cojocaru, G.; Margaritescu, A.; Cramariuc, R.; Indreias, I.; Marghitu, S.; Radu, A.;
By: Oproiu, C.; Martin, D.; Cojocaru, G.; Margaritescu, A.; Cramariuc, R.; Indreias, I.; Marghitu, S.; Radu, A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Corbett, J.; Cornacchia, M.; Pellegrini, C.; Terebilo, A.; Martin, D.;
By: Corbett, J.; Cornacchia, M.; Pellegrini, C.; Terebilo, A.; Martin, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Terebilo, A.; Martin, D.; Corbett, J.; Cornacchia, M.; Pellegrini, C.;
By: Terebilo, A.; Martin, D.; Corbett, J.; Cornacchia, M.; Pellegrini, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Radoiu, M.; Moraru, R.; Dragusin, M.; Martin, D.; Cojocaru, G.; Oproiu, C.; Camariuc, R.; Margaritescu, A.; Bestea, V.; Indreias, I.; Marghitu, S.;
By: Radoiu, M.; Moraru, R.; Dragusin, M.; Martin, D.; Cojocaru, G.; Oproiu, C.; Camariuc, R.; Margaritescu, A.; Bestea, V.; Indreias, I.; Marghitu, S.;
1990 / IEEE
By: Martin, D.; James, J.H.; Wuethrich, C.; Reinhart, F.K.; Ganiere, J.D.; Morrier-Genoud, F.;
By: Martin, D.; James, J.H.; Wuethrich, C.; Reinhart, F.K.; Ganiere, J.D.; Morrier-Genoud, F.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Beck, U.; Bellomo, P.; Bowden, G.; Boyce, R.; Choi, B.; Corbett, J.; Daly, E.; Dell'Orco, D.; Dormiani, M.; Elioff, T.; Evans, I.; Garren, A.; Hettel, R.; Judkins, J.; Kennedy, K.; Klaisner, L.; Kurita, N.; Leblanc, G.; Limborg, C.; Martin, D.; Ng, C.; Nosochkov, Y.; Park, S.; Rabcdeau, T.; Safranek, J.; Schwarz, H.; Scott, B.; Sebek, J.; Tanabe, J.; Trautwein, A.; Wermelskirchen, C.; Wiedemann, H.; Wille, K.; Yotam, R.; Zimmermann, F.; Zuo, K.;
By: Beck, U.; Bellomo, P.; Bowden, G.; Boyce, R.; Choi, B.; Corbett, J.; Daly, E.; Dell'Orco, D.; Dormiani, M.; Elioff, T.; Evans, I.; Garren, A.; Hettel, R.; Judkins, J.; Kennedy, K.; Klaisner, L.; Kurita, N.; Leblanc, G.; Limborg, C.; Martin, D.; Ng, C.; Nosochkov, Y.; Park, S.; Rabcdeau, T.; Safranek, J.; Schwarz, H.; Scott, B.; Sebek, J.; Tanabe, J.; Trautwein, A.; Wermelskirchen, C.; Wiedemann, H.; Wille, K.; Yotam, R.; Zimmermann, F.; Zuo, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5674-8
By: Johnson, T.K.; Martin, D.; Nagle, H.T.; Fiering, J.; Wyrick, D.; Andersen, K.;
By: Johnson, T.K.; Martin, D.; Nagle, H.T.; Fiering, J.; Wyrick, D.; Andersen, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Radu, A.; Bestea, V.; Radoiu, M.; Marghitu, S.; Zoita, V.; Oproiu, C.; Iliescu, E.; Toma, M.; Martin, D.;
By: Radu, A.; Bestea, V.; Radoiu, M.; Marghitu, S.; Zoita, V.; Oproiu, C.; Iliescu, E.; Toma, M.; Martin, D.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Gourgan, C.; Martin, D.; Kireev, A.N.; Robadey, J.; Reinhart, F.K.; Ky, N.H.;
By: Gourgan, C.; Martin, D.; Kireev, A.N.; Robadey, J.; Reinhart, F.K.; Ky, N.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Akiba, M.; Ciric, D.; Yokoyama, K.; Sato, K.; Martin, D.; Falter, H.-D.;
By: Akiba, M.; Ciric, D.; Yokoyama, K.; Sato, K.; Martin, D.; Falter, H.-D.;
2000 / IEEE
By: Robadey, J.; Gourgon, C.; Reinhart, F.K.; Deveaud, D.; Ky, N.H.; Mahler, L.; Filipowitz, F.; Martin, D.;
By: Robadey, J.; Gourgon, C.; Reinhart, F.K.; Deveaud, D.; Ky, N.H.; Mahler, L.; Filipowitz, F.; Martin, D.;
2001 / IEEE
By: Martin, D.; Peacock, A.; Verhoeve, P.; Brammertz, G.; Goldie, D.J.; den Hartog, R.; Rando, N.;
By: Martin, D.; Peacock, A.; Verhoeve, P.; Brammertz, G.; Goldie, D.J.; den Hartog, R.; Rando, N.;
2001 / IEEE / 0-7803-6591-7
By: Chattopadhyay, R.; Nagaraj, K.; Feygin, G.; Pavan, S.; Herrera, R.; Wu, P.; Martin, D.; Papantonopoulos, I.;
By: Chattopadhyay, R.; Nagaraj, K.; Feygin, G.; Pavan, S.; Herrera, R.; Wu, P.; Martin, D.; Papantonopoulos, I.;